Способ измерения глубины проникновения электронного излучения в вещество
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(53) (56) веществагрева,изи иях 983 Наука НЫ ПРОНИКЕНИЯ В ВЕ 54) СПОСОБНОВЕНИЯ ЭЛЕШЕСТВО МЕРЕНИЯ ГЛ ОННОГО ИЗЛ Ю ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ К АВТОРСКОМУ СОИ 3846429/2422.01.8507.07.86. БВ.Е.ЗиновьеИльиных, А.Ии В,А,Пепеля531.717.521Заявка Фран6 01 В 15/02елецкий В,Э,ческих свойсэлектронногс. 29-30. ии У 2268966,1976.Исследование тепло(57) Изобретение позволяет измеритьглубину проникновения электронов ввещество для широкого класса материалов. Одновременно снижается трудоемкость. Плоскопараллельный образецоблучают, с одной стороны, потокомэлектронов, изменяющимся по периодическому закону, а, с другой стороны,непрерывно фиксируют изменение температуры, вызванное разогревом образца электронным пучком, и определяютразность фаз периодических законовизменения потока электронов и температуры. Используя найденную разностьфаз и зная температуропроводностьобразца и его толщину, находят искомую величину. 2 ил.(1,41 ь - 1, 1/" 10 20 Изобретение относится к способам измерения толщины с помощью волновых излучений и предназначено для определения параметров воздействия электронного излучения с конструкциоиными материалами, защитными покрытиями и т.д.Цель изобретения - расширение класса исследуемых материалов и снижение трудоемкости.На фиг. 1 представлена схема осуществления способа, на фиг. 2 - измеряемый образец.Позициями обозначены (фиг. 1): электронно-лучевая трубка 1, модуля тор 2, образец 3, датчик 4 температуры, измеритель 5 фазы запаздывания.Поток электронов от электронно-лучевой трубки 1 через модулятор 2 достигает поверхности образца 3 и поглощается им в некотором слое. В процессе поглощения кинетическая энергия электронов переходит в тепловую и на некоторой эффективной глубине возникает тепловая волна. 25 ,Значение этой глубины является измеряемой величиной.При этом электронный поток имеет мощность 10-100 Вт и частотусд = 20- 500 рад/с. Периодически возникающая температурная волна при прохождении через образец 3 изменяет свою фазу. Фазовый сдвиг Ьопределяется путем измерения колебаний температуры и сопоставления фазы этих колебаний с35 фазой колебаний падающего излучения, ЭфФективная толщина образца (фиг.2) определяется по следующей формуле: где Я - температуропроводность образца, измеренная заранее.Глубина проникновения электронного излучения в вещество допределяется вычитанием из толщины образца величиныТаким образом, изобретение обеспечивает измерение. глубины проникновения излучения в материалах любой толщины и снижение трудоемкости за счет проведения измерений без разрушения образца и уменьшения количества замеров,Формула изобретения Способ измерения глубины проникновения электронного излучения в вещество, включающий облучение однойстороны плоскопараллельного образцапотоком электронов и измерение еготолщины, о т л и ч а ю щ и й с ятем, что, с целью расширения классаисследуемых материалов и снижениятрудоемкости, поток электронов изменяют по периодическому закону, непрерывно измеряют температуру образца,вызванную разогревом электронным пучком, со стороны противоположной облучаемой, определяют разность фазпериодических законов изменения потока электронов и температуры, и позаранее определенной температуропровоцности, толщине образца, а такжеуказанной разности фаз находят глубину проникновения излучения,1242712 Составитель И,ПавленкоТехред Н.Бонкало КорректорО,Луговая Редактор Н,Тупица Заказ 3688/36 Тираж 670 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5
СмотретьЗаявка
3846429, 22.01.1985
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1504
ЗИНОВЬЕВ ВЛАДИСЛАВ ЕВГЕНЬЕВИЧ, ИВЛИЕВ АНДРЕЙ ДМИТРИЕВИЧ, ИЛЬИНЫХ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ТУРАНОВ АЛЕКСЕЙ ИВАНОВИЧ, ХАФИЗОВ МИРГАЗИЯН ХАФИЗОВИЧ, ПЕПЕЛЯЕВ ВАЛЕНТИН АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 15/02
Метки: вещество, глубины, излучения, проникновения, электронного
Опубликовано: 07.07.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1242712-sposob-izmereniya-glubiny-proniknoveniya-ehlektronnogo-izlucheniya-v-veshhestvo.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения глубины проникновения электронного излучения в вещество</a>
Предыдущий патент: Пневматический способ измерения неплоскостности
Следующий патент: Наклономер д. г. таймазова
Случайный патент: Способ определения активности фагоцитоза лейкоцитов в сосудистом русле