Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 219793
Автор: Пур
Текст
239793 ОП ИСАЙ ЙЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сова Советских Социалистических РеспублинЗависимое от авт, свидетельстваЗаявлено 06.1 Х.1966 ( 110052825-2с присоединением заявкиКл, 42 Ь, 12/05 42 Ь, 34/11 МГ 1 К б 01 Ь б 02 Ь УДК 531.715,27(088,8) орите Комитет по де изобретении и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано 14.Ч 1.1968. Бюллетень19Дата опубликования описания 17.1 Х.1968 Авторизобретения Д. Т, Пуряей явите СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОЛИРОВАННОЙАСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ПОЛОЖИТЕЛЬНОЙ Л бретенияг полированной асфеоложительной линзы, ющей асферической щей сферической пося тем, что, с целью нтроля, на сферичена время контроля ающий слой,изо ПредметСпособ контроля рической поверхн образованной пр поверхностью и от верхностью, отгич повышения точно скую поверхность наносят зеркально формь ости п еломля ражаю аюигий20 ти к линзы отраж Известен способ контроля полированных асферических поверхностей положительных линз, которая совместно с контролируемой асферической поверхностью дает безаберрационное изображение источника света, установленного на конечном расстоянии или в бесконечности.Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности контроля, на сферическую поверхность линзы па время контроля наносят зеркально отражавший слой.На чертеже дана схема устройства для осуществления описываемого способа.На сферическую или плоскую поверхность 1 линзы 2 наносят зеркально отражающий слой и устанавливают точечный источник 3 света на заданном расстоянии от линзы. Оценку качества поверхности производят при помощи микроскопа 4 теневого или интерференционного устройства, При этом, если первая поверхность линзы является асферической второго порядка, а вторая поверхность - сферическое или плоское зеркало, то всегда существует такое положение предметной точки источника света, при котором ее изображение А не имеет сферической аберрации третьего порядка. Г 1 ри этом действительные аберрации в изображении точки, как правило, отсутствуют при весьма высоком относительном отверстии асферической поверхности, хотя относительное отверстие линзы может быть невелико. Зная параметры линзы, всегда можно определить такое положение точки от источника света, при котором изображение ее, построенное линзой, будет безаберрационным, если обе поверхности линзы изготовлены правильно.Состаеитель Г. КорчагинаРедактор Г. К. Гончарова Техред Р. М. Новикова Корректор Н. И. БыстроваЗаказ 2668/4 Тир агк 530 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Центр, пр. Серова, д. 4Типография, пр. Сапунова, 2
СмотретьЗаявка
1100528
Д. Пур
МПК / Метки
МПК: G01B 11/24
Метки: асферической, линзы, поверхности, полированной, положительной, формы
Опубликовано: 01.01.1968
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-219793-sposob-kontrolya-formy-polirovannojj-asfericheskojj-poverkhnosti-polozhitelnojj-linzy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля формы полированной асферической поверхности положительной линзы</a>
Предыдущий патент: Оптическое устройство для контроля профиляизделий
Следующий патент: Пневматический датчик для измерения линейных размеров отверстий
Случайный патент: Устройство для контроля логических блоков