Устройство для измерения коэффициентаотражения и освещенности поверхностиобекта
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 830201
Автор: Горбунова
Текст
Союз Советскнк Соцнапистическик Республик. Дата опубликования описания 150581 5 1(з 001 и 21/55 3 осудорствеиный комитет СССР ио делам изобретений и открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ И ОСВЕЩЕННОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ОБЬЕКТАИзобретение относится к фотометрии и может быть использовано для измерения коэффициента отражения и освещенности наружной поверхности корпуса судна, а также поверхности внутренних переборок пультов управления, механизмов.Известно устройство для определения степени очистки металлической поверхности, содержащее источник света, фотоприемник, блок регистрации и . эллиптический отражатель, в одном иэ фокусов которого расположен исследуемый образец, а в другом - фото- приемник 11. Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройствосодержащее незамкнутый кор, пус, примыкающий открытой частью к участку поверхности, источник искус:. ственного освещения,в качестве которого использована лампа накаливания с источником тока, реостатом и ампер метром, дисковый фотоэлемент с центральным отверстием для йрохождения падающего света, расположенный напротив этого участка и обращенный светочувствительным слоем навстречу отраженному свету, в измерительный прибор, к которому подключен фотоэлемент 2 .Недостатком данного устройстваявляются сложность его эксплуатации,а также ограниченная область применения, поскольку указанный, приборможет быть использован только соштатным источником искусственногоосвещения (применительно к которомувыполнена градуировка), требующимподвода питания от источника электроэнергии,.обеспечения и контролястабильности режима питания,Цель изобретения - упрощениет эк-.35 сплуатации и расширение области применения.Поставленная цель достигаетсятем, что устройство для измерениякоэффициента отражения и освещен 20 ности поверхности объекта при наличии внешнего освещения, содержащеенезамкнутый корпус, примыкающий открытой частью к участку поверхноститдисковый фотоэлемент с центральнымотверстием для прохождения падающего света, расположенный напротив этого участка и обращенный светочувствительным слоем навстречу отраженному свету, измерительный прибор, к30 которому подключен фотоэлемент, со 830201держит дополнительный фотоэлемент,тождественный по размерам и форме.первому и расположенный на однойоси с ним, обращенный светочувствительным слоем навстречу падающему свету, ирисоную диафрагму с переменным отверстием, подвижно установленную в поворотной оправке переддополнительным фотоэлементом с возможностью плавного перекрытия площади его светочувствительного слоя,и рассеиватель из глушеного стекла,установленный перед диафрагмой, ав качестве измерительного прибораиспользонан гальнанометр с нулемпосередине, причем дополнительныйфотоэлемент подключен к гальванометру встречно первому, а н цепипервого фотоэлемента имеется выключатель.При этом по окружности поворотной оправки ирисовой диафрагмы нанесены дне шкалы, одна из которыхпроградуирована в единицах коэффициента отражения, а другая - н единицах освещенности.На фиг.1 показано предлагаемоеустройство, вид сбоку; на фиг.2то же, вид спереди; на фиг.Зэлектрическая схема устройства.Устройство содержит незамкнутыйкорпус 1, н котором в неподвижнойвтулке 2, жестко связанной с корпусом, установлены дисковые фотоэлементы 3 и 4 с центральным отверстием, причем фотоэлемент 3 обращенсветочувствительным слоем навстречуотраженному свету, а фотоэлемент 4 - навстречу падающему свету.Перед Фотоэлементом 4 установленыирисовая диафрагма 5 в поворотнойоправке 6 и рассеиватель 7 изглушеного стекла, Поворотная оправка имеет рукоятку 8 и подвижно соединена с втулкой 2. На окружностиповоротной оправки име 3 отся днешкалы 9 и 10, а на боковой поверхности неподвижной втулки две соответствующие метки 11 и 12 для Фиксации отсчета. В комплект устройства входит гальванометр 13 с нулемпосередине, к контактам которогоподключены Фотоэлементы 3 и 4 встречно по схеме Фиг.ЗУстройство работает следующимобразом,Для измерения коэффициента отражения корпус 1 прикладывают открытым участком к освещенной поверхности. Рукояткой 8 поворачивают оправку 6, изменяя диаметр отверстиядиафрагмы 5, а тем самым и величинупадающего светового потока, регистрируемого фотоэлементом 4, до техпор, пока она не будет равна величине светового потока, отраженного отисследуемого участка поверхности ирегистрируемого Фотоэлементом 3.В этом случае ЭДС, создаваемые фотоэлементами, равны, и стрелка гальнанометра устанавлинается н нулевоеположение, При данном положениистрелки фиксируют отсчет по шкале,проградуиронанной в единицах коэффициента отражения.Для измерения освещенности фотоэлемент 3 отключают от гальванометра и поворачивают оправку до техпор, пока стрелка гальванометране установится в крайнее положениев конце шкалы. При данном положениистрелки фиксируют отсчет по шкале,проградуированной в единицах освещенности. Для более точного измеренияосвещенности может быть исцользонангальванометр с набором шунтов.известной кратности.Во всех случаях измерения начинаютс положения поворотной оправки,соответствующего нулевому отсчету20 по шкалам, при котором диаметр отверстия диафрагмы минимален. Градуировку шкал производят при изготовленииустройства, используя стандартныеобразцы и эталонные приборы.25 Изобретение обеспечивает простотуизмерений и воэможность непосредственного определения коэффициента отражения и освещенности как внутренней,так и наружной поверхности любогообъекта, используя существующее освещение этого объекта искусственнымили естественным дневным светом.формула изобретенияУстройство для измерения коэффициента отражения и освещенностиповерхности объекта при наличии внеш него освещения, содержащее незамкнутый корпус, примыкающий открытойчастью к участку поверхности, дисковый фотоэлемент с центральным отверстием для прохождения падающего 45 света, расположенный напротив этогоучастка и обращенный светочувствительным слоем навстречу отраженному свету, измерительный прибор, к которому подключен ФЬтоэлемент, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целЮоупрощения его эксплуатации и расширения области применения, оно содержит дополнительный фотоэлемент,тождественный по размерам и формепервому и расположенный на однойоси с ним, обращенный светочувствительным слоем навстречу падающемусвету, ирисовую диафрагму с переменным отверстием, подвижно установленную в поворотной оправке перед 60 дополнительным фотоэлементом с возможностью плавного перекрытия площади его светочувстнительного слоя,и рассеиватель из глушеногб стекла,установленный перед диафрагмой, а 65 в качестве измерительного прибора830201 Составитель Н,ГусеваТехред М.Коштура КорректорА.Г Редакто Копецкая . н Заказ 3788 907 По комитета СССРи открытийРаушская наб, д. 86 Т НИИПИ Государств по делам изобре 13035, Москва, Ж одписное раж нно ени 35,илиал ППП "Патен;", г.удгород, ул,Проектн использован гальванометр с нулем посередине, причем дополнительный фотоэлемент подключен к гальваномет ру встречно первому, а в цепи первого фотоэлемента имеется выключатель.2. Устройство по п.1, о т л и " ч а ю щ е е с я тем, что, по окружности поворотной оправки ирисовой диафрагмы нанесены две шкалы, одна из которых проградуирована в едины. цах.коэффициента отражения, а дру"гая -ф в единицах освещенности.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССРВ 552519, кл. 6 01 Х 1/04, 1975.2. Авторское свидетельство СССРВ 9 б 937, кл, б 01 М 21/48, 19511 прототип )
СмотретьЗаявка
2795567, 11.07.1979
ВОЙСКОВАЯ ЧАСТЬ 27177
ГОРБУНОВА ИРИНА АРКАДЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 21/55
Метки: коэффициентаотражения, освещенности, поверхностиобекта
Опубликовано: 15.05.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-830201-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-koehfficientaotrazheniya-i-osveshhennosti-poverkhnostiobekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения коэффициентаотражения и освещенности поверхностиобекта</a>
Предыдущий патент: Способ определения типов углейв угольных смесях
Следующий патент: Способ количественного определения -модификации b окиси алюминия
Случайный патент: Способ получения криолита