Способ обнаружения поверхностныхдефектов ha изделиях b форме тел bpa-щения

Союз Советских СоциалистическиРесл блик(щ 7985 ТЕНИ ОБР ВТОРСКОМ И ЕТЕЛЬСТВУ(22) Заявлено 101078 (21) 2675012/ 51)М, Кл З01 Н 21/88 присоединением заявки М -23) Приоритет -осударственный комите СССР ио делам изобретений н открытий(72) Авторы изобретен Э.М.Шипулин и С.Д.З н аявмтель 54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТО НА ИЗДЕЛИЯХ В ФОРМЕ ТЕЛ ВРА 1 ЦЕНИЯ 10 ка но ег Изобретение относится к области неразрушающего контроля иэделий и может быть использовано для обнаружения дефектов на поверхности изделий в форме тел вращения, например роликов, втулки, гильзы и т,п.Известны способы обнаружения деФектов на поверхности движущихся изделий, заключающиеся в том, что на поверхность контролируемого иэделия направляют накленный пучок света, а отраженный свет регистрируют Фотоприемником в пределах угла от 5 до 15 В по отношению к направлению зер- .1льного отражения и по величине отшения сигнал-шум судят о. качествео поверхности Я .Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является спо соб обнаружения поверхностных дефектов на изделиях в форме тел вращения, заключающийся в том, что на их поверхность направляют наклонный пучок света с шириной, соиэмеряемой с 2 размерами минимального дефекта, а отраженный свет регистрируют Фотоприемниками (,в пределах угла от 20 до 30 в по отношению к направлению зеркального отражения) и по величи-. 3 не отношения сигнал-шум судят о качестве контролируемой поверхности 2.Недостатком известного способа является ненадежность обнаружения деФектов, обусловленная низким отно" шением сигнал-шум из-за малой величины полезного сигнала. При выбореугла положения Фотоприемника не учитываются угловые размеры индикатрисы рассеяния контролируемой поверхности, которые оказывают влияние на величину оптимального угла положения фотоприемника. На величину отношения сигнал-шум для различных видов поверхностных дефектов оказывает влияние угол падения освещающего луча.Цель изобретения - повышение надежности обнаружения поверхностных дефектов.Указанная цель достигается тем, что перед обнаружением поверхностных дефектов на контролируемой поверхности наклонный пучок света направляют на поверхность неподвижного годного иэделия под углом 30-40 , измеряют интенсивность света, отраженного под разными углами в плоскости падения, определяют угловые размеры индикатри" сы рассеяния на уровне точек перегиба ее ветвей, а фотоприемники устанавливают так, чтобы они регистрировалисвет, отраженный от изделия под углом,равным ширине индикатрисы рассеянияна уровне точек перегиба ее ветвей,На фиг. 1 представлена принципиальная схема контроля, реализующая предлагаемый способ, на фиг,2типичная индикатриса рассеяния поверхности неподвижного годного изделия, на фиг, 3 - типичное распределение амплитуды сигнала от биений.(кривая А) и шума поверхности кривая В по углу регистрации Ч (пунктирной линией показана экспериментальная индикатриса для данного видаизделий); на фиг, 4 - распределение 15отношения сигнал-шум для контролируемых дефектных изделий, на фиг. 5типичная зависимость отношения сигнал-шум от угла падения наклонногопучка света для различных видов по- Яверхностных дефектов,Способ осуществляется следующимобразом.На поверхность неподвижного год"ного изделия 1 направляют под углом д9 луч 2 света и, перемещая фотоприемник 3 по углу 4, Отсчитываемого от направления зеркального отражения, измеряют интенсивность отраженного света, строят индикатрисурассеяния и определяют ее угловыеразмеры на уровне точек перегибаее ветвей, Затем закрепляют фотоприемник 3 таким образом, что онрегистрирует свет, отраженный подуглом 4, равным угловой ширине инди- Зфкатрисы рассеяния, измеренной науровне точек перегиба ее ветвей, аисточник света устанавливают такимобразом, а угол падения наклонногопучка света составляет 30-40 . На Щ9позицию контроля последовательноустанавливают контролируемые иэделия,придают им вращательное движение ипо отношению сигнал-шум судят о качестве поверхности. 45Способ применения для контроляполых металлических гильз. Максимумсигнала от биений изделия приходится на точки перегиба ветвей индикатрисы рассеяния, а максимум шумаконтролируемой поверхности совпадает с направлением зеркального отражения ( Ч =0 ). Кривая С относится к дефектамтипа мелких царапин и пятен, а кривая Д относится к дефектам типа забоин, вмятин и т.пДля надежной регистрации всех,видов поверхностных дефектов угол нак.лонного пучка света 30-40 ф,Использование предлагаемого способа позволяет обнаружить. контролируемые дефектные иэделия с большейвероятностью (0,95) по сравнению,сизвестным способом (0,85), что улучшает качество выпускаемой продукции.Ориентировочный экономический эффектот внедрения предлагаемого способана предприятиях может составить29 тыс. руб. в год,Формула изобретенияСпособ обнаружения поверхностныхдефектов на иэделиях в форме тел вращения, заключающийся в том, что наих поверхность направляют наклонныйпучок света с шириной, соиэмеряемойс размерами минимального дефекта,а отраженный свет регистрируютфотоприемниками и по величине отношения сигнал-шум выходного сигнала судят о качестве контролируемой поверхности, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения надежности,перед обнаружением. поверхностныхдефектов на контролируемой поверхности наклонный пучок света направляют на поверхность неподвижного годного изделия под углом 30-40 , измеряют интенсивность света, отраженного под разными углами в плоскостипадения, определяют угловые размерыиндикатрисы рассеяния на уровне точекперегиба ее ветвей, а фотоприемникиустанавливают так, чтобы они регистрировали свет, отраженный от поверхности иэделия под углом, равным шири-.не индикатрисы рассеяния на уровнеточек перегиба ее ветвей,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1,Патент Великобритании М 1394112кл. 6 01 М 21/32, опублик. 1975.2. Рое б." Нсй-брей 5 оЯссе ГадаюпъресОоь " У. ор 1 лса 1 Еисрпеегь,ч.15, И 1,1976,с.45-51 (прототип) ..798566Ъ лиал ППП"Патент",Редактор В,Жиленк аказ 10012/52 ВНИИПИ Госу по делам 113035, МСоставитель К,РогожинТехред А, Ач . Корректор Ю.Макаре Тираж 18 арственного ком изобретений и сква,Ж, Рауш .4/5