Способ определения деформаций поверхности изделия
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1379614
Авторы: Ильин, Левковский, Нелюбин, Шерман
Текст
Изобретение относится к измерению деформаций в конструкциях оптическими методами.Цель изобретения - увеличение точ5 ности определения деформаций посредством выполнения на поверхности иэделия паза со светоотражающими гранями.На фиг. 1 приведена схема реали зации способа; на фиг2 - ход лучей при измерении деформации изделия.В иэделии 1 (фиг.1) на поверхности 2 выполнен паэ 3 призматической формы со светоотражающими гранями. 15 Упругие волны в изделии возбуждают источником 4. От лазерного источника 5 тонкий слаборасходящийся луч направлен на одну иэ граней паза, а от другой грани вторично отраженный 20 луч попадает на измерительный экран 6.Способ осуществляется следующим образом.В иэделии 1 от источника 4 возбуждают ультразвуковую волну любым 25 известным образом, например с помощью лазера, механическим сжатием или растяжением и т,д. Упругие колебания распространяются в изделии, достигая поверхности, при этом за 30 счет деформаций внутренней структуры иэделия деформируется полностью или локально в месте падения лазерного луча и призматический паэ 3. Лазерный луч от источника 5, посланный на одну иэ граней паза, отражается от нее и попадает на вторую грань паза 3, от которой он вновь отражается и попадает на экран 6Поскольку по отношению к первоначальной геометрии 40 паза невоэбужденного изделия (на фиг. 2 показано прерывистой линией) под воздействием упругих колебаний геометрия паза 3 в месте отражения лазерного луча изменяется, паз 345 деформируется, то отраженный луч смещается на экране 6, и по этому смещению судят о величине малых деФормаций.Деформация паза 3 может быть различной в зависимости, например, от дефектов, которые встречаются на пути упругой волны, Чтобы продефек-тоскопировать по всей длине иэделия, лазерный источник 5 смещается вдоль паза 3. Чтобы продефектоскопировать по высоте изделия, выполняют необходимое число пазов 3 по высоте иэделия и повторяют смещение лазерного источника 5, отмечая отклонения отраженного луча на экране 6 по отношению к нейтральному положению отраженного луча невозбужденного изделия 1. В процессе измерений анализируется также спектральный состав колебаний отраженного луча на экранеВ зависимости от того, какой выбран угол между, гранями в призматическом пазу, нейтральное положение отраженного луча может быть различным. При прямом угле (фиг.1) вторично отраженный нейтральный луч параллелен лучу, направленному от источника 5 на одну из граней. Если угол паза выбран острым или тупым, то нейтральное положение смещается по отношению к источнику вправо или влево. Выбор угла паза зависит от конкретных технологических условий дефектоскопии.Чтобы увеличить амплитуду угла отклонения отраженного лучаможно на начальном пути луча установить умножитель угла отклонения, который путем многократного полного внутреннего отклонения луча увеличивает амплитуду отклонения луча перед его попаданием на экран. формула изобретенияСпособ определения деформаций поверхности изделия, заключающийся в том, что поверхность иэделия облучают лазерным лучом, измеряют характеристики луча, отраженного от поверхности, по которым определяют деформации, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения точности определения, перед облучением на поверхности изделия выполняют паз призматической формы и со светоотражающими гранями, на одну иэ которых направляют лазерный луч, и измеряют характеристики луча, отраженного от другой светоотражающей грани./5 г Уж роизводственно-полиграфическое предприя едактор О. аказ 969/4 Тираж 680 ВНИИПИ Государственного комитета СС по делам изобретений и открытий 13035, Москва, Ж, Раушская наб., д.
СмотретьЗаявка
4136183, 04.07.1986
ЗАВОД-ВТУЗ ПРИ ПРОИЗВОДСТВЕННОМ ОБЪЕДИНЕНИИ ТУРБОСТРОЕНИЯ "ЛЕНИНГРАДСКИЙ МЕТАЛЛИЧЕСКИЙ ЗАВОД"
ЛЕВКОВСКИЙ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, НЕЛЮБИН АНАТОЛИЙ ПАВЛОВИЧ, ШЕРМАН ВЛАДИМИР ЕФИМОВИЧ, ИЛЬИН ДМИТРИЙ ВАДИМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, изделия, поверхности
Опубликовано: 07.03.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1379614-sposob-opredeleniya-deformacijj-poverkhnosti-izdeliya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций поверхности изделия</a>
Способ определения деформаций поверхности изделий
Номер патента: 1795270
Опубликовано: 15.02.1993
Автор: Рыжиков
МПК: G01B 11/16
Метки: деформаций, поверхности
...отражатель ортогонально по отношению к первому, направляют пучок излучения на одну из его граней и регистрируют характеристики излучения, отраженные от другой грани, о деформациях поверхности изделия судят по измеренным значениям смещений отражателей, а направление пучка излучения и регистрацию характеристик отраженного излучения производят одновременно для обоих отражателей.На фиг,1 показан вид на подвижную и неподвижную части литьевой формы; на фиг.2 показан разрез А-А на фиг.1; на фиг.3 - разрез Б-Б на фиг.1.Способ измерения смещения полуформ литьевой формы заключается в том, что в подвижной полуформе 1, содержащей пуансон 2, центрирующие втулки 3, размещают ортогонально друг другу два уголковых отражателя - угловых зеркала 4 и 5. В...
Устройство для измерения коэффициента отражения плоской поверхности образцов
Номер патента: 947637
Опубликовано: 30.07.1982
Автор: Филиппов
МПК: G01B 9/02
Метки: коэффициента, образцов, отражения, плоской, поверхности
...плоским полупрозрачным зеркалом б, приемник 7 излучения, электронный блок 8 обработки сигналов, приводы 9 и 10 поворота, датчики 11 и 12 поворота, приводы 13.Зеркало 2 установлено неподвижно перед площадкой 3 н ходе лучей от источника 1 перпендикулярно его оптической оси.Зеркало б и приемник 7 излучения установлены на платформе 5. Площадка. 3 и платформа 5 выполнены с возможностью поворота вокругоси, пересекающей оптическую ось источника 1 под прямым углом и проходящей через плоскую поверхность размещаемого на площадке 3 образца 4,Площадка 3 и платформа 5 ориентированы так, что зеркала 2 и б совместно с плоской поверхностью образца 4 образуют резонатор интерферометсра Фабри-Перро.Приемник 7 излучения подключен кэлектронному блоку 8...
Фотометр для измерения коэффициента отражения оптической поверхности
Номер патента: 872973
Опубликовано: 15.10.1981
Авторы: Антропов, Карпухин, Кондратьев, Конев, Кочетов
МПК: G01J 1/04
Метки: коэффициента, оптической, отражения, поверхности, фотометр
..., 1 - коэффициенты отражения соответственносветоделителя 3,полупрозрачного оп 35тического элемента9 и контролируемоиповерхности 5;р р р - коэффициенты пропускания фокусирующей40линзы б, светоделителя 3 и полупрозрачного оптическогоэлемента 9;10 - интенсивность светового потока от источ 45ника;К - коэффициент передачиприбора,Из (1) и 2) получают:(фф" ф,1 ф) К. (З) Коэффициент К, равный 1/Я., определяют градуировкой прибора с помощьюэталонных оптических поверхностей сизвестным коэффициентом отражения.Отсчет Ф может быть выражен соотношением5 8729 где Й - суммарный коэффициент.отраже"ния полупрозрачного оптического элемента 9 и контролируемой поверхности 5, откоторого зависит чувствительность измерений.Если со стороны светоделителя 3 падает...
Способ ультразвукового контроля изделий качающимся лучом
Номер патента: 1732258
Опубликовано: 07.05.1992
Автор: Денисламов
МПК: G01N 29/04
Метки: качающимся, лучом, ультразвукового
...расчета или измерения условных размеров эталонного отражателя, что усложняет процедуру определения типа дефекта и снижает достоверность результатов.Целью изобретения является повышение достоверности ультразвукового контроПоставленная цель дост в отличие от известного тех ния, заключающегося в том руемом изделии ультразвуковую волну, принные от дефекта эхо-сигналы, с учетом которых определяют тип дефекта, согласно изобретению в изделии поочередно возбуждают продольную и поперечную ультразвуковые волны, принимают отраженные от дефектов эхо-сигналы, измеряют условную ширину дефекта при возбуждении продольной ЬХи поперечной Л Хс, а тип дефекта определяют из соотношения Ь Х 1.ГХНа фиг, 1 изображен преобразователь с качающимся лучом,...
Приспособление для исследования материалов, в особенности сварных изделий, рентгеновскими лучами
Номер патента: 40467
Опубликовано: 31.12.1934
Автор: Назаров
МПК: G01N 23/04, G03B 42/02
Метки: исследования, лучами, особенности, рентгеновскими, сварных
...барабана . сварного котла, при рентгеновской съемке, требуется ставить распорки, укрепляю. щие кассету, или приклеивать кассету к барабану,С целью увеличения скорости прове. дения рентгеновского снимка и тем самым удешевления его,-а также и улучшения качества снимка, в предлагаемом приспособлении применен электромагнит, помощью которого .ассета прижимается к исследуемому изделию.На чертеже фиг. 1 изображает схему приспособления для исследования материалов, в особенности сварных изде. лий рентгеновскими лучами; фиг. 2 - (389) то же, при кривых исследуемых поверхностях,Приспособление для укрепления кассеты на снимаемом объекте состоит издвух электромагнитов а и у, которые, при включении тока в их обмотку, притягиваются к металлу...
Предыдущий патент: Волоконно-оптический тензодатчик
Следующий патент: Устройство для измерения радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
Случайный патент: Способ производства сухих шипучих напитков