Иммель

Номер патента: 1521035

Опубликовано: 15.09.1994

Авторы: Иммель, Пузыревич, Рябчиков, Шипилов

МПК: G01N 23/225

Метки: вещества, возбуждением, ионным, микроанализа, рентгеноспектрального, состава

СПОСОБ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО МИКРОАНАЛИЗА СОСТАВА ВЕЩЕСТВА С ИОННЫМ ВОЗБУЖДЕНИЕМ, включающий попеременное облучение потоком ионов образца анализируемого вещества и стандартного образца, изготовленного из материала, отличного по атомному номеру от элементов, содержащихся в анализируемом веществе, регистрацию характеристических рентгеновских излучений определяемых элементов и элемента стандартного образца одним детектором излучения и одним спектрометрическим трактом с формированием единого многоканального спектра, измерение набранных чисел импульсов, обусловленных характеристическими рентгеновскими излучениями определяемых элементов и элемента стандартного образца, по которым судят о содержаниях определяемых элементов, отличающийся тем, что,...

Номер патента: 1426271

Опубликовано: 15.09.1990

Авторы: Иммель, Пузыревич, Рябчиков, Шипилов

МПК: G01T 1/24

Метки: детектора, излучения, полупроводникового, регистрации, рентгеновского, характеристического, эффективности

...участок зависимости ц т.д. Поскольку, как уже было сказано выше, выбирают 10 такие элементы, чтобы энергия К,-излучения предыдущего была не меньше энергии -излучения последующего (в порядке возрастания атомного номера), то построенные таким образом 15 участки зависимости стыкуются. В результате получают непрерывную кривую 8=С г (Е) н относительных единицах где С - постоянный множитель.П р и м е р, Пусть необходимо по строить зависимость эффективности регистрации полупроводникового детектора от энергии кнантов в интервале энергий от 5 до 10 кэВ (область ниэ" ких энергий, где прототип дает допол нительную погрешность, связанную с самопоглощением), К нижнему пределу близко значение энергии К-излучения хрома, к верхнему - цинка. Поэтомудля...