Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН Н 9) ЯО (11) ц 5 С О 1 И 27/8 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯН А,ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ оительный во СССР 1982.(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ(57) Изобретение отновам магнитной дефектобыть использовано дпянитных дефектоскопов,ния является расширени ВКИ МАГНИТся к ср едсткопии и можеткалибровки магЦелью изобретее функциональГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМПРИ ГННТ СССР(56 ) Авторское свидетельсУ 9113051 кле О 01 Н 27/8 2ных возможностей за счет имитации валика усиления сварного шва на контрольном образце, Дпя достижения целиустройство для калибровки магнитныхдефектоскопов содержит беэдефектныйконтрольный образец 1, две двухпроводные линии 2 и 3, соединенные с источниками 4 и 5. Расстояние межцу проводниками внешней двухпроводной линии 2выбирается равным ширине сварного шва,а расстояние между проводниками внутренней цвухпровоцной .линии равно ширине минимального дефекта в контролируемом изделии. Направление тока вовнутренней цвухпровоцной линии 3 выбир ает ся таким, чтобы соэцаваемое магнитное поле мацу проводниками бьщопротивоположно направлению внешнегополя Н,1 з,п.ф-лы, 2 ил.Изобретение относится к средстваммагнитной дефектоскопии и может бытьспользовано цля калибровки магнитныхефектоскопов,Целью изобретения является расширение области использования за счеткапибровки также и дефектоскопов,контролирующих изделия со сварнымшвом. 1 ОНа Фиг, 1 приведена схема устройства; на, фиг. 2 - распределение магнитных полей цефекта, вапика сварногофва при намагничивании образца полемЙо перпендикулярно его поверхности.У стр ой ство содержи т контр ол ьныйобразец 1 без дефекта, две двухпроводные линии 2 и 3, соединенные с источниками тока 4 и 5 соответственно, Расстояние между проводниками цвухпровод Ной линии 2 больше, чем расстояниеМежду проводниками первой, и выбираЕтся равным ширине сварного шва Ь,а расстояние между провоцниками перВой двухпроводной линии равно ширинеМинимального прецполагаемого цефектав контролируемом иэцелии,Устройство работает слецующим образом,Образец 1 без дефекта намагничивается полем Н перпендикулярно поверхОности, От источников 4 и 5 тока подвухпроводным линиям 2 и 3 пропускаютэлектрический ток в противоположныхнаправлениях. Направление тока во35внутренней двухпроводной линии 3 выбирается таким, чтобы создаваемое магнитное поле между проводниками былопротивоположно направлению внешнегополя Н , После установки необходимых 4Означений тока в двухпроводных линиях. на поверхность устройства устанавливают датчик магнитного дефектоскопа(не показан) и перемещают его в направлении, пересекающем двухпроводные 45линии 2 и 3. При прохождении датчика по цвухпровоцной линии 3 регулируют чувствительность магнитного деФектоскопа так, чтобы дефектоскопвыявлял заданный дефект.П р и м е р, Калибруют магнитограФический дефектоскоп МД;11 Г цля контроля сварного изделия толщиной 6 ммс размерами усиления сварного шва Ьф"15 мм и с=2 мм при параллельном намагничивании, Необходимо выявить дефекты раскрытия более 0,5 мм,Используют устройство, содержащеебездефектный образец толщиной 6 мм ицве двухпроводные линии, расстояниямежду провоцниками которых соответственно равно 15 и 0,5 мм. Затем напластины укладывают магнитную лентуИ-35Образец намагничивают внешним полем Ц=250 А/см, а по линиипропускают ток: 1 ООА по внешнейи 15 Апо внутренней, Ленту считывают надефектоскопе,Ручкой "Чувствительность"цобиваются устойчивого сигнала, обусловленного полем узкой линии.Устройство для калибровки магнитных дефектоскопов позволит калибровать,цефектоскопы, предназначенныедля контроля изделий со сварными швами, за счет имитации валика усилениясварного шва на калибровочном конт-,рольном образце без дефекта.Фо р мул а и з о бр е т е ни яУстройство цля калибровки магнитных дефектоскопов по авт,св, У 911305,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, сцелью расширения области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля изделий со сварным швом, оно снабжено второй двухпроводной линией, закрепленной на поверхности контрольно-,го образца в одной плоскости и параллельно первой двухпроводной линии,и подключенным к второй двухпроводнойлинии вторым источником тока, а рас;.стояние между проводниками второйдвухпроводной линии больше, чем расстояние между провоцниками первойдвухпроводной линии.1589191 едактор Л,Весел ская Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 10Заказ 2537 ВНИИПИ Гос Составитель А, БодровТехред М.Дидык . Корректор С,Черни Тираж 52 Подписноерственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СЧСР113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5