G01J 3/26 — с использованием эффекта многократного отражения, например интерферометры Фабри-Перро, переменные интерференционные фильтры

Номер патента: 789688

Опубликовано: 23.12.1980

Авторы: Архипов, Петрова

МПК: G01J 3/26

Метки: периодическим, сканированием, фурье-спектрометр

...1, в котором оно модулируется при сканировании по разности хода посредством перемещения подвижного зеркала 2. Перемещение осуцествляется с постоянной скоростью ли нейным приводом 8 таким образом, что начало перемещения лишь на доли мм опережает нулевую разность хода интерферометра, Поэтому главный пик интерферограммы оказывается в начале ска нирования. В результате приемно-усилительным трактом 10 измерительного канала вырабатывается асимметричная интерферограмма (фиг, 2 О), При достижении конца сканирования зеркало с 5 О той же скоростью перемещается в обратном направлении, сканируя излучение так же, как в прямом направлении. Так реализуется периодический режим сканирования излучения. При этом главный пик интерферограммы...

Номер патента: 911176

Опубликовано: 07.03.1982

Автор: Гебгарт

МПК: G01J 3/26

Метки: спектрометр

...светосилу прибора до светосилыиэветного спектрометра и устранить влияние постоянной составляющей этих интенсивностей, например, путем использования двух приемников, включенных навстречу аруг другу.Формула изобретенйяСпектрометр, содержащий расположенные по ходу луча светоделитель, две дифракционные решетки, зеркало, модуляторо т л,и ч а ю ш и й с я тем, что, с целью устранения искажений аппаратнойфункции и повышения разрешающей силыспектрометра, он снабжен поляризатороми анализатором, причем анализатор исветоделитель выполнены в виде поляризыионных сеток, их нити в светоделителе параллельны штрихам дифракционныхрешеток, анализатор установлен под углом к оптической оси после светоделителя на выходе спектрометра, при этом...

Номер патента: 920401

Опубликовано: 15.04.1982

Авторы: Соломаха, Томашевский

МПК: G01J 3/26

Метки: спектрограф

...спектроскопии при излучения наносекундными импульсами (временная развертка спектра при этом невозможна),обеспечивая экспрессность анализа, необходимую для осуществления с помощьюобратной связи управления перестройкойдлины волны излучения,формула изобретения1. Спектрограф, содержащий по ходу луча осветительную оптику, интерферо 3 920401 4тива диспергируюшей системы установле-на диафрагма иитерференционного поля ифотоприемная часть регистрирующей системы со строчной разверткой. При этомребро клина интерферометра физо установлено в плоскости входной щели перпендикулярно линии щели, образующая цилиндрической линзы ориентирована параллельно щели, а ее фоквльнвя плоскостьсовмещена с плоскостью щели, промежу Оток диафрагмы...

Номер патента: 935716

Опубликовано: 15.06.1982

Авторы: Васильев, Клементьев

МПК: G01J 3/26

Метки: интерференционный, спектрометр

...возникающих впроцессе сканирования.Эта цель достигается тем, что в интерференционном спектрометре, со держащем последовательно расположенные на оптической оси входную диаф" рагму,коллимирующий объектив,скани рующий интерферометр,проекционный объектив,монохроматор предварительной дисперсии с фотоприемником,элементы для освещения интерферометра точечным монохроматическим источником, расположенным в фо кусе коллимирующего объектива,контрольные Фотоприемники для измерения искажений волновых фронтов и блок измерения задержки, оди иэ контрольных фотоприемников снаб жен электромеханическим приводом, соединенным с вычислителем, к которому подключены оба контрольных фото приемника для измерения Фазовых искажений через блок измерения эадерж"ки,...

Номер патента: 884394

Опубликовано: 07.10.1982

Авторы: Капралов, Привалов

МПК: G01J 3/26

Метки: волн, длин

...длин волн снабжено ак тивным элементом лазера, установленным внутри измерительного. интерферо, метра, так, что его зеркала образуют резонатор, дополнительным фотоприемником с частотометром и опорным лазером, при этом дополнительный фотоприемник оптически связан с обоими лазерами,Это позволяет изменение длины изме рительного ннтерферометра регистрировать как изменение частоты лазера, образованного зеркалами интерферометра и усиливающей газоразрядной трубкой,На фиг. 1 изображена блок-схема . предлагаемого устройства.Предлагаемое устройство состоит из эталонного источника 1, оптически связан- ного через монохроматор 2 с исследуемым источником 3 и измерительным интерферометром с помощью зеркала 4. Измерительный интерферометр, образоваы...

Номер патента: 972250

Опубликовано: 07.11.1982

Автор: Сухарев

МПК: G01J 3/26

Метки: амплитудной, модуляцией, селективной, спектрометр

...оптического излучения преобразуется приемником 2 излучения в электрический сигнал, поступающий на вход корреллятора 4. Кореллятор 4 вырабатывает на выходе сигнал, пропорциональный степени корелляции интенсивности света и модулирующего сигнала. Поскольку независимые случайные сигналы не кореллируют, сигнал на выходе кореллятора не зависит от шумов источника, определяется интенсивностью излучения, попадающего в область длин волн, подверженную селективной модуляции. Сигнал кореллятора регистрирует972250 Формула изобретения Составител Техред И. Вс Тираж 887 сударственного м изобретений а, Ж - 35, Рау тент, г. УжгоьА. Качес Редактор Н. КешеляЗаказ 7880/28 ВНИИПИ Го по дела 3035, Москв Филиал ППП Пася устройством 5. Для лучшего...

Номер патента: 972251

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Лебедев, Фролов

МПК: G01J 3/26

Метки: селективное, спектральное

...фильтров 1 и 2 (фиг. 5) выполняется при условииАгсояаГ Л 2 соз 12 = М О,где Л, и Л -длина волны, соответствующая25максимумам пропускания фильтров 1 и 2 при их оолучении потоком, падающим нормально к поверхности фильтров;А, иг -углы наклона фильтров по отношению к направлению облу- зв чающего их лучистого потока;Л, - длина волны, соответствующаямаксимуму ироиускания пары сопряженных фильтров.Спектральный контур сопряженных фильтров 1 и 2 определяется как произведение спектрального пропускания Т сопрягаемых фильтров. На фиг. 3 условно представлены функции Т сопрягаемых фильтров 1 и 2 и контур спектрального пропускания пары сопряженных фильтров.Зависимости длин волн, соответствующих максимальному пропусканию фильтров от углов поворота...

Номер патента: 972252

Опубликовано: 07.11.1982

Автор: Архипов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, фабри-перо

...поверхо ности пластины интерферометра.На чертеже представлена схема интерферометра Фабри-Перо.Схема содержит кпластины 1, 2 с покрыт972252 Формула изобретения Составитель А. Качанов Редактор Н. Кешел я Техред И. Верее Корректор Л Ферепп Заказ 788028 Тираж 887 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 45 Филиал ППП сПатент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4имеющие обратный клин, источник 5 излучения, систему 6 сканирования, приемник 7 излучения, блок 8 регистрации с выходом на ЭВМ.Интерферометр работает следующим образом.Световой поток от источника 5 излучения падает на пластины 1 и 2 интерферометра и интерферирует между ними. Пластины 1 и 2 установлены на...

Номер патента: 972253

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Егорова, Стиденкина

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, широкопольный

...оптическаясхема широкопольного сканирующего интерферометра.Все оптические элементы лежат в однойплоскости, На входе интерференционногоустройства расположен светоделитель 1,состоящий из двух плоскопараллельных пластин равной толщины, На одной из двух внутренних плоскостей нанесено светоделительное покрытие. Плоскопараллельная пластина без покрытия служит для компенсациидлины хода в стекле пучков лучей верхнегоканала. Плоские зеркала 2 - 4 удалены от 15светоделителя таким образом, что длинахода пучков в воздухе от светоделителядо клиньев 5 и 6 одинакова для обоихканалов.Между зеркалами 3 и 4 установлена пара одинаковых клиньев, ориентированныхвершинами в противоположные стороны,Внутренние, обращенные друг к другуграни клиньев...

Номер патента: 979886

Опубликовано: 07.12.1982

Авторы: Иванцов, Матвеев

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр

...в виде прецизионной парывинт-гайка. На плитах в котируемыхоправах установлены неполвнжные бо 30 ковые пластины 5 и 7 и ."р".пиля пна -тина 6, обращенные друг к другу поверхности которых имеют полупроэрачные покрытия. Средняя пластина бизготовлена в виде клина и установлена на подвижной плите 1. Устройство может содержать и более трехпластин с полупрозрачными покрытиями, причем возможна установка и парных пластин. Толщины рабочих промежутков между отражающими поверхностями устанавливаются кратными и такими, чтобы ширина спектрального интервала, пропускаемого предыдущимипластинами, не превышала свободнойдисперсионной области последующих.Устройство работает следующим образом,Под действием перемещающего узла 4 происходит...

Номер патента: 987407

Опубликовано: 07.01.1983

Авторы: Горошко, Заец, Коваленко

МПК: G01J 3/26

Метки: фурье-спектрометр

...преобразователь 3. 55 Дискретизированная и преобразованная в цифровой код интерферограмма с выхода АЦП 3 поступает на вычислительное устройство 4, в котором вычисляется спектр. На усилитель-формирова" 6 р тель 5 референтного канала с выхода интерферометра 1 поступает синусои. дальный сигнал, иэ которого формируется импульс типа меандр, пропорциональный части его периода. Импульс с усилителя-Формирователя 5 референт- ного канала поступает через устрой тво б управления на сравнивающее уст" ройство 7, в котором измеряется его длительность с помощью генератора 8 стабильной частоты, и в результате преобразуется в истинный код скани)рования. Истинный код сканированияв сравнивающем устройстве 7 сравнивается с заданным кодом выбранной...

Номер патента: 987408

Опубликовано: 07.01.1983

Автор: Архипов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо

...об- .)азом оСветовые, потоки (контрольных) источников б и 7, один из которых может иметь сплошной спектр, отражаются от 10 светоделителя 10, падают на светоделительный кубик 4 и делятся на два световых потока. Один из них проходит з светоделительный столбик 5, отражается в нем от торца и снова падает на светоделительный слой кубика. Второй поток проходит внутрь пластины ФП 1, частично отражается от наружного ее слоя и снова падает на светоделительный слой кубика 4. Другая часть 20 потока входит внутрь интерферометра ФП между пластинами ФП 1 и 2, Он отражается от пластины 2 и снова входит внутрь пластины 1 и далее соединяется на светоделительном кубике 4-ранее пришедшими световыми потоками. В результате образуются две интерференционные...

Номер патента: 1010471

Опубликовано: 07.04.1983

Авторы: Александров, Манагадзе

МПК: G01J 3/26

Метки: оптический, селектирующий, фильтр

...и че с ний Фил ьтр, компенс ат ор вы полнен в виде полированной стекляннойпластины, на Фиг, 2 - то же, компен-сатор выполнен в виде жалюзи, нафиг. 3 и 4 - характеристики пропускания селектирующего фильтра без компенсатора и при использовании компенсатора в случае наклонного и нормального падения. света.Селектирующий фильтр содержит интерференционный Фильтр 1 и компенсатор 2 (фиг. 1), выполненный в видеполированной стеклянной пластины,или интерференционный фильтр 1 и компенсатор 3 (фиг. 2), выполненный ввиде жалюзи.Интерференционный фильтр 1 и компенсатор 23 ) установлены в устройстве для юдуляции их углового положения (не показано) .Селективный фильтр работает следующим образом,Устройство для модуляции углового положения осуществляет...

Номер патента: 1032335

Опубликовано: 30.07.1983

Авторы: Захаров, Прилепских

МПК: G01J 3/26

Метки: спектрометр

...зеркало, вторую анизотроп"ную пластинку и зеркало резонатора. Спектрометр состоит иэ открытого двухзеркального резонатора, образованного зеркалами 1 и 2В резона" торе перпендикулярно его оси последовательно установлены поляризатор3, аниэотропная пластинка 4, зеркало 5 и вторая анизотропная пластин .ка б. Аниэотропная пластинка 4 четвертьволновая и установлена так, что ее оптическая ось составляет угол 45 с осью пропускания поляризатора 3.Для упрощения конструкции и уменьшения потерь,зеркало 5 может бытьнанесено на анизотропную пластинку 4;5 а зеркало 2 - на анизотропную пластинку б (Фиг. 2 ), Другие стороныанизотропных пластинок 4 и б просветлены. В зависимости от способаввода и вывода излучения поляриэа тор 3 может быть...

Номер патента: 953892

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Пашнев, Харченко

МПК: G01J 3/26

Метки: вращения, плазменного, поперечной, скорости, шнура

...виде экрана со щелью вформе дуги, фотоприемник и регистрируюшсе устройство, в экране дополнительно выполнена вторая щель в виде дуги симметрично первой щели от 45восительно оптической оси устройствавведен дополнительный фотоприемник,оитичсеки связанный с дополнительнойщслью, регистрирующее устройствовынолнено двухканальным, а первый50второй фотоприемники подключеныеоответотвснно к первому и второмуканалам регистрирующего устройства,Нн Аиг. 1 представлена схема устройства, на фиг, 2 - изображениея кодной диафрагмы со сформирован 55ной интерференционной картиной.устройетво содержит светофильтр 1,освс" итс ьную систему 2, входную 2 гдиафрагму 3, коллиматорный объектив 41сканирующий интерферометр Фабри-Перо5, камерный объектив 6,...

Номер патента: 1125476

Опубликовано: 23.11.1984

Авторы: Померанский, Томашевский

МПК: G01J 3/26

Метки: оптического, спектра

...запоминаются в оперативномзапоминающем устройстве блока 7 об работки информации в виде двумерногомассива Х (., ),), где . (но -мер строки) изменяется от 1 доИ, 3 (номер столбца)-от 1 до М,Возможны различные режимы работыустройства в зависимости от порядказаполнения оперативного запоминаю -щего устройства. В одном из нихзаполнение производится последова -тельно по столбцам, в другом - построкам.В первом режиме после окончаниярегистрации начального значения автокорреляционной функции из блока 6регистрации это значение передаетсяв блок 7 обработки информации, который выдает сигнал на вход управления блока 5 сканирования, изменяющего разность хода интерферометра 43 11254на один шаг. Регистрируется значениеавтокорреляционной функции...

Номер патента: 1154527

Опубликовано: 07.05.1985

Автор: Архипов

МПК: G01B 9/02, G01J 3/26

Метки: интерферометр, многолучевой

...увеличение селективности многолучевого интерферометра. 25Поставленная цель достигается тем, что в многолучевом интерферометр, содержащем расположенные под углом друг к другу зеркало и светоделительную платстинку, по другую сторону светоделительной пластинки и под смежным углом к ней распо- ЗО ложена поворотная дифракционная решетка, причем ось поворота решетки расположена в вершине угла, образованного решеткой и светоделительной пластинкой.На фиг. представлена схема устройства м ноголучевого и нтерферометра.Интерферометр содержит зеркало 1, светоделительную пластину 2, дифракционную решетку 3.Устройство работает следующим образом, Луч света, падающий на светоделитель О ную пластинку 2, расщепляется на двалуча, один из которых...

Номер патента: 1163161

Опубликовано: 23.06.1985

Автор: Альперович

МПК: G01J 3/26

Метки: внутреннем, волны, многократно, нарушенном, отражении, полном, световой, сдвига, фазы

...а затем тот же элемент МНПВОс нанесенным объектом измерений. Вычисление искомого сдвига фаз ведутпо формуле И,нИзобретение относится к устройствам для измерения величин, характеризующих оптические свойства вещества.Известно устройство для измерения разности сдвигов фаз перпендикулярной и параллельной компоненты поля" ризованного света 1).Недостатком устроОства является невозможность получения абсолютных значений сдвига фазы при отражении О каждой из компонент перпендикулярно и параллельно поляризованного света,Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату кпредлагаемому является устройство для 5измерения сдвигов фазы световой волны при многократно нарушенном полномвнутреннем отражении (МНПВО), состоя-щее из...

Номер патента: 1190683

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Войтович, Машко

МПК: G01J 3/26

Метки: варианты, его, интерферометр, майкельсона

...электрооптические кристаллы), помещенных вплечи 1 и П интерферометра, линейно-.го поляризатора 7.Интерферометр работает следующимобразом. На электрооптические элементы 5 и 6 подают переменное (например, синусоидальное с частотойм электрическое напряжение. Фазы 4.Интерферометр Майкельсона, содержащий плоскопараллельное полупрозрачное зеркало и два глухих зеркала, образующие вместе с полупрозрачным зеркалом первое и второе плечи, расположенные под углом 90 друг к другу и под углом 45 к полупрозрачному зеркалу, причем в первом плече глухое зеркало установлено на пьезокерамике с возможностью перемещения вдоль оптической оси этого плеча, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения спектрального диапазона анализируемого излучения,...

Номер патента: 1249344

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Елисеев, Загидуллин, Коростелев, Кривов

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо

...- упрощение юстировки и повышение надежности.На чертеже приведена конструкция 1 Оинтерферометра,Интерферометр выполнен в видедвух модулей идентичной конструкции,Каждый модуль содержит цилиндрическуюступенчатую втулку 1, в которую 15вставлено зеркало интерферометра,выполненное в виде цилиндрическогопоршня 2 со штоком. В качестве конструкционного материала втулки 1 используется тот же материал, из которого изготовлен поршень со штокомнапример,кварцевое стекло), На штокпоршня 2 одет пьезокерамический преобразователь 3, представляющий собойпьезокерамический пакет, состоящий 25из нескольких пьезокерамических колец с нанесенными на них токопроводящими прокладками, которые соединеныпараллельно. Пьеэокерамический преобразователь 3 первого...

Номер патента: 845582

Опубликовано: 07.11.1986

Авторы: Гошоков, Енгоян, Козинцев, Макаров, Сильницкий

МПК: G01J 3/26, G01N 21/39

Метки: азота, атмосфере, двуокиси, зондирования, локатор, оптический

...пятна с телескопа с входной щелью спектрального прибора, а также с потерями при возбуждении световолоконного блока; сложностью изготовления световолоконного блока; сложностью конструкции приемного блока, что приводит к большой трудоемкости при настройке.Цель изобретения - устранение указанных недостатков и повышение чувствительности измерений концентрации двуокиси азота в атмосфере,Цель достигается тем, что в качестве дисперсионного блока используется интерферометр Фабриеро,уст цовцс ццый между выходом входно -ГО 1 елекоп и компенсирующими клиньями, причем Однц фоток;)цемник ус -,отановлец НО;1 уг).омЧО к оптической Ок цриемнон истомы на входекнтерферометр, а н 7 Орой н Оптк -еской оск на выходе ицтерферометра.На фкг, 1 изображена...

Номер патента: 1317290

Опубликовано: 15.06.1987

Автор: Захаров

МПК: G01J 3/26

Метки: спектрометр

...отанизотропного многолучевого интерферометра поляризация либо сохраняется(когда частота падающей волны совпадает с собственной частотой селективного отражателя), либо становитсяэллиптической. Волны с эллиптическойполяризацией ослабляются поляризато"ром 5. Полностью подавляются поляризатором 5 волны, поляризация которыхпосле отражения от анизотропного многолучевого интерферометра оставаясьлинейной, повернута на 90 по отношению к оси пропускания поляризатора 5, Этот эффект достигается подбором величин анизотропии пластиной6 и 7, а также ориентацией их опти-,ческих осей. Волна, поляризация которой после отражения от анизотропного многолучевого, интерферометра (состоящего из зеркал 2 и 3 с пластинками 6 и 7) не меняется,...

Номер патента: 1420386

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Веклич, Жовтянский, Новик

МПК: G01J 3/26

Метки: скоростной, спектрометр

...спектральных интенсивностей методом диссекции изображений.Цель изобретения - упрощение и увеличение светосилы скоростного спектрометра.На фиг. 1 и 2 схематично представлен ход лучей в сагиттальном и меридиональном сечениях соответственно. Скоростной спектрометр содержит интерферометр 1 Фабри-Перо, скрещенный с астигматичным спектральным прибором 2, включающим диспергируюгций элемент 3, входную щель 4, объективы 5 и 6 и выходную щель 7, установленную в сагиттальной фокальной плоскости астигматичного спектрального прибора 2. За выходной щелью 7 поме гцен сканирующий фотоэлектрический прибор 8, например диссектор, фотокатод 9 которого установлен в меридиональной фокальной плоскости спектрального прибора 2. Сканирующий фото. электрический...

Номер патента: 1520358

Опубликовано: 07.11.1989

Автор: Найденов

МПК: G01J 3/26

Метки: зеемановского, линий, расщепления, спектральных

...открывается на ширину1520358 ферометра Фабри-Перо, распределение поляризации - разностью соответст-, вующих максимумов. Поле вычисляют по формулам, Показание прибора соответствует значению Н= 589 гс ф 10 гс. дЛдимо сделать не менее - числа отоЛ счетов,Измеряя разность интенсивностей соответствующих максимумов на спектрах с разной поляризацией, определяют ВЛ, затем вычисляют величину поля Н по соотношению аЛ = 1,26 1,33.10 Н, (3) Составитель Шмелев"едактор И. Шулла Техред, Кравчук Корректор В, Гирняк Заказ 6746/4ВНИИПИ Госуд раж 46 Подписное ственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 1 разрешения дЛ , на...

Номер патента: 1635014

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Евдокимов, Кравчинский, Соловьева, Тхоржевский, Шатенев, Штенгер

МПК: G01J 3/26

Метки: интерферометр, сканирующий, фабри-перо

...либо удовлетворяют неравенству ас-ав-фаз,либо35 ас(аеа. Во-вторых, точность выполненияусловия (1) термостабилизации толщины интерферометра определяется лишь разбросом ТКЛР, их зависимостью от температурыи точностью изготовления элементов его40 конструкции.Пьезоэлементы 3, разброс ТКЛР которых максимален, не влияют на условие стабилизации, так как в каждой точкекрепления зеркал 2 к фланцам число пьезо 45 элементов 3 - четное, поэтому они взаимнокомпенсируют друг друга.Температурную стабильность рассматриваемого интерферометра определяют по .вытекающей из выражения (3) формуле:50 61/6 Т = 4 (О+ Н) ба, (5) гдв ба- максимальный разброс ТКЛР в рассматриваемом диапазоне температур.При изменении толщины интерферо метра предлагаемой конструкции...

Номер патента: 1700387

Опубликовано: 23.12.1991

Авторы: Батанов, Кузьмин, Леснов

МПК: G01J 3/26

Метки: спектрограф

...радиальная шкала с шагом 0,1 мм и азимутальная шкала с шагом 1 град.Этот спектрограф работает следующим образом.Спектрограф устанавливают перпендикулярно пучку непрерывного лазера, работающего в дальней инфракрасной либо субмиллиметровой областях спектра, длину волны генерации и направление поляризации излучения которого надо измерить, считывают показания радиальной шкалы, соответствующие кольцу максимального нагрева жидкокристаллического индикатора - регистратора, и таким образом получают значение длины волны лазерного излучения. Далее по азимутальной шкале определяют положение минимумом интенсивности на кольце и таким образом определяют направление поляризации, например, относительно вертикали. Если бы толщина регистратора была...

Номер патента: 1542202

Опубликовано: 23.04.1992

Авторы: Кожеватов, Черагин

МПК: G01J 3/26

Метки: оптический, фабри-перо, фильтр

...еее первойэгармоники электрического сигнала на выходе Фотодетектора 21 связана с длиной Д волны источника 29 соотно- шением 35 у =2 Я ,.2 йЛэУсилитель 24 вырабатывает сигнал коррекции взаимного положения зеркаее 7и Я,. Устойчивое состояние цепи, включающей элементы 5,21 - 28 соотнетству"ет постоянной Фазе интерферограммыизлучения источника 29, т.е.2 с 1Леа =25-: - сопзС.ЭПоскольку сюъ еЭ 1 -п 9где с - скорость света я вакууме;- частота излучения источника 29;и - коэффициент преломления сре,цы,То 2 й и е( =2 Г-:. 4 сопвс 9дсопеС 19 П= -- щф- аЭСледовательно, в разработанном оптическом фильтре обеспечивается посто" Длина д промежутка между зеркала ми 7 и 8 интерферометра 5. Определяется заданным спектральным разрешением оптического...

Номер патента: 1744515

Опубликовано: 30.06.1992

Авторы: Лупашко, Львовский, Овчаренко, Стеценко

МПК: G01J 3/26, G02B 5/28

Метки: монохроматизирующее

...момент, соответствующийположению фильтра 2, до максимального, у= 2 р, после поворота обоймы 3 вокруг оси0-0 на угол 1800. При этом фильтр занимаетположение 5, Дальнейший поворот обоймы 3 вокруг оси 0-0 гсризодит к уменьшениюугла падения света на фильтр и возврату фильтра 2 в исходное положение при повороте обоймы на 3600. Образованная клиньями 1 совместно с расположенным между ними фильтром 2 плоскопараллельная пластина при вращении обоймы 3 не изменяет своего положения относительно оптической оси устройства С-С и соответственно про 20 ходящего пучка света.Угол падения света на поверхностьклиньев а остается неизменным и тем самым устраняется изменение интенсивностипроходящего пучка света за счет паразитного отражения на этих...

Номер патента: 1619852

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Голиков, Гурари

МПК: G01J 3/26, G01J 9/02

Метки: интерференционное, многолучевое

...при прохождении излучения через объект в противоположных направлениях, суммируются, а не вычитаются, как в обычном интерферометре ФабриПеро, и по смещению пика сигнала на выходе интерферометра можно измерить естественную оптическую активность обьекта. 1 ил,1619852 Составитель Г,ВоробьеваТехред М.Моргентал Корректор С.Патрушева Редактор Т.Зубкова Заказ 1979 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-ЗБ, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, 101 возможность достижения цели изобретения,Предлагаемое устройство может найти применение для исследования оптических свойств различных материалов и сред.Формула...

Номер патента: 1441890

Опубликовано: 15.10.1993

Авторы: Голиков, Григорьев, Гурари

МПК: G01J 3/26

Метки: волны, длины, излучения, лазера, эталон

...теми же алгоритмами, чта и в прототипе, Однако погрешность в данном случае определяется шириной пика зависимости мощности генерации от длины волны,Существенным преимуществам предложенного эталона является большая точность определения длины волны лазера. Увеличение точности есть следс.вие тога факта, чта упомянутая спектральная ширина пика генерации есть величина, значительно меньшая, чем ширина пика аппаратной функции интерфераметра Фабри-Перо, Поэтому центр пика определяется в предложенном эталоне гораздо точнее, чем в прототипе, и расстояниеявляется целым кратным полудлинам волн/,/2 и Ь /2 с погрешностью, на 2 - 3 порядка меньшвй, чем в известном устройстве, Так как погрешность 1,1, как следует из приведенной формулы, определяется...