Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 51)5 6 01 М 27/82 арев, Г.А,КасиГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Всесоюзный заочный машиностроительный институт(56) Авторское свидетельство СССР М 1191813, кл. 6 01 й 27/82, 1985.Авторское свидетельство СССР М 1467488, кл. О 01 й 27/82, 1987.(54) КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ИМИТАЦИИ ВОЗДЕЙСТВИЯ ДЕФЕКТА ПРИ НАСТРОЙКЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки и градуировки вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразоваелями. Повышение точности имитации1 1578625 А деиствия дефектов достигается благодаря исключению дополнительных искажений поля вихревых токов под действием переходного сопротивления стыкуемых частей 1,2 контрольного образца. Вихревые токи обтекают дефект, выполненный в частях 1 и 2 образца в виде полостей 3,4, разветвляясь относительно поверхности стыка. Это происходит благодаря тому, что полости 3,4 выполнены на одинаковую длину в обе части 1 и 2 образца. Влияние стыка дополнительно уменьшается за счет электропроводящей прокладки 5, выполненной многослойной с регулируемой толщиной из материала с большей удельной электропроводностью, чем материал образца. Торцы электропроводящей прокладки 5 электрически изолированы диэлектрическими прокладками 6 для исключения нежелательного перераспределения вихревых токов при неточной сборке. 1 з.п. ф-лы, 4 ил.45 50 Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для настройки и градуировки вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями. Цель изобретения - повышение точности имитации при настройке вихретоковыхдефектоскопов с проходными преобразователями эа счет, использования конструкции,позволяющей устранить искажения распределения вихревых токов, обтекающих искусственный дефект.На фиг,1 показана конструкция контрольного образца с внутренним дефектом;на фиг.2 - электропроводящая прокладкаобразца с внутренним дефектом; на фиг,3 -. конструкция образца с дефектом, выходящим на внутреннюю поверхность образца;на фиг.4 - электропровадящая прокладкаобразца с дефектом, выходящим на внутреннюю поверхность образца,Контрольный образец для вихретоковых дефектоскопов с проходными преобразователями состоит из частей 1 и 2 свыполненными в них равными па размеруполостями 3 и 4.Между частями 1 и 2 образца размещена электрапровадящая прокладка 5, выполненная из материала с большейэлектропроводнастью, чем материал образца. Прокладка 5 выполнена многослойной свозможностью регулировки ее толщины засчет изменения числа слоев, а торцы прокладки 5 электрически изолированы с помощью диэлектрических прокладок 6.Прокладка 5 выполнена с отверстием 7, размеры которого равны поперечным размерам полостей 3,4,Контрольный образец имитирует воздействие дефектов следующим образом,Вихревые токи, возбужденные проходным преобразователем, обтекают дефект,разветвляясь относительно некоторой плоскости, проходящей через поперечное сечение иэделия, При использовании наиболеешироко применяемых проходных преобразователей с соленаидальнай возбуж дающей обмоткой вихревые токи будутразветвляться относительно плоскости,проходящей через середину дефекта, поэтому сечение образца в этой плоскости приведет к минимальным искажениям поля. вихревых токов и позволит выполнить искусственный дефект. Создать без сеченияобразца искусственный дефект, выходящийна внутреннюю поверхность, затруднительно, а размещенный в толще образца внутренний дефект (полости 3 и 4) невозможно.Вместе с тем наличие стыка между частями 5 10 15 20 25 30 35 1 и 2 образца вносит искажения во внешнее магнитное поле реакции вихревых токов, Компенсировать получаемое изменение магнитного поля удается с помощью электропроводящей прокладки 5, выполненной из материала с большей удельной электропроводностью, чем материал частей 1 и 2 образца. Это объясняется тем, что прокладка 5 создает магнитное поле большей интенсивности, чем прилегающие к ней слои иэделия той же толщины, За счет этого при усреднении суммарного поля и происходит компенсация. Практически необходимо подобрать толщину прокладки 5, которая регулируется путем изменения числа слоев многослойной прокладки, Слои рекомендуется выполнять из тонкой медной фольги,Подбор осуществляется да выполнения полостей 3 и 4. Образец пропускают через проходной преобразователь и регистрируют измененле сигнала на стыке. Толщина прокладки 5 варьируется до получения минимального изменения сигнала на стыке частей 1 и 2. После этого изготавливают искусственные дефекты в виде полостей 3,4 в частях 1 и 2 образца, а такжеотверстие 7 в прокладке 5.При неточной сборке образца его торцы с полостями 3 и 4 могут не совпасть,.что приведет к перераспределению вихревых токов из-за наличия электроправадящей перемычки между торцами дефектов. Для исключения этого побочного эффекта злектроправодящую прокладку 5 изолируют с помощью диэлектрических прокладок 6,Предложенный контрольный образец обладает повышенной точностью имитации па сравнению с известными, поскольку выполненное сечение образца вносит минимальные искажения в распределение вихревых токов,Формула изобретения 1, Контрольный образец для имитациивоздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектаскопов, выполненный в виде двух сопряженных между собой частей с равными па размеру паластями в каждой из них, расположенными друг против друга, и поверхностью сопряжения, перпендикулярной рабочей поверхности образца, и электраправадящей прокладки с злектраправадностью, большей электроправодности частей образца, а т л и ч а ющ и й с я тем, чта, с целью повышения точности имитации при настройке вихре- токовых дефектаскапав с проходными преобразазэтелями, он снабжен двумя дизлектрическими прокладками, размещенными между электраправодящей прокладкойи частями образца, а электропроводящая прокладка выполнена с отверстием, размеры которого равны поперечным размерам полостей, расположенным напротив последних на их уровне. 2. Образец по и 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что злектропроводящая прокладка выполнена многослойной с вазможностью регулировки ее толщины зэ счет изменения числа слоев,1578625 Мако вска орректор Н.Ревская акт акэз 1913 Тираж 514 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 здательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 10 роиэводственн оставитель хред М.Мо Рекуно нтал
СмотретьЗаявка
4389170, 17.12.1987
ВСЕСОЮЗНЫЙ ЗАОЧНЫЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
ШКАТОВ ПЕТР НИКОЛАЕВИЧ, ШИШКАРЕВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ, КАСИМОВ ГЕННАДИЙ АНАТОЛЬЕВИЧ, ПАЛЕЕС ЕВГЕНИЙ ЭММАНУИЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: воздействия, дефекта, дефектоскопов, имитации, контрольный, настройке, образец, электромагнитных
Опубликовано: 15.07.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1578625-kontrolnyjj-obrazec-dlya-imitacii-vozdejjstviya-defekta-pri-nastrojjke-ehlektromagnitnykh-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контрольный образец для имитации воздействия дефекта при настройке электромагнитных дефектоскопов</a>
Предыдущий патент: Способ электромагнитного контроля качества термической обработки изделий
Следующий патент: Способ имитации воздействия дефекта на электропотенциальный дефектоскоп
Случайный патент: Вагоноразгружательное устройство с применением платформы