H01J 49/02 — конструктивные элементы

Дифференциальный счетчик для рентгене структурного анализа

Загрузка...

Номер патента: 107857

Опубликовано: 01.01.1957

Автор: Игнатьев

МПК: G01N 23/207, H01J 47/00, H01J 49/02 ...

Метки: анализа, дифференциальный, рентгене, структурного, счетчик

...чертеже схематически изображено устройство описываемого счетчика в двух проекциях. Счетчик состоит из двух рядом расположенных счетчиков, заключенных в общий корпус 1, Корпусы каждого из этих СМЕЖНЫХ Ст 1 ЕТЧИКОВ, ПРЕДСТВВЛЯЮЦИХ собой катодь. 2, соединены вместе, а НИтц (аНОДЫ) 3 ПОСЛС СООтВЕтетВУО- щих усилителей и интегрирующих схем сосдинены дифференциальной схемой. Гальванометр, включенный в эту схему, показываст разность импу;1 ьсов двух счетчиков. Металлический клин 4. установленный В виде промекуто но стенки между газоВъ Иространствамн двух счет 1 иков, является поглотнтелсм рентгеновских лучей. Острие клина, расположенное против окна 5 для входа рентгеновских лучей, направлено к исследуемому образцу и делит рентгеновскую...

155570

Загрузка...

Номер патента: 155570

Опубликовано: 01.01.1963

МПК: G01T 1/36, H01J 47/02, H01J 49/02

Метки: 155570

...поля, проходящими черезграницы каждой отдельной секции коллектора 2. Плотность ионизацииопределяется, в основном, ионизационными потерями электронов придвижении их в газе камеры, которые равныИЕУеЕз1 пИХ тс2 асЧ8где Е - энергия электронов;У - число атомов тормозящего вещества в 1 смз;Л - атомный номер тормозящего вещества;е - заряд электрона;тс - энергия покоя электрона;1 - средняя энергия ионизации.Таким образом, плотность ионизации в отдельном объеме камерыбудет пропорциональна не только числу прошедших через объем электронов, по логарифму их энергии, Для энергий, много больших энергийпокоя электрона, этой логарифмической зависимостью можно пренебречь. Для малых энергий эта зависимость может быть учтена по приведенной формуле....

171476

Загрузка...

Номер патента: 171476

Опубликовано: 01.01.1965

МПК: G01T 1/36, H01J 49/02

Метки: 171476

...излучения определяется по отклонению частиц магнитным и электрическим полями. Они содеркат источник а-частиц, детекторы ядер отдачи и а-частиц и вакуумную камеру.В предлагаемом пролетном спектрометре детектор ядер отдачи, задающий начало отсче. та времени пролета частицы, источник излучения и детектор а-частнц, фиксирующий конец 10 отсчета, расположены на одной прямой, что позволяет измерять энергию а-частиц по времени пробега фиксированной базы,В качестве детекторов излучения используют прострельные электронные умножители или 15 вторичноэмиссионные СВЧ-детекторы излучения. ке изобракена схема пре тного спектрометра а-част агае- про 20 рной о ых па. во состоит из основной разбо камеры 1 и камер 2, 3, в кот рны источник излучения и...

182249

Загрузка...

Номер патента: 182249

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: G01T 5/12, H01J 49/02

Метки: 182249

...схема описываемого устройства.Две искровые камеры 1, управляемые двумя сцинтилляционными счетчиками 2, определяют направление первичных частиц, которые в мишени 3 генерируют исследуемые частицы. Пара сцинтилляционных счетчиков 4 работает в режиме антисовпаденпй и выключается при регистрации электронов, Два набора из искровых камер 5 определяют направление продуктов распада исследуемой частицы. При регистрации гамма-квантов между ними установлены свинцовые конверторы. Пара сцинтилляционных счетчиков б, включенных на совпадения, запускает регистрирующую схему. Энергия продуктов распада определяется двумя черенковскнми гаммаспектрометрами 7 полного поглощения.Для создания оптимальной геометрии установка выбирает только взаимодействия с...

Магнитный трековый спектрометр

Загрузка...

Номер патента: 177995

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Благородов, Владимирский, Институт, Радкевич, Соколовский, Экспериментальной

МПК: G01T 1/36, G01T 5/12, H01J 49/02 ...

Метки: магнитный, спектрометр, трековый

...каждая25 группа камер снабжена двухзеркальным плоским отражателем, причем зеркала каждогоотражателя расположены так, что обеспечивают совмещение изображений камер в стереообъсктивах без наложения при равенстве50 длин оптических путей от объективов до каждой из групп камер. Предлагаемый спектрометр предназначается для определения импульсов заряженных частиц.Известные устройства, применяемые для той же цели, представляют собой либо многослойную искровую камеру, помещенную в магнитное поле, либо камеры, установленные по краям мапшта. Недостатком известных устройств является значительная неоднородность магнитного поля в искровых камерах, а также неэффективное использование при фотографировании большого поля зрения из-за больших мертвых...

Спектрометр мягкого рентгеновского излучения

Загрузка...

Номер патента: 202348

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Тиндо

МПК: G01T 1/36, H01J 49/02

Метки: излучения, мягкого, рентгеновского, спектрометр

...спектрометра,Спектрометр содержит цилиндрический катод 1, анодную нить 2, бериллиевое окно 3.Часть съема счетчика (мертвое пространство), в котором поглощается излучение, разделена сетками 4 и 5 на отдельные секции,Электроды, образовавшиеся при поглощении мягких рентгеновских фотонов в зависимости от давления и природы наполняющего газа, и потенциалов, подаваемых на сетки 4 и 5, будут либо достигать рабочего объема гейгеровского счетчика и, следовательно, регистрироваться либо нет.Таким образом, подача запирающих или ускоряющих потенциалов на дополнительные электроды (металлическое окно 3 и сетки 4 и 5) позволяет управлять эффективностью регистрации фотонов, поглощенных в объемах 1, 11 и 111, причем эффективность может принимать два...

Щьоюэная яагетт-, -с -. llccka)•дьаwf., –

Загрузка...

Номер патента: 274851

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Козлов, Поленов, Хазанов

МПК: G01T 1/36, H01J 49/02

Метки: llccka)•дьаwf, щьоюэная, яагетт

...детектор и источник шгга от,гссчасосссссссся тем, что, с цель повыше 20 точности измерений, новьщения чувствитности и упрощения обработки результатов мерений, анализирующе-модуляционная си ма установлена перед отклоняющим конде тором, подклктчена к общему с ним источи 25 питания, а пластины конденсатора расиолоны так, что разрешение конденсатора бол чем у анализирующе-модуляцпонной систс со- си- щий шя ния ел.- изсте- ссаису жеще, мы,1-1 астоящее изобретение относится к технике ля регистрации потоков заряжеьиплх часгиц,Известны спектрометры протонов малых энергий, в состав которых входят анализирующе-модуляционная система, отклоняющий конденсатор, детектор и источник питания. Точность измерений и чувствительность этих устройств...

Спектрометрическая ионизационная камера

Загрузка...

Номер патента: 284815

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Якунин

МПК: G01T 1/14, G01T 1/36, H01J 47/02 ...

Метки: ионизационная, камера, спектрометрическая

...частиц, и анод, с которого снимаются импульсы напря. жения, дающие информацию об энергии ионизирующих частиц; камеры, имеющие, кроме указанных двух электродов, еще один или два, называемые сетками, главным назначением которых является экранирование анода от влияния положительных ионов. В камерах с сетками электроды делаются или все плоскими, параллельными друг другу, или же делаются все только цилиндрической формы, коаксиальными. Известные камеры с плоскими электродами обладают недостаточно высоким энергетическим разрешением, а камеры с цилиндрической формой электродов дают стеночный эффект, связанный с кривизной источника и приводящий к дополнительному ухудшению энергетического разрешения особешю в тех случаях, когда...

Коллектор фарадея для измерения угловых распределений заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 322811

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Машинский, Протопопов

МПК: H01J 49/02

Метки: заряженных, коллектор, распределений, угловых, фарадея, частиц

...стороны) н экран 1 (с выпуклой) для уменьшения вторичной эмиссии имеют специальное покрытие. Поворачивая экран30 8 с помощью манипулятора 5, можно нроектировать последовательно все участки коллектора на прорезь в экране 1 и измерять интенсивность дифрагированных электронных лучей по направлению прорези в аноде. Для снятия профиля интенсивности по любому другому направлению с помощью манипулятора образца - мишени 9 последний может быть повернут вокруг своей оси на необходимый угол.Ширина прорези 2 и угол раскрытия стенок коллектора 8 определяются, в частности, необходимым угловым разрешением и предельной чувствительностью измерительной апп ар атуры.Наилучшие результаты получаются в том случае, когда биссектриса угла раскрытия...

Библиотенл

Загрузка...

Номер патента: 361483

Опубликовано: 01.01.1973

Авторы: Всесоюзная, Павлов

МПК: H01J 49/02

Метки: библиотенл

...электронного потока исрмозное рентгеновское излучениеатомах и молекулах остаточных обретения представ схема предлага Устройство дл 25 пределения плот регистрации эл возникающего п остаточным газо лучения с устан 3 о тором и поглотия измерения проности пучка электектромагнитногори взаимодействим, содержащее довленным перед нителем излучения, о филя и расронов путемизлучения, и пучка с тектор изм коллима- тлттчающеевя.рации излучентельный к ренувствительныйестве детекторнтилляционнык или детектор ия служит детектгеновскому излук видимому излуа может быть исй или газонаполмягких рентгеновстве меры плпользуется тоэлектронов нагазов.На чертежемого устройстДля регисттор 1, чувствичению и не ччению. В качпользован сциненный счетчи ских лучей....

Полупроводниковый термоэлектрический холодильник

Загрузка...

Номер патента: 365001

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Вител

МПК: H01J 49/02, H05H 7/00

Метки: полупроводниковый, термоэлектрический, холодильник

...выполняется в виде полого цилиндра, в пустотелых стенках которого протекает вода, 10 Когда источник ионов находится под высоким потенциалом, вода в охлаждающем устройстве циркулирует (по замкнутому контуру с изолированным насосом. Это усложняет установку и затрудняет ее изготовление и эксплуата цию,Предлагаемый полупроводниковый холодильник позволяет эффективно охлаждать источник ионов в течение определенного времени без использования внешних источников пи тания благодаря тому, что он содержит термоэлектрический генератор. Энергия, необходимая для работы генератора, поступает за счет теплопередачи от стенок рабочей камеры. В качестве поглотителя тепла используется 25 скрытая теплота плавления легкоплавких веществ.На чертеже...

Анализатор энергий заряженных частиц

Загрузка...

Номер патента: 695465

Опубликовано: 15.11.1991

Авторы: Машинский, Протопопов

МПК: G01T 1/36, H01J 49/02

Метки: анализатор, заряженных, частиц, энергий

...полезногосйгнала падает. Б то время как уровень фо.-, . на, обусловленнйй, например, паразитнойэмиссией с цилиндрических электродов, остается йрежним, так какразмеры выходной:диафрагмы не пленяются. Это значительноснижает соотношение сигнал/шум анализа тора,Цель изобретения. - обеспечение плавной регулировки разрешения без ухудшения соотношения сигнал/шум анализатора,Цель достигаетсятем, что в известномустройстве, включающем электродную систему в виде изолированных и имеющих общую ось внешнего цилиндра и внутреннегоцилиндра с прорезями на боковой поверх :ности, коллектор ирасположенную передним диафрагму, кольцевая щель которой образована внешней и внутренней частью диафрагмы и коаксиальна электроднойсистеме, по меньшей мере...