Патенты с меткой «254794»

Номер патента: 254794

Опубликовано: 01.01.1969

МПК: G01B 9/04

Метки: 254794

...устройство, устанавливают пластину одним своим концом в центрах микроскопа, затем снимают по отчетному устройству величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной оси микроскопа, а величину изоН гнутости подсчитывают по формуле 1 = - .4На чертеже изображена схема, поясняющая описываемый способ.Способ замера изогнутости тонких пластин заключается в следующем.Устанавливают пластину 1 одним концом в центра 2 и 3 измерительного микроскопа и замеряют величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной осц микроскопа. Величину изогнутости 1 подсчитывают поНформуле г =Формула выведена, исходя цз предположения, что изгиб имеет форму дуги правильной окружности и стягцваемый дугой центральный угол а мал, т. с. а - + О.10...