Приставка к монохроматору для измере-ния абсолютных значений индикатрисырассеяния поверхности

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советски кСоцналистнческикРеспублик 1)813203Опубликовано 15.03.81. Бюллетень10Дата опубликования описания 25.03.81 ао делам изобретений и открытий(72) Авторы изобретения С. П. Авдеев, 3. С. Щербаковский и Ф, Х. Ялы 71) Заявитель нинградский институт точной механики и 4) ПРИСТАВКА К МОНОХРОМАТОРУ ДЛЯ ИЗМЕРЕНБСО,ЛЮТНЫХ ЗНАЧЕНИ 11 ИНДИКАТРИСЫ РАССЕЯНПОВЕРХНОСТИ льноспол- ьрак- роком измер зован ристи диапа ражен отИзвестны устройства д дикатрисы рассеяния пов жацие опорный и измери модулятор, оптическую сис фотоприемника излучения, может поворачиваться вокОднако в этих устройств двух фотоприемников усло цию и процесс измерения. я измерения инерхности, содертельный каналы, ему каналов, два один из которых руг образца 11. ах использование жняет конструкНаиболеети к предлмонохроматзначений иности, содерные каналыпластину, оповоротной гтое контрзером и фотоп обретение относится к конт ительной технике и может быть о для измерения оптических х к поверхностей материалов в ш зоне спектра и углов падения ия излучения. близкой по технической суцносагаемой является приставка к ору для измерения абсолютных ндикатрисы рассеяния поверхжащая опорный и измерительвключающие полупрозрачную бъектив, двухгранное зеркало с ранью, оптический клин и вогнуркало и снабженная модуляториемником 12. Недостатком указанного устройства является ограниченность диапазона измерений, заключающаяся в невозможности измерения коэффициента отражения поверхности в направлениях, отличных от направления назад (т. е, от одной составляюшей индикатрисы рассеяния).Цель изобретения - расширение диапазона измерений значений инд.катрисы рассеяния путем определения абсолютного коэффициента отражения поверхности в различных направлениях.Указанная цель достигается тем, что в приставку дополнительно введены полусферическая пространственная решетка и установленное с возможностью перемещения по ней плоское автоколлимационное зеркало, причем размер ячеек решетки равен размеру этого зеркала.На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства для измерения абсолютных значений индикатрисы рассеяния поверхности.Устройство содержит перед входной щелью монохроматора 1 полупрозрачную пластину 2, фотоприемник 3, двухгранное зеркало 4 с поворотной гранью, объектив 5,813203 1 Вт) =Определение знсеяния в направлеся как в известном Составитель К. РогожинТехред А. Бойкас Корректор В. Синицка Тираж 907 Подписное Редактор А. НаурсковЗаказ 288/51ВНИИПИпо д113035, МоФилиал ППП комитета ССи открытийшская наб дрод, ул. Прое Государственного елам изобретений сква, Ж - 35, Рау Патент, г. Ужго 4/5ная, 4 модулятор 6, оптический клин 7, вогнутое контрзеркало 8, окружающую исследуемую поверхность 9 полусферическую пространственную решетку 10, плоское автоколлимационное зеркало 11. Фотоприемник,3 установлен на двойном фокусном расстоянии от вогнутого контрзеркала 8 (апертурные углы объектива 5 и контрзеркала 8 равны).Устройство работает следующим образом. В режиме балансировки (уравнивания 1 потоков) плоское автоколлимационное зеркало 11 размещается над исследуемой поверхностью 9 перпендикулярно падающему на поверхность потоку и возвращает излучение на фотоприемник 3. Потоки в обоих каналах уравнивают перемещением опти 1 ческого клина 7.В рабочем режиме измерений плоское автоколлимационное зеркало 11 перемещают по полусферической пространственной решетке 10 над исследуемой поверхностью 20 в меридиальной плоскости (угол В - от О до 360) и в сагиттальной плоскости (уголот 0 до 180), при этом получают множество значений ЬМ(Я,р) показаний оптического клина, на которые нужно изменить его положение относительно начального отсчета Мо, чтобы получить с фотоприемника 3 нулевой сигнал рассогласования.Значение индикатрисы рассеяния в заданном направлении определяют с помощью соотношения чения индикатрисы расии назад производитустройстве,4При угле падения о излучения на поверхность значение индикатрисы рассеянияМ /1 оВ общем случае, т.е. когда может меняться угол падения а, излучения на поверхность (оЫО), абсолютные значения индикатрисы рассеяния определяют с помощью соотношения Предлагаемое устройство позволяет получать значения индикатрисы рассеяния исследуемых поверхностей без дополнительных эталонов с высокой точностью.Формула изобретения1 риставка к монохроматору для измерения абсолютных значений индикатрисы рассеяния поверхности, содержащая опорный и измерительные каналы, включающие полупрозрачную пластину, объектив, двухгранное зеркало с поворотной гранью, оптический клин и вогнутое контрзеркало и снабженная модулятором и фотоприемником, отличающаяся тем, что, с целью расширения диапазона измерений, в нее дополнительно введены полусферическая пространственная решетка и установленное с возможностью перемещения по ней плоское автоколлимационное зеркало, причем размер ячеек решетки равен размеру этого зеркала.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Патент США Мо 3640627,кл, б 01 М 21148, опублик, 1971.2. Авторское свидетельство СССР по зая вке Мв 2514174/18 - 25, кл. Сг 01 й 21/48, 27.07.77 (прототип),