Имитатор дефектов для настройки дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 801 И 51)4 С 01 Н 27 НОЙ НОМИТЕТ СССР БРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИ ОСУДАРСТ ПО ДЕЛАМ 1 г 3Мг ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ н ТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(56) Авторское свидетельство СССР У 911309, кл, С 01 И 27/90, 1980, (54) ИМИТАТОР ДЕФЕКТОВ ДЛЯ НАСТРОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПОВ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, Цель изобретения - повышение точности настройки магнитного дефектоскопа-снаряда при контроле магистральных трубопроводов. Имитатор дефектов содержит составной цилиндр иэ двух полу- цилиндров 1 и 2, один иэ которых ста ционарно закреплен и является ложе- , ментом дефектоскопа-снаряда, а другой выполнен с возможностью перемещения относительно первого в продольном направлении, причем на поверхности подвижного полуцнлиндра нанесенискусственный дефект, отражающий особенности естественного дефекта. В рабочем положении подвижный полуцилиндр.1 с искусственным дефектом устанавливается в направляющих пазах полуцилиндра 2 (ложемента), закрепленного на железобетонном основании 3. Наконцах подвижного полуцилиндра 1 зафиксированы силовые дуги 4 и 5 длякрепления тянущего троса б. Тяговоеусилие тросу 6 задается приводнымроликом 21, установленным на валу реверсивного электропрйвода 22. Перемещение полуцилиндоа 1 относительно яполюсов намагничивающей системы 23поисковой секции дефектоскопа-снаряда, установленного на ложемент, производится с постоянной скоростью илипеременной с заданным ускорением, Ими=татор Формирует банк данных о типахискусственных деФектов, их особеннос- АМтях и размерах. 4 илИзобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для настройки магнитныхдефектоскопов-снарядов контролирую 9 5щих заглубленные трубопроводы, например, магистральные газопроводы,Цель Изобретения - повышение точности настройки магнитного дефектоскопа-снаряда при контроле магистральрных трубопроводов за счет Формирования магнитных полей дефектов, присущих магистральным трубопроводам.На Фиг. 1 показан предлагаемыйимитатор дефектов для настройки магнитного дефектоскопа-снаряда, обцийвид на Фиг, 2 - структурная схемауправления имитатором, взаимодействующая с поисковой секцией и блоком обработки инФормации дефектоскопа-снаряда; на Фиг, 3 - подвижный полуцилиндр имитатора с искусственными нарушениями сплошности типа поперечныйшов (а), продольный шов (б), отвод(в), технологическая заглушка (г), 25спиральный шов (д), маркерные магни.ты (е), коррозионное повреждение иэрозионный износ (и) и пеперечнаятрещина (к) на фиг. 4 - топографиямагнитного поля искусственного дефек Ота.Имитатор дефектов (Фиг, 1) содержит подвижный полуцилиндр 1 с искусственным дефектом, устанавливаемыйв направляющих пазах полуцилиндра 2,закрепленного на железобетонном основании 3 и являющегося ложементом деФектоскопа-снаряда, На концах подвижного полуцилиндра 1 зафиксированы силовые дуги 4 и 5 для крепления тяну"щего троса 6, Силовое усилие тросаобеспечивается с помощью опорных роликов 7-12 и натяжного ролика 13, установленных на соответствующих крон"штейнах 14-20. Тяговое усилие тросу 6 45задается приводным роликом 21, установленным на валу реверсивного элект(ропривода 22. На Фиг. 1 показана также намагничивающая система 23 поисковой секции дефектоскопа-снаряда. 50Схема управления имитатором (Фиг.2)содержит пульт 24 управления, построенный на стандартных элементах логики, первые вход и выход которогосоединены со средствами 25 управления перемещением подвижного полуцилиндра 1, включающими электропривод22 и элементы сигнализации о местонахождении полуцилиндра, например.фотодатчики. Вторые вход и выход пульта 24 управления 24 подключены соответственно к управляющим входу и выходу входного устройства 26 блока обработки информации дефектоскопа-снаряда, Входы входного устройства 26 соединены с преобразователями 27 поисковой секции дефектоскопа-снаряда, а выход через блок переключения 28 подключен к входам блоков памяти устройства 29 памяти параметров эталонов (кодов деФектов).Схема управления содержит также устройство 30 сравнения, первые входы блоков сравнения которого соединены с выходами соответствующих блоков памяти устройства 29 памяти параметров эталонов, вторые входы через блок 28 переключения подключены к выходу входного устройства 26, а выходы соединены со входами устройства 31 принятия решения, выход которого подключен к входу накопителя 32 инФормации.Имитатор работает следующим образом.Подвижный полуцилиндр 1 с выбранным искусственным дефектом, например поперечным швом (фиг, З,а), устанавливается на конце полуцилиндра 2 (ложемента), на среднюю часть которого помещается настриваемый дефектоскопснаряд 33. К силовым дугам 4 и 5, заФиксированным на концах подвижного полуцилиндра 1, крепится тянущий трос 6, посредством системы роликов 7-13 и 21 связанный с электроприводом 22, обеспечивающим возвратно-поступательное перемещение полуцилиндра 1 относительно полюсов намагничивающей системы 23 поисковой секции дефектоскопа-снаряда 33,С пульта 24 управления на управляющий вход входного устройства 26 блока обработки информации дефектоскопа-снаряда 33 подается информация о типе дефекта, на который производится настройка, например о поперечном шве. Входное устройство 26 представляет собой усилительные и ключевые, каскады, коммутатор и аналого-цифровой преобразователь и осуществляет предварительную обработку аналоговой информации и преобразование ее в цифровую Форму, Полученная информация в виде закодированного адреса и условного обозначения типа дефекта поступает в один из блоковз1441292 устройства 29 памяти и с управляющего выхода входного устройства 26 на пульт 24 управления поступает сигнал о принятии устройством 29 памяти информации. На пульте управления 24 загорается индикаторный элемент, после чего с пульта управления дается команда средствам 25 управления перемещением полуцилиндра 1 на включение электропривода 22, обеспечивающего перемещение полуцилиндра 1 с заданной постоянной скоростью или переменной скоростью с заданным уСкорением. В процессе перемещения полуцилиндр 1 проходит над полюсами намагничивающей системы 23, расположенной под ним поисковой секции дефектоскопа-снаряда 33. Момент перекрытия полюсов (передний конец полуцилиндра 1 достигает края второго полюса) Фиксируется Фотодатчиками средств 25 управления, сигнал с которых поступает. на,пульт 24 управления, который дает разрешение на поступление информации в блок обработки информации деФектоскопа-снаряда 33. Намагничивающая система 23 формирует магнитный который, проходя по сечению полуцили ра 1, встречает на своем пути наруше-. ние сплошности, например поперечный шов и создает над ним магнитное поле рассеяния (фиг. 4) соответствующей величины и распределения.Сигналы, индуцируемые магнитным полем рассеяния искусственного дефекта в преобразователях 27, расположенных по периметру намагничивающей системы, поступают во входное устройство 26 блока обработки информации, который с помощью 40 блока 25 переключения включается в режим "обучение", Во входном устройстве 26 происходит анализ и измерение параметров сигналов (амплитуды, длительности на разных уровнях амплитуд и др.) и установление критериев для распознавания заданного типа нарушения сплошности. Результаты этого анализа дают И-мерный вектор Х(ХХ,Х ), который называется кодом дефек- В 0М фта (эталоном), и поступает в устройство 29 памяти параметров эталонов. Когда задний конец полуцилиндра 1 начнет сходить с края первого полюса, сигнал с Фотодатчиков средств управления 25 поступает на пульт 24 управления, на котором загорается индикаторный элемент. С пульта 24 управления следует команда входному все блоки устройства 30 сравнения. Одновременно в каждый блок устройства 30 сравнения поступает сигнал эталона с выхода соответствующегоблока устройства 29 памяти. Выходные 45 сигналы со всех блоков сравнения по даются на устройство 31 принятия решения, которое по совокупности всех пришедших сигналов принимает решение о типе дефекта. Информация о типе деФекта и его месторасположении в трубопроводе регистрируется в блоке 32 накопления информации, представляющем собой циФровой магнитный накопитель или блок твердотельной памяти.Формула изобретения.Имитатор дефектов для настройкидефектоскопов, содержащий цилиндрс искусственным дефектом, о т л и -устройству 26 о прекращении приемаинФормации с преобразователей 27,После того, как полуцилиндр 1 доходит до конца ложемента, он останавливается, С пульта 24 управления подается команда средствам 25 управления на включение электропривода 22,обеспечивающего перемещение полуци 10 линдра 1 в обратном направлении.Затем на сходную позицию устанавливают полуцилиндр 1 с искусственным дефектом, имитирующим продольный шов (фиг. З,б), и операции по ус 15 тановлению критериев для его распознавания проводятся в тдй же последовательности, Аналогичным образом устанавливаются критерии для распознавания нарушений сллошности других20 типов (Фиг. 3 в-к).Таким образом, в процессе настройки дефектоскопа-снаряда на режимконтроля обеспечивается формированиев устройстве 29 памяти банка данных26 для распознавания всех типов нарушений сплошности.Перед запуском дефектоскопа-снаряда 33 в контролируемый магистраль- нД ный трубопровод блок обработки инфор 30 мации с помощью блока 28 переключения переводится в режим "распознавание". В этом режиме в преобразователях 27 индуцируются сигналы, сформированные магнитным полем рассеяния ЗВ естественного дефекта трубопровода.Во входном устройстве 26 происходитанализ и измерение параметров сигналов, после чего информация о состоянии трубопровода поступает во5 1441292 6ч а ю щ и й с я тем, что, с целью лен на,основании и является ложеменповьппения точности настройки магнит- том дефектоскопа-снаряда, а искусстного дефектоскопа-снаряда при конт- венный дефект выполнен во втором пороле магистральных трубопроводов, ци- луцилипдре,который установлен с воз 5ч линдр выполнен составным из двух по- можностью перемещения по образующеи луцилиндров, один из которых закреп- относительно первого полуцнлиндра.Ячюикб РйсйОьфЯВйнй 6Г/47 ТирВНИИПИ Гпо дел 113035, Мос сударственн м ивобретен ва, Ж, Р комитета СССРи открытийская наб д, 4/
СмотретьЗаявка
4247921, 22.05.1987
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ИНТРОСКОПИИ
ЖУКОВА ГАЛИНА АНДРЕЕВНА, ФЕДОСЕНКО ЮРИЙ КИРИЛЛОВИЧ, КВАТОВ ЛЕОНИД АНАТОЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектов, дефектоскопов, имитатор, настройки
Опубликовано: 30.11.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/5-1441292-imitator-defektov-dlya-nastrojjki-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Имитатор дефектов для настройки дефектоскопов</a>