Способ контроля качеества узкополосных интерференционных фильтров
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И В (и)вв 14 щИЗОБРЕТЕН ИЯ К АЮТОУСКОММ СВИ ИТИЛЬСТВМ(71) Занвнтел 4) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ОПОЛОСНЫХИЛЬ ТРОВ Извес) ИО чт(УО(Л( ЗО)ОВЛЕ(Ь ( ( Ь)Ь( ) ( 1)С ( ( ) И З; ) в гечение некото( (ич п)оисхОдит сх мума пронускания(н мени, ОбычнО ии, н сависимсти т( ( 1 1 О Н 1(С НЕ Г гн )( ннн (; х;. ОГО ВРЕМЕНИ еение лли(:нетфильт.называемый(Л М 31( РИ( 1, ь ( ), у с иии, может Изобретение относится к интерференционным покрытиям, а именно к технологии изготовления узкополосных интерференционных светофильтров и может быть использовано для контроля спектральной однородности пропускания фильтров по всей оптической рабочей плошали,Известен способ контроля параметров изготовленных светофильтров путем измерения их спектральных характеристик с помощью какого-либо спектрального прибора .Этим способом определяют коэффициент пропускания светофильтра, длину волны в максимуме пропускання н спектральную полуширину.Однако этот способ, обеспечивая точные количественные,измерения Оптических характеристик, не дает полной Объективной информации О спектральной однородности светофильтра ИО всей оптической рабочей площади, одНОм из важнейших параметров. 2длиться от нескольких дней до несколько месяцев, причем в одних точках поверхности фильтра этот процесс заканчивается раньше, а в других позже. Так как качественным может быть признан лишь тот светофильтр, который 5 имеет однородное спектральное пропускание повсей оптической рабочей площади, очень важно при оцеьке качества светофильтра выявить участки, на которых или еще не закончился процесс смещения или появился по каким-либо другим причинам. Когда эти участки занимает О достаточно большую площадь, об их наличииможно судить по степени искажения спектраль ной кривой. Но если их площадь не превышает нескольких процентов от обц 1 ей площади, то искажение спектральной кривой будет столь мало, что определить наличие таких участков или их отсутствие уже невозможно, Кроме того, спектральные характеристики обычно снимаются с небольшой площади, Определяемой пло(падью сечения светового потока, и в эту площадь могут не попасть даже достаточно ;(о большие участки, процускаю(цие другие длиныВОЛН.Це)1 ьк) изобретения является объективнаяО(Рнка каРствз узкополосных ннте)(ре)енциОнных снетофильгров, позволнк)щзя установить (.теРнь спек) )(1, ь 1 Ой Однорл нсти в( РЙ Г)Н 1 и ческОй рГ)О е) лоди.ттега .е т 1 т г 1 и Рят госк нет а отк э 11тт к, Гр( т, "ц яФ ,: " (% тк. ю,хтрГ фг; ;х-.,:ь,ф , .с нетиогт ком .тям ия брет жди, Ж%,1 ги о,т 1 торинКорректор Л. МИттиит нокМииттттрттн ЫХРзтийаГ., д. 4/5т 1 гт ек гизи
СмотретьЗаявка
2102127, 03.02.1975
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4149
ШАКМАНОВ ВИТАЛИЙ ВЛАДИМИРОВИЧ, ПЛЮТА ГАЛИНА КУЗЬМИНИЧНА
МПК / Метки
Метки: интерференционных, качеества, узкополосных, фильтров
Опубликовано: 25.11.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-581446-sposob-kontrolya-kacheestva-uzkopolosnykh-interferencionnykh-filtrov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качеества узкополосных интерференционных фильтров</a>
Предыдущий патент: Способ сортировки цилиндрических и сферических электропроводящих тел
Следующий патент: Устройство для наблюдения и фотографирования объектов
Случайный патент: Способ импульсной стабилизации посто-янного напряжения параллельного стаби-лизатора