G01J 5/50 — с помощью способов, не указанных в предыдущих рубриках

Номер патента: 480922

Опубликовано: 15.08.1975

Автор: Салль

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, повышения, приемника, чувствительности

...с максимумом потока Ф(1), что указывает на равенство частот 152025 и фаз дополнительного изменения температуры и изменения модулированного потока излучения. Результирующее (суммарное алгебраическое) изменение температуры Х (1) приемника показано на чертеже кривой г, Этот сигнал подается с выхода приемника на вход регистрирующего устройства. Поскольку амплитуда результирующего сигнала Х(1) больше амплитуды первоначального сигнала О(1), то выходная мощность увеличивается. Это увеличение тем больше, чем больше амплитуда принудительного изменения температуры приемника.В ряде случаев требуется, чтобы измеряемый выходной сигнал был пропорционален глубине модуляции измеряемого потока излу чения. Для выполнения этого условия необходимо,...

Номер патента: 483587

Опубликовано: 05.09.1975

Авторы: Клюкин, Кузнецов, Степанов, Шибаев

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, регистрации, теплового

...визуализации 12, состоит из маломощной лампы подсветки 14 и импульсной лампы-вспышки 15, В канале узла визуализации 12 между источником освещения 13 и элементом 8 установлен интерференционный светофильтр 16.Изображение регистрируется в узле регист рации 17, размещенном вдоль главной осиустройства. В качестве узла регистрации 17 используются кино или фотоаппараты.Устройство работает следующим образом.Для регистрации исследуемого излучения 25 открывается крышка 3 кожуха 2 и излучение, фокусируемое телескопической зеркальной системой 5, попадает на жидкокристаллический элемент 8 и поглощается черной подложкой, нагревая жидкий кристалл в со ответствии с распределением интенсивностиизлучения в плоскости элемента 8. Жидкий кристалл меняет...

Номер патента: 489967

Опубликовано: 30.10.1975

Авторы: Бауман, Зысина, Клюкин, Смирнов, Сонин, Степанов

МПК: G01J 5/50

Метки: визуализации, излучения, прибор, теплового

...питания от регулируемого источника 8. Для выравнивания температурного поля в подложке 2 к ней со стороны графитового покрытия 4 вплотную прикла;1 ывастся дюралевая пластинка 9 с тонким электроизоляцпонцым слоем 10, которьш выполняет также функцию теплоизоляции. Слой жидкого кристалла защищен стеклом 11 из фтористого бария, помещен в камеру 12, имеющую входное окно 13 из фтористого бария, и освещен источником 14 белого света.Прибор работает следующим образом.Регулируя ток. прокодящ 1 ш через графитовое покрытие 4, добиваются установления определенного цвета на поверхности жидкого кристалла 1 и, следовательно, его температу ры. Затем ня ж 11 дкиЙ кристалл со стороць-ю70 о Составитель И. Никитинедактор Т. Рыбалова Текред Т, Курилко...

Номер патента: 619806

Опубликовано: 15.08.1978

Авторы: Евтеев, Сахно, Семенов

МПК: G01J 5/50

Метки: измеритель, лучистых, мощности, потоков

...Иа друГой концентрической окружности расположены отверстия малогодиаметра, каждое из которых занимаетцентральный уголвчетверо меньшийцентрального угла ф между соседними отверстиями мапого диаметра. Отверстиймалого диаметра изготовлено вдвое больше, чем отверстий большого диаметра, Концентрический ряд отверстий малого диаметра расположен относительно концентрического ряда отверстий большого диаетра с угловым сдвигом Ц, который равенцентральному углу , занимаемому отверс гием малого диаме тра.При вращении модулятора с постоянной угловой скоростью 6 д (по часовой стренке) частота модуляции измеряемого потока Я прямо пропорциональна количествушироких отверстий М Модулятор вращается с постоянной угловой скоростью при помощи...

Номер патента: 654861

Опубликовано: 30.03.1979

Автор: Корнилов

МПК: G01J 5/50

Метки: приемника, радиации, теплового, юстировки

...индикатора возвращают на нуль, перемещая приемный элемент 5 внутри термостатированного корпуса в направлении юстировки. Затем увеличивают нагрев термокомпенсирующего резистора и проводят более точную установку приемного элемента описанным выше способом, 0 После того, как нужная точность положе654861 Составитель Е. ЧуркинРедактор Т. Рыбалова Текред Н. Строганова Корректор Т. Добровольская Заказ 553/16 Изд. Мв 213 Тираж 779 Подписное НПО Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 45Типография, пр. Сапунова, 2 ния элемента достигнута, переключают датчики и осуществляют юстировку в других направлениях.В случае резисторных болометрических датчиков в месте, где резисторная цепь бо...

Номер патента: 687349

Опубликовано: 25.09.1979

Авторы: Кузнецов, Лапшин

МПК: G01J 5/50

Метки: температуры

...света веществом в ИК-области спектра и обяЗО заны своим происхождением молекулярным колебаниям, зависящим от температуры.Изобретение основано на установленной закономерности, заключающейся в3 том что для подавляющего большинства неметаллов интенсивность поглощенияили рассеяния в .характеристических спектральных полосах, соответствующих внутримолекулярным колебаниям, линейно спадает с ростом температуры:Ч чо Кт т 1где У - интенсивность поглощения или0рассеяния при температуреЧ,45- интенсивность при произвольных значениях температуры Т;К - коэффициент прэпорциэнальнэссти.ЧОтсюда ТТ 1 или ЬТ"- -ьУХИзменение измеряемой величины с температурой основано на квантовых законах вынужденного поглощения и/или рассеяния света веществом, далеким эт...

Номер патента: 742722

Опубликовано: 25.06.1980

Авторы: Евсеенков, Цыганский, Чен

МПК: G01J 5/50

Метки: градиента, температуры

...определяется как средневзвешенное из этих точечных измерений, что очень громоздко и требует большого количества обслуживающего персонала Изобретение относится к способам и устройствам, предназначенным для измерения вертикального градиента температуры Й приэемном слое воздуха, и может быть использовано в сельском хозяйстве5 в целях проведения тепловых и водных мелиораций почв и гидрометслужбе СССР.Известен способ измерения градиента температуры с помощью двух температурных датчиков, размещенных на некотором расстоянии друг от друга 1). Недостатками метода является большая погрешность измерения градиента температуры и практическая невозможность локальных измерений градиента температуры.15Наиболее близким по технической сущности к...

Номер патента: 746207

Опубликовано: 05.07.1980

Авторы: Воробьев, Литвяк, Федотов, Чесноков

МПК: G01J 5/50

Метки: дистанционного, температуры

...область проявлениятермохромных свойств жидких кристаллов зависит от шага "Р" геликообраз " Йо"упорядоченной структуры. жидкогокристалла. Рассеиваемое излучениежидкого кристалла, т, е. длина отраженной волны, удовлетворяет следующему соотношению:Л паисгде л - средний показатель преломления жидкого кристалла в направлении 26 оптической оси, Поскольку шаг сильнозависит от температуры, функцией температуры является иД.Ширина спектра света,отражаемого жйдкокристаллической структурой обычно составляет200 Л при освещении структуры белымсветом. Спектр видимого света занимает промежуток от 3800 до 7800 ят.е. ширина полосы видимого светаравна 4000 1. Если жидкокристаллический индикатор перекрывает диапазон видимого света эа 1 С...

Номер патента: 763699

Опубликовано: 15.09.1980

Авторы: Петелин, Симуков, Смыслов

МПК: G01J 5/50

Метки: бесконтактного, температуры

...Проектная, 4 Е - полный коэффициент чернотыизлучения исследуемого объекта.Для перехода от радиационных температур к действительным температурам необходимо знать полный коэффициент черноты излучения исследуемого объекта 1 Е/.Методы определения Е имеют большую погрешность, Е может изменяться со временем, с тепературой и это является причиной погрешностей измерения действительной температуры.Цель изобретения - повышение точности измерения действительной температуры.Поставленная цель достигается тем, 15 что измеряют интенсивность полного теплового излучения при двух значениях температуры корпуса пирометра,Таким образом, при данном способе измерения температуры сначала произ водят определение интенсивности полного излучения при одном значении...

Номер патента: 779822

Опубликовано: 15.11.1980

Авторы: Василевский, Столбов

МПК: G01J 5/50

Метки: излучательной, низких, способности, температурах

...способности ЕО)в направлении 8 ;- отражательная способность зеркала. При этомх=(ер (-,с(офпоток отраженного от образца излуче 1ния, создаваемого источником подсветки и черным телом с яркостью Ь в2телесном угле а и Х =юЬО - поток излучения, подаваемого от подсветкина приемник.ОФоновые потоки добавят к Х 1, Хпостоянную составляющую ьХ, что приведетк погрешности измерения излучательнойспособностиб 6 Ь Х6 ИВА 15Погрешность, обусловленная фоном,может быть снижена увеличением температуры подсветки, но при этом увеличивается погрешность за счет сдвига спектра излучения в коротковолновую область.Цельно изобретения является повышение точности измерения излучательной способностиОПоставленная цель достигается тем,что поверхность объекта вторично...

Номер патента: 805082

Опубликовано: 15.02.1981

Авторы: Денисенко, Кузнецов, Однороженко, Сабокарь

МПК: G01J 5/50

Метки: объектов, температурыдвижущихся

...усилитель5 электрических сигналов и регистри"ВНИИПИТираж 91 г:г рующее устройство 6, отображающее амплитуду полученных сигналов.Необходимьгаи условиями для осуществления этого способа являются:а) Объект, температура которого измеряется, направляют таким образом, чтобы он пересекал в своем движении опорный световой пучок.б) Толщина опорного пучка должна превышать размеры объекта.При пересечении объектом 7 опорного пучка 8 часть опорного светового пучка перекрывается объектом(фиг. 2). Интенсивность света, попадающего при этом на вход фотоприемника, складывается из интенсивности неперекрытой объектом части опорного светового пучка - эгде Д - интенсивность опорного светового пучка, Б - площадь его поперечного сечения, 5 С, - площадь...

Номер патента: 817493

Опубликовано: 30.03.1981

Автор: Попов

МПК: G01J 5/50

Метки: пламени, среднеквадратичнойпульсации, температуры

...может внести большуюпогреыность.Наиболее близкимсущности к настоящемуизмерения среднеквадрции температуры в плром термопарой измеряпламени. Термопарой овенную локальнув темп 30 КВАДРАТИЧНОЙ ПУЛЬСАЦИИ .ЛАМЕНИ817493 Формула изобретения сИс Ьс Составитель И. ЛатвеьРедактор Е. Дичинская Техред М.Табакович Корректор С.Щомак Тираж 907 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5.постоянная Больцмана;9- волновое число центра линииили по номограмме.При получении формулы предполагается, что понятие локальной мгновенной и средней температуры справедливо, т. е. заселенность квантовых уровней соответствует той же температуре, которая определяется из средней...

Номер патента: 615751

Опубликовано: 07.08.1981

Авторы: Кременчугский, Пустовалов, Стукалов, Цоглина, Шульга

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, пироэлектрический, приемник

...(определяемую потерямина внутреннее трение), что сводитк минимуму амплитуду ударного возбуждения чувствительного элемента,а следовательно повышает точностьизмерения энергии импульсон,На чертеже показан предлагаемыйпироэлектрический приемник излучения.Пироэлектрический приемник иэлу 30 чения содержит чувствительный эле615751 2 Я 1 Зуевкорре Составитель Техред Ь. А тор С. Суркова Л. Иван Тираж 907 . ПодписноеИПИ Государственного комитета ССпо делам изобретений и открытийМосква, Ж, Раушская наб., д кав 5825/43 13 иал ППЙ "Патент Ужгород, ул. Проектн мент 1, выполненный из пироактивнойкерамики, например титаната бария,в виде полого конического тела, Навершине конуса и по окружности основания расположены электроды 2 и...

Номер патента: 847781

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Виноградов, Голованов

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, приемник, регистрации, электромагнитного

...мощности поглощенной доли падающего излучения и выделенной на тест-объекте будет соответствовать одинаковая яркость свечения люминофораа.Для увеличения динамического диапазона,.калиброванного теплового воздействия источник электрического питания имеет изменяемые величины напряжения и тока. Для получения непрерывной 1 шкалы плотности мощности в некотором интервале значений в пределах размера площадки тест-объекта последняя изготавливается с переменным профилем сечения металлического слоя по его ширине или толщине, что вызывает изменение сопротивления тест- объекта в пределах площадки. Тест-объект может быть расположен с любой стороны термоизолирующей подложки, в частности, с той же стороны, что и поглощающее покрытие, изолирован...

Номер патента: 890831

Опубликовано: 30.04.1982

Авторы: Агранат, Бендицкий, Гандельман, Кондратенко, Макшанцев, Рукман, Степанов, Шелемин

МПК: G01J 5/50

Метки: параметров, электропроводящих, электрофизических

...импульса излученияРазвертку фотохронографа 7 запускают цепью синхронизации одновременно с началом генерации источника 1. Полученную на экране электронно-оптического регистратора (ЭОПа) картину свечения развертывают во времени и фиксируют на регистрирующей среде 8 (фотопленке). Таким образом, фиксируют и измеряют оптические спектральные характеристики пмпульса видимого излучения - свечения поверхности материала 4 под действием зондирующего импульса. Фильтр 6 выбирают не пропускающим длину волны источника зондирующего излучения.Использование данного способа позволяет, кроме определения электрофизических характеристик электропроводящих материалов, измерять длительность импульсов ИК-излучения (т 10 -+ +10 - "- с), определять форму...

Номер патента: 968632

Опубликовано: 23.10.1982

Авторы: Волкова, Танаева, Фаерман

МПК: G01J 5/50

Метки: дигидрофосфата, калия, кдр, кристаллов, нагрева, неоднородности

...лазер 1, матовую пластинку 2, кристалл КДР 3, поляриза. тор 4 и экран 5, Осуществление способа возможно в результате обнаружЕнного свойства кристаллов КДР - изменения аномальной двуосиости кристалла в зависимости от градиента температуры.Луч лазера 1, проходя через матовую пластинку 2, расширяется и попадает на кристалл КДР 3, который в силу своих оптимальных свойств Формирует на экране 5 при Положении968632 формула изобретения оставитель В.Петуховехред Т.Маточка Корректор С. Шекм Редактор Г.ус 7./6 8 Тираж 887 ВНИИПИ Государственного коми по делам изобретений и от 113035, Москва, Ж, Раушскаказ 814 Подписноета СССРытийнаб., д, 4/5 П Патент, г. Ужгород,Филиа ктная,пропускания света поляризатором 4 коноскопическую картину,...

Номер патента: 1055726

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Данилов, Остроухов, Ткаченко

МПК: G01J 5/50

Метки: газов, колебательной, молекулярных, температуры

...определяют положение участкаспектра для определения колебательной температуры.Выделение требуемого участка спектра производят при тех же ус- . ловиях, при которых будет,определяться колебательная температура. Как показывают оценки, для данной операции вполне достаточно спектральное разрешение порядка 1/10 ширины КВП исследуемой моды, Для нахождения максимума излучения нетнеобходимости использовать заранееопределенные или известные значениякоэффициентов поглощения газа.Ширина спектрального интервала выбирается из соображений удобства и имеющейся аппаратуры. С увеличением ширины интервала увеличивается отношение сигнал-шум регистрирующейаппаратуры, однако в интервалах,ширина которых соизверима с ширинойвсей полосы исследуемой...

Номер патента: 1031293

Опубликовано: 30.12.1983

Авторы: Галяутдинов, Саинов, Хайбуллин, Штырков

МПК: G01J 5/50

Метки: импульсном, кристалла, нагреве, температуры

...воспроизнодимость измеряемой температуры, Цель изобретения - повышение точности и быстродействия способа.Поставленная цель достигается тем, что в способе определения температуры кристалла при импульсном нагреве путем регистрации изменения температурно-зависимого параметра кристалла под действием импульсного нагрева и сравнения с зависимостью изменения этого параметра при непрерывном нагреве 5 10 кристалл облучают пучком электронов с энергией 30 в 1 кэВ и регистрируют изменение интенсивности одного из рефлексов элект 15 ронно-дифракционной картины наотражение.На Фиг, 1 дана схема устройствадля реализации предлагаемого способа, на фиг, 2 приведен график зависимости интенсивности рефлексаб 20 от температуры для монокристалла кр":мния на...

Номер патента: 1179115

Опубликовано: 15.09.1985

Автор: Тележко

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, отношения, потоков, электромагнитного

...на частоте модуляции.Способ осуществляют следующим образом.Прерывают потоки со сдвигом фазна 180 , для чего поток пропускаютчерез диафрагмы 1 и 2 и вращающийсядиск модулятора 3 с отверстиями, вы-.полненными так, что форма его отверс.тий не совпадает с формой непрозрачных промежутков между отверстиями 4 О(этим обеспечивается необходимоеналичие второй гармоники частоты моъ4 дуляции), потоки одновременно не перекрываются полностью (при этом суммарный поток не равен нулю ни в какой момент времени).Суммируют оптически модулированные потоки и преобразуют суммарный поток в суммарный электрический сигнал фокусировкой потоков с помощью объектива 4 на чувствительную площадку общего фотоприемника 5.Регулируют усиление с помощью усилителя 6,...

Номер патента: 1248536

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Магнар, Свен

МПК: G01J 5/50

Метки: дефектов, заготовок, поверхностей

...таблице,Проба А относится к заготовке спрокатной окалиной, Проба В относит.рС ся к заготовке с корродированной(ржавой) поверхностью, а пробыС 5 а 1-2, СБа 2 и СБа 2 1/2 очищеныдробеструйным способом,. причем поверхности были определены в соответ- ствии со стандартом 111 веции Б/Б055900-1967 (АА 7, В, 102 В, 66 А,27 В, 60 П) .В таблице Т означает температуруизмеренную контактным пирометром,а 1 Е температуру измеренную пирометроминфракрасногоизлучения, Показания были получены на сухой (сух,),так и на смоченной (смоч,) поверхностяхКак видно из таблицы, при измере 40ниях на сухой поверхности имеет место большой разброс температур, причемразличия возрастают с увеличениемстепени очистки поверхности дробеструйным методом (см. колонки, обоэна...

Номер патента: 1124686

Опубликовано: 07.09.1986

Автор: Хайкин

МПК: G01J 5/50

Метки: заданном, излучения, коэффициентов, лазерного, объектом, подвижным, рассеивающим, рассеяния, телесном, угле

...в заданном телесном угле с гетеродинным и измеряют амплитуду биений смешанного излуче-, ния Чщ, смешивают эталонное излуЧение с гетеродинным и измеряют амплитуду биений смешанного излучения 7 и определяют значение коэффициента рассеяния К в заданном телес 2Рэт оь ном угле по Формуле К =Рп 1 эт а значение размерного коэффициента рассеяния по максимуму спектральной плотности М определеяют по формуле На чертеже изображена функциональная схема устройства для осуществления способа.Устройство содержит лазерное излучение 1, формирователь 2 опорного излучения 3 и эталонного излучения 4, подвижный рассеивающий объект 5, калориметрический измеритель 6 мощности опорного излучения, гетеродинное излучение 7, сформированное из опорного...

Номер патента: 1225341

Опубликовано: 15.11.1987

Авторы: Борухман, Колесов, Корженевич, Олейник

МПК: G01J 3/45, G01J 5/50

Метки: длительности, импульсов, лазера, оценки

...длительность импульса, с - скорость света,.Ь 1, - разность оптических длин впаре волокон, Если д 1Юс, то импульс, пройдя по каждому из волокон пары, последовательно падает на регистрирующую среду и равномерно засвечивает ее. Относительная разность интенсивностей в интерференционноммаксимумеи минимуме а равЯмакс К минная - - - ф ---- где я - средняя6интенсивность характеризует степень перекрытия импульсов, при этом нетнеобходимости выравнивать распределение интенсивности по поперечномусечению пучка. При необходимости можно приближенно оценивать длительность, импульса, последовательностьвеличин Ь 1для разных пар волоконможно сделать геометрической (напримерь 1 ,./с = 2 пс, 4 пс, 8 пс, ит.д.) или арифметической (100 пс,200 пс, 300 пс и...

Номер патента: 1064753

Опубликовано: 23.11.1987

Авторы: Ананьев, Гурари, Кухтевич

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, инфракрасного, регистрации

...измерения пространственныххарактеристик лазерного излучения,Известно устройство для регистрации инфракрасного излучения, содержащее формирующую оптическую систему, визуализатор, выполненный в виде подложки, на которую нанесен слойкристаллофосфора и источник ультрафиолетового излучения,. оптическисвязанный с кристаллофасфаром,,Недостатком устройства является 15невысокая разрешающая способность,так как при попадании на визуализатор лазерного излучения происходитраэмытие теплового рельефа,Наиболее близким к предложенному 20является устройство для регистрацииинфракрасного излучения, содержащееФормирующую оптическую систему, визуализатор, выполненный в виде пленки с нанесенным на нее кристалафасфорам, и источник ультраФиолетовогоизлучения,...

Номер патента: 1199038

Опубликовано: 15.05.1988

Авторы: Булгаков, Константинов, Савельева

МПК: G01J 5/50

Метки: локальной, поверхности, температуры

...изделия ( - десятка монослоев)с известным профилем распределенияпо глубине. Это обеспечивает надежность измерения именно поверхностной температуры, вследствие закрепления радионуклида в кристаллическойрешетке материала изделия. При этомпроцесс диффузии совмещается с испарением и уносом радиоактивности из 25контролируемого объема. Дистанционное определение относительной радиоактивности градуируют в величинахтемпературы поверхности.Способ реализуют следующим образом. В контролируемый участок поверхности изделия имплантируют радиоактивные ионы, например ионы изотопацезий, обладающие энергией в несколько дЕсятков кэВ, что обеспечивает создание радиоактивного излучающего участка в изделии, встроенногона глубине б 0,01 мкм, В...

Номер патента: 1408246

Опубликовано: 07.07.1988

Автор: Холопов

МПК: G01J 5/50

Метки: излучения, ик-области, коэффициентов, отражения, полупрозрачных, пропускания, спектра

...стенки камеры 1, для этого зеркало 9 устанавливают вположение, показанное на фиг. 1 штрихами,образец 5 вводят между черными телами (положение черных тел 3 и 4 любое) и фиксируют величину сигнала по отсчетному устройству 2.Выводят образец 5 из объема между чер 0 ными телами и измеряют яркость 1 образца на фоне стенки камеры. После этогочерные тела 3 и 4 устанавливают в положение, при котором черное тело 4 находитсямежду черным телом 3 и зеркалом 7. Обра 15 зец 5 устанавливают между черными телами. При этом черным телом 3 облучак)т однунз поверхностен образца 5, а черным телом4 - другую поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству 10. Зеркало 9 устанавливают в положение (пока 20 зано на фиг. 1 сплошными линиями),...

Номер патента: 1516806

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Кауфман, Кузнецов, Кузнецова, Либерман, Янкевич

МПК: G01J 5/50

Метки: единицы, излучения, лазерного, мощности, передачи, размера, средней, средствам

...нанесеныштрихи глубиной равной четверти дли 15ны волны излучения лазера 1. Выбортакой глубины штрихов обеспечиваетподавление мощности, отражаемой внулевой порядок дифракции, и сосредоточение ее в первых порядках дифракции. При этом соответствующим выборомколичества штрихов на миллиметр добиваются устранения более высоких порядков дифракции. Привод 6 оправки,может содержать, например, подшипниковую опору и поводковый шток, который может перемещаться вручную или спомощью электропривода. Фиксаторы 7оправки могут быть выполнены, например, шариковыми.Устройство работает следующимобразом.В процессе передачи размера единицы поверяемому средству 4 измеренияего устанавливают в предназначенныйдля него узел установки на том жерасстоянии от...

Номер патента: 1529051

Опубликовано: 15.12.1989

Авторы: Беридзе, Бондарь, Кришман, Табидзе, Турманидзе

МПК: G01J 5/50

Метки: движущейся, металла, нагрева, печах, полосы, струйного, температуры, термообработке

...в печь)до точки визирования д-го 25пирометра;Ч - скорость транспортированияполосы, вычисляются промежутки времени транспортирования фиксируемогоучастка полосы от момента входа впечь до точек визирования первого,второго и третьего пирометров. Послеэтого для начала отсчета времени запускается входящий в состав УВМ 8таймер. В моменты прохождения фиксируемого участка полосы через точкивизирования пирометров, которые определяются с помощью таймера, по сигналу от УВМ пирометрами 2-4 измеряются условные темпуратуры Т Ту Туу 40Далее после передачи этой информации в цифровом виде в УВМ 8 путемрешения нелинейного уравнения-е "1 "т1 Оопределяется коэффициент кривой нагрева полосы 1 у.По значениюв УВМ 8 по формулеТ еф" 1-е"т)-Тк 1" 1-еТ ТФСо к Т...

Номер патента: 1543248

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Вольчин, Крывошеев, Макарчук

МПК: G01J 5/50

Метки: движущихся, дисперсной, среды, температуры, частиц

...с яркостной температурой эталонного источника по достижении миниму- сЩ ма регистрируемой дисперсии флуктуаУстроиство работает следующим образом.Световой поток от эталонного источника 1 формируется оптической сис темой 2 и через оптические окна 8 просвечивает реактор 6, после чего попадает на фотоприемник 3. При пересечении движущимися частицами 7 светового пучка эталонного источника 1 часть светового потока поглощается частицами 7 при этом на Фотоприемник 3 помимо непоглощающей части светового потока от эталонного источника 1 попадает также собственное излуче" ние частиц. Флуктуация числа частиц в потоке вызывает Флуктуации потока излучения, регистрируемого Фотоприем ником 3. Сигналы с Фотоприемника 3 усиливаются усилителем 4 и...

Номер патента: 1583756

Опубликовано: 07.08.1990

Авторы: Мокин, Яблочников

МПК: G01C 19/64, G01J 5/50, G01P 3/36 ...

Метки: вращающихся, объектов, параметров

...с угловой скоростью Ь 1, то луч, формируемый неподвижным источником 2, будет сканировать стек.лянный диск датчика 3. Испытывая многократные отражения от границ разде ла сред с показателями преломления и и и в плоскости, совпадающей с дйаметральной линиейсстеклянного дис" ка датчика 3, излучение приобретает фаэОВый сДВиГУ который буДет пропор ционален средней температуре вдоль указанных диаметральных линий. При этом точность оценки температурного поля будет зависеть от количества различаемых диаметральных линий и определяться частотой импульсного сигнала на выходе управляемого тактового генератора 18, вырабатывающего син сигнал для АЦП 20, на вход которого поступает аналоговый сигнал с выхода сумматора 15, пропорциональный темпе,ратуре...

Номер патента: 1589077

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Коробкин, Согоконь

МПК: G01J 5/50

Метки: анизотропных, градиента, изменения, монокристаллов, процессе, температур, температуры

...прибору. При нагревании кристалла, например, излучением ИК лазера, на самопишущем приборе фиксируются шесть синусоид периодических изменений интенсивности излучения в центре коноскопической фигуры. Сравнивая между .собой каждые две синусоиды, выделяют смещение Л 1 экстремальных значений. Затем измеряют расстояние ЛХ между двумя участками монокристалла, от которых получены сравниваемые синусоиды, Предварительно измеряют температуру Т, соответствуюгцую одному периодическому изменению интенсивности излучения в центре коноскопиче1589077 Формула изобретения Составитель В. АТехред А. КравчукТираж 428комитета по изооретенисква, Ж - 35, Раушский комбинат Патент дриановКоррект Г 1 одпис Редактор Е. КопчаЗаказ 2532НИИПИ...