Устройство для измерения деформации образца
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНРЕСПУБЛИК А 09 1 В 1116 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ ЗОБРЕТЕНИЯ И ЛЬСТВУ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯМАЦИИ ОБРАЗЦА(57) Изобретение относится к инию деформаций в образцах оптими методами. Цель изобретенияличение диапазона измерения деций в образцах больших размеросчет использования стандартных идетельство СССР 1 В 11/16, 1974. етельство СССРВ 11/16, 1977. ИЗМЕРЕНИЯ ДЕ ере- скиемаза бло ВТОРСНОМУ Сни ков. Устроиство содержит расположенные последовательно источник 1 света, выполненный в виде источникаузконаправленных световых импульсов,многоэлементный фотоприемник 2, вы-.полненный в виде матрицы фотоэлементов с числом строк и столбцов, равным 2 Н +1, где И = 1,21., блок 3обработки и регистрации, соединенныйс фотоприемником 2, генератор 4 импульсов, блок 5 задержки . При деформации образца 6 изменяется взаимноеположение источника 1 света относительно фотоприемника 2, и луч светаиз источника 1 попадает в один иэнецентральных фотоэлементов фотоприемника 2. По положению этого фотоэлемента оценивают величину и направление деформации образца 6, 1 ил,Изобретение относится к измерениюдеформаций в образцах и конструкцияхоптическими методами,Цель изобретения - увеличение диа 5пазона измерения деформаций в образцах больших размеров за счет использования стандартных блоков,На чертеже приведена схема устройства для измерения деформации образца,Устройство содержит расположенныепоследовательно источник 1 света,выполненый в виде источника узконаправленных световых импульсов, фотоприемник 2, выполненый в виде матрицы фотоэлементов с числом строк истолбцов, равным 2 М + 1, где И =1,21, блок 3 обработки и регистрации, соединенный с фотоприемником 2, генератор 4 импульсов, соединенный с.источником 1 света, блок5 задержки, вход которого связан сгенератором 4 импульсов, а выход -с блоком 3 обработки и регистрации. 25Источник 1 света и фотоприемник 2закреплены на образце 6,Устройство работает следующимобразом.Перед началом измерений источник1 узконаправленных световых импульсови многоэлементный фотоприеник 2 устанавливают на измеряемом образце бтаким образом, чтобы узконаправленный световой импульс от источника 135узконаправленных световых импульсовприходил в середину центральногофотоэлемента фотоприемника 2.С момента включения генератора 4импульсов в каждый момент времени 4 Оподается сигнал на источник 1 узконаправленных световых импульсов ичерез элемент задержки 5 - на блок 3обработки и регистрации измерений.Сигнал от генератора 4 импульсов45включают источник 1 узконаправленныхсветовых импульсов на время длительности импульса.При отсутствии деформации источник 1 узконаправленных световых импульсов и многоэлементный фотоприемник 2 расположены на измеряемом образце 6 таким образом, что дискретный узконаправленный световой импульс попадает в середину центрального фотоэлемента - многоэлементно 55го фотоприемника 1. На выходе блока3 обработки и регистрации при этомбудет нуль. При деформации образца дискретный узконаправленный световой импульс приходит не на центральный фотоэлемент многоэлементного фотоприемника 2, а на какой-либо другой фотоэлемент этого фотоприемника, Блок 3 обработки и регистрации осуществляет определение величины и направления деформации. Это осуществляется за счет того, что многоэлементный фотоприемник 2 представляет собой по существу координатную сетку с началом координат в центре фотоэлемента, расположенного на пересечении (И+1)-го столбца и (И+1)-й строки, Расстояние и направление от этого фотоэлемента до любого другого фотоэлемента многоэлементного фотоприемника 3 заранее измеряется и запоминается в блоке 3 обработки и регистрации измерений,. Поэтому блок 3 обработки и регистрации осуществляет лишь выбор того фотоэлемента, на который в данный момент времени пришел дискретный узконаправленный световой импульс, и в зависимости от этого выдает значение величины и направления деформации,Если же узконаправленный световой импульс попал одновременно на несколько фотоэлементов многоэлементного фотоприемника 2, то расстояние и направление деформации в блоке 3 .обработки и регистрации вычисляется, как среднеарифметическое значениевеличины и направления всех освещенных фотоэлементов,Одновременно с выдачей значений величины направления деформации блок 3 обработки и регистрации. выдает значение моментов времени, на которые произведены измерения, Это достигается тем, что одновременно с приходом сигнала от многоэлементного фотоприемника 2 в блок 3 обработки и регистрации приходит сигнал от генератора 4 импульсов. Одновременность достигается введением блока 5 задержки между генератором 4 импульсов и блоком 3 обработки и регистрации. Введя в блок 3 обработки и регистрации значение московского времени включения генератора 4 импульсов, значение тактовой частоты импульсов и осуществляя в блоке 3 обработки и регистрации подсчет поступившего количества тактовых моментов времени, определяется значение времени, наФормула изобретения Составитель В.Евстратов Редактор М.Келемеш Техред М.Уоданич Корректор С.Черни:Заказ 6275/42. Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 14411 момент которого производилось измерение направления и величины деформации,Таким образом, устройство позволяг ет не только проводить измерение5 величины деформации образцов, но и определять направление деформации, а также осуществлять привязку проводимых измерений ко времени в образцах больших размеров 10 Устройство для измерения деформации образца, содержащее расположен-ные последовательно источник света, 15 фотоприемник и блок обработки и регистрации, соединенный с фотоприем 934ником, о.т л и ч а ю щ е е с я тем, чтЬ, с целью увеличения диапазона измерения деформаций в образцах больших размеров,.оно снабжено гене" ратором импульсов, соединенным с источником света, блоком задержки, вход которого соединен с генератором импульсов, а выход - с блоком обработки и регистрации, фотоприемник выполнен в виде матрицы фотоэлементов с числом строк и столбцов, равным 2 М + 1, где Б 1,2. 1, источник света выполнен в виде источника узконаправленных световых импульсов, а источник света и фотоприемник предназначены для закрепления на образце.
СмотретьЗаявка
4244991, 14.05.1987
ВОЕННЫЙ ИНЖЕНЕРНЫЙ КРАСНОЗНАМЕННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. А. Ф. МОЖАЙСКОГО
ГАВРИКОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ, БАБЕНКО АНДРЕЙ ВИКТОРОВИЧ, ФУЖЕНКО ОЛЕГ АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Метки: деформации, образца
Опубликовано: 30.11.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1441193-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacii-obrazca.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформации образца</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения поперечных размеров нитевидных объектов
Следующий патент: Устройство для контроля состояния поверхности
Случайный патент: Механизм упора рейки топливного насоса