Способ измерения угловой атмосферной рефракции
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 792102
Автор: Сушков
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Соцнвлнетнцеекни Республнк(22) Заявлено 251278 (21) 2701418/18-25с присоединением заявки Ко(51)М. Кл.з С 01 И 21/41 Государственный комитет СССР во делам изобретений и открытий(54)СЧОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВОЯ АТМОСФЕРЧОЙ РЕФРАКЦИИЗО Изобретение относится к области оптических измерений в атмосфере, в частности, к способам для дисперсионного измерения атмосферной рефрак ции при геодезических работах. 5Известен способ измерения атмосФерной рефракции, основанный на измерении спектральной дисперсии 11),Чедостатком известного способа является ограниченная точность изме О рений в результате Флуктуаций угла прихода светового излучения на приемную систему.Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является 15 способ измерения угловой атмосферной рефракции, заключающийся в измерении сйектральной дисперсии атмосферы для двух оптических излучений с различными длинами волн, анализе разности хода лучей и фиксации интерференционных полос на нуль-индикаторе )21,К недостаткам известного способа, относится ограничение точности изме рения в результате флуктуаций угла прихода светового излучения на приемную систему, так как осуществляют совпадение произвольных интерференционных полос. 2Целью изобретения является компенсация флуктуаций углов прихода излучений на приемное устройство,Поставленная цель достигается тем,что в известном способе фиксацию совпадения интерференционных полос производят в противофазе.Сущность изобретения поясняетсячертежом, где представлена схема устройства для реализации способа измерения угловой атмосферной рефракции.Устройство, реализующее предлагаемый способ измерения, состоит из передающей части рефрактометра, содер-гжащей два источника света (ОКГ) 1 и2 с длинами волн Ъ и Ъ 1 соответственно, светового ослабителя поляроида 3, устройства 4 для одновременного ввода световых потоков в оптическую телескопическую систему 5, уголкового отражателя оптического короткого замыкания б. Данное устройство снабжено дополнительным поворотным зеркалом 7, расположенным по ходу излучения одного из световых потоков (например, с длиной волны Ъ 1между излучателем 1 и устройством 4),позволяющим сместить интерференционные полосы, образованные излучениемс одной длиной волны относительно ин.ч. НИИПИ Заказ 9420/4 ираж 1019 Подписно терференционных полос с другой длиной волны так, чтобы фиксация интерференционных полос на нуль-индикато- ре, образованных излучениями с различными длинами волн, происходила в противофазе,Приемное устройство дан.- ного рефрактометра содержит оптическуюколлимирующую систему 8, трехэеркальный элемент 9,. поляроид 10, кристаллическую пластину 11, устройство поворота плоскости поляризации 12, выполненное, например, иэ кристаллического кварца, кристаллическую пластину (компенсатор) 13 с поворотным отсчетным устройством, поляризационный модулятор-анализатор 14, фотоприемник 15, усилитель 16, синхронный детектор 17, источник напряжения 18, нуль-индикаторы 19,20.Работа устройства осуществляется следующим образом.Световые потоки с длинами волн 2 О Х)и Ъ, выравненные по интенсивности, перед направлением на дистанцию посылают на отражатель оптического короткого замыкания б, Одно иэ излучений, например ъ доворачивают, например, с помощью дополнительного поворотного зеркала 7 так, чтобы фик- сация иитерференционных полос происходила в противофазе. Далее, оба излучения направляют на дистанцию. Лу- у) чи, отразившись от рефлектора, попа" дают в оптическую приемную систему, где их поляриэуют с помощью поляроида 10, делят на два луча (обыкновенный и необыкновенный) на двулучепре- З 5 ломляющей пластине 11 с последующим поворотом плоскости поляризации светового потока таким образом, чтобы плоскости поляризации обыкновенного и необыкновенного лучей, вышедших иэ пластины, для одной длины волны поменялись местами, а для другой не поменялись. Далее лучи пропускают через вторую двулучепреломляющую пластину 13, в результате чего они приобретают дополнительную разность хода. Затем лучи поляризуют, модулируют ианализируют образовавшуюся разностьхода обыкновенного и необыкновенноголучей с помощью, например, модулятора-анализатора 14, и регистрируют,предварительно исключив из значенийдисперсионного угла величину угламежду излучениями, обусловленную конструктивными параметрами рефрактометра, что достигается, например, с помощью отражателя оптического короткого замыкания б. Совпадение интер-ференционных полос, оббазованных световыми потоками с различными длинамиволн, фиксируют на нуль-индикаторе 19,Использование настоящего изобретения позволяет повысить точность измерения эа счет компенсации флуктуацийприхода излучений на приемное устройство,Способ измерения угловой атмосферной рефракции, заключающийся в измерении спектральной дисперсии атмосферы для двух оптических излученийс различными длинами волн, анализеразности хода лучей и фиксации интерференцИонных полос на нуль индикаторе, отличающий с я тем.,что, с целью компенсации флуктуацийуглоВприхода . излучений на приемноеустройство, фиксацию совпадений интерференционных полос производят впротивофазе,Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРР 340948, кл. С 01 С 1/00, 1972.2. Авторское свидетельство СССРР 531070, кл. 6 01 С 1/00,197 б (прочтотип)Филиал ППП Патент, г. Ужгород ул, Проектная, 4
СмотретьЗаявка
2701418, 25.12.1978
ЦЕНТРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ГЕОДЕЗИИ, АЭРОСЪЕМКИ И КАРТОГРАФИИ
СУШКОВ АРКАДИЙ СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/41
Метки: атмосферной, рефракции, угловой
Опубликовано: 30.12.1980
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-792102-sposob-izmereniya-uglovojj-atmosfernojj-refrakcii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения угловой атмосферной рефракции</a>
Предыдущий патент: Способ анализа газовых смесей
Следующий патент: Фотоэлектрический способ измерения концентрации вещества
Случайный патент: Дождевальный аппарат