Патенты с меткой «электронныхмикроскопов»

Устройство для электролитической обработки металлических образцов для электронныхмикроскопов

Загрузка...

Номер патента: 1131255

Опубликовано: 15.12.1987

Авторы: Капличный, Короткоручко, Рыжков, Скоробогатько, Тыщук, Чемерис

МПК: C25F 7/00

Метки: металлических, образцов, электролитической, электронныхмикроскопов

...микроскопов, содержащеекорпус с гнездом для объектодержате"ля, систему циркуляции электролита,источник тока полировки, усилительтока индикации начала образованияотверстия, объектодержатель и систему электродов,В цепи электрода включен усилитель, действующий на реле, отключающее цепи полировки и насоса. При появлении отверстия просочившийся электролит заполняет пространство междуобъектом и электродом и создает проводимость в цепи усилителя отключения реле.Данное устройство позволяет работать с непрозрачным электролитом, однако. обладает низкой чувствитель" ностью (сигнал, отключающий реле, поступает только после заполненияэлектролитом объема между образцом и электродом, Объект не защищен от действия электролита, что делает...