Патенты с меткой «деканалирования»
Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах
Номер патента: 1632344
Опубликовано: 15.06.1992
Авторы: Галяев, Запольский, Чесноков
МПК: H05H 7/00
Метки: высоких, деканалирования, длины, монокристаллах, частиц, энергий
...фиг.2. Затем монокристалл поворачивают и наводят на него пучок со стороны изогнутой части, как это показано на фиг.3, и повторно измеряют,интенсивность отклоненных частиц системой 5 диагностики пучка, В первомизмерении частицы, деканалированные на прямой частимонокристалла длиной Ь, нв будут отклоняться монокристаллом и не захватываются хвостовой частью 4 магнитооптической системы, Во втором измерении 5 частицы, деканалированные на прямой части монокристалла, будут захвачены в аксептансе хвостовой цасти ч магнитооптицеской системы,так как они уме повернуты монокристаллом,Таким Образом отношение зарегистрированных интенсивностей Й 1/Й 2 в первом и втором измерениях равно доле частиц, не испытавшихдеканалирования на прямой части...