Устройство для измерения температуры поверхности

ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛВСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик(51)М. Кл. С 01 К 11/12 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(71) Заявител нститут полупроводников АН Украинской ССР и Конструкторско бюро Киевского радиозавода ЕРАТУРЫ(54) УСТРОЙСТ ИВМЕРЕНИ ЕРХНОСТИ П обретение относится к темп измерениям, а именно уст для измерения температура- й- оа едетурным ро ствам ы и верхности.Известно устройство для преобразования теплового излучения в видимое, изображение, которое может быть использовано для измерения температуры поверхности, содержащее жидкокристаллический экран, чувствительный к температуре, осветитель и регистрирующую систему 11. В этом устройствеаспределение температуры объекта реобраэуется в цветное изображение, Устройство имеет низкую точность определения температуры, так как визуальная оценка температуры сопряжена с субъективнйми ошибками.Известно устройство для исследования тепловых полей, содержащее источник света, термочувствительный элемент выполненный на основе оптически неоднородной двухкомпонентной смеси, показатели преломления компо нентов которой зависят от длины волны, два поляризатора и клиновидиые фазовые пластины. Действие устройства основано на селективном пропускании света разных длин волн в видимой области оптически неоднородной дисперсионной смеси и на зависимости длины волны пропускания света от температуры (2)Недостатками устройства являются низкая точность опр ления температуры и сложйость схе Иэ известных устройств наиболее близким по технической сущности является устройство для измерения тем- Тпературы поверхности, содержащее термохромный индикатор на жидкокристаллической пл нке,оптически связанный с осветителем, светофильтр с регулируемой длиной волны пропускания,блок управления светофильтром,фотоприемник и регистратор (3 . Недостатком устройства является низкая точность1 измерения температуры поверхности, так как производится интегральное измерение температуры всей контролируемой поверхности.Целью изобретения яЪляется повышение точности измерения температуры по поверхности объекта и получение картины распределения температуры Поставленная цель достигается тем, что в устройство дляизмерения-температуры поверхности введены объектив, расположенный между фотоприемником и термохромным индикатором на жидкокристаллической пленке и блоквыделения максимума сигнала, входы которого соединены с Фотоприемником, а выходы - с регистратором, соединенным с блоком управления светофильтром, причем фотоприемник выполнен многоэлементным.На чертеже приведена схема уст ройстваУстройство для измерения темпе. ратуры поверхности, содержит светонепроницаемый тубус 1, осветитель, имеющий источник 2 света и конден сор 3, светофильтр 4 с регулируемой длиной волны пропускания, полупроз"рачное зеркало 5, установленное под углом 45 к центральным осям осветителя и тубуса, термохромный индикатор 5 6 на жидкокристаллической пленке, многоэлементный фотоприемник 7 с чувствительными элементами 8, объектив 9, блок 10 выделения максимума сигнала, блок 11 управления светофильтром и регистратор 12.Термохромный индикатор на жидкокристаллической пленке приводят в тепловой контакт с поверхностью объекта, . температуру которой измеряют. Свет от осветителя проходит через светоФильтр 4, попадает на полупрозрачное зеркало 5, от которого отражается на поверхность термохромного индикатора, Свет, отраженный от термохромного индикатора, проецируется объек тнвом 9 на чувствительные элементы 8 Фотоприемника 7, в каждом из которых возникает электрический сигнал, пропорциональный величине падающего светового потока, который поступает 35в блок 10.Коэффициент отражения термохромного индикатора на жидкокристалли,ческой пленке, нагретого до определенной температуры, зависит от дли ны волны падающего света и имеетмаксимальное значение при определенной длине волны. Зависимость длины волны света, соответствующая макси-мальному значению коэффициента стра жения от температуры, определяется пу. тем предварительной градуировки устройства.При последовательном изменении длины волны света, падающего на термохромный индикатор 6, осуществляемом светофильтром 4 совместно с блоком 11, интенсивность отраженного света от участков термохромного индикатора, нагретых до определенной температуры при определенной длине волны света, достигает максимумаБлок 10 выделения максимума сигнала устанавливает моменты времени, при которых сигналы чувствительных элементов фотоприемника 8 имеют максимальное значение. В момент достижения максимума сигнаЛа регистратор фиксирует значение длины волны света, однозначно связанное со значением температуры данного уч;стка.Использование новых элементов объектива, блока выделения максимума . сигнала и многоэлементного фотоприемника выгодно отличает описываемое устройство для измерения температуры. поверхности от известного,так как позволяет повысить точность измерения температуры по поверхности контролируемого объекта, что увеличивает сферу применения устройства.формула изобретенияУстройство для измерения температуры поверхности, содержащее термохромный индикатор на жидкокристаллической пленке, оптически связанный с Осветителем, светофильтр с регу-, лируемой длиной волны пропускания, блок управления светофильтром, фото- приемник и регистратор, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повыщения точности измерения температуры по поверхности объекта, в него вве" дены объектив, расположенный между фотоприемником и термохромным индикатором на жидкокристаллической пленке, и блок выделения максимума сигнала, входы которого соединены с фотоприемником, а выходы - с регистратором, соединенным с блоком управления светофильтром, причем Фотоприемник выполчен многоэлементным.Источники информации, принятыево внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРУ 402765, кл, С 01 К 11/12, 1971.2. Авторское свидетельстзо СССРМ 415515, кл. 0 01 К 11/12, 1971.3, Патент ГДР 9 100549,кл, 42 1 10/04, 1973,678342 Составитель Р.КуликовТюрина Техред С. Мигай Корректор М.Вигула еда 30 ЦНИИП каз 3035 огород, ул.Проектная фПатен илиал шираз 766Государственногоделам изобретенийосКва, Ж, Раушс П эдлисноеомитета СССРоткрытийая наб.,д.4/5