G01B 15/02 — для измерения толщины

Номер патента: 1404818

Опубликовано: 23.06.1988

Авторы: Дашевский, Егоров, Соколов, Чарихов, Шершелюк

МПК: G01B 15/02

Метки: координаты, полосовых, сварного, шва

...или оптическим дефектоскопом,По информации от измерителя 5 толщины о текущей толщине полосы вычисляют среднее значение толщины полосы, считая от предыдущего шва. Вычисление среднего значения толщины полосы осуществляют усреднением непрерывно получаемых текущих значений толщины в каждом сечении полосы.Вычисление среднего квадратического отклонения толщины полосы от среднего значения осуществляют вычитанием из текущего значения толщины полосы среднего значения толщины полосы, возведением разности в квадрат, усреднением полученных значений и вычислением корня квадратного, т. е. математическим приемом.Полученное текущее значение среднего квадратического отклонения толщины от среднего значения непрерывно сравниваютформула изобретения...

Номер патента: 1408213

Опубликовано: 07.07.1988

Авторы: Андрейшин, Васильев, Горшков, Кутовой, Петров

МПК: G01B 15/02

Метки: массовой, плотности, поверхностной, толщины

...циональном аналоговом режиме, соединяют с входом сумматора б, на второйвход которого подают репернык сигналот перестраиваемого источника 7 напряжения. Выход сумматора б подключают 3 Она вход преобразователя 8 напряжениечастота, который производит прямоепропорциональное управляемое преобразование входного сигнала в частоту,С выхода преобразователя 8 частотныйсигнал подают на вход вьчислительногоустройства 9, выход которого соединен с входом блока 10 отображения.Вычислительное устройство 9 содержитсредства для преобразования частотно Ого сигнала с блока 8 в сигнал толщинц, Между блоком 3 детектирования исумматором включен КС-звенник 11,Кроме того, для реализации способаиспользуют комплект (три эталонных 45поглотителей известной толщины,...

Номер патента: 1408214

Опубликовано: 07.07.1988

Автор: Сахаров

МПК: G01B 15/02

Метки: материальных, объектов, полых, распределения, толщин

...импульсов детекторами определяют максимальнтю амплитуду им пульсов, соответствуюгпиг интенсивцс. - ти излучения зарегистрцрованкого детекторсм, и опрецеляемых комптсговскими электронами, а. 11 ри регистрации импульсов производят амплитуднуо дис-. криминацию по двум уровням напряжения в области амплитуд, болгших макси" мальнс возможных амплитуд ссздавае 45 мых комптоновскими элек"роками, а толщину объекта в каждо сечении определяют по формулеГ 1К 1Х = - 1 п- 8 (-"-; -- .,)р Мгде Х - толщина ма тер.ала: полный кс змфиц 1 ект Осласлсния мсцоэцергетическсгогамма-изл уения;скорости счета импульс.оь при наличии объекта зарегистрированные при двух урознях дискриминации; М,ф - 11 е, в стаута г 1 и 1 сб 1 ек1р - грацуцрогсчцый ксэффициецт,и 1...

Номер патента: 1413419

Опубликовано: 30.07.1988

Автор: Выстропов

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, рентгено-радиометрического, толщины, флуоресцентного

...импульсов рассеянного и флуоресцентного каналов. Однако при этом автоматически увеличивается (уменьшается) общая частота следования импульсов таймерного канала, что приводит при постоянной емкости счет" чика 10 импульсов таймерного канала к соответствующему уменьшению (увеличению) времени счета импульсов флуоресцентного канала счетчиком 9.При надлежащем выборе коэффициента К деления блока 7 результат, записанный в счетчике 9, практически не зависит от потока рассеянного излучения, и точность измерения толщины покрытия 3 на основании 4 переменной толщины повышается.114134 янного и флуоресцентногоизлучений соответственно,- линейные коэффициенты фотопоглощения материаломпокрытия первичного и рассеянного излучений,Й - толщина...

Номер патента: 1415062

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Коротин, Орлов, Усанов

МПК: G01B 15/02, G01N 27/26

Метки: толщины

...Относится к контроль - но-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины с помощью СВЧ-техники.5Цель изобретения - расширение диаОазона измерений,.На чертеже представлена конструкция устройства для измерения толщины и схема включения активного элемента. 10Устройство содержит отрезок полосковой линии 1, в центральной части которой размещен активный элемент 2, и своим основанием 3 соединенный с Вторым отрезком, выполненным в виде 15 коаксиальной линии 4, Полоска 5 по" лосковой линии 1 электрически соединена с центральным проводником 6 коаксиальной линии 4, длина которого больше длины внешнего проводника 7. 20 Коаксиальная линия 4 снабжена диэлектрической вставкой 8, размещенной между центральным 6 и внешним 7...

Номер патента: 1421998

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Недавний, Опокин

МПК: G01B 15/02

Метки: толщиномер

...и Л 0 в скорос счета соответственно для первой и второй энергетических линий при нулевой толщине поглотителя;Ми М - скорость счета соответственно для первой и второй энер гетических линий при толщине поглотителя 6;р и р - коэффициент ослабления излучения для первой и второй энергетических линий соответственно.Тогда можно записать отношение)ц Ф(Р 1 Л 1+ф Р 2 М 2) )и, Н+рЧ)У,-(-Л,где ф - квадрат отношения сигнал/шум прикоэффициенте передачи интегратора 4, равном 1;ф- - квадрат отношения сигнал/щум прикоэффициенте передачи интегратора 4, равном единице.Из условия максимума отношения (2) находим Используя тот факт, что источники с Е и Е независимы, и вводя вместо Е и Ез и так далее, можем записать условие оптимума для произвольного спектра...

Номер патента: 1421999

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Грачева, Егоров, Маслов, Моргенштерн, Соколов, Фирстов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, проката, рентгеновский, толщины

...полосу 1 проката и через стандартный образец 4, определяются по формулам р - линейный коэффициент ослабления;Ь - толщина стандартного образца; Ьм - толщина контролируемой полосы; Ь, Ь 2 - коэффициенты, характеризующиеусиление фотоэлектронных умножителей и электрических цепей.Указанные сигналы попадают в коммутационно-управляющий блок 8, где производится сравнение этих сигналов, В случае, если толщина контролируемой полосы не отличается от толщины стандартного образца, то выходной управляющий сигнал коммутационно-управляющего блока 8 отсутствует и оба фотоэлектронных умножителя 6 и 12 питаются одинаковым высоким напряжением (1 и с 12 от источников 7 и 10. При появлении разнотолщинности полосы на выходе...

Номер патента: 1422000

Опубликовано: 07.09.1988

Автор: Выстропов

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...квантов и проводят в фиксированных условиях (фиг. 2), при которых максимум в спектре рассеянного основанием 4 излуцения соответствует линии с энергией Ес, для которой в материале покрытия коэффициент ослабления рассеянного излучения р д (Еа ) равен коэффициенту ослабления характеристического излучения ц(Е.р), Связь между энергией квантов рассеянного излучения Есс, первичного излучения Ео и углом рассеяния определяется известным соотношением Комптона, и для каждого значения энергии квантов характеристического излучения Ес. (каждого типа покрытия) существует определенная совокупность значений энергий квантов первичного излуцения Ео и углов, между направлением облучения и направлением регистрации рассеянного излучения, удовлетворяющих...

Номер патента: 1430745

Опубликовано: 15.10.1988

Автор: Сурин

МПК: G01B 15/02

Метки: свч-размерометрии

...колебаний, вход которого соединен с выходом частотно-избирательного.элемента 5, а выходы - с управгЕяющими входами генератораи фазовра . 25щателя 2.Устройство работает слодуеощчм Образом,Излучее 111 ая и принятая после отракения от объекта контроля акте:кой - 3 Оэлектромагнитцая волна подводитсячерез первичееуео линию цап ЕавлеЕеногсответвнтеля (ИО) 3 фазовращательвьходу СВЧ-генератораи воздействует на его внутреннюю резонансную,Еб систему. При иэмецеепеи ле.:.Еейных размеров контролируемого объекта проис - ходит изменение частоты СБЧгенератора, пропорциональное модулю 1: фазе 1(оэффициента отражения электромае Ееегг - ной волны (зффеест затягивания ч,-стоты), Это измецеееие Фиксируется ч готцо-из биреетел ьЕЕьэ элене етом 5, к...

Номер патента: 1434244

Опубликовано: 30.10.1988

Авторы: Островский, Сарваниди, Фрезоргер

МПК: G01B 15/02

Метки: радиоизотопный, толщиномер

...блока 8 программного управления, поступающей на управляющий входкоммутатора 7, сигнал рассогласования поступает с второго выхода коммутатора 7 на вход второго операционного усилителя 10, а затем с выхода усилителя 10 на вход второго запоминающего элемента 12. Сигналы с запоминающих элементов 11 и 12 поступают на соответствующие входы первого ана логового сумматора 13, Сигнал, пропорциональный алгебраической сумме сигналов, с запоминающих элементов 11 и 12 поступает с выхода аналогового сумматора 13 на вход третьего запоминающего элемента 14, Затем по командам блока 8 программного управления отключается задатчик 2 и включается задатчик 3 номинального измеряемого значения толщины. При этом по команде блока 8 программного управления...

Номер патента: 1439396

Опубликовано: 23.11.1988

Авторы: Аноян, Казанджян, Салахов, Сукиасян

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...толщины покрытия осуществляют следующим образом.Потоком первичного возбуждающего 45 излучения источников 2, например раФ 1диоизотопов А, облучают контролигии обратнорассеянного от иэделияпервичного излучения и энергии фона,обусловленного обратным рассеянием,преобразуются в электрические импуль-,сы, которые усиливаются по амплитудев усилителе 6 и подак 1 тся на входыамплитудных дискриминаторов 7 и 8для выделения двух последовательностей соответственно с импульсами характеристического излучения покрытияи Фона и с импульсами обратнорассеянного от .изделия первичного возбуждаю"щего излучения,С целью выделения последовательности импульсов характеристическогоизлучения покрытия импульсы с выходадискриминатора 7 подаются на один извходов...

Номер патента: 1442831

Опубликовано: 07.12.1988

Автор: Шнейдер

МПК: G01B 15/02, G01N 22/00

Метки: измерениия, линейных, перемещений

...стоячая волна.Модуль амплитуды напряженности электрического и магнитного полей зависит от длины линии передачи высокой частоты, в данном случае от длины проводника 4, изменение модуля амплитуды происходит по гармоническому закону: период изменения модуля амплитуды стоячей волны равен половине длины волны переменного тока, питающего линию.Фаза амплитуд электрического и магнитного полей стоячей волны в пределах одного периода изменения модуля амплитуды электрического или магнитного поля стоячей волны остается постоянной.Таким образом, информация о перемещении проводника 4, а следовательно, о перемещении связанного с ним объекта, содержится в амплитуде стоячей волны электрического или магнитного поля и числе полных периодов...

Номер патента: 1462101

Опубликовано: 28.02.1989

Авторы: Дашевский, Коломийский, Муханова

МПК: G01B 15/02

Метки: ввода, задания, излучением, измеритель, ионизирующим, толщины

...(например, напряжение постоянного тока) подаются на следящую систему перемещения эталонного клина 4; выходы задатчиков 8 и 9 1 О напряжения подаются на концы реохорда 5 и определяют диапазон перемещения эталонного клина 4, выход задатчика 7 подается на второй вход усилителя 2 и определяет необходимое поло жение эталонного клина 4. На первый вход усилителя 2 подается напряжение с токосъемника 6, соответствующее положению эталонного клина 4, выходной сигнал усилителя 2 (разбаланс следящей системы) подается на исполнительный механизм 3, который перемещает эталонный клин 4 в необходимое. положение по отношению к потоку излучения - до исчезновения на выходе усй лителя 2 сигнала разбаланса. При этом перемещение эталонного клина 4...

Номер патента: 1462102

Опубликовано: 28.02.1989

Авторы: Бартошко, Выстропов, Капранов

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщиномер

...поступает разрешающий сигнал, вследствие чего импульсы канала реперного излучения начинают поступать на счетный вход счетчика 11 и третий,вход третьего элемента И 26, а импульсы канала флуоресцентного излучения - на счетный вход счетчика 6.В момент времени, когда число импульсов, занесенное в счетчик 11,превысит число, установленное в блоке 22, на выходе превышения цифровогокомпаратора 12 установится потенциаллогической единицы, который запретитпрохождение импульсов реперного канала с выхода дискриминатора 9 в счетчик 11 и на третий вход элемента И26, но разрешит по третьему входуэлемента И 13 их прохождение на входблока 25 сложения. Аналогичным образом в момент превышения числа импульсов в счетчике 16 над числом, установленным, в...

Номер патента: 1465701

Опубликовано: 15.03.1989

Автор: Ермолаев

МПК: G01B 15/02

Метки: радиационный, толщиномер

...консолями 3 и 6 скобы 2.Радиационный толщиномер работаетследующим образом.При измерении толщины листа 4, 10технология прокатки которого исключает появление недопустимых подъемовкакой-либо из частей листа, толщиномер используется для измерений в любой точке по ширине листа. Увеличение эФФективной толщины за счет прохождения потока излучения через лист по пути, отличному от нормального при смещении первой консоли 3 относительно второй 6, учитывается 20при первичной градуировке толщиномера;, существенно, что при выполнении условия К = (Б + Я, )/В = 0,4(где В - расстояние между консолями3 и 6), ЭФФективная толщина превышает,действительнуи толщину листа неболее, чем на 10 Ж,Непосредственно измерение толщинылиста 4 начинается с момента...

Номер патента: 1469349

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Выстропов, Гизатуллин, Хрипунов

МПК: G01B 15/02

Метки: настройки, покрытий, толщиномер

...таймер- ного счетчика 20 с его выхода поступает командный импульс в блок 21 управления, который возвращается в исходное состояние и одновременно4закрывает по второму входу элементы И 13 и 18. Следующее измерение начинается с нажатия пусковой кнопки, при этом работа отмеченных блоков повторяется режим "Измерение" предлагаемого толщиномера совпадает с работой устройства-прототипа, т. е. средние частоты импульсов, поступающих в таймерный счетчик 20 и регистрирующее устройство 19, отличаются от средних частот следования импульсов с выходов дифференциальных дискриминаторов 9 и 14 соответственно на величины, пропорциональные средней частоте следования импульсов с выхода дискриминатора 7 канала рассеянного излучения (коэффициенты...

Номер патента: 1469350

Опубликовано: 30.03.1989

Авторы: Гусев, Егоров, Маслов, Соколов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, полосы, проката, рентгеновский, толщины

...с рабочего источника излучения 1 в виде 45 положительной полуволны, а с компенсирующего 2 - в виде отрицательной полуволны (фиг, 4 в). При отсутствии "скачков" сетевого напряжения сигналы с выхода модулятора 7 поступают на один иэ входов сумматора 8.50 При этом на выходе блока 9 формирования сигнала коррекции изменений переменного напряжения формируются полуволны, одинаковые по амплитуде и длительности, но в прбтивофазе к ос 55 новному сигналу, которые поступают на второй вход сумматора 8 (фиг. 4 г). В случае равенства толщины контролируемой полосы 12 и стандартного образца 4 на выходе сумматора 8 форми.руется разностный сигнал, не содержащий постоянной составляющей(фиг. 4 д), Этот сигнал поступает нафильтр 10 нижних частот, где...

Номер патента: 722407

Опубликовано: 15.04.1989

Авторы: Безуглов, Пекарский

МПК: G01B 15/02

Метки: композиции, металл, металла, пластмасса, слоя, толщины

...изоляцией.Цель изобретения - и ние толщины стенок заполненных трубопроводов с изоляцией.Для этого по пр способу предварительно ежду кон тролируемым объект иустройством дополнительный слой пластмассы. толщиной, обеспечивающей максимальную интенсивность регистрируемого гамма-излучения, по величине которой судят о толщине слоя металла.Экспериментально было установлено, что регистрируемый поток гамма-из- лучения радиационного захвата медленных нейтронов слоем металла возрас 10 тает с увеличением толщины слоя пластмассы (при данной толщине слоя металла) до определенного максимального значения, а при дальнейшем увеличении толщины пластмассы происходит очень медленный спад регистрируемого потока гамма-излучения в ши-, роком диапазоне толщин...

Номер патента: 671472

Опубликовано: 23.04.1989

Авторы: Безуглов, Пекарский

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытия, толщины

...на поверхности покрытия поток гамма-излучения радиационного захвата, согласно экспериментальным данным, с увеличением толщины покрытия увеличивается. Так как поле медленных нейтронов на поверхности покрытия (при данной его толщине) и поле медленных нейтронов в материале покрытия полностью определяются полем медленных нейтронов, создаваемым водородосодержащей подложкой (по аналогии с прототипом), то и флуктуации этого поля (флукщуации сВОЙстВ материала пОдлОжки по Отно 45 шению к нейтронам) приводят к соответствующим изменениям регистрируемых потоков медленных. нейтронов и гамма-квантов радиационного захвата на поверхности покрытия, то есть, с50 увеличением поля медленных нейтронов, создаваемого подложкой, пропорцио: нально...

Номер патента: 845552

Опубликовано: 23.06.1989

Автор: Безуглов

МПК: G01B 15/02

Метки: металлической, стенки, толщины, трубопровода

...металла, аналогично контролируемому, нзвестной толщины, которую выбирают не менее удвоенного значения максимальнойабсолютной погрешности измерения в контролируемом диапазоне и не более величины разности толщин, соответствующих минимальной абсолютной погрешности измерения толщины в эаинверсной области и точке инверсии потока, и повторно регистрируют поток гамма-излучения, а о толщине стенки судят по совокупности двух регнстрируемых потоков излучений и градучровочной зависимости потокаот толщины стенки. Для обеспечення минимальной массы дополнительного слоя металла при заданной точности, измерения толщины стенки в диапазоне, соответствующем области инверсии, толщину дополнительного слоя металла выбирают по известной зависимости абсолютной...

Номер патента: 1511594

Опубликовано: 30.09.1989

Авторы: Недавний, Сидуленко

МПК: G01B 15/02

Метки: радиационный, толщиномер

...сигнал насъем показаний. 1 ил. тель 3 ионизирующего излучения, включающий два или более детекторов 4,расположенных симметрицно относительно истоцника 2 излучения, сумматор 5,выполненный с числом входов, равнымчислу детекторов, и регистр 6, входкоторого подключен к выходу сумматора5, а также блок 7 сравнения, выполненный не менее чем с двумя входами,подключенными к каждому из детекторов 4, выход блока 7 сравнения подклюцен к фиксирующему входу регистратора 6, а преоЬразователь ионизирующего излучения установлен с возможностью поворота в плоскости расположения детекторов относительно осиисточника 2 излучения.формула изобретения Радиационный толщиномер, содержащийрасполагаемые с одной стороны от Составитель В,ПарнасовТехред М.Дидык...

Номер патента: 1516780

Опубликовано: 23.10.1989

Авторы: Гусев, Егоров, Маслов, Соколов

МПК: G01B 15/02

Метки: измеритель, проката, рентгеновский, толщины

...материалов полосы проката и клина компенсации;/и Х, - атомный номер элементовматериалов полосы проката и клина компенсации 3 начинает функционировать блок,12 коррекции, подключенный к выходам ФЭУ 4 и 5. При равенстве интегральных значений сигналов 11 и Б,г (фиг.3 б,в) амплитуды и длительности этих сигналов будут отличаться друг от друга. Эти сигналы поступают на входы блока 13 выравнивания сигналов,по амплитудному значению, где проходят через регулирующие элементы 20 и 21 и срав 5 151678 ниваются с опорным напряжением блока 24 соответственно в блоках 22 и 23 сравнения. Регулирующие элементы 20 и 21 изменяют коэффициенты пере 5 дачи сигнала до тех пор, пока сигнафлы на их выходах У, и Б, не станут равными по амплитуде опорному...

Номер патента: 1516781

Опубликовано: 23.10.1989

Автор: Недавний

МПК: G01B 15/02

Метки: плотности, поверхностной, покрытия

...подложки облучают узким пучком 4 моноэнергетического ионизирующего излучения, находящегося в конвейере - формирователе 5 радионуклида 6. Выходящее иэ изделия излучение регистрируют сцинтилляционным детектором 7, подкпюченным к устройству 8 амплитуд" ной селекции электрических импульсов со счетчиками на выходе. Один канал устройства 8 настраивают на регистрацию импульсов с амплитудами, соответствующими энергии источника. Второй канал настраивают на регистрацию импульсов с амплитудами, соответствующими энергии рентгеновской флуорес" К(Р л г -Р ф)Уг 1 АР юг -."ф1 где- чис 1 о регистрируемых фотонов и 1"точника в отсутствии иэделия; ц а , ц - коэффициент ослабления пото .и;1 у 1 еиия подложкой для Фотонов и.тнинка, покрытием для Фотонов...

Номер патента: 1518674

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Гобзиньш, Куроедов, Мартяшин, Цалитис

МПК: G01B 15/02

Метки: радиоизотопный, толщиномер

...с -ра 6, последовательно соединенныеждущие мультивибраторы Б -Бс пэямым (Б) и инверсными (Б, Б, Б)динамическими входами и схемы ИЛИ, спомощью которых осуществляется формирование выходных сигналов 11 - 11.(фиг,З, где С, Б, Б, Б , Б - выходные сигналы генератора С импульсов 4 Ои ждущих мультивибраторов Б, Б, Б.з,Б соответственно). В исходном состоянии до начала разряда первого опорного конденсатора 6 выходное напряжение 11 повторителя 14 напряжения равно напряжению П , . Поэтому напряжение на выходеинвпервого сумматора 15 11. = Ув + + У = О, Выходное напряжение деэм50 лителя 7 напряжения также равно нулю. Так как напряжение на первом входе электрометрического усилителя можно считать равным нулю, то на герконовомключе 8...

Номер патента: 1520331

Опубликовано: 07.11.1989

Авторы: Гусев, Егоров, Маслов, Соколов

МПК: G01B 15/02

Метки: задания, измерителя, клин, прецизионный, проката, рентгеновского, толщины

...связанного с ним фотоэлектронного умножителя (ФЭУ) б, выход которогосоединен с входом системы 7 обработки и Формирования управляющего сигнала, выход которой подключен к показывающему устройству 8. В режиме нормализации (настройки) диск 1клина задания расположен между ра" боцим источником 3 и сцинтиллятором5, а в рабочем режиме его место занимает дополнительная насадка 2, Меж ду компенсирующим источником 4 иони" эирующего излучения и сцинтиллятором 5 находится клин 9 компенсации.Прецизионный клин задания в рентгеновском измерителе толщины работает следующим образом.При настройке измерителя толщины на заданный контролируемый размер полосы 20 10 проката, например 0,1 мм, клин задания устанавливается в пучке излучения рабочего источника...

Номер патента: 1522034

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Гобзиньш, Плацинскис, Сейсумс, Цалитис

МПК: G01B 15/02

Метки: радиоизотопный, толщиномер

...с15 участком областей за пределами конт,. - , ра окна 6. Интенсивность этой компоненты (ЛИ,на Ьиг. 2) излучения увеличивается с увеличением ПП материала в месте рассеивания ионизирующего излучения и уменьшается с уменьшением этой ПП (при отсутствии материала в соседней с участком измерения области в . ноль), Вынесение хотя бы части рабочих поверхностей источников ионизирующего излучения (ИИИ) за пределы проекции контура окна 6 вызывает появление дополнительной компоненты (дИ на Лиг, 2) излученияпрнаправленного от ИИИ прямо через ма" териал, находящийся в соседней с участком области в детектор. С увеличением ПП материала в этой области компонента Д И уменьшается, и наоборот, наибольшее значение этой ком поненты получается при...

Номер патента: 1523915

Опубликовано: 23.11.1989

Авторы: Рыбалко, Тихонов

МПК: G01B 15/02

Метки: вертикальных, микрообъектов, размеров, топологии, элементов

...мкм, заключающийся в том, что на объект под разными углами направляма, при этом измеряют величину параметра излучения между двумя экстрему" мами, после этого по результатаи вычисляют искомую величину по формулеН =:(Х,-Х,) сВ (1,/1,),1=(1;/10) " зависимость угла паодения потока зондирующего излучения ототносительной величигде 3. Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что в качестве регистрируемого параметра излучения выбирают поток поглощенного зондирующего излучения, а в качестве экстремума параметра излучения - максимум этого параметра. 1. Способ измерения вертикальныхразмеров элементов топологии микрообъектов с линейными размерами более Составитель Л,СебякинРедактор Н.Бобкова Техред 1,Дидык Корректор Л.Бескид Заказ 7032/43 Тираж...

Номер патента: 1525451

Опубликовано: 30.11.1989

Автор: Сорокин

МПК: G01B 15/02

Метки: плотности

...при выделении области, ограниченной радиусами ВВ , и т,ди определяют различие отношений АЬ и т.д.Затем выделяют область с радиусом 10г и экранируют области с внутреннимрадиусом г и внешними радиусамиВВзв Въа и определяют Д Д,Ди т,д. Затем устанавливают коллиматоры с радиусом канала г и Радиу сами торца В, В, В з, г и В м,В , Ви т,д. и определяют ДЬп, Д, и Ь Д, Ь . Из всех Авыбирают наибольшее значение Д ко.торому соответствуют гф и В20Устанавливают коллнматор с радиусом какала для проводки пучка г ирадиусом торца коллиматора В , экранирующего область с внутренним радиусом г и внешним радиусом ВКонтролируемый материал устанавливают на торец колииматора и определяют различие Ь между отношением,соответствующим одному из образцов,например...

Номер патента: 1525452

Опубликовано: 30.11.1989

Автор: Сорокин

МПК: G01B 15/02

Метки: покрытий, толщины

...Вд, Вз, и т,д.,и определает различие отношений ЬД,ит,д,Затем при этой ше энергии устанавливают г з и Вз ВфзВъз гФ и 25В В, Вэ и т.д. и определяютД з ф зз Дэз и Д Ч4 и М ф Измеиявт энергию электронов.Устанавливает энергии электроновЕ 54 НэВ, Е 46 НэВ и т,д,Производят аналогично предыдущему определение:ДдДьЬзефффуав Дфф Ьво35юФъе Ь 23 Ьы ффапри энергии Е и определениеДм Д 1 ) Дрф140Д. а,ь,;Ь з Сяпри энергии Е и т,д,Из всех Д выбирают наибольшее зиачение Дф, которому соответствует ги В прн энергии Е+Устанавлюавт коллиматор с радиусом канала для пррводки пучка г иФФрадиусом торца коллиматора В , экранирующего область с внутренним радиуИЬм г и внешним радиусом В . Устанавливают эиергив электронов ЕКонтролируемую пластину устанавливают...

Номер патента: 1532810

Опубликовано: 30.12.1989

Авторы: Алексушин, Шульц

МПК: G01B 15/02

Метки: поверхности, шероховатости

...последующим выделением характеристического излучения пороговыми устройствами и т.п.Способ осуществляется следующим образом,Первичное излучение от радиного источника 1 или рентгентрубки направляют под углом оверхность исследуемого образ1532810 ЛГ Составитель, В,ПарнасовРедактор Т.Парфенова Техред М.Дидык Корректор Л.Бескию аказ 8090/48 Тираж 683 ПодписноеНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ ССС113035, Москва, Я, Раушская наб., д, 4/5.Гагарина, 10 водственно-издательский комбинат Патент", г.ужгоро флуоресцентное характеристическое излучение одного из элементов, входящихв состав образца, отбирают под углом, и его интенсивность измеряют устройством 3. Затем изменяют углы Ч,и Ч относительно условного центрана...