Устройство для калибровки дефектоскопов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 9) (П ц) С 01 Ь 27/ н атныи за ский,инопии при ти видетельство СССР 01 И 27/82, 1972,(54) УСТРОЙСФЕКТОСКОПОВ(57) Изобретрительной те ИБРОВКИ ДЕсигиРег лов н лирова ков осу ния ско о ен ента с ользовано д ов. Цель из бласти прим ительно 1 з.п. оско ленный своей контста вокругрующийент 1 пов.Цел азного зобрет римере и дефе го периметский элеечения, а ласти также ными пре информат имитации а также радиус соответствую та 1,последн а диэлектрич кривизныщим парамей ныполнееский элем зазоре. оторого равнырам элеменразомкнутым,т 2 устаности т к ачала и конца из елйя . На че стройстнлена схема овки дефектнакладными теже предст а для калиб проходными овлен в е Устроис же размет сод рно копо енные ранн риметру эл преобра нателя ГОСУДАРСТВЕННЬ 1 Й КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЦТИПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕ А 8 ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(71) Челябинский трубопроквод и Научно-исследовательститут электронной интроскТомском политехническом иним. С.М.Кирова(53) 620.179.14 (088.8)6) Авторское с439749, кл. С ние относится к изменике и может быть ися калибровки дефектоскобретения - расширениенения за счет калиброви также и дефектоскопов с проход Изобретение относится к измерильной технике и предназначено для стройки и калибровки дефектоскоения - расширениения за счет калибров ктоскопов с проходателями и повышение за счет возможност 9. - .э ., ЕНИЯ ными преобразователями и повышениеинформативности - достигается засчет использования съемного диэлек рического элемента, расположенногозазоре кольцеобразного элемента с искусственными дефектами. Приводныеролики приводят во вращение указанные элементы, при этом элемент сискусственными дефектами, проходячерез проходной и накладной преобразователь, периодически формирует навыходе преобразователя импульсы отначала дефекта и конца этогоэлемента, что эквивалентно получению аналогичных контролируемом иэделии нием скорости вращения 1 ествляется имитация рости перемещения эле усстненными дефектам преобразователя дефек Ф-лы, 1 ил. Устройство содержит у с возможностью вращения оси кольцеобразный имит ролируемое изделие элеь кусствеными дефектами 2 вида, расположенными по ру, и съемный диэлектрич мент 4, площадь и форма15 30 40 50 мента 1 с искусственными дефектамии сопряженные с ним три приводныхролика 5, каждый из которых выполненс проточкой б на боковой поверхности,форма которой соответствует формесопряженной с ней поверхности элемента 1,.На чертеже показаны также наклад-.ной 7 и проходной 8 преобразователи7 и 8 дефектоскопов. Дефекты 2 и 3выполнены минимальными.Устройство для калибровки дефектоскопов работает следующим образом.Приводные ролики 5 приводят вовращение элемент 1 с искусственными дефектами 2 и 3 вместе с элементом 4 из диэлектрического материала вокруг оси. Проточки 6 роликов 5предохраняют от соскальзывания элемент 1 с дефектами 2 и 3 относительно вращающихся роликов 5 и, тем самым удерживают элемент 1 в однойплоскости вращения, Элемент 1 с дефектами 2 и 3, проходя через преобразователь 7 или 8 дефектоскопа,периодически формирует на его выходеимпульсы от начала и конца, а такжекалиброванные импульсы от минимальных искусственных дефектов 2 и 3,что эквивалентно получению импульсов на выходе преобразователя 7или 8 дефектоскопа от начала, концаи дефектов длинномерных изделий.Для калибровки дефектоскопов сразличными типоразмерами преобра-зователей 7, 8, в том числе и проходными, а также дефектоскопов дляконтроля изделий различного профиляэлемент 4 отделяется от элемента 1и устанавливается необходимый преобразователь 7, 8.Калибровка дефектоскопов при,помощи элемента:1 с минимальнымиискусственными дефектами 2 и 3 осуществляется при выполнении такихопераций поверки дефектоскопов, какопределение исправности пороговыхсхем, определение уровня выходногосигнала измерительной информации,. определение нестабильности паказаний дефектоскопа,Для раздельной калибровки различных каналов дефектоскопа в зависимости только от одного из типов дефектов, например непровара сварного шва, ужима металлов прн сваркеи др., используется элемент 1 с одним из типов дефектов, соответствующимкалибруемому каналу дефектоскопа. Имея набор различных элементов 1с необходимыми сочетаниями искусственных дефектов различного типа,можно отстроить дефектоскоп от вредного влияния мешающих факторов, в частноети от вредного влияния надругие каналы дефектоскопа дефектов другого типа, на которые калибруемый канал не должен реагировать,Регулированием скорости вращения роликов 5 осуществляется имитация изменения скорости перемещения длин- номерных изделий относительно преобразователя 7 или 8 дефектоскопа,формула изобретения 1. Устройство для калибровки деФектоскопов, содержащее установленный с возможностью вращения вокругсвоей оси кольцеобразный имитирующий контролируемое изделие элементс искусственными дефектами, расположенными по его периметру, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с цельюрасширения области применения засчет калибровки также и дефектоскопов с проходными преобразователями иповышения информативности оно снаб"жено съемным диэлектрическим элементом, площадь и Форма сечения, атакже радиус кривизны которого равнысоотвествующим параметрам элементас искусственными дефектами, последний выполнен разомкнутым, а диэлектрический элемент установлен вего зазоре,2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с цельюповышения точности калибровки,.оно снабжено размещенными равномерно по периметру элемента с искусственными дефектами и сопряженными сним тремя приводными роликами, каждыйиз которых выполнен с проточкой набоковой поверхности, Форма которойсоотвествует форме сопряженной сней поверхности элемента с искусственными дефектами,1557513 Составитель И.Рекунова Техред А.Кравчук ор Л.Веселовская рректор Н.Корол агород, ул но-издательский комбинат "Патент Производст арин Заказ 715 Тираж 509 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открмтиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5
СмотретьЗаявка
4003024, 06.01.1986
ЧЕЛЯБИНСКИЙ ТРУБОПРОКАТНЫЙ ЗАВОД, НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНТРОСКОПИИ ПРИ ТОМСКОМ ПОЛИТЕХНИЧЕСКОМ ИНСТИТУТЕ ИМ. С. М. КИРОВА
ТАРАСОВ ЮРИЙ ИВАНОВИЧ, ЖУКОВ ВЛАДИМИР КОНСТАНТИНОВИЧ, КОНОВАЛОВ ВИКТОР ЕФИМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопов, калибровки
Опубликовано: 15.04.1990
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1557513-ustrojjstvo-dlya-kalibrovki-defektoskopov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для калибровки дефектоскопов</a>
Предыдущий патент: Способ потенциометрического определения компонентов теллурида ртути
Следующий патент: Вихретоковый дефектоскоп
Случайный патент: Способ сушки древесины