Патенты с меткой «электронно-микроскопический»
Электронно-микроскопический способ измерения и регистрации изолиний исследуемого параметра объекта
Номер патента: 661647
Опубликовано: 05.05.1979
Авторы: Капличный, Карелин, Рау, Спивак
МПК: H01J 37/26
Метки: изолиний, исследуемого, объекта, параметра, регистрации, электронно-микроскопический
...повышение точности измерений и увеличение числаисследуемых параметров твердого тела.Указанная цель достигается тем, 5что информативный сигнал формируютв количественной форме, задают наэлектронный блок опорные сигналы,в любой момент времени и в любойкоординате сравнивают информативный 10сигнал с опорнымисигналами, формируют видеимпульсы при совпадении ихзначений и высвечивают яркостные метки на экране видеоконтрольного устройства. 15Сущность способа поясняется чертежом, где показаны информативныйсигнал, в частности распределениепотенциала на поверхности твердоготела. вдоль строки развертки электронного зонда 3 ь, и принцип формирования видеоимпульсов.Способ осуществляется следующимобразом.В соответствии с исследуемымйараметром объекта...
Электронно-микроскопический способ измерения двухмерных полей рассеяния
Номер патента: 682968
Опубликовано: 30.08.1979
МПК: H01J 37/26
Метки: двухмерных, полей, рассеяния, электронно-микроскопический
...пучок дополнительно отклоняется и осуществляется изменение или срыв тока пучка в некоторый момент времени 1(5 О) (фиг. 2) путемотсечки его на ножевой диафрагме. Еслисигнал с выхода ФЭУ подать на вертикальные пластины электронно-лучевой трубки(ЭЛ 1) осциллографа, а пилообразное напряжение - на горизонтальные, то на экране ЭЛТ получим изображение кривойотсечки (при использовании ножевой диафрагмы), либо колоколообразной кривой(при использовании щелевой диафрагмы).Соответствующие осциллограммы токов навыходе регистратора изображены па фиг.2,6, в,Для измерения в любой точке, например,тангенциальной компоненты поля рассеянияВ вначале формируется опорный сигнал,а затем измерительный. Для этого амплитуда пилообразного напряжения У(фиг.2,а)...
Электронно-микроскопический способ определения молекулярных масс и молекулярно-массовых распределений бутадиеновых полимеров
Номер патента: 1427238
Опубликовано: 30.09.1988
Авторы: Волкова, Сигов, Шаховская
МПК: G01N 15/02
Метки: бутадиеновых, масс, молекулярно-массовых, молекулярных, полимеров, распределений, электронно-микроскопический
...диаметры изображенных на фотопленках глобул с помощью лупы в мм (порядка 200-300 шт.). Из всего множества эамеренных частиц составляют группы и; определенных диаметров Й 1, Результаты заносят в табл. Во вторую строку табл. заносят раэмеры диаметров в нанаметрах. 45 Дпя каждой -й глобулы рассчитывают объем Ч; и молекулярную массу М, по формулам;- радиус глобулы;- 0,986 - плотность каучукаСКН- масса протона. Результаты также заносят в табл.1.Среднечисленную молекулярную массуобразца М находят усреднением побольшому числу глобул (не менее 200)по формуле Средневесовую молекулярную массу находят по формуле- 2:М; и,ЧМ,п, В данном примере по результатам5расчета получают М= 1, 7 10 и М =б4,1 10 , молекулярно-массовое распределение М,/М = П =...