254794
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 254794
Текст
254794 ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Респтблик:531.717.2(088.8) Комитет ло делам иаобретеиий и открытий лри Совете Министров СССРСПОСОБ ЗАМЕРА ИЗОГНУТОСТИ ТОНКИХ ПЛАСТИН Известен способ замера изогнутости тонких пластин, например конденсаторных, с применением измерительного прибора. В качестве измерительного прибора в известных способах используют индикатор часового типа.Однако известные способы имеют низкую точность замера из-за того, что под действием измерительного усилия пластины меняют величину стрелы прогиба.В предлагаемом способе этот недостаток устранен за счет того, что в качестве измерительного прибора используют измерительный микроскоп, содержащий центра для крепления замеряемой пластины и отсчетное устройство, устанавливают пластину одним своим концом в центрах микроскопа, затем снимают по отчетному устройству величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной оси микроскопа, а величину изоН гнутости подсчитывают по формуле 1 = - .4На чертеже изображена схема, поясняющая описываемый способ.Способ замера изогнутости тонких пластин заключается в следующем.Устанавливают пластину 1 одним концом в центра 2 и 3 измерительного микроскопа и замеряют величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной осц микроскопа. Величину изогнутости 1 подсчитывают поНформуле г =Формула выведена, исходя цз предположения, что изгиб имеет форму дуги правильной окружности и стягцваемый дугой центральный угол а мал, т. с. а - + О.10 Предмет изобретения Способ замера изогнутости тонких пластин,например конденсаторных, с применением измерительного прибора, отяичаюи 1 ийся тем, что, с целью повышения точности замера, ис.пользуют в качестве измерительного прибора измерительный микроскоп, содержащий центра для крепления замеряемой пластины и от счетное устройство, устанавливают пластинуодним своим концом в центрах микроскопа, затем снимают по отсчетному устройству величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной оси микроскопа, а вели чину изогнутости подсчитывают по формуле4254794 Герасимова Техред 3. Н. Тараненко Корректор Г. С. Мухин кто Типография, пр. Сапунова,каз 418/7НИИПИ Комитета по делаьМоскв Тираж 480зобретений и открытийЖ, Раушская наб.,Подписное и Совете Министров СССР
СмотретьЗаявка
1283092
МПК / Метки
МПК: G01B 9/04
Метки: 254794
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-254794-254794.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">254794</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения координат точек на сфере малого диаметра
Следующий патент: 254795
Случайный патент: Устройство для ослабления поля тяговых двигателей тепловоза