G01B 15/02 — для измерения толщины

Номер патента: 1055965

Опубликовано: 23.11.1983

Авторы: Артамонов, Кремков

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...согласно способу контроля толщины покрытий, заключающемся н том, что обьект контроля облучал пучком моноэнергетических электронон, регистрируют 55 спектр интенсивности отраженныхэлектронов и определяют толщину покрытия, облучение производят электронами с энергией н пределах 5-50 эВ, регистрируют спектры интенсивности упруго отраженных электронов до на. - несения покрытия и после нанесения покрытия, а толщину покрытия определяют по разности максимумов интенсивности отраженных электронов до нанесения покрытия и после.Способ контроля толщины покрытий осуществляется следующим образом.Электроны испускаются накаленной вольАрамовой нитью или оксидным катодом, образующийся электронный пучок с конечным энергетическим разбросом "1 эВ Аокусируют...

Номер патента: 1116315

Опубликовано: 30.09.1984

Авторы: Зима, Майсурадзе, Пчельников

МПК: G01B 15/02

Метки: толщины

...сечениясо щелью на двух противоположных торцовых сторонах и с электрическим; выходом 15Однако это устройство имеет низкую точность и чувствительность,так как коэффициент замедления (О)и длина волны резонатора Э) слабо зависят от толщины материала, 20Целью изобретения является повышение точности и чувствительности измерения толщины материалов.Цель достигается тем, что устройство для измерения толщины материалов, содержащее СВЧ-преобразователь размера изделий, выполненныйв виде резонатора прямоугольногосечения со щелью на двух противоположных. торцовых сторонах и с электрическим выходом, снабжено замедляющей системой, выполненной в видегребенки, составленной из прямоугольных, параллельных металлических пластин, консольно...

Номер патента: 1138644

Опубликовано: 07.02.1985

Авторы: Гагин, Колкер, Минич, Седых

МПК: G01B 15/02

Метки: поверхности, профиля

...емкости, между 1 О полненный в виде изолированного прокоторыми размещен коммутатор 111, вода 1, расположенный на поверхносОднако необходимость поочередного ти шаблона 2, размещаемой к поверхпереключения емкостей для их измере- ности изделия 3, и образующий с нимния снижает точность и увеличивает двухпроводную линию, измеритель 4время контроля. 15 распределенной емкости, выполненныйКроме того, необходимо сравнивать в ниде импульсного СВЧ-рефлектометра,полученное распределение значений состоящего из генератора 5 короткихемкостей с заданным, что также уве импульсов и стробоскопического осличивает время контроля. циллографа 6. Один из концов изолиНаиболее близким к изобретению по 2 О роваиного провода 1 соединен с однимтехнической...

Номер патента: 1143970

Опубликовано: 07.03.1985

Авторы: Выстропов, Забродский, Иващенко, Капранов, Хрипунов

МПК: G01B 15/02

Метки: изделия, покрытия, толщины

...объекта источник с коллиматором и детектор 35 излучения с обхватывающей его диафрагмой, снабжено экраном, соосно устанавливаемым между источником излучения и объектом и выполненным из непрозрачного для нзлуче ния материала в Форме диска, диаметр которого и его расстояние от источника выбрано в соответствии с соот- ношением где " - расстояние от источникаизлучения до экрана 1) - диаметр экрана;3 - диаметр источникаиэлучечения;1 н - минимальная толщина изделия;3 о - толщина насыщения в материале изделия дляиэлучения используемого источника.На чертеже изображено предлагаемое устройство, разрез.Устройство для измерения толщины покрытия 1 изделия 2 содержит последовательно устанавливаемые по одну сторону от контролируемого...

Номер патента: 1146552

Опубликовано: 23.03.1985

Автор: Забродский

МПК: G01B 15/02

Метки: толщины

...13 и оськоллиматора 15 источника, пересекается с оптической осью коллиматора 15 источника на расстоянииВС = Ь от поверхности контролируемого изделия 16 внутри слоя материала контролируемого изделия,Аналогичная образующая,коллиматора 14 пересекается оптическойосью коллиматора 15 над поверхностьюизделия. Расстояние ВС не превышаетмаксимальную толщину контролируемого материала.Устройство работает следующим образом.Измерительный преобразователь в составе жестко закрепленных коллимированного источника 1 и двух коллимированных детекторов 2 и 3 устайавливается на поверхность образца из материала контролируемого изделия 16 произвольной плотности при его толщине, превышающей толщину насыщения при мини3 11мальной плотности. Блок 12 коммутации...

Номер патента: 864923

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Денисов, Канцедалов, Павличук, Самойленко

МПК: G01B 15/02

Метки: диаметра, изменения, трубопровода

...паропроводов 2 . Оно является ближайшим к изобретению по технической сущности и содержит источник проникающего . излучения с коллиматором, механизм перемещения источника и приемник излучения, выполненный в виде фотокасеты с пленкой, установленный со сточ роны трубопровода, противоположнои по отношению к источнику. Диаметр трубопровода измеряют по величине следа трубопровода, получаемого на пленке после ее экспонирования источ.40 ником проникающего излучения.Однако для получения истинных размеров просвечиваемой трубы необходимо, чтобы плоскость рентгеновской пленки была перпендикулярна направлению радиоактивного излучения. Применяемые методы для ориентации рентгеновской, пленки недостаточно эффективны и дают значительную...

Номер патента: 1151816

Опубликовано: 23.04.1985

Авторы: Аюханов, Кремков, Черненко

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...получают из онного источника, работающего на принципе катодного распыления в виде отрицательных ионов поверхностей, активированных щелочными ионами. Образовавшиеся отрицательные ионы ускоряющим полем вытягиваются из источника, и сформированный пучок попадает в 90-градусный цилиндрический электростатический конденсатор, который осуществляет монокинетизацию пучка. Далее пучок моноэнергетических отрицательных ионов с энергией Е фокусируют на объект контроля нормаль. но поверхности или под некоторым углом М относительно нормали к поверхности. Уголвыбирают в диапазооне углов 0се 70, что связано с геометрией системы и необходимостью проникновения ионов на некоторую глубину в образец. Энергия первичных ионов выбирается в пределах 100 эВ 4 Е р 4...

Номер патента: 1177663

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Захаров, Колбун

МПК: G01B 15/02

Метки: активного, нанесения, пленки, скорости, толщины

...прямоугольного СВЧ-волновода измеряют амплитуды проходящей и отраженной от элемен та-свидетеля СВЧ-волны и в моменты1 1177663 2Изобретение относится к контроль- ку. Одновременно измеряют амплитуды но-измерительной технике и может проходящей и отраженной СВЧ-волны; быть использовано для контроля от элемента-свидетеля. толщины и скорости роста пленки впроцессе ее нанесения на подложку.В момент равенства амплитуд отраЦель иэббретения - повышение точ- женкой и прошедшей СВЧ-волны протягиности контроля толщины и скорости вают дискретно элемент-свидетель нанесения пленки, таким образом, чтобы в волноводе по-:Способ осуществляется следующим мещался новый отрезок элемента-свиобразом, 10 детеля с первоначальными параметраВ зоне контроля...

Номер патента: 1182259

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Крючков, Матвеев

МПК: G01B 15/02

Метки: диэлектрических, толщины

...толщины диэлектрических сред и изделийс использованием радиоволновых 5методов.Целью изобретения является повышение точности измерения и расширение диапазона измеряемых толщин,На чертеже представлена схема 10устройства,Перестраиваемый генератор 1 СВЧколебаний волноводно соединен с волноводным тройником 2, симметричныеплечи которого соединены с входами 15ферритовых вентилей 3 и 4, выходвентиля 3 соединен с детекторнойсекцией 5 и нагрузкой 7, а выходвентиля 4 - с детекторной секцией 6и приемопередающей антенной 8, диф- уоференциальиый усилитель 9 входамиэлектрически соединен соответственно с детекторными секциями 5 и 6,а выход усилителя 9 - с индикатором 10. 25Устройство работает следующимобразом. СВЧ-генератор 1 возбуждает, в волноводе...

Номер патента: 1188531

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Гуюмджян, Железнов, Стрельцов, Чаусов

МПК: G01B 15/02

Метки: датчик, жидкости, толщины

...для увеличения контрастности изображения. В качестве термохромного вещества могут быть использованы композиции на основе холестерических жидких крис- таллов, например состав, содержащий следующие компоненты: производные холестерина, поливиниловый спирт, 2,2,6,6-тетраметил-оксиперидин и вода. Состав компонента, содержащего производные холестерина, подбирается в зависимости от температуры в исследуемом аппарате, тепло- Физических свойств газа и орошающей жидкости. Например, в установке с температурой газа и орошающей жидкости (воды) 20 С может быть использована композиция из жидкокристаллических веществ следующего состава, Х: холестерил олеил карбонат 70, холестерил наноноат 10; холестерил бензоат 20. Цветотемпературный интервал...

Номер патента: 1188532

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Барташевский, Коломойцев, Меньшиков, Острейковский

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, листа, металлического, свч, толщины

...предназначено для измерения толщины металлического листа с помощью СВЧ-излучений,Цель изобретения - повышение точности измерения толщины.На чертеже изображена схема СВЧ-измерителя толщины металлического листа.СВЧ-измеритель толщины листа состоит из СВЧ-автодинного генератора 1, соединенного с 1 -циркулятором 2, второе и третье плечи которого соединены с=циркулято" рами 3 и 4 соответственно, вторые плечи-циркуляторов 3 и 4 . соединены с приемопередающими антеннами 5 и 6 соответственно, а третьи плечи У -циркуляторов 3 и 4 - с дополнительными антеннами 7 и 8 соответственно. Антенны 7 и 8 ориентированы таким образом, что плоскость поляризации каждой из них ортогональна плоскости поляризации одной иэ основных антенн 5 и 6 соответственно....

Номер патента: 1193462

Опубликовано: 23.11.1985

Авторы: Алексанян, Совлуков

МПК: G01B 15/02

Метки: листа, металлического, толщины

...ТОЛЩИНЫ МЕТАШЗИЧЕСКОГО ЛИС жащее два СВЧ-резонатора, с одного торца, СВЧ-генер 801193462 дЗаказ 7304/41 . Тираж 650 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 4Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь"зовано для бесконтактного измерениятолщины металлических листовЦель изобретения - повышениечувствительности измерения.На чертеже представлена схемаустройства,Устройство содержит СВЧ-генератор 1 частотно-модулированных колебаний, электрически соединенные сним два СВЧ-резонатора 2 и 3, каждый из которых выполнен с открытыми торцами, располагаемых по разныестороны от контролйруемого листатак, что...

Номер патента: 1196689

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Елтышев, Казанцев, Чичканов, Ялунин

МПК: G01B 15/02

Метки: градуировочная, мера, покрытий, толщиномера

...основание 1, одна из плоских поверхностей 2 которого является рабочей, покрытие 3 в виде фольги и корпус 4, выполненный в виде цилиндрического стакана, в котором установлено без зазоров основание 1, Корпус 4 выполнен с осевым отверстием 5, диаметр которого меньше диаметра внутренней полости корпуса 4, а покрытие 3 установлено беэ зазора между дном 6 цилиндрического стакана корпуса 4 и рабочей поверхностью 2 основания, выполценцого съемным и установлецного в корпусе.Съемное основание 1 имеет ца своей боковой поверхности наклонную проточку 7 и зафиксировано в кор- пусе 4 с помощью винтов 8, при этом от действия винтов 8 на наклонную поверхность проточки 7 создается некоторое осевое усилие, направленноев сторону покрытия 3 в...

Номер патента: 1206611

Опубликовано: 23.01.1986

Авторы: Егоров, Соколов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, рентгеновский, толщины

...нуля, соединенныйвходом и выходом с усилителем 15напряжения рассогласования, реохорд10 первого клина механически соединен с первым клином 2 и механизмом3 перемещения первого клина и электрически с блоком 11 опорного напряжения, вход второго усилителя 13напряжения соединен с входом усилителя 15 напряжения рассогласования. Кроме того, устройство снабжено последовательно включенными нормирующим усилителем 19 напряжения,вход которого подключен к входуусилителя 12 напряжения следящей 5 1 О 5 20 25 30 35 40 45 50 55 системы, и сумматором 20, выход которого подключен к входу усилителя 15 напряжения рассогласования, а второй вход - к выходу блока 14 выделения сигнала рассоглсования напряжения.Устройство работает следующим образом.Остаточные...

Номер патента: 1211128

Опубликовано: 15.02.1986

Авторы: Зыков, Нетеса, Смольянинова, Шаройко

МПК: B61K 9/12, G01B 15/02, G01B 21/02 ...

Метки: гребня, износа, колесной, пары, подвижного, состава

...Ы 1 ый ЭЛС С Ц )а Ц)(Б (И)Г 51 1)ЕИ) образом, чтооц ца ч 3)с ГВ;г,.ц(: й э,(: м(;( попадало .иць отражс цое 1;3)3) 11 3 (и грес)цей колес (лу 3 1). и;)цри)3(1 И им(ю щи; вертикальный: )древЧмг)1 И 1,1 Н(1 И э,1)3(1 3 ) О;п 3(Т 3(р( 51 В З)1 ИИХ;С)И ( Г 1,1( В 1 К, ОЦ;1 1 Г 1 ния (лу 313 1), ц,)13:; 1 лн,1а 11;(б(,ць ЛЕСИ, И В 51 И 13 И 33330О( 31 ОЛ)(1 ГРЕОЦ 5( КО)с(Ч) 3;(1, 1 3ПЛО(КОСТИ 11 РЦ(Ц 33;),351 Р(1И К ( 1,Т 31 1128в угол между вертикалью и линией,проходящеи через центр колесаи основание гребня в месте попадания на него излучения (луча 1),цо", ТГлом Р) межл, цроекццей Отраженно(0 излучения (лучом 11) ца вертикальцук) плоскость, перпенликулярную к осиплги, и горизонтальной плоскостьюРи = - 3)в30 глс Ъ угол между...

Номер патента: 1223037

Опубликовано: 07.04.1986

Авторы: Капустин, Коршунов, Кощенко, Сурин

МПК: G01B 15/02

Метки: варианты, его, перемещений

...волны приводит к периодическому изменению частоты и мощности Г 1 прн перемещенииКО 4. Электромагнитные колебанияГ 1 оказываются модулированными почастоте и мощности. 2 с.п. Ф-лы.+мьл - ч/сову+ - )уГчса 5( м)3 у ИТ ие где и - коэффициент модуляции при преобразовании ЧМ Колебаний в АМ, пропорциональный добротности объемного резонатора и девиации частоты,у - коэффициент передачи сигнала частотно-избирательной системой и при ее соответствующей настройке порядка - . При малой величине и у 1,1+иТак как фазы , Ч и Ч могут иметь произвольное значение в зависимости от электрических длин пути прохождения падающей и отраженной волн, соответствующим подбором электрических длин делают их кратными 2 У, чем совмещают фазы огибающих изменения мощности и...

Номер патента: 1231404

Опубликовано: 15.05.1986

Авторы: Воронцов, Светличный, Тимофеев

МПК: G01B 15/02

Метки: полупроводникового, слоя, толщины

...технике, в частности, к способам измерения толщины полупроводниковых слоев в производстве полупроводниковых приборов,Цель изобретения - расширение диапазона типов контролируемых полупроводниковых слоев путем исключения влияния толщины слоя и качества р - и-перехода на результаты измерения.На чертеже изображена схема устройства для реализации предлагаемого способа.На схеме обозначены электронная пушка 1, фокусирующая система 2, металлический зонд 3, полупроводниковая пластина 5 с измеряемым слоем 4, металлическое основание 6, устройство 7 запуска, измеритель 8 тока через р -и-переход и устройство 9 смещения.Способ осуществляют следующим образом.Импульсами запуска из устройства 7 одновременно запускаются поток электронов из электронной...

Номер патента: 1231405

Опубликовано: 15.05.1986

Авторы: Дашевский, Соколов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, рентгеновский, толщины

...образец 5 толщины в поток излучения так, что толщина образца 5 в потоке излучения равна заданному номиналу толщины, и через исполнительный механизм 8 приводит в движение компенсирующий образец 6. Перемещение образца 6 производится до уравнивания сигналов навходах дифференциального усилителя 13,после чего образец 6 фиксируется 5 О исполнительным механизмом 8. При этомстановятся равными толщины образцов5 и 6, а также потоки излучения, попавшие на детекторы 2 и 3.Влияние нестабильности источника 55 излучения и его питания, а также других элементов следящей системы уменьшается одновременным управлениемкоэффициентами усиления усилителей10 и 11, Усилители 10 и 11, а такжеблок 12 управления и логический блок16 образуют систему...

Номер патента: 1242712

Опубликовано: 07.07.1986

Авторы: Зиновьев, Ивлиев, Ильиных, Пепеляев, Туранов, Хафизов

МПК: G01B 15/02

Метки: вещество, глубины, излучения, проникновения, электронного

...трубка 1, модуля тор 2, образец 3, датчик 4 температуры, измеритель 5 фазы запаздывания.Поток электронов от электронно-лучевой трубки 1 через модулятор 2 достигает поверхности образца 3 и поглощается им в некотором слое. В процессе поглощения кинетическая энергия электронов переходит в тепловую и на некоторой эффективной глубине возникает тепловая волна. 25 ,Значение этой глубины является измеряемой величиной.При этом электронный поток имеет мощность 10-100 Вт и частотусд = 20- 500 рад/с. Периодически возникающая температурная волна при прохождении через образец 3 изменяет свою фазу. Фазовый сдвиг Ьопределяется путем измерения колебаний температуры и сопоставления фазы этих колебаний с35 фазой колебаний падающего...

Номер патента: 1245881

Опубликовано: 23.07.1986

Автор: Забродский

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...6 от прямого излучения источника 2 и одинаковые условия измерения интенсивностей рассеянного излучения детекторами 5 и 6. Определяют логарифм отношения интенсивности рассеянного излучения 1 , регистрируемой детектором 5, и интенсивности рассеянного излучения 1 регистрируемой детектором 6, с помощью блока 9 и индицируют выходным прибором О1 а 1 ь 1 п - = 1 п(- -- -) = Р ш о где р - коэффициент ослабления материала покрытия для первойэнергии облучения Е;ш - толщина покрытия1Величина ).и -з завгсит от состава покрытия (, и от толщины покрытия (и.Указанное измерение проводят последовательно в нескольких точках контролируемого изделия и фиксируютКУ 25 где р, - коэффициент ослабления материалом покрытия излучения энергии ЕК - функция...

Номер патента: 1265475

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Вакорин, Сас, Фомичев, Шулаков

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...при которой появляется спектр излучения подложки.На фиг. 1 показан пример реализа.ции предлагаемого способа; на фиг.2 Х.и,А;Е;Аур у у(2) 45 50 1 126Изобретение относится к контролГ- но-измерительной технике и может быть использовано при контроле и измерении толщин покрытий без разрушения материалов с помощью проникающего излучения, в частности с помощью потоков электронов. и рентгеновских лучей.Известен способ контроля толщины изделий и покрытий, основанный на измерении отраженных и дискриминированных по энергии электронов при облучении покрытия моноэнергетическим пучком электронов . И .Способ обладает невысокой чувствительностью, так как энергетический интервал выбирают в зависимости от соотношения эффективных атомных номеров подложки...

Номер патента: 1281882

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Ветерис, Ветярис, Калтанас, Кучинскас

МПК: G01B 15/02, G06K 9/46

Метки: покрытия, толщины

...15 и счетчика 17, проходит через элемент И 12 на единичный вход триггера 16, устанавливая5 его в един чное состояние,До этого моментйимпульс А черезэлементы И 13 и .14 не проходит, таккак они закрыты отрицательными перепадами напряжения с единичного выхода триггера 16 и элемента НЕ 21 соответственно. Перейдя в единичноесостояние, триггер 16 закрывает элемент И 12, открывает элемент И 11 ик входу счетчика 18 подключается ге нератор 9.Если теперь вслед за импульсом Априходит импульс В, через элемент 19задержки он поступает через открытыйэлемент И 13 и элемент ИЛИ 24 на ну 30 левой вход триггера 16, сбрасываяего в нулевое состояние. В результате элемент И 11 закрывается, и счетчик 18 Фиксирует код, пропорциональный толщине льда на дорожном...

Номер патента: 1281883

Опубликовано: 07.01.1987

Авторы: Бартошко, Забродский, Парнасов

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...контроль толщины покрытия на контролируемом изделии. Для этого устройство устанавливают на поверхность изделия со стороны покрытия 13. Направляют излучение источника 1 на контролируемое изделие и мишень 8, регистрируют отраженное излучение детекторами 2, 5 и 7. Электрический сигнал на выходе дискриминатора 3 соответствует квантам характеристического излучения элемента подложки и зависит от состава и толщины контролируемого покрытия, геометрических условий измерения и состава подложки1 Рг 111 огде 11 - электрический сигнал на выходе дискриминатора 3 при отсутствии покрытия, зависящий от геометрии измерения и состава подложки;толщина покрытия;- коэффициент поглощения материалом покрытия излучения источника;д - коэффициент поглощения...

Номер патента: 1296835

Опубликовано: 15.03.1987

Авторы: Борисов, Гордеев, Медникова, Неклюдов, Поляшенко, Татусь, Шкилько

МПК: G01B 15/02

Метки: пленки, толщины

...самописцасоединен с входом блока 10 линейного нагрева, Образец может быть установлен на столик 11. Способ осуществляют следующим образом.На столик 11 устанавливают исследуемый образец. Для очистки поверхности от Физически адсорбированных атомов и снятия остаточных напряжений образец предварительно обрабатывают электронами с энергией 500 эВ в течение 20 с и отжигают при 00 К в течение 0,5 ч в вакууме 10 Па, т.е. до тех пор, пока давление остаточных газов по масс-спектрометру не становится равным 10 Па, Затем образец охлаждают до комнатной температуры, после чего его поверхность возбуждают электронами с энергией, которую можно изменять в пределах 50-150 эВ в течение 2 мин, После воз. - буждения с помощью манипулятора сто 35лик 11 с...

Номер патента: 1298538

Опубликовано: 23.03.1987

Автор: Совлуков

МПК: G01B 15/02

Метки: внутреннего, диаметра, металлической, трубы

...предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 412985Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения внутреннегодиаметра металлических труб, в том числе при их производстве. 5Цель изобретения - повышение точности измерения диаметра металлических труб - достигается эа счет локализации измерений при бесконтактном методе измерения. ЮНа чертеже представлена конструкция устройства для реализации способа.Устройство содержит металлический стержень 1, выполненный иэ трех участков 2-4, два 2 и 3 иэ которых имеют 15 одинаковый размер, а третий участок 4, расположенный между ними, имеет отличныйразмер от первых двух. Металлический стержень 1 расположен коаксиально в полости трубы 5....

Номер патента: 1298539

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Буренков, Комаров, Котов

МПК: G01B 15/02

Метки: нанесенных, подложку, слоев, толщины, тонких

...возбуждения К-линии ХРИ кремния используют пучок 1 ускоренныхпротонов (фиг.1) с энергией 300 кэВ25и нестабильностью по энергии не хуже 0,13, получаемый иа электростатическом ускорителе Ван де Граафа, Система коллимации на основе диафрагм 2обеспечивает диаметр пучка 1 мм иугловую расходимость не хуже 0,02Исследуемый образец 3 помещают внутрьцилиндра 4 Фарадея под углом.45 ф кпучку протонов и под таким же угломк направлению на детектор 5. Обуйзаряд протонов, упавших на образец 3, 35измеряют интегратором тока, для подавления вторичной электронной эмиссии используют подавляющие электроды6. С,использованием набора эталонных.образцов, толщина которых известна, 40экспериментально получают зависимостьотношения интенсивности ХРИ кремния к...

Номер патента: 1320661

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Гершензон, Дунье, Ильин, Савельев, Соина

МПК: G01B 15/02

Метки: корда, обрезиненного, толщины

...с частотой йперекрывает обратную СВЧ-волну и в эти промежутки времени генератор 1 работает толь 10 ко на излучение. Ток питания генератораявляется отсчетной величиной. Величина переменной составляюшей этого тока на частоте Й свидетельствует о толщине корда. 15 Формула изобретения 1Изобретение относится к измеритель ной технике и может быть использовано для измерения и контроля толщины обре зиненного корда.Цель изобретения - повышение точно сти определения толщины путем повышения отношения сигнал/шум за счет многократ ного прохождения излучения через корд и автоматизации измерения.На чертеже представлена схема пред лагаемого устройства.Устройство содержит генератор 1 СВЧ волн, циркуляторы 2 и 3, аттенюатор 4, фа зовращатель 5,...

Номер патента: 1343245

Опубликовано: 07.10.1987

Автор: Кремков

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...относительно нормали к поверхностиконтролируемого образца и регистриру -ют ток электронов, прошедших в образец, Для контроля толщины покрытияодного вещества, нанесенного на подложку из другого це цества, измеряютпропорциональное толщине д различиев величинах токов электронов, прошедших в образец беэ покрытия (1 ) иобразец с покрытием (1), т,е. измеряют величину, определяемую разностьюа,-1,-ч=, 1-5,(к)о,(Еаилидр 1 р б(Е ) б (1;р) =1 рдб(Ер)При этом, если О, (Ер)б( (Е р),например, при нанесении диэлектрического или адсорбционцого газового покрытия на металлическую подложку, происходит уменьшение тока электронов,прошедших 6 образец, с ростом толщиныэтого покрытия вплоть до образованияопокрытия со значением б (Ер)=сопз,Если (з,(Е)б(Ер),...

Номер патента: 1354031

Опубликовано: 23.11.1987

Авторы: Выстропов, Капранов

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, радиоизотопный, толщиномер, флуоресцентный

...сигнал, вследствиечего импульсы канала реперного излучения начинают поступать на вход добавочного счетчика 18, а импульсы канала флуоресцентного излучения - на 25вход добавочного счетчика 19. В момент времени, когда число импульсов,занесенное в добавочный счетчик 18,превышает число, установленное в блоке 22, на выходе превышения цифрового компаратора 20 устанавливаетсяпотенциал логической единицы, которыйзапрещает прохождение импульсов реперного канала с выхода дискриминатора 7 в счетчик 18, но разрешает потретьему входу элемента И 8 их прохождение на вход таймерного счетчика 9.Аналогичным образом в момент превышения числа импульсов в добавоч 40ном счетчике 19 над,числом, установленным в блоке 23, на выходе цифрового компаратора 21...

Номер патента: 1355866

Опубликовано: 30.11.1987

Авторы: Грошев, Забродский, Сидуленко

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...контролируемого изделия 1 (кривая на фиг. 2); увеличение плотности потока отраженного излучения в единичный телесный угол в пределах угла Я за счет уменьшения поглощения отраженного излучения материалом покрытия из-за уменьшения пути, пройденного квантами отраженного излучения н материале покрытия с уменьшением угла с(кривая на фиг. 3).Существует некоторое оптимальное расстояние Ь, при котором с увеличением расстояния Ь от входного окна детектора до контролируемого объекта 1 количество зарегистрированных кван-, тов отраженного излучения детектором 6 не зависит от положения объекта относительнс входного окна устройства (фиг. 4), Оптимальное расстояние характеризуется выражением где 1 - расстояние ст оси коллиматора до входного окна...