Патенты с меткой «аберрации»

Номер патента: 28879

Опубликовано: 31.01.1933

Автор: Леонов

МПК: G01M 11/00

Метки: аберрации, зеркал, прожекторных, сферической

...пересекающихся пучков.Для мал етр30 см источ.етсна,10 - 15 м что вполне достаточно для практически пригодных результатов.Вследствие того, что на практике не. возможно поместить источник света в бесконечности, а это является одним из условий точности получаемых результатов, предлагается следующая конструкция для установки лампы при испытаниях прожекторных зеркал (фиг. 3),Источник света, точечный или с концентрированной нитью (лампа автомобильного типа), помещается в точке 5 на любом расстоянии от испытуемого зеркала. Лучи, идущие от лампы, падают на призмы полного внутреннего отражения, расположенные друг от друга на расстоянии 10.см с таким расчетом, . чтобы лучи, стоящие ближе к источнику света, не заслоняли собою последующих лучей....

Номер патента: 61436

Опубликовано: 01.01.1942

Авторы: Галкина, Жилин, Линник, Циммерман

МПК: G03B 13/18

Метки: аберрации, прибор, продольной, хроматической

...продолской аберрации.Оптическая ,схема прибора, который уместно назвать хромоаберрометром, изображена на фигуре. Из коллиматора 1, 2 выходит пучок монохром атических лучей, который отражается от полупосеребренного зеркала 8. Пучок лучей проходит через отрицательную ахроматизованную линзу 9, испытуемый объектив 8 и после отражения от зеркала 7 возвращается к полупосеребренному зеркалу 3. Пройдя через последнее и отразившись от зеркала 4, пучок попадает в зрительную трубу 5, б. В качестве источника света служит монохроматор, щель 1 которого помещена в фокальной плоскости объектива 2 коллиматора.Наблюдатель, смотрящий в зрительную трубу 5, б, увидит отчетливое изображение щели 1 лишь в том случае, если в трубу 5, б попадает пучок...

Номер патента: 67224

Опубликовано: 01.01.1946

Автор: Лебедев

МПК: G01M 11/02

Метки: аберрации, зонам, коллиматорного, оптических, прибор, систем, типа, фокусировки

...удаления естественного или искусственного бесконечно удаленного предмета. Аберрации эталонного объектива предварительно измеряются путем определения удаления предмета приразличных положениях диафрагмы 2. 1 Способ измерения аберрации и фокусировки по зонам оптических систем коллиматорного типа путем измерения сходимости двух диаметрально и 1, гпвположРых пучков, выделенных д:афрагмой, отличающийся тем, то указанные пучки направляют в стереоскопический измерительный прибор, которым проводят измерения.2, Прибор для осуществления способа по п. 1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что он выполнен в виде стереоскопического бинокулярного приоора с измерительными марками или компенсаторами в окулярных ветвях и одним объективом, перед которым...

Номер патента: 102216

Опубликовано: 01.01.1955

Автор: Рабинович

МПК: G02B 13/18

Метки: аберрации, компенсатор, хромосферической

...скл; - сннык линз, ОбладаОщик одинаковымп для средней длины волны покдзате;ямц цреломлшпя, и и)ест ту оообенность, что ДСПОРОЦ Зтцм ТРЕК ЛИНЗ РЗЛитНЬ достигается отсутствие у него другич (осе ац.На Фиг. 1 и 2 показаны две тор)ь ьыполнсция предлагаемого компснсаз ерд.1),Омпенсдтор устанавливается цссед Опт.ческой сцс)смой напр 1 Ор, перед объектИвом зрцтельпоц трубы). Он состоит :.", трЕК СКЛЕт)НН,1) 1 ЕЬКду Спбей Лц ГЗ (1), (П) ц (П 1) (1)пг. 1 ц 2) из стекла раеня. т)ПРТИГ КОТС)ИГЕ ЦМЕОТ ОДИНаКЕВЬ 1 Е ПОК:1- ватт ЛИ ПРСЛОМЛЕНПЯ ДЛЯ ВОТНЫ СРСДНСй длины и разные дисперсии. Хро)ОсФер;т- ЧССКДЯ аОЕРРаЦИЯ КОУПЕНСатОРД ЦМовт та МЕ жс ВЕЛНЧИНу И ЗНаК, КОКПЕ Тр"т)увтсч Лля ко)пгодсаци хромое Фсритесг")1 дберратии очтическе системы. Пчзтд)у...

Номер патента: 623124

Опубликовано: 05.09.1978

Авторы: Кривопустова, Русинов

МПК: G01M 11/02

Метки: аберрации, микрообъективов, продольной

...4 в виде штриха. Марка 4расположена в плоскостй предметов микрообъектива 5. Лучи от марки 4 прохо дят микрообьектив 5, диафрагму 6, расположенную в плоскости выходного зрачка микрообъектива 5 и выделяющую исследуемые зоны, и собираются в плоскости иэображений микрообьектива 5, с которой совмещен центр кривизны зеркала 7, и, отразившись от него по нормали, снова проходят через диафрагму 6, микрообьектив 5 и собираются в плоскости 1 О предметов микрообьектива 5, где и образуется. перевернутое автоколлимационное изображение марки 4. Марка 4 и автоколлимационное иэображение наблюдаются в стереомикроскоп 9. 15Диафрагмой 6 выделяют, исследуемую зону, т, е. открывают два симметричных относительно оптической оси отверстия 10, которые и...

Номер патента: 632262

Опубликовано: 25.01.1980

Авторы: Баранова, Петров, Явор

МПК: H01J 29/56

Метки: аберрации, коррекцией, электроннооптическое

...корректируемойаберрации регулируют, изменяя потенциална электроде корректора, а переключениеполярности его литания изменяет знакаберрации на противоположный, Указанныесвойства корректора установлены экспериментальным путем в лаборатории ФТИ,На чертеже показана схема предлагае рого устройства. 4Устройство работает следуюшим,образом, На пучок заряженных частиц воздействует электростатическое или магнитное лоле электронно-оптической системы 1, вносящей аберрации 2-го, 4-го, и 5-го порядков. Затем пучок электронов проходит через электростатическое поле корректора 2 При этом поле первого электрода корректора, отверстие которого имеет три плоскости симметрии, действует на пучок пропорционально квадрату его расстояния от оси, второй электрод -...

Номер патента: 764004

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Игнатьев, Купкин, Румянцев

МПК: H01J 3/12

Метки: аберрации, двух, коррекции, линз, системе, хроматической, электронных

...ыа экране от его потенциала.Электронно-оптическая система состоит изкатода 1, модулятора 2, первого 3 и второго 4 электродов би потенциальной линзы, магнитной фоку сирующей катушки 5.Электронный пучок 6, формируемый иммерсиоиным обаективом, фокусируется иа экране 7 при отображении кросовера 8 пучка в пятно 9 малых раз-.764004 Формула изобретения ВНИИПИ Заказ 6295/46Тираж 844 Подписное меров. При этом второй электрод 4бипотенциальной линзы электрическисоединен с экранам, так что их потенциалы одинаковы О = ОВ основе способа лежит характеризменения смещения гз при колебанияхпотенциала экрана (фиг.2)., 5Смещением г при определенных доЭпущениях можно характеризовать хрома"тическую аберрацию, которая создаеткружокрасбаянйя радиусом г...

Номер патента: 972454

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Анитропова, Великотный, Метельский

МПК: G02B 3/00

Метки: аберрации, коррекции, оптической, системы, сферической

...относительного отверстия и показателя преломления материала, из кото рого она изготовлена. При этом вели чина сферической аберации возрастает от центра к периферии линзы в случае постоянства показателя преломления. Однако последний зависит от длины волны падающего на линзу излучения, З 0 что объясняется дисперсионными свойст вами материала линзы. Следовательно, рост сферической аберрации от центра к периферии линзы можно скомпенсиро. вать соответствующим изменением показателя преломления ее материала, которое в свою очередь осуществляется благодаря соответствующему измене. нию длины волны падающего на линзу излучения в зависимости от высоты 40 его падения Этот принцип и лежит в Пример Средний диаметр зоны,мм основе предлагаемого...