Контрольный образец для дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 1693522 А 1 999 .Ы 2 5 6 01 й 27/82 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР 9(56) Авторское свидетельство СССМ 1018001, кл. 6 01 й 27/82, 1983Авторское свидетельство СССМ 741136, кл. 6 01 9 27/82, 1980,(54) КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦФЕКТОСКОПОВ тение отно Олю и мож ивной про ствительно изобретен ативности сти СОО емых дефе аюано соба фиг, 1 показан образец, общии вид; г. 2 - то же, поперечный разрез; на фиг. ээрез А-А на фиг, 2,нтрольный образец (фиг, 1) состоит из лементов 1 и 2, имеющих форму треух призм, Во внутренней поверхности из призм, т.е. грани призмы, которая ется ребрами призмы и гипотенузаямоугольных треугольников основаиэмы, выполняются пазы 3, площадь ечного сечения которых (фиг. 2) соотует площади сечения минимального двух э гольны одной образу ми пр ний пр попер ветств В 3 на ОднОЙ из е призмы) жесй, образуя пряд. Соединение ым способом; Изобре щему контр для операт ности и чув Целью ние информ нозначно регистриру гания. Нл, М 43институт атомной энергети сится к нераэруш ет быть использов верки работоспо сти дефектоскопа. ия является повыше- контроля ээ счет одтветствия числа ктов глубине их зале(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для оперативной проверки работоспособности и чувствительности дефектоскопа. Целью изобретения является повышение ,информативности контроля за счет однозначности соответствия числа регистрируемых дефектов глубине их залегания. В случае телевизионного дефектоскопа его матричный преобразователь накладывается на образец, и по числу полос, высвечиваемых на экране дефектоскопа, определяется его чувствительность, Аналогично для любых других типов дефектоскопов определяется чувствительность по числу зарегистрированных дефектов. 3 ил,выявляемого дефекта. Пазы 3 могут быть изготовлены не по всей длине (пунктир, фиг, 3), хотя это не технологично, и лучше их изготавливать по всей длине грани (фиг, 3), однако в дальнейшем эти пазы 3 должны быть защищены диамагнитным материалом (не показан) от попадания в них в процессе эксплуатации посторонних ферромагнитных предметов. Пазы 3 следуют друг за другом на расстоянии(фиг, 2), которое берется в 1,5 - 2 раза больше разрешающей способности дефектоскопа (не показан), Число пазов определяется как отношение ширины образца а к расстоянию(фиг. 2) и= - 1.После изготовления паз призм оба элемента 1 и 2 (о тко соединяются между соб моугольный параллелепипе может производиться лю сварка, склеивание и т.д.1 б 93522 А-А Составитель Ю.ГлазковТехред М. Моргентал Редактор М.Бланар Корректор С,Ч каз 4074 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ С 113035, Москва, Ж, Раувская наб., 4/5 изводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарин Длина Ь (фиг, 3) и ширина а (фиг. 2), образца выбираются равными или чутьбольше размеров матричного преобразователя дефектоскопа. Высота и фиг, 2) образца выбирается такой, чтобы глубиназалегания самого глубокого дефекта соответствовала максимальной глубине выявляемогодефекта дефектоскопом,Ойеративная метрологическая аттестация дефектоскопа производится следующим образом,Матричный преобразователь не показан) накладывается на контрольный образец, и на экране дефектоскопа появляютсяполосы количество которых соответствуетколи еству выявленных пазов. Поскольку глубина залегания каждого паза заведомоизвестна, то по количеству полос на экранеопределяется наибольшая глубй а выявля.емого дефекта,5 Формула изобретенияКонтрольный образец для дефектоскопов, состоящий из двух жестко соединенныхэлементов и искусственного дефекта, о тличающийся тем,что,сцелью10 повышения информативности контроля,элементы имеют форму прямых. треугольных призм, образующих при соединениипрямоугольный параллелепипед, дефектвыполнен в виде идентичных продольных15 пазов, расположенных пгпаллельно большим граням параллелепипеда.
СмотретьЗаявка
4725136, 31.07.1989
ОБНИНСКИЙ ИНСТИТУТ АТОМНОЙ ЭНЕРГЕТИКИ
АБАКУМОВ АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ, ЧЕГОДАЕВ ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопов, контрольный, образец
Опубликовано: 23.11.1991
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1693522-kontrolnyjj-obrazec-dlya-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контрольный образец для дефектоскопов</a>
Способ изготовления образцов для настройки дефектоскопов при неразрушающем контроле
Номер патента: 1201755
Опубликовано: 30.12.1985
Авторы: Агеев, Выборнов, Калинин, Шамин
МПК: G01N 29/04
Метки: дефектоскопов, контроле, настройки, неразрушающем, образцов
...113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул, Проектная, 4 1 1Изобретение относится к нераэру"шающему контролю и может быть использовано для изготовления образцов для настройки дефектоскопов при,например, тепловом ульраэвуковоми других видах неразрушающего контроля изделий с гаэотермическим покрытием.Целью изобретения является повышение точности настройки при контроле изделий с газотермическим покрытием.Способ осуществляют следущцим образом,В качестве материала для изготовления искусственного дефекта выбираютпорошкообразный материал с физикомеханическими свойствами, отличнымиот свойств основы и покрытия.На поверхности основы напылениемчерез маску порошкообразного материала выполняют искусственный...
Способ изготовления контрольных образцов для настройки дефектоскопов
Номер патента: 1267250
Опубликовано: 30.10.1986
Авторы: Гарькавый, Гольдин, Левченко, Сахно, Танцеров
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопов, контрольных, настройки, образцов
...нагревают последнюю до выбирают из соотношенияпластической деформации и нагружают 25азаготовку продольно-поперечным обжа- - 0,2 - 0,5,тием 21,где Ь - глубина дефекта,Недостаток данного способа состоитрадиус скругления между стенкамив невозможности получить поверхностиз соотношенияные дефекты (глубиной 0,1 мм) с за- З 0данными параметрами, так как при об- -Ьасжатии поверхностных слоев происходит 2неравномерная их деформация и, как 2 уследствие, нестабильная ширина дефек- а затем заготовку выпрямляют изгибом.та по его нысоте. Кроме того, перед выпрямлением заНаиболее близкйм к предлагаемомуготовки в канавку помещают немагнитявляется способ изготовления контро- ную пластину толщиной, равной заданльных образцов для настройки дефекто- ной...
Способ изготовления контрольного образца для магнитной дефектоскопии сварных соединений
Номер патента: 1527565
Опубликовано: 07.12.1989
Авторы: Выборненко, Лаврентьева, Уланова, Шарова, Шкляр
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопии, контрольного, магнитной, образца, сварных, соединений
...что и контролируемыеизделия, при этом оси электродовдолжны проходить через центр внутреннего отверстия шайбы, 2 ил. Способ изготовления контрольного образца заключается в следующем.Перед сваркой между пластинами 1 и 2 укладываются шайбы 3 из тугоплавкого немагнитного материала. В шайбах 3 выполнены отверстия, которые определяют диаметр литого ядра. Диаметр отверстий должен соответствовать диаметру литых ядер, которые должны получаться при сварке реальных изделий. В качесшайб 3 можно использтитан, ниобий и т.птериал, являющийсяи тугоплавким. Благ1527565 ядра в точечных сварных соединениях,изготовленных иэ ферромагнитных материалов. аида.г оставитель И, Рекунова Техред М,дидык Корректор Н.Корол едактор О. 111 рковецк Заказ 7505/49...
Настроечный образец с имитатором подповерхностного дефекта для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1467488
Опубликовано: 23.03.1989
Авторы: Домашевский, Колыхалов, Шкатов
МПК: G01N 27/82
Метки: дефекта, дефектоскопии, имитатором, магнитной, настроечный, образец, подповерхностного
...образец используетсяследующим образом,Имитацию магнитных потоков рассеяния под действием дефекта сплошностис помощью настроечного образца рассмотрим применительно к магнитному(ферроэондовому) дефектоскопу с ин;,дукционным блоком намагничивания ввиде П-образного электромагнита.П-образный электромагнит 10 (фиг. 1) устанавливают на рабочей поверхности образца симметрично поверхности сопряжения частей 1 и 2. При этом силовые линии магнитного поля разделяют" ся на два русла, отклоняющиеся от поверхности сопряжения в разные стороны. Из соображений симметрии точнотакая картина силовых линий имеетместо в контролируемом объекте с подповерхностным дефектом и при отсутствии поверхности сопряжения. Следовательно, выполнение образца составным5не...
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1534381
Опубликовано: 07.01.1990
Авторы: Давыдков, Магилинский, Романов, Шарова
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
...на фиг. 3 - шов, поперечное сечение.Контрольный образец содержит планки 1 и 2, соединенные сварным швом 3 пеоеменного сечения, и дефект 4. С обратной стороны шва под дефектом укладьвается цилиндри ческий сегмент 5. Точность укладки обесне чивается с помощью мерительносо инстру мента, а фиксация цилиндрического сегмента происходит при намагничивании образцаПри контроле качества двусторонних Сварных швов сравнивают сигнал, обусловленный дефектом, содержащимся в шве, с сигналом, обусловленным дефектом конт рольного образца в том сечении, где разность радиуса кривизны верхнего шва 7) и высоты с усиления для изделия и образца одинаковы, а также одинаковы ГГ и с второго шва и цилиндрического сегмента. Образец Содержит набор...
Предыдущий патент: Линейный преобразователь магнитных полей к дефектоскопу
Следующий патент: Способ определения эксплуатационной стойкости труб из ферромагнитных материалов
Случайный патент: Контрольный прибор для разлива жидкостей