Способ контроля качества плоских изделий с отверстиями

СОЮЗ СОВЕТСНИХСООИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 911 01 В 1 511 ЪБРЕТЕНИЯ ОП ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ е СССР1972. ВА ПЛОСКИХ измери- испольроля каплоских льной любых имер отмм и теде е области чения ых трансГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ССЯР ПОДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТИЗДЕЛИЙ С ОТВЕРСТИЯМИ(5) Изобретение относитсятельной технике и может бытзовано, в частности, для кочества.печатных плат и другизделий с отверстиями произформы, а также для сравнениябинарных транспарантов, напрпечаткав пальцев, осциллогрЦель изобретения - расширенииспользования за счет обеспвозможности контроля бинарн парантов и повышения информативностиконтроля, поскольку способ позволяетзнать не только наличие неправильностей, но и их характер. Освещают эталон 8, в качестве которого используютего негатив, световым потоком от источника 6 света через матовое стекло7, а контролируемое изделие.11 - световым потоком от источника 9 светачерез матовое стекло 10. Совмещают . -,изображения эталона 8 и контролируемого изделия 11 по их базовым элементам. Изменяя мощность блока 4 питанияс помощью регулятора 5, добиваютсяизменения освещенности одного из све"товых потоков до тех пор, пока изоб- фражения базовых элементов станут не" 1видимыми, по оставшимся в поле зрения темным пятнам судят о недостающихС,элементах, а по светлым пятным судято лишних элементах. 1 ил,1428911 Тираж 680 ВНИИПИ Заказ 5111/35 Подписное Произв,-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для контроля качества печатных плат и других плоских 5 изделий с отверстиями произвольной . формы, а также для сравнения любых бинарных транспарантов, например, отпечатков, пальцев, осциллограмм и Теде 10Цель изобретения - расширение об" ласти использования за счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышение информативности контроля за счет того, что все :,правильные отверстия, количество ко" .;торых велико (может измеряться сотнями штук), становятся невидимыми и не мешают видеть неправильные отверстия, количество которых невелико,а также за счет того, что можно различать :недостающие и лишние отверстиядля исправления иэделия или анализа функции, изображенной на контролируемом транспаранте, (т.е. позволяет знать не только наличие неправиль" ностей, но и их характер) .На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего способ контроля качества плоских изделий с отверстиями.Устройство содержит камеры 1 и 2, полупрозрачное зеркало 3, блок 4 питания и регулятор 5. В одной камере 1 установлены источник 6 света, матовое стекло 7 и эталон 8, а в другой 35 камере 2 установлены источник 9 света, матовое стекло 1 О и контролируемое иэделие 11.Способ осуществляют следующим образом,.40Освещают эталон 8, в качестве которого используют его негатив, световым потоком от источника 6 света через матовое стекло 7, а контролируемое изделие 11 - световым потоком от 45 источника 9 света через матовое стекло 10. Наблюдая через полупрозрачное зеркало 3, совмещают изображения эталона 8 и контролируемого изделия 11 по их базовым элементам (не показа" 50 ны), ,в качестве которых могут быть отверстия для крепления кромки (края) либо стороны, от которых ведется разметка изделия. Изменяя мощность блока 4 питания с помощью регулятора 5, добиваются изменения освещенности одного из световых потоков (или от источника 6 света, или от источника 9 света) до тех пор, пока изображения базовых элементов станут невидимыми, по оставшимся в поле зрения темным пятнам судят о недостающих элементах и недостающих частях элементов, а по светлым пятным судят о лишних элементах и лишних частях элементов.В случае необходимости недостающие и лишние отверстия можно отметить прямо на контролируемом иэделии (например, карандашом, краской и т.п.) либо сделать фотоснимок. Во втором случае для облегчения нахождения ко ординат неправильных отверстий на фотоснимке можно поместить в плос" кости эталона 8 транспарант, на котором изображена координатная стека, состоящая из тонких черных взаимно перпендикулярных равноотстоящих друг от другалиний. формула и э о б р е т е н и я Способ контроля качества плоских изделий с отверстиями заключающийся- в том, что освещают эталон и контролируемое иэделие световыми потоками, совмещают изображения эталона и контролируемого изделия и судят о качестве контролируемого изделия, о т л и - ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения области использования эа счет обеспечения возможности контроля бинарных транспарантов и повышения информативности контроля, используют в качестве эталона его негатив, освещение производят рассеянным световым потоком, совмещение изображений эта" лона и контролируемого иэделия производят по их базовым элементам, после совмещения изображений изменяют освещенность одного из световых потоков до тех пор, пока изображения базовых элементов станут невидимыми, а по оставшимся в поле зрения темным и светлым пятнам судят о качестве контролируемого изделия.