Способ изготовления мдп-структур на основе арсенида галлия

Номер патента: 444507

Авторы: Лисенкер, Марончук, Сеношенко

ZIP архив

Текст

(1 07 ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ Соцнапнстнческка Респубакк(23) Приоритет (43) Опубли ков (45) Дата опуб судврстееккнй квате Совета Мкккстреа ССС ее делан кзоеретелккк аткрыткй 05.12.77, Бюллетень 4 3) У 621.382.002.088.8) иковання описания 20.12) Авторы изобретени Б. С. Лисенкер, И Е. Марончук и О. В. Сеношенк арончу 71) Заявитель тут физики полупроводников Сибирского отделения АН ССС(54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МДП-СТРУКТУР НА ОСНО АРСЕНИДА ГАЛЛИЯДля этого перед нанесением диэлектрика поверхность арсенида галлия Обрабаотывают в парах гидразина при 600-620 СВ качестве прототипа изобретения из 5 способ получения МДГЪ-структур на основеСО вв с использованием 810Существо предложенного способа закгдочается в том, что в газтранспортной системе при 1550-750 С на пластинах О или эпитаксиальных слоях отсе А 8 вь 1 рашивают слои двуокиси кремния, образующеггся при термическом разложении тетраэтоксисилана. В результате такого отжига образуется промежуточный слой диэлектрика брат я на арескоготемпераМеханизм рсенид галлияестными спсг , поскольку слоя б ны сло я, состоит в диффузии азота через ий слой, который в данных условиет роль маскирующего покрытия, яющего проникновение загрязняющих ентов к границе,. раздела, В резульлучается граница раздела Са лЬ -5 слповеохностных состояний поИ осш игр О тру ния является получение олупроводник - диэлектностью поверхностных остью 210 от 5 рядка Изобретение относится к электронике, а именно к способам изготовления полупроводниковых приборов на основе МДП-структур из арсенида галлия. Известен способ получения МДП-струк тур, заключающийся в том, что на арсени де галлия выращивается слой двуокиси крем ния путем термического разложения тетраэтоксисилана,В другом известном способе слоокиси кремния Ят О выращиваетссениде галлия в результате термичразложения тетэтоксисилана притуре более 550 С.Однако границы раздела адиэлектрик, полученные извсобами, неудовлетворительныплотности поверхностных состоянийболее 10 см.Белью изобретеграницы раздела птрик с низкой плосостояний. образования промежуточногоначиная с критической толщи4445После выращивания промежуточного слоя 5 а И создающего хорошую границу раздела, выращивают слой основного диэлектрика, который обеспечивает высокие рабочие- напряжения, Основной слой диэлектрика5 получают любыми известными иизкотемперв турными способами.В газотранспортной системе, использую щейся для выращивания слоев диэлектрика, в зоне образцов устанавливают 1 ф 600- 620 С. Очищенный гаэ-носитель (Н ) барботируется через гидраэин, который разлагается в зоне образца 5 а А 9 с выделением свободного азота, Поскольку при этой температуре значительная диссоциация и уда ление мышьяка, происходит реакция азота с (а( А е с образованием Сто Х С достижением критической толщины 6 О Й основным механизмом роста становится диффузия азота через образовавшийся слой ( о Н, что обеспечивает образование границы раздела бо Аб - Ст о 1 М в химически чистых условиях. После образования промежуточного слоя 5 О Й температуру в зоне 074ообразцов понижают до 550 С и в реактор вводят пары тетрватоксисилвнв, который разлагается с выделением двуокиси кремния, в результате чего происходит рост основного слоя диалектрика.Полученные структуры имели плотность поверхностных расстояний на границе раздеда (2 "3)1 д см ,Формула изобретения Способ изготовления МДП-структур нв осно е арсейидв галлия включающий наращивание на поверхности полупроводника низкотемпературным методом диалектрика, например пиролитического 50 2и последующее нанесение металлического алектродв, о т л и ч в ю щ и й с я тем, что, с целью получения границы рвзделв полупроводник - диалектрик с низкой плотностью поверхностных состояний, перед нанесением диэлектрика поверхность арсе- нида галлия обрвбвтоыввют в парах гидразина при 600-620 С.Составитель Н. ЗолотухинаРедактор А. Зиньковский Техрец Н. Анцрейчук Корректор Е. ПвппЗаказ 4739/10 Тираж 976 П оцписн ое ЦНИИПИ Госуцврствеиного комитета Совета Министров СССР по цепам изобретений и открытий 113035 Москва, Ж, Рвушская нвб., ц. 4/5 филиал ППП "Патент, г. Ужгород, уп. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

1675070, 29.06.1971

ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ СО АН СССР

ЛИСЕНКЕР Б. С, МАРОНЧУК И. Е, МАРОНЧУК Ю. Е, СЕНОШЕНКО О. В

МПК / Метки

МПК: H01L 29/00

Метки: арсенида, галлия, мдп-структур, основе

Опубликовано: 05.12.1977

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-444507-sposob-izgotovleniya-mdp-struktur-na-osnove-arsenida-galliya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления мдп-структур на основе арсенида галлия</a>

Похожие патенты