Пдткнтно•»iи

181 33 У Союа Советскнк Социалистически Республик"о 911709/26 присоединением заявки риоритет 13.т/11,1964, публ икова но 15,17,19 МПК С 020УДК 535,822,17(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРлетеньДата опубликования описания 28 Х 196 б Автор зобретения ПТ",. НТ 60-рБИС.1 ИОТЕИвите МИКРОСКОП ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ ОБЬЕКТОВОКОНТРАСТНЬХ Извес исследо правило свойств тому пр тивов, к тные микроско вания малоконработают на поляризованно именения спец онденсоров, пр пы, применяемь трастных объект основе исполь го света и требу иальной оптики едметных стекол е дл ов, как ования ют поэ(объекПредлагаемый микроскоп дает возможность исследовать малоконтрастные объекты в любой области спектра с помощью оптики, применяемой в обычных микроскопах, а также получать переменный фазовый контраст или интерференционный контраст с идеальной волной сравнения в неполяризованном свете, Кроме того, обеспечивается возможность измерения оптической разности хода лучей, вносимой излучаемым объектом.Эти преимущества достигаются тем, что между объективом с вынесенным при помощи дополнительной линзовой системы зрачком выхода ооъектива и окуляром микроскопа установлен интерферометр, например, типа Маха-Цендера, в ветви которого введены устройства для изменения фаз и амплитуд интерферпрующих пучков - соответствующие диафрагмы и компенсационные пластинки в зависимости от поставленной задачи.На фиг. 1 и 2 представлены принципиальные схемы микроскопа для получения переменного фазового контраста и интерференционного контраста с идеальнон волнои сравнения,Между оптической системой линз 1, служащей для переноса зрачка выхода объектива5 микроскопа (объектив на чертежах не показан), установлен интерферометр, например,типа Маха-Цендера, состоящий из зеркал 2,3, 4, 5. Зеркала 2 и 5 полупрозрачные, а 8 и4 алюминированные.0 Пучок лучей, выходящий из системы линз 1,делится зеркалом 2 на два, один из которыхидет по направлению к зеркалу , а другой -к зеркалу 4. После отражения от зеркал , 4эти пучки снова соединяются в один зерка 15 лом 5, интерферируя друг с другом,Для изменения разности хода в интерферирующих пучках в одной из ветвей интерферометра установлена стеклянная пластинка б, адля регулировки интенсивности этих пучков20 предусмотрена пластинка 7, установленная вдругой ветви интерферометра. На одной изповерхностей пластинки 7 нанесен фотометрический клин.Изображение объекта, даваемое объекти 25 вом и оптической системой линз 1, получаетсяв плоскости 8 и рассматривается с помощьюокуляра 9.При работе микроскопа по схеме переменного фазового контраста в обе ветви интер 30 ферометра, в плоскость вынесенного выходного зрачка объектива, вводятся апертурные диафрагмы 10 и 11. Форма диафрагмы 10 подобна форме фазового кольца фазовых объективов, а диафрагма 11 является ее дополнением, т, е. прозрачным местам первой соответствуют непрозрачные места второй и наоборот. Если диафрагмы 10 и 11 соответственно совмегцеы с изображением диагррагмы, паходяц 1 ейся в фокальпой плоскости конденсатора (на чертежах не показан) и имеющей форму диафрагмы (О, то в одной ветви пнтерферометра световой пучок сОстОит только Р 3 прямо прошедшего света, а в другой - пз диафрагмированпого. Соединяясь, пучки интерфсрируют и совместно с объективом микроскопа дают фазовокоптрастнос изображение исследуемого объекта. Контраст в изображении может быть положительным или отрицательным в зависимости от величины и знака разности хода в интерферирующих пучках.При работе микроскопа по схеме интерференционого контраста в одну из ветвей интерферометра, в плоскость вынесенного выходного зрачка обьсктива, помещается диафрагма 12 (см. фиг. 2) в виде малого круглого отверстия, или прозрачного кольца, или любого другого вида. В случае совмещения диафрагмы 12 с изображением диафрагмы, находящейся в фокальной плоскости конденсора и имеющей такую же форму, диафрагма 12 при определенных размерах будет центром дифракционной волны. В этом случае по одной ветви интерферометра будет распространяться дифракционная волна, т. е. волна сравнения, а по другой - реальная, искаженная изучаемым объектом, Соединяясь, эти две волны интерфериругот, и изображение изучаемого ооъекта наблюдается в интерференционном контрасте.В обеих схемах микроскопа изменение разности хода в интерферирующих пучках обеспечивается наклоном стеклянной пластинки б, а регулировка интенсивностей - пластинкой 7, на одной из поверхностей которой нанесен фотометрический клин.Оптическая разность хода, вводимая изучаемым объектом, оценивается по величине наклона пластинки б относительно падающих на нее лучей,Объединение фазовоконтрастной и интерференционной схем в одном микроскопе дает возможность переходить от одного метода к другому при паблюдеши одного и того же участка обьекта,5 Предмет изобретенияТипография, пр. Сапунова заказ 1287/12 Тираж 900 Формат бум. 60)(90/ц Объем 0,3 и Ц 1 ИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при СоветМосква, Центр. пр. Серова, д. 4 л. Подписное инистров ССС 1 о