Компаратор для аттестации штриховых мер

ОПИСАНИЕ 22 ЗИИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспублинК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства М Заявлено 15.111.1966 ( 1063134/25-28)с присоединением заявки МПриоритетОпубликовано 28.7.1969. Бюллстень М 18Дата опубликования описания 29.Х.1969 Ел, 42 и, 120 1 ПК 6 01 Комитет по делам зооретений ы открытий прн Совете Министров СССРАвторыизобретения в, Л. И, Залкини Н, И. Махровий институт И, КарКошле Владзиевский, Б. Д. Н Д. Нечецкий, А. Н, Авд Экспериментальный иа металликитии, В улов, С. В учио-иссле режущих Заявите довательск танков ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ШТРИХОВЪХ МЕР ПАР ти точнои ус на штрих уст Известны компараторы для аттестации штриховых мер путем сличения проверяемой меры с образцовой, содержащие станину, стол, на котором устанавливают образцовую и проверяемую меры, механизм перемещения стола, каретку с механизмом тонкой подачи, два фотоэлектрических микроскопа с колеблющимися плоскопараллельными пластинками, установленными на каретке, устройство для отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер.Однако указанным компаратором нав фотоэлектрических микроскопов на ш (компенсацию взаимного положения штр ) производят вручную,Предлагаемый компаратор отличается ог известных тем, что каждая система компенсации измерительных импульсов микроскопов выполнена в виде электродвигателя, управляемого сигналом микроскопа, редуктора, связанного с электродвигателем датчика, воспринимающего перемещение выходного звена редуктора и подающего выработанный им сигнал в обмотку плоскопараллельной пластинки микроскопа. Это отличие позволяет авгоматизировать совмещение центра колебания изображения щелевой диафрагмы с центром штриха меры.Для исключения необходимостановки одного из микроскопов ройство отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер может быть выполнено в виде сумматора, осуществляющего алгебраическое сложение сигна лов, подаваемых в обмотки плоскопараллельных пластинок.Для повышения производительности аттестации редуктор системы компенсации может быть выполнен с перемснным передаточным 10 отношением, а для повышения точности аттестации связь каретки со стагишой может быть выполнена гибкой в виде плоских пружин, и опора стола, на котором расположены сличаемые меры, может быть выполнена в виде 15 двух автономных кареток.Для сужения зоны визирования микроскопов механизм тонкой подачи каретки можег быть снабжен приводом, получающим питание от одного из микроскопов.20 На фиг. 1 изображена схема компаратора;на фиг. 2 - схема измерения; на фиг. 3 - схема базирования стола.Описываемый компаратор содержит станину 1, стол 2, на котором устанавливают образ цовую и проверяемую меры 3 и 4, механизм 5перемещения стола, каретку 6 с механизмом 7 тонкой подачи, два фотоэлектрических микроскопа 8 и 9, две системы компенсации измерительных импульсов, поступающих от фого электрических микроскопов, и устройство для5 10 15 20 25 отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер.Каждая система компенсации измерительных импульсов микроскопов выполнена в виде электродвигателя (на чертеже не показы), управляемого сигналом микроскопа, редуктора 10, связанного с электродвигателем датчика 11, воспринимающего перемещение выходного звена редуктора и подающего компенсирующего сигналы на обмотку 12 плоско- параллельной пластинки 13 микроскопа,Устройство отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер выполнено в виде сумматора 14, осуществляющего алгебраическое сложение сигналов, подаваемых в обмотки плоскопараллельных пластинок.Редуктор 10 выполнен с переменным передаточным отношением, а механизм 7 снабжен приводом (на чертеже не показан), получающим питание от микроскопа 8. Связь каретки 6 со станиной выполнена гибкой в виде плоских пружин 16 и 16,Опора, стола 2, на котором расположены меры 3 и 4, выполнена в виде двух автономных кареток 17 и 18.Работает компаратор следующим образом. Световой луч от лампы 19 конденсатором 20 направляется на диафрагму 21. Световая полоса, вырезанная диафрагмой, проектируется объективом 22 на поверхность шкалы. На пути светового луча находится плоскопараллельная стеклянная пластинка 13 с обмоткой 12, находящейся в поле постоянного магнита 23. По обмотке течет переменный ток, вызывающий вибрацию пластинки и сканирование изображения щели диафрагмы на поверхности шкалы. Световой луч, отраженный от поверхности шкалы, при помощи призмы 24 направляется на фотоприемник 25. При периодическом прохождении светового луча через штрих 26 на шкале (вследствие затемнения луча на фотоприемнике) возникают импульсы тока.Время 1, и 1., между импульсами равно лишь в том случае, когда центр колебания изображения диаграммы совпадает с центром штриха. Разность 1 - 1 характеризует наличие и знак смещения штриха,Импульсы с фотоприемников фотоэлектрических микроскопов 8 и 9 поступают в электронные блоки 27 и 28, на выходе которых образуются сигналы, пропорциональные разности 1, - 1. для одного микроскопа и 1, - ь" для другого микроскопа, Эти сигналы поступают на электродвигатели, которые через редукторы 10 перемещают датчики 11, вследствие чего изменгпотся токи, поступающие с компенсирующих блоков с обмотки 12 плоскопараллельных пластинок 13 фотоэлектрических м икроскопов. Изменения этих токов будут продолжаться до тех пор, пока под их действием пластинки не повернутся на такие углы, при которых центры колебаний изображений диафрагм микроскопов совместятся с центоа 30 35 40 45 50 60 65 мн соответствуюгццх птгрпхов на образцовой и проверяемой мерах и сигналы с выходов электронных блоков станут равнымн нул о, При этом токи в обмотках будут такой величины, что пластинки под их действием повернутся па углы, определяющие положения штрихов на шкалах.Если начальные положения микроскопов над нулевыми штрихами выбраны такими, при которых постоянные токи в обмотках равны нулю, то на любых других штрихах алгебраическая сумма токов в обмотках определит положение штриха проверяемой меры относительно соответствующего штриха образцовой меры,Сумматор 14 суммирует токи и регистриру- ет результат.После отсчета положения штриха проверяемой меры относительно соответствующего штриха образцовой меры стол перемещается па шаг шкалы с повышенной скоростью, а в зону визирования микроскопов вводится следующая пара штрихов,Предмет изобретения 1, Компаратор для аттестации штриховых мер путем сличения проверяемой меры с образцовой, содержащий станину, стол, на котором устанавливают образцовую и проверяемую меры, механизм перемещения стола, каретку с механизмом тонкой подачи, два фотоэлектрических микроскопа с колеблющимися плоскопараллельными пластинками, установленными на каретке, две системы компенсации измерительных импульсов, поступающих от фотоэлектрических микроскопов, устройство для отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер, отличаюи 1 ийся тем, что, с целью автоматизации совмещения центра колебаний изображения щелевой диафрагмы с центром штриха меры, каждая система компенсации измерительных импульсов микроскопов выполнена в виде электродвигателя, управляемого сигналом микроскопа, редуктора, связанного с электродвигателем датчика, воспринимающего перемещение выходного звена редуктора и подающего компенсирующие сигналы на обмотку плоскопараллельной пластинки микроскопа.2, Компаратор по п. 1, отличающийся тем, что, с целью исключения точной установки одного из микроскопов на штрих, устронство отсчета относительного положения штрихов образцовой и проверяемой мер выполнено в виде сумматора, осуществляющего алгебраическое сложение сигналов, подаваемых в обмотки плоскопараллельных пластинок.3, Компаратор по п. 1, отличаюшийся тем, что, с целью повышения производительности аттестации, редуктор системы компенсации выполнен с переменным передаточным отношением.4. Компаратор по п. 1, отличающийся тем, что, с целью сужения зоны визирования мик221311 с и 2 с роскопов, механизм тонкой подачи каретки снабжен приводом, получающим питание от одного из микроскопов.5. Компаратор по п, 1, оглссчпюсссийся гем, что, с целью повышения точности аттестации, опора стола, на котором расположены сличаемые меры, выполнена в впдс двух автономных кареток.6. Компаратор по и. 1, оглссчасосссссссс гем, что, с целью повышения точности аттестации, связь каретки со станиной выполнена гибкой в виде плоских пружин.221311 э ставитель Г. Корчагиехред Т. П. Курилко актор Т. Данилова орректор О. Б, Тюрина Типограаия, по. Г яп нова,Заказ 2657,10ЦНИИПИ Комитета лам из Москва Тираж 480 Подписноееппй п открытий при Совете Министров ССС Центр, пр. Серова, д. 4