Способ калибровки магнитных дефектоскопов

)5 ИайЮММВИИВ- ГЛ," ЬЯГ Й.:РТЕ ЗОБР СА ЕН ЕЛЬСТВ СКОМК ствам не- быть исится ксрля и можбровки относ онтро кали гнитных ибровки магнитных ающийся в том, что ольный образец укекта пропускают по еличину сигнала и фектоскопа. способа, в том, ть дефектосконтроля сварныхпозволяет учиействие валика ется повыше ки магнитных ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОВЕДОМСТВО СССРГОСПАТЕНТ СССР)(71) Могилевский машиностроительный институт(54) СПОСОБ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХДЕФ Е КТОСКОПОВ57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использованодля калибровки магнитных дефектоскопов.Цель изобретения - повышение достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов,Изобретение разрушающего к пользовано для дефектоскопов,Известен способ к дефектоскопов, заклю на бездефектный конт лады вают имитатор де нему ток, считывают проводят калибровку дНедостаток указанного что невозможно калибров пы, предназначенные для к соединений, т. к, способ н тывать размагничивающее ва. Наиболее близким по технической сущ сти к достигаемому результату являетс достигается за счет того. что в способе калибровки магнитных дефектоскопов, заключающемся в том. что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, имитатор сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях бездефектного контрольного образца так, что продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца.1 и. ф. способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа. Недостаток способа в том, что он н позволяет с большой точностью моделиро вать подповерхностные дефекты сварнь соединений,Целью изобретения явля ние достоверности калибров1797029 Формула изобретения Способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимно противоположных направлениях, считыва" ют сигнал от дефекта и по величине этого Составитель А,СиницаТехред М.Моргентал Корректор М.Макимишинец Редактор Т.Иванова Заказ 649 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 дефектоскопов за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов.Указанная цель достигается тем, что имитаторы сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях г-дефектного контрольного образца так,д продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца,С увеличением глубины залегания дефекта ширина его магнитного отпечатка на поверхности изделия (там, где расположен датчик магнитного поля) увеличивается, Это не позволяет с достаточной точностью моделировать подповерхностные дефекты при размещении имитатора дефекта на имитаторе шва, т. к, сложно подобрать ширину имитатора дефекта, равную ширине магнитного отпечатка подповерхностного дефекта.В заявляемом способе калибровки отсутствуют сложности, описанные выше, т. к. имитаторы дефекта и шва расположены на противоположных сторонах бездефектного образца, что наиболее точно имитирует подповерхностный дефект сварного соединения,Способ калибровки реализуется следующим образом. На противоположные поверхности бездефектного контрольного образца укладывают имитаторы сварного шва и дефекта таким образом, что бы продольные оси симметрии имитатора лежали в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного образца. На поверхности имитатора сварного шва размещают датчик магнитного поля. Намагничивают образец, пропускают по имитаторам шва и дефекта ток во взаимно противоположных направлениях, измеряют сигнал от дефекта и калибруют дефектоскоп.П р и м е р . Калибруют магнитографический дефектоскоп МДГ для контроля 15 сварного соединения с шириной усиления22 мм. Подлежат выявлению непроварки в корне шва с шириной более 0,5 мм, Толщина бездефектного образца 16 мм. На его противоположные поверхности укладывают 20 имитаторы шва злектропроводящая пластина шириной 22 мм) и дефекта (злектропроводящая пластина шириной 0,5 мм) так, чтобы продольные оси симметрии имитаторов лежали в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного образца. Укладывают на имитатор шва ленту И, Намагничивают образец полем 380 А/см, по имитаторам дефекта и шва пропускают ток 15 и 120 А соответственно, Считывая магни тограмму с ленты калибруют дефектоскоп. сигнала проводят калибровку дефектоскопа, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью 35 повышения достоверности калибровки засчет увеличенияточности имитации подповерхностных дефектов, имитаторы сварного шва и дефекта размещают нэ противоположных поверхностях бездефектного конт рольного образца так, что продольные осисимметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной к поверхности бездефектного контрольного образца.