Радиатор вторичного излучения частиц вьсоких энергий

Номер патента: 1820236

Опубликовано: 07.06.1993

Авторы: Гуля, Коптелов, Цихоцкий

МПК: G01J 5/50

Метки: аппарата, излучения, космического, коэффициента, поглощения, полете, радиатора, системы, солнечного, терморегулирования

...КА продольной осью перпендикулярно вектору скорости 25 Качественным отличием предложенно го способа от прототипа является то, что он позволяет на любом этапе полета и на орбите с любой освещенностью определить фактическую величину коэффициента А, тогда как в способе-прототипе операции по ори ентации можно было проводить только 2 раза в год на солнечных орбитах и по данным измерениям определялось относительное изменение коэффициента Ь А, а его. начальное значение А закладывалось по 40 данным предстартовых наземных испытаний. которые в случае запуска КА за 2-3 месяца до первой солнечной орбиты могло изменить свое значение на 15-20 О и поэтому определяемое в дальнейшем относитель ное изменение коэффициента ЛА могло давать еще большие...

Номер патента: 247418

Опубликовано: 01.01.1969

Автор: Давыдов

МПК: G01T 1/20

Метки: двух, имеющей, исследования, квантов, корреляции, малую, угловой, угловуюширину, частиц

...получать данные об угловой корреляции в целом.Предлоконное устройство в отличие от известных содержит два подключенных к схеме совпадений детектора, каядый из которых набран нз элементарных детекторов различной чувс-чительности таким образом, что в плоскости измерения угловой корреляции образуются чередующиеся области высокой и низкой (нулевой) чувствительности к регистрируемым излучениям.5 Угол, определяющий угловой размер любойиз областей нечувствительности, должен быть настолько больше угловой ширины исследуемой угловой корреляции, чтобы попадание двух частиц или квантов, относящихся к од ному и тому же распаду (истинное совпадение) практически могло произойти только в любые две области чувствительности, нз которых одна...

Номер патента: 553991

Опубликовано: 15.04.1977

Авторы: Кипнис, Тимошенко

МПК: B01D 51/08

Метки: взвещенных, сепарации, частиц

...противоположную направлению распространения колебаний в среде. В случае, показанном на фиг. 1 в, частица в течение периода следования импульса не получает смещения относительно своего первоначального положения вследствие равенства длительности импульса и длительности паузы. По мере роста длительности импульса при тех же соотношениях т и Т частица будет получать все большие смещения в направлении распространения колебаний среды (фиг, 1 г) и в случае 1)т величина смешения частицы в течение нескольких периодов может значительно превзойти амплитуду колебательного смещения самой среды (фиг. 1 д).Следовательно, изменяя длительность импульса и период его следования, можно избирательно производить отделение частиц различных...

Номер патента: 987713

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Котельников, Мордовец, Шульман

МПК: H01L 31/08

Метки: излучения, мощности, электромагнитного

...для измеряемого излучения.физические процессы, лежащие в основе предлагаемого способа измерениямощности электромагнитного излученияи устройствадля его осуществления, 50можно описать следующим образом.В полупроводнике вблизи границыс металлом образуется потенциальныйбарьер Шоттки, что приводит к образованию обедненного носителями слоя и 55смещению границы электронного газавглубь от поверхности полупроводника.Длина обедненного слоя, т.е. толщинапотенциального. барьера Шоттки, опре"деляет вероятность туннелированияэлектронов через барьер Шоттки, аследовательно, сопротивление туннель"ного контакта металл-полупроводник.Пусть на туннельный контакт металлполупроводник падает электромагнитноеу 5 излучение перпендикулярно границе раздела...

Номер патента: 1320667

Опубликовано: 30.06.1987

Авторы: Ибраимов, Кринов, Олейников, Палант, Соболевская, Степнов, Херсонский

МПК: G01J 1/04, G01N 21/958, H01L 21/66

Метки: качества, оптически, пластин, прозрачных

...фототока усиливается усилителем 12, логарифмируется и черезблок 14 управления поступает в блок15 памяти вычислительного прибора.Затем включается реле 5 и плоская диафрагма 3 заменяется объемной 4. Вэтом положении фотоприемником 2 регистрируется излучение, прошедшеесквозь образец 11 без изменения направления и вектора поляризацииЗарегистрированный сигнал логарифмируется и через блок 14 управления поступает на схему 16 вычитания. Одновременно на схему вычитания из блока 15 памяти поступает первый сигнал.По величине разности сигналов определяется разность линейных коэффициентов поглощения материала при первом и втором измерениях.В положении, показанном на чертеже, измеряется оптическое пропускание материала (измеряются...