Интерферометр для исследования поля в прозрачных средах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 554470
Автор: Коммисаров
Текст
ИЗО Ресгубли Дополн За рисоединением за(23) Приоритет сударственныи комите Совета Министров ССС ло делам изобретений УДК 535.36 (088,8) етень14 публиковано 15.04.77. Бюл ния 19.05.7 и открытии ата опубликования опи 72) Авторизобретения71) Заявитель миссаро Я ИССЛЕ ЫХ СРЕД ВАНИЯ ПОЛ 7Изобретение относится к оптико-физическим приборам и может найти применение при исследовании структуры, химического состава и динамики потоков в прозрачных средах, например, в физической газодинамике и плазмохимии,Известен двухлучевой интерферометр, который позволяет исследовать структуру и динамику процессов по полю в прозрачных средах путем измерения смещения двухлучевых интерферснционных полос 11.Недостатком указанного интерферометра является низкая чувствительность и точность измерения разности хода в двух плечах интерферометра, равная приблизительно 0,05 длины световой волны. Такие параметры не могут удовлетворить современную технику измерений в области физической газодинамики. Ближайшим техническим решением к предлагаемому является интерферометр для исследования состояния газов и паров металлов за ударной волной дисперсионным методом,в основу которого положена схема двухлучевого интерферометра Цендера-Маха 2.Этот интерферометр состоит из двух зеркал и двух светоделительных пластин, которые образуют ветви сравнения и рабочую, Этот иптерфсрометр дает погрешности не менее 35 - 50% при измерении плотности газовых потоков при давлении ниже 1 мм рт. ст, По 10 20 25 этому такой интерферометр не может быть использован при измерении структуры и динамики газоплазменных образований в диапазоне низких плотностей.Целью изобретения является повышение чувствительности и точности измерений в белом свете и расширение диапазона измерений. Это достигается тем, что в предлагаемом интерферометре в ветви сравнения установлен двухлучевой ннтерференционный блок, состоящий из двух зеркал и плоскопараллельной пластины с двумя светоделительными покрытиями, нанесенными на части обеих поверхностей пластины и не перекрывающими друг друга по ширине, причем центры покрытий на пластине и зеркалах размещены по углам правильного четырехугольника так, что одно покрытие пластины делит луч сравнения на два луча, а другое покрытие после отражения от зеркал пространственно их соединяет, а в рабочей ветви размещена компенсационная плоскопараллельная пластина.На чертеже изображена оптическая схема интерферометра для исследования поля в прозрачных средах.Луч света из осветителя 1 падает на разделительную пластину 2, на которой он рас щепляется на два когерентных и пространственно разделенных луча. Луч, отраженный от пластины 2 проходит в измерительной ветви554470 3 Формула изобретения Составитель В. ЗверевТехред М, Семенов Коррректор В, Петрова Редактор И, Шубина Заказ 924/17 Изд, М 380 Тираж 878 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раугнская наб., д. 4/5Типография, нр, Сапунова, 2 через зеркало 3, измерительную камеру 4 исоединительную пластину 5 и попадает в приемную пасть 6, Луч, прошедший через пластину 2, после прохождения в ветви сравнения фазосдвигающего блока 7 и компенсационной камеры 8 делится покрытием на однойстороне пластины 9 на два луча, которые после отражения от зеркал 10 и 11 пространственно соединяются светоделительным покрытием на другой стороне пластины 9 и после 10отражения от зеркал 10 и соединительнойпластины 5 попадают в приемную часть 6,Для выравнивания пути лучей в стекле в рабочую ветвь установлена компенсационнаяплоскопараллельная пластина 12. 15Зеркала 3, 10, 11 и пластины 2, 5 и 9 установлены таким образом, что в приемной части наблюдается трехлучевая интерференционная картина полос равной толщины с местом локализации в объеме измерительной 20камеры 4,Интерферометр для исследования поля в 25 прозрачных средах, например, для определения полей плотности и химического состава в физической газодинамике и плазмохимии, содержащий два зеркала и две светоделительные пластины, которые образу 1 от ветви сравнения и рабочу 1 о, отл ич а ющи Й си тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерения в белом свете и расширения диапазона измерений, в ветви сравнения установлен двухлучевой интерференционный блок, состоящий из двух зеркал и плоскопараллельной пластины с двумя светоделительными покрытиями, нанесенными на части обеих поверхностей пластины и не перекрывающими друг друга по ширине, причем центры покрытий на пластине и зеркалах размещены по углам правильного четырехугольника так, что одно покрытие пластины делит луч сравнения на два луча, а другое покрытие после отражения от зеркал пространственно их соединяет, а в рабочей ветви размещена компенсационная плоскопараллельная пластина.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. В. Хауф, У. Григуль. Оптические методы в теплопередаче, Мир, М., 1973, с, 74 - 82.2. Аэрофизические исследования сверхзвуковых течений, сборник под ред. Ю. А. Дунае ва, Наука, М.-Л., 1967, с. 74 - 104 (прототип),
СмотретьЗаявка
1945524, 17.07.1973
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ М-5539
КОММИСАРОВ НИКОЛАЙ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01J 3/04
Метки: интерферометр, исследования, поля, прозрачных, средах
Опубликовано: 15.04.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-554470-interferometr-dlya-issledovaniya-polya-v-prozrachnykh-sredakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Интерферометр для исследования поля в прозрачных средах</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения скорости ультразвуковых колебаний
Следующий патент: Проба для спектрального анализа металлических сплавов
Случайный патент: Устройство для отображения информа-ции ha экране электроннолучевойтрубки