Способ определения пирамидальности угловой меры

Номер патента: 1384943

Авторы: Костава, Отаришвили, Поцхишвили

ZIP архив

Текст

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться при проверке угловых мерЦель изобретения - повышение точности измерения за счет увеличениячувствительности метода к величиненаклона поверхности контролируемоймеры,На фиг, 1 изображена схема измерения пирамидальности угловой меры;на фиг. 2 - ход лучей в горизонтальной плоскости между автоколлиматором,контролируемой поверхностью меры изеркалом, установленным под угломк поверхности для разных углов разворота контролируемой поверхности; нафиг. 3 - то же, в вертикальной плоскости,Схема измерения пирамидальностиугловой мерщ содержит автоколлиматор1, зеркало 2, установленное неподвиж-.но и расположенное под углом к контролируемой поверхности меры, столик 3.угломерной установки, предназначаемый для установки на него контролируемой меры и ось 4 вращения столикагониометра. На схеме также показанаугловая мера 5На фиг. 1 - 3 обозначены:Ь - величина пирамидальности контролируемой поверхности;К Ос, о М- углы поворота одной из контролируемых поверхностейугловой меры от плоскости, нормальнойк оптической оси автоколлиматора;1 - угол наклона зеркала 2 к оптической оси автоколлиматора.Способ осуществляют следующим образом.Направляют излучение автоколлиматора 1 на одну из поверхностей угловой меры, расположенной на столике 3угломерной установки. Принимают от.раженное излучение от поверхностиугловой меры (Ы, =0) и строят изображение марки на измерительной шкалеокуляр-микрометра автоколлиматора.При наличии пирамидальности, равнойЬ, изображение марки сместится вдольплоскости пирамидальности на величину, равную 2 ЬГ, где Й - фокусное расстояние объектива автоколлиматора.Поворачивают столик 3 угломерной,установки вокруг его оси на некоторый угол М так, чтобы излучение,однократно переотраженное между поверхностью угловой меры и зеркалом,вновь попало в автоколлиматор, При50 55 Если угол Ь=О, то и угол 2 пЬ=О, т.е. автоколлимационные изображения для одного и и-го отражений совпадут, Данное совпадение будет иметь место только тогда, когда угол между плос-, костью измерительного столика, на котором размещена мера, и осью враощения стола составляет 90 . В случае, когда д ФО и ось вращения перпендикулярна плоскости стола, отношение вертикального отклонения автоколлимационных изображений первого и и-го отражений будет постоянно и равно этом горизонтальная проекция. падающеого излучения составляет 90 к поверхности зеркала 2. В этом случае гори 5зонтальная проекция отраженного пучка совпадает с горизонтальной проекцией падающего на нее пучка излучения,Если при этом угол между вертикалью и контролируемой поверхностьюмеры равен Ь, то угол между входными выходным пучками излучения автоколлиматора будет равен 4 Ь.Если Ь =О, то автоколлимационные15 изображения марки отраженного пучка(Ы,=О) и переотраженного пучка (сс ФО)совпадут. Данное совпадение будетиметь место только тогда, когда уголмежду плоскостью столика 3 угломер 20 ной установки, на которой размещена. угловая мера 5 и ось 4 вращения стоолика, составляет 90В случае, .когда Ь ФО и ось вращения перпендикулярна плоскости столи 25 ка, отношение вертикального отклоне-,ния автоколлимационных изображенийотраженного и переотраженного излучений будет постоянно и равно4 ЬК=-,-=230В случае неперпендикулярности осивращения к плоскости столика это отношение нарушается,Поворачивая затем столик 3 с угловой мерой 5 на угол К, многократно переотражают излучение между поверхностью угловой меры и зеркалом 2,при этом горизонтальная проекция и-гооотражения составляет 90 к плоскости40 зеркала 2, в результате чего пучкив прямом и обратном ходе совпадают,При наличии угла Ь между вертикальюи измерительной плоскостью, уголмежду выходным и входным пучками ав 45 токоллиматора будет равен 2 пЬ.12 пдК = - , = и2 ьВ случае неперпендикулярности оси вращения к плоскости стола это отно 5 шение нарушается.Измеряют положение автоколлимационных иэображений марки на измерительной шкале окуляр-микрометра для однократного и многократного переотражений пучка излучения и по отношению отклонений регулируют положение плоскости столика относительно оси его вращения путем регулировки положения столика до тех пор, пока угол между плоскостью стола и осью вращеония составит 90 . После этого фиксируют и-е автоколлимационные изображения для каждой грани и по максимальной разности между ними судят опира . мидальности угловой меры (П)2 пдпахпьшдп2 пформула изобретенияСпособ определения пирамидальности угловой меры, заключающийся в том, что устанавливают угловую меру на столик угломерной установки, который .выставляют перпендикулярно оси его вращения, направляют излучение от автоколлиматора на одну из боковых поверхностей угловой меры, принимают отраженное. от меры излучение автоколлиматором, строят иэображение марки в плоскости измерительной шкалы окуляр-микрометра автоколлиматора, измеряют смещение изображения марки вдоль оси, параллельной оси вращения столика, последовательно устанавливают40 другие боковые поверхности угловой меры напротив автоколлиматора путем вращения столика угломерной установки, измеряют смещение изображения45 марки от каждой поверхности вдоль оси, параллельной оси вращения столика, и по наибольшей разности междудвумя отсчетами судят о пирамидальности угловой меры, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения, для выстав-ления столика угломерной установкиперпендикулярно оси его вращения устанавливают зеркало неподвижно подуглом к боковой поверхности меры,направляют излучение от автоколлиматора на одну из боковых поверхностеймеры, однократно переотражают излучение между боковой поверхностью мерыи зеркалом, принимают переотраженноеизлучение в автоколлиматор, послеизмерения величины смещения изображения марки на шкале окуляр-микрометрафиксируют измеренное значение, затем поворачивают столик угломернойустановки и многократно переотражаютизлучение автоколлиматора между зеркалом и контролируемой боковой по"верхностью меры, принимают многократно переотраженное излучение, строятего изображение в плоскости измерительной шкалы окуляр-микрометра и измеряют разность между изображениеммарки вдоль оси, параллельной осивращения столика, для однократного имногократного переотражений излучения, по величине которой выставляютстолик угломерной установки перпендикулярно оси его вращения, а перед измерением смещения иэображения маркиот каждой поверхности меры последовательно формируют изображения маркиавтоколлиматора от этойповерхности(ри многократном переотражении излучения, измеряют смещения сформированных изображений марки от этой поверхности вдоль оси, параллельной осивращения столика, и при определениипирамидальности учитывают эти смещения марки,1384943 2 фиг.гставитель Н.солоухинхред М,Ходанич . Корректор М.Демчик Редактор А.Рев каз 1402/37 Тираж 680 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д

Смотреть

Заявка

3940799, 12.08.1985

Ю. Н. Костава, Н. И. Отаришвили и К. В. Поцхишвили

КОСТАВА ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ОТАРИШВИЛИ НАТЕЛА ИОСИФОВНА, ПОЦХИШВИЛИ КАРЛО ВАХТАНГОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/26

Метки: меры, пирамидальности, угловой

Опубликовано: 30.03.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/4-1384943-sposob-opredeleniya-piramidalnosti-uglovojj-mery.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения пирамидальности угловой меры</a>

Похожие патенты