Патенты с меткой «дефектоскопов»

Номер патента: 1201755

Опубликовано: 30.12.1985

Авторы: Агеев, Выборнов, Калинин, Шамин

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопов, контроле, настройки, неразрушающем, образцов

...113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул, Проектная, 4 1 1Изобретение относится к нераэру"шающему контролю и может быть использовано для изготовления образцов для настройки дефектоскопов при,например, тепловом ульраэвуковоми других видах неразрушающего контроля изделий с гаэотермическим покрытием.Целью изобретения является повышение точности настройки при контроле изделий с газотермическим покрытием.Способ осуществляют следущцим образом,В качестве материала для изготовления искусственного дефекта выбираютпорошкообразный материал с физикомеханическими свойствами, отличнымиот свойств основы и покрытия.На поверхности основы напылениемчерез маску порошкообразного материала выполняют искусственный...

Номер патента: 1226265

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Белов, Сулева

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, настройки, образец

...датчика настраиваемого дефектоскопа,ДеФекты имитируются дугами окружности колец, получающихся в сечениивнутренней поверхности цилиндров1-3 плоскостью, перпендикулярнойпрорезям и проходящей через электродыдатчика, в сумме с глубиной прорези,или удвоенной глубиной прорези вцилиндрах 4 и 5.При установке датчика на образецв таком положении, что сквозная прорезь в цилиндре 1, совпадающая спрорезью в цилиндре 6, находится между электродами 10 датчика, осковнойток проходит в поверхностном слоематериала по дуге окружности, имитирующей дефект,Кроме основного тока, по образцупроходит паразитный ток, который2 О где- проводимость материала;1 - путь тока;Б - площадь поперечного сеченияучастка, по которому протекает ток;К - сопротивление...

Номер патента: 1226285

Опубликовано: 23.04.1986

Авторы: Анисимов, Гершберг, Гольден, Илюшин, Перлатов, Шафер

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопов, настройки, образец, ультразвуковых

...предприятие,г.ужгород,ул.Проектная, 4 Изобретение относится к средствам испытаний и измерений и можетбыть использовано при ультразвуковомконтроле, например, клееных иэделий. с дефектами типа непроклеев.Цель изобретения - повышениедостоверности настройки и удобстваэксплуатации,На чертеже изображен образец длянастройки ультразвуковых дефектоскопов, вид спереди в разрезе.Образец содержит соединенныеразъемно и акустически связанныепластины 1 - 3, причем в пластинах2 и 3 выполнены отверстия 4 и 5 соответственно. Поперечные размерыотверстия 5 в пластине 3 выбираютв пределах 0,01-0,1 от поперечныхразмеров отверстия 4 в пластине 2.Отверстие 5 служит для отвода контактной жидкости 6 иэ отверстия 4,а выбор размеров отверстия 5 изуказанного...

Номер патента: 1267250

Опубликовано: 30.10.1986

Авторы: Гарькавый, Гольдин, Левченко, Сахно, Танцеров

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопов, контрольных, настройки, образцов

...нагревают последнюю до выбирают из соотношенияпластической деформации и нагружают 25азаготовку продольно-поперечным обжа- - 0,2 - 0,5,тием 21,где Ь - глубина дефекта,Недостаток данного способа состоитрадиус скругления между стенкамив невозможности получить поверхностиз соотношенияные дефекты (глубиной 0,1 мм) с за- З 0данными параметрами, так как при об- -Ьасжатии поверхностных слоев происходит 2неравномерная их деформация и, как 2 уследствие, нестабильная ширина дефек- а затем заготовку выпрямляют изгибом.та по его нысоте. Кроме того, перед выпрямлением заНаиболее близкйм к предлагаемомуготовки в канавку помещают немагнитявляется способ изготовления контро- ную пластину толщиной, равной заданльных образцов для настройки дефекто- ной...

Номер патента: 1288577

Опубликовано: 07.02.1987

Авторы: Дегтерев, Денисов, Качанов, Конжуков, Скоробогатько

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопов, калибровки, образцов

...два зазора, представляющиесобой две газовые поры; на фиг. 3 -заготовка, деформированная кручением20вокруг оси; на фиг. 4 - заготовка,отверстие в которой выполнено подуглом к ее оси.Образец содержит заготовку 1, от 25верстие 2, отрезки 3 проволоки и зазоры 4, имитирующие дефект типа газовая пора.Способ изготовления образцов длякалибровки дефектоскопов заключается30в том, что в заготовке 1 параллельно ее оси выполняют отверстие 2, вкоторое плотно вставляются отрезки3 проволоки из того же материала,что и заготовка 1. При этом отрезки 3 проволоки вставляются в отверстие так, чтобы между их концамиоставался зазор 4, соответствующийразмеру поры. Далее заготовка 1 деформируется кручением вокруг своейоси. В результате получается...

Номер патента: 1302183

Опубликовано: 07.04.1987

Авторы: Волков, Романко, Семенов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопов, поверки, эхо-импульсных

...акустически сопрягают с эталонноймерой 5 длины.В первый задатчик 7 вводят величину времени прохождения ультразвукав эталонной мере 5 длины, во второйзадатчик 8 - величину имитируемойскорости ультразвука. С помощью калиброванного генератора 1 изменяютдлительность вырабатываемого им прямоугольного импульса до совмещения его заднего фронта с эхосигналом, полученным при зондировании эталонной меры 5 с помощью поверяемого дефектоскопа 3. Совмещение сигналов наблюдают на индикаторе дефектоскопа 3. Длительность сформированного таким образом прямоугольного импульса с ,выхода генератора 1 измеряется измерителем 9 временных интервалов, Действительное значение измерительного параметра - времени прохождения ульт. развука в эталонной...

Номер патента: 1330550

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Власов, Кориченко, Крутов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопов, настройки, ультразвуковых, чувствительности

...чувстви -тельности ультразвуковых деАектоскопов содержит отражатели 1 накладноготипа и имитатор усиления сварногошва, выполненый из набора сегментов2 с отверстиями 3, которые гибкосвя-.заны посредством, например, стальныхтросиков 4, пропущенных через отверстия, между собой и с отражателями,размещенными между группами сегментов на Аиксированнам расстоянии одинот другого. Размеры сегментов определяются иэ условия соответствия предельныи размерам усиления шва.Длина хорды 1, сегмента соответствует ширине усиления шва, высота Ьсегмента соответствует высоте усилеония шва, а радиус Б. сегмента определяют из формулы2к=05 Ь+ 9 8.Позицией 5 на фиг,1 обозначено контролируемое изделие,Устройство для настройки чувствительности ультразвуковых...

Номер патента: 1350595

Опубликовано: 07.11.1987

Авторы: Касимов, Петушков, Шкатов

МПК: G01N 27/90

Метки: дефектоскопов, имитатор, настройки, сигналов, электромагнитных

...действительные и мнимые составляющие напряжений О (х) и Н(х):= 0,1М, где И = - , йх - ин 35 зхтервал дискретизации; Е - длинаобъекта контроляИнтервал дискретизации Вх определяется по теореме Котельникова:401дх =2 Ггде Й - частота наивысшей гармоникивв спектрах сигналов Н (х), Б (х), 45 02 (х), 0 д(х) .Вычислительный блок 12 определяетдействительные и мнимые составляющие93 (пс 5 х)(пх)у 4 (пДх)1 ,(пах) токов в излучающих обмотках 5 О 2 с диаметрами соответственно ЙиЙ , позволяющих воспроизводить напряжения Б 9(пах), Б м(пдх), Б(пах),Б(плх) в измерительных обмотках 4и 5, путем решения системы линейныхалгебраических уравнений, в которыхтоки в излучающих обмотках 2 и напряжения в измерительных обмотках 4и 5 связаны через...

Номер патента: 1363049

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Бычков, Дерун

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковых, дефектоскопов, имитатор, поверки, сигналов

...между пластиной 1 и излучающей катушкой 9. Сигнал на выходе компенсатора 4 можно представить в виде Ф ч ( ф ) 4 ч (0 ю э 1) Ч 7 Ч 4 где 0 с - амплитуда и фаза выходного сигнала компенсатора 4;Б и Ь - коэффициент передачи поамплитуде компенсатора4 и сдвиг фазы, вносимыйкомпенсатором 4;1 - амплитуда тока, создаваемого амплитудным моду"лятором 8 в излучающейкатушке 9;ф - сдвиг фазы, вносимый фазовым модулятором,7; Г(Г,1,Ь) и - функции влияния парамет- (6,С,Ь) ров пластины и зазора наамплитуду и фазу компенсатора 4.Из (1) и (2) следует, что путем изменения 1 и у можно поддерживать Пи ц) на фиксированных уровнях, которые задаются регулируемым источником 12 опорного напряжения и фазовращателем 10.ьлок 13 сравнения предназначен для.выделения...

Номер патента: 1379709

Опубликовано: 07.03.1988

Авторы: Гражданов, Довженко, Одинцов, Погудин

МПК: G01N 27/82

Метки: армированных, дефектоскопов, имитатор, протяженных, работоспособности, тросами

...цилиндрические эксцентрики 9, расположенные подгруппами 4 и 5 тросов в окнах 7 обода 3 и имеющие .ответствующий шагу ряд параллель:,х канавок 1 О, перпендикулярных образующей. В зависимости от типа стыкового соединения выбирают длину перекрытия концов тросов первой группы 4,Проворачивая эксцентрики 9 обеихгрупп 4 и 5 на оси 11 и фиксируя ихс помощью фиксирующего механизма вопределенном положении, можно имитировать различные по величине повреждения тросовой основы и различныесмещения тросов один относительнодругого. При повороте эксцентрик 9выходит иэ окна 7 и натягивает тросысоответствующей группы, что ведет крастягиванию упругих элементов 6,например резины, и изменению величины повреждений в первой группе 4 илисмещению тросов один...

Номер патента: 1441292

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Жукова, Кватов, Федосенко

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, дефектоскопов, имитатор, настройки

...полуцилиндра 1, крепится тянущий трос 6, посредством системы роликов 7-13 и 21 связанный с электроприводом 22, обеспечивающим возвратно-поступательное перемещение полуцилиндра 1 относительно полюсов намагничивающей системы 23 поисковой секции дефектоскопа-снаряда 33,С пульта 24 управления на управляющий вход входного устройства 26 блока обработки информации дефектоскопа-снаряда 33 подается информация о типе дефекта, на который производится настройка, например о поперечном шве. Входное устройство 26 представляет собой усилительные и ключевые, каскады, коммутатор и аналого-цифровой преобразователь и осуществляет предварительную обработку аналоговой информации и преобразование ее в цифровую Форму, Полученная информация в виде...

Номер патента: 1557513

Опубликовано: 15.04.1990

Авторы: Жуков, Коновалов, Тарасов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки

...работает следующим образом.Приводные ролики 5 приводят вовращение элемент 1 с искусственными дефектами 2 и 3 вместе с элементом 4 из диэлектрического материала вокруг оси. Проточки 6 роликов 5предохраняют от соскальзывания элемент 1 с дефектами 2 и 3 относительно вращающихся роликов 5 и, тем самым удерживают элемент 1 в однойплоскости вращения, Элемент 1 с дефектами 2 и 3, проходя через преобразователь 7 или 8 дефектоскопа,периодически формирует на его выходеимпульсы от начала и конца, а такжекалиброванные импульсы от минимальных искусственных дефектов 2 и 3,что эквивалентно получению импульсов на выходе преобразователя 7или 8 дефектоскопа от начала, концаи дефектов длинномерных изделий.Для калибровки дефектоскопов сразличными...

Номер патента: 1578625

Опубликовано: 15.07.1990

Авторы: Касимов, Палеесь, Шишкарев, Шкатов

МПК: G01N 27/82

Метки: воздействия, дефекта, дефектоскопов, имитации, контрольный, настройке, образец, электромагнитных

...образом,Вихревые токи, возбужденные проходным преобразователем, обтекают дефект,разветвляясь относительно некоторой плоскости, проходящей через поперечное сечение иэделия, При использовании наиболеешироко применяемых проходных преобразователей с соленаидальнай возбуж дающей обмоткой вихревые токи будутразветвляться относительно плоскости,проходящей через середину дефекта, поэтому сечение образца в этой плоскости приведет к минимальным искажениям поля. вихревых токов и позволит выполнить искусственный дефект. Создать без сеченияобразца искусственный дефект, выходящийна внутреннюю поверхность, затруднительно, а размещенный в толще образца внутренний дефект (полости 3 и 4) невозможно.Вместе с тем наличие стыка между частями 5 10 15 20...

Номер патента: 1589190

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Давыдков, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...От источников 4 и 5тока по пластинам 2 и 3 пропускаетсяэлектрический ток, Если ширина пластины 2 равна ширине сварного шва, аширина пластины 3 равна ширине дефекта, то распрецеление напряженностиобразующегося магнитного поля (Фиг.3)близко к распределению напряженностимагнитного поля в зоне сварного шва,содержащей дефект (Фиг, 5). Так какширина пластин выбрана равной соответственно ширине валика, сварного шваи ширине дефекта, то необходимый градиент напряженности магнитного поля(фиг. 3), соответствующий размерамсварного шва и дефекта в нем, получают установкой необходимой величиныэлектрического тока в пластинах.После установки необходимого значения: электрического тока в пластинах2 и 3 (фиг, 1) "на поверхность контрольного образца...

Номер патента: 1589191

Опубликовано: 30.08.1990

Авторы: Давыдков, Сохин, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...ширинеМинимального прецполагаемого цефектав контролируемом иэцелии,Устройство работает слецующим образом,Образец 1 без дефекта намагничивается полем Н перпендикулярно поверхОности, От источников 4 и 5 тока подвухпроводным линиям 2 и 3 пропускаютэлектрический ток в противоположныхнаправлениях. Направление тока во35внутренней двухпроводной линии 3 выбирается таким, чтобы создаваемое магнитное поле между проводниками былопротивоположно направлению внешнегополя Н , После установки необходимых 4Означений тока в двухпроводных линиях. на поверхность устройства устанавливают датчик магнитного дефектоскопа(не показан) и перемещают его в направлении, пересекающем двухпроводные 45линии 2 и 3. При прохождении датчика по цвухпровоцной линии 3...

Номер патента: 1619151

Опубликовано: 07.01.1991

Авторы: Касимов, Палеесь, Шишкарев, Шкатов

МПК: G01N 27/90

Метки: вихретоковых, воздействия, дефектов, дефектоскопов, имитатор, подповерхностных, преобразователями, проходными

...диполи заменяются магнитными, а электропроводя щэя среда - ферромагнитной.Согласно теоремы Стокса совокупностьмагнитных диполей в итоге сводится к рамке с током, охватывающей площадь трещины по ее контуру. Границы раздела поповерхностям изделия учитываются с помощью вертикальных изображений этой40 рамки. В результате получаем расчетную модель (фиг. 2), т.е. бесконечную последовательность изображений, Однако, существенный вклад в формирование силовых 5 линийдаюттолькодвэ изображения, размещенные над поверхностями труб Для нас представляет интерес поверхность, относительно которой русла тока, обтекающего трещину, разветвляются. Эта поверхность 10 разветвления совпадает с поверхностью, вкоторой вектор-потенциал А, определяемый...

Номер патента: 1690223

Опубликовано: 07.11.1991

Автор: Гребенник

МПК: H04R 29/00

Метки: волновых, дефектоскопов, параметров, преобразователей, ультразвуковых

...канале 5 свозможностью вращения вокруг своей продольной оси и с обеспечением акустического контакта между их поверхностями за счетналичия контактной жидкости, а отверстия2 и 3 выполнены плоскодонными так, что дваих разноименных торца 7 и 8 лежат в однойплоскости,На фиг. 1 - 4 позицией 9 обозначен ультразвуковой преобразователь, позициями10 - 12 - направления распространения ультразвуковых колебаний, излучаемых преобразователем в процессе определенияволновых параметров позицией 13 - шкаладля отсчета угла поворота образца, а позицией 14 - штуцер для подачи контактнойжидкости в зазор между сопрягающимисяповерхностями образца 1 и канала 5 оправки 4А = Цо(зйф + зпф)=45где С - скорость распространения ультр звуковых колебаний в материале...

Номер патента: 1693522

Опубликовано: 23.11.1991

Авторы: Абакумов, Чегодаев

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, контрольный, образец

...и по числу полос, высвечиваемых на экране дефектоскопа, определяется его чувствительность, Аналогично для любых других типов дефектоскопов определяется чувствительность по числу зарегистрированных дефектов. 3 ил,выявляемого дефекта. Пазы 3 могут быть изготовлены не по всей длине (пунктир, фиг, 3), хотя это не технологично, и лучше их изготавливать по всей длине грани (фиг, 3), однако в дальнейшем эти пазы 3 должны быть защищены диамагнитным материалом (не показан) от попадания в них в процессе эксплуатации посторонних ферромагнитных предметов. Пазы 3 следуют друг за другом на расстоянии(фиг, 2), которое берется в 1,5 - 2 раза больше разрешающей способности дефектоскопа (не показан), Число пазов определяется как отношение ширины образца...

Номер патента: 1716418

Опубликовано: 28.02.1992

Авторы: Грабовский, Жукова, Хватов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектов, дефектоскопов, имитации, магнитных, настройке, проходных

...выход соединен с входом входного устройства блока 7 аналоговой обработки информации дефектоскопа-снаряда, другие входы которого соединены с индикаторными обмотками 2 преобразователей 3 поисковой секции дефектоскопа-снаряда, а выход подключен к входам блока 8 цифровой обработки информации, выход которого подключен к входу блока 9 твердотельной памяти.Электронный блок 5 предназначен для формирования сигналов при имитации магнитных полей рассеяния дефектов, диагностики технического состояния всей аппаратуры дефектоскопа-снаряда и обработки информации по результатам его настройки. Основу электронного блока составляет микроЭ ВМ 11, которая по заданным программам обеспечивает управление работой формирователя 13 сигналов, монитора 14 и...

Номер патента: 1762224

Опубликовано: 15.09.1992

Автор: Гребенник

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопов, диаграммы, направленности, преобразователей, тест-образец, ультразвуковых

...сложность перев диаграмму направленнодимость перемещения при постоянстве акустиче 1762224ультразвуковых дефектоскопов с искусственными отражателями, последние расположены в образце на участке спирали Архимеда, центр которой лежит на поверхности образца, а величина отражателей, с учетом их расположения - на спирали, выбрана из условия равенства амплитуд отраженных эхо-сигналов при излучении равных ультразвуковых сигналов из центра спирали Архимеда в направлении каждого отражателя,На чертеже на фиг. 1 представлен тест- образец; на фиг, 2 - диаграмма направленности на электролучевой трубке.Позицией 1 обозначен образец, 2 - выполненные в нем по спирали Архимеда отверстия, 3 - преобразователь, установленный на наклонную грань образца 1...

Номер патента: 1763966

Опубликовано: 23.09.1992

Автор: Тихонов

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, имитатор, настройки

...цилиндров,Имитатор изготовлен не менее чем издвух цилиндров, вставленных один в другой. Роль искусственных дефектов выполняют зазоры между цилиндрами. Такимобразом, искусственные дефекты представляют собой окружности, охватывающие все(от 0 до 360) возможные направления дефектов, Такая конструкция позволяет выявить поверхностные и подповерхностныедефекты, в реальном изделии имеющие самые различные направления, В известныхтехнических решениях подобная задача нерешена, В прототипе, например, крестообразный искусственный дефект имеет всегодва направления, в аналоге - одно,Кроме того, конструкция заявляемогоимитатора позволяет выполнять искусственные дефекты различной ширины на одном имитаторе, что тоже важно дляопределения размеров дефектов....

Номер патента: 1772715

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Волынский, Гражданов, Довженко, Овсейко, Пащенко, Погудин

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, работоспособности

...импульсов треугольной формы (фиг, З,в,г).Экспериментально установлено, что разнопалярные импульсы треугольной формы, подаваемые через многоэлементный индукционный первичный преобразователь в измерительные каналы серийного дефектоскапа типа УКТЛ для контроля состояния тросовой основы конвейерных лент, наиболее точно отражают форму сигналов первичного преобразователя от реальных дефектов тросовай основы типа "Обрыв" в месте повреждения тросов или типа "Стык" - на границе стыковых соединений.При этом для имитации дефектов типа "Обрь 1 в" в тросовой основе на выходе имитатора 4 формируются положительный и отрицательный импульсы треугольной формы, имеющие общую точку перехода через ноль (фиг. З,в), а для имитации дефектов типа "Стык" -...

Номер патента: 1797029

Опубликовано: 23.02.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимно противоположных направлениях, считыва" ют сигнал от дефекта и по величине этого Составитель А,СиницаТехред М.Моргентал Корректор М.Макимишинец Редактор Т.Иванова Заказ 649 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 дефектоскопов за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов.Указанная цель достигается тем, что имитаторы сварного шва и...

Номер патента: 1817015

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...с полем Чо(см.фиг.2), близко к распределению напряженности поля в зоне термического влияния реального сварного соединения из закаливающейся стали, если ширина каждой из пластин 4 равняется ширине участков с различной структурой и химическим составом в ЗТВ реального сварного соединения,После установки, необходимого значения электрического тока в пластинах 2 - 4 (см,фиг.1) на поверхность контрольного образца устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан) и перемещают в направлении, пересекающем пластины 2 - 4, При пересечении датчиком пластин 2 - 4 регулировкой чувствительности настраивают дефектоскоп на выявление дефекта с заданными размерами. Устройство для осуществления способа (см,фиг,1) калибровки магнитных...

Номер патента: 2002246

Опубликовано: 30.10.1993

Авторы: Лехнович, Синица, Шарова

МПК: G01N 27/82

Метки: дефектоскопов, калибровки, магнитных

...и два источника тока, подключенных к соответствующим имитаторам, согласно изобретению имитатор сварного шва выполнен в виде цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиленич,На фиг, 1 представлено сварное соединение с поверхностным дефектОм и распределение напряженности магнитного поля Н на его поверхности; на фиг. 2 - устройство для калибровки, описанное в прототипе, и распределение Н на его поверхности; на фиг, 3 - заявляемое устройство и распределение Н на его поверхности.Так как усиление сварного шва 1 (фиг, 1)оказывает на намагниченность сварного 5 соединения размагничивающее действие,зависящее от Формы усиления, распределение Н на его поверхности неоднородно(фиг,...

Номер патента: 1202394

Опубликовано: 15.02.1994

Авторы: Застава, Мастеров, Сергеев, Уральский, Шрайбер

МПК: G01N 29/22

Метки: дефектоскопов, настройки, образца, ультразвуковых, чувствительности

СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦА ДЛЯ НАСТРОЙКИ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ, заключающийся в том, что элементы образца, в одном из которых выполнена модель дефекта, соединяют диффузионной сваркой, отличающийся тем, что, с целью повышения качества изготовления, между свариваемыми поверхностями размещают слой толщиной не более 0,0003 длины упругой волны в нем, выполненный из материала, активизирующего диффузию, а сварку производят при температуре гомогенизации материала образца.