Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления

СОЮЗ СОВЕТСНИХСЯЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН ЯО 1589190(51 Р О 01 И 27/8 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ адает с направлением пол мит атор дефекта, считывают сигнал вующий минимальной величи а по его величине проводя цефектоскопа. 2 с. и 1 з 1 соответс не цефектаГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГННТ СССР ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(71) Могилевский машиностроительный институт(56) Авторское свицетельство СССР911305, кл, С О 1 И 27/82, 1982. (54 ) СПОСОБ КАПИБРОВКИ МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ(57) Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано цля калибровки маг-. нитных дефектоскопов. Целью изобретения является расширение области использования за счет, калибровки также и цефектоскопов, предназначенных цля контроля изделий со сварным швом. Для . этого на безцефектном контрольном об 2разце 1 закрепляют пластины 2 и 3.Пластина 2 является.имитатором сварного шва, апластина 3 - имитатором дефекта. Пластины 2 и 3 подключают к источникам 4 и 5 тока соответственно, Пластина 2 выполнена по размеру контролируемого сварного шва, а ширина п,истины 3 равна заданной величине минимального цефекта. Пропускают по пластинам ток, причем ток по пласти-. не имитатора сварного шва направлен противоположно току ппастины имитатора цефекта, В процессе пропускания тбка по пластинам.на бездефектный обра" зец воздействуют внешним тангенпианьным полем, направление которого сов3 15891Изобретение относится к средствамиразрушающего контроля и может бытьиспользовано цля калибровки магнитныхц 4 фектоскопов.5Целью изобретения является расширение области использования за счет каРлйбровки, цефектоскопов, предназначЕнных для контроля иэделий со сварным швом,10На фиг, 1 показано устройство длякалибровки магнитных цефектоскопов наконтрольном образце беэ дефекта на Фон магнитного поля, созданного имитатором сварного шва в виде пластины;н фиг. 2 - устройство для калибровки цефектоскопов с имитатором сварного шва в виде двухпроводной линии;. н фиг. 3 - распределение магнитногопня имитатора дефекта и имитаторасварного шва в вице пластин,на фонетЬнгенциального намагничивающего пол 1 Н, на 4 ыг. 4 - распределение магнйтнйх полей имитатора дефекта, имитатора сварного шва, выполненного ввйде двухпроводной линии, и внешнеготангенциального поля; на фиг, 5 - распределение магнитного поля валикасварного шва при намагничивании изделия параллельно поверхности,Устройство (фиг. 1) для осущест. вления способа содержит бездефектныйкЬнтрольный абразец 1электропроводяшую пластину 2, служащую имитаторомсварного шва, электропроводящую пластину 3, служащую имитатором дефекта,источник 4 тока, подкдюченный к пластине 2, источник 5 тока, подключенныйк пластине 3.Электропроводящая пластина 2 закреплена на поверхности контрольногообразца 1 и соединена с источником 4тока, Ширина Ь 1 пластины выбираетсяравной ширине Ь сварного шва. Электропроводящая пластина 3 закреплена аповерхности электропроводящей пластины 2 и соединена с источником 5 токатаким образом, чтобы направление тохав ней было противоположно направлениютока в пластине 2.Устройство (фиг.2) для осуществления способа при калибровке магнитныхдефектоскопов содержит бездефектныйконтрольный образец 6, имитатор сварНого шва в виде двухпроводной лиии557, пластину 8, служащую имитаторомдефекта; и источники 9 и 1 О тока,подключенные соответственно к пластинам 7 и 8, Расстояние межцу проводни 90ками двухпроводной линии 7 равно ширине сварного шва, подлежащего контролю,Расстояние между проводниками. двухпроводной линии Ь равно ширине сварногошва Ь, а к источнику 9 тока они присоединены параллельно. Посерецине расположена электропроводящая пластина8, соединенная с источником 10 токатак, что направление тока в ней противоположно направлению тока н двухпроводной линии 7 (направление тока показано стрелками ),Способ осуществляется следующимобр аз ом.Бездефектный образец 1 намагничивается полем Но. От источников 4 и 5тока по пластинам 2 и 3 пропускаетсяэлектрический ток, Если ширина пластины 2 равна ширине сварного шва, аширина пластины 3 равна ширине дефекта, то распрецеление напряженностиобразующегося магнитного поля (Фиг.3)близко к распределению напряженностимагнитного поля в зоне сварного шва,содержащей дефект (Фиг, 5). Так какширина пластин выбрана равной соответственно ширине валика, сварного шваи ширине дефекта, то необходимый градиент напряженности магнитного поля(фиг. 3), соответствующий размерамсварного шва и дефекта в нем, получают установкой необходимой величиныэлектрического тока в пластинах.После установки необходимого значения: электрического тока в пластинах2 и 3 (фиг, 1) "на поверхность контрольного образца устанавливают датчикмагнитного дефекто скопа (не показ ан )и перемещают в направлении, пересекающем пластины 2 и 3, При перемещении датчиком пластин 2 и 3 регулировкой чувствительности настраивают деФектоскоп на выявление дефекта с заданными размерами,Так как настройка, на заданныеразмеры сварного шва и дефекта в устройстве (фиг, 1) для калибровки производится плавной регулировкой электрического тока, то дефектоскоп можетбыть точно откалиброван на любые размеры швов и дефектов.Устройство (фнг. 2 ) для осуществления способа при калибровке магнитныхдефектоскопов работает следующим образом,От источников 9 и 10 по двухпроводной линии 7 и пластине 8 пропускаютэлектрический ток, При этом над образ5 158919цом 6 образуется магнитное поле, являющееся суммарным двух полей: магнитного поля двухпровоцной линии и пластины. Магнитное поле (фиг. 4) двухпроводнои линии воспроизводит поле валич5ка шва (фиг. 5), а поле пластины -поле дефект а, причем р ас стояние междупроводниками двухпроводной линии 7равно ширине сварного шва. 1 ОПосле установки в двухпровоцнойлинии 7 и пластине 8 необходимых значений электрического тока от источников 9 и 1 О на поверхность устройства,цля калибровки устанавливают датчик магнитного дефектоскопа (не показан)и перемещают его в направлении,пересекающем двухпроводную линию 7 ипластину 8. При прохождении датчиканад цвухпроводной линией и пластиной 20регулируют чувствительность магнитного дефектоскопа так, чтобы дефектоскоп выявлял заданный дефект,П р и м е р, Калибруют магнитограФический дефектоскоп МДГ цля контроля сварного изделия толщиной 6 ммс размерами усиления сварного шваЪ=15 мм и с=2 мм при параллельном намагничивании. Необходимо выявить дефекты шириной раскрытия более 0,5 мм,Толщина бездефектного образца 6 мм.На поверхность образца укладываютдве пластины шириной 15 и 0,5 мм. За-, тем на пластины укладывают магнитнуюленту И-35, Образец намагничи-вают внешним полем Н =250 А/см, а по35ппастинам пропускают ток: 100 А поширокой и 15 А по узкой, Считываютмагнитограмму с ленты, а ручкой "Чувствительность дефектоскопа добиваются устойчивого сигнала, обусловленного полем от узкой полосы пластины, . 2. Устройство дпя капибровки магнитных дефектоскопов, содержащее кон-трольный образец беэ цефекта, закрепленный на нем имитатор дефекта в видеэлектропроводящей пластины и источниктока, подключенный к имитатору дефекта., о т л и ч а ю щ е е с я тем, чтооно снабжено имитатором сварного швавыполненным в вице электропроводящейпластины, ширина которой больше ширины имитатора дефекта, размещенным меягду имитатором цефекта и контрольнымобр азцоми вторым и сто чни ком тока,подключенным к имитатору сварного шва.3, Устройство по п, 2, о т л и ч аю щ е е с я тем, что оно снабжено имитатором сварного шва, выполненным ввиде двух проводников, размещенных сдвух сторон от имитатора дефекта, ивторым источником тока, а провоцникиподключены к второму источнику токапар аллельно,фор мул а из о бр ет ения 45 1, Способ калибровки магнитных де-. фектоскопов, заключающийся в том, что0 6на беэдефектный контрольный образецукладывают имитатор дефекта в видеэлектропроводящей ппастины, ширина которой равна минимапьному дефекту, пропускают по пластине ток, считывают величину сигнапа, соответствующего заданнойминимальной величине дефекта, и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля изделий со сварным швом, между контрольным образцомбез дефекта и имитатором дефекта размешают имитатор сварного шва, пропускают по нему ток в направлении, противоположном направлению тока в имитаторе дефекта, а на контрольный образецвоздействуют виешним тангенциальныммагнитным полем, направление которого совпадает с магнитным полем имитатора дефекта,комитета по изобретениям Москва, Ж, Раушская н Подписноеткрытиям при ГКНТ СЧС д, 4/5