Спектрометр

. СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИК 1 01) д 1 ъ 6 01 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИ ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ СССРРЫТИЙ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ рилепскихтут инженеемки и карСпектральлучевогочатой связьюс.1065 -2. Авторское М 545877, кл. 6 (54)(57) 1. СПЕ из двухэеркальн .тора, внутри ко последовательно зотропная пласт щийся те чения области д СССРВ 9/02ящийезонаеныаниа юувелисвидетельство 01 Х 3/26,6 01 тРоййР, сост ого открытого торого установл поляризатор и инка,о т л и ч 1 м, что с целью исперсии, в нем(53) 535.853 (088,8) (56) 1. Пучков В.Н, и д ные характеристики мног интерФерометра с пласти фжПС", 1974, т. 20, Р 6 1070анизотропной пластинкой и зеркалом резонатора последовательно установлены дополнительное зеркало и вторая аннзотропная пластинка.2. Спектрометр по п. 1, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью уменьшения критичности к разъюстировкам, вторая анизотропная пластинка выполнена таким образом, что в ней разность Фаз.для обыкновенного и необыкновенного лучей Иа длине волны центра рабочей области спектрометра составляет (0,6-1,2 )югсз 1 п - 1Н 1 где В - коэФФициент отражения до 1+0 полнительного зеркала.3. Спектрометр по п.1, о т л и - .ч а ю щ и й с я тем, что, с целью ЕР исключения побочных максимумов аппаратной Функции, первая анизотропная пластинка выполнена четверть- волновой на длине волны центра рабочей области спектрометра.Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении тонкой структуры широких спектральных линий.Известны спектрометры, основанные на интерферометре фабри"Пероили его модификациях,1 .Наиболее близким к предлагаемомутехническим решением является спектрометр, состоящий иэ двухзеркального открытого резонатора, внутрикоторого установлены последовательно поляризатор и аниэотропная пластинка 2 .Недостатком известных спектрометров является недостаточно большаяобласть дисперсии.Цель изобретения - увеличениеобласти дисперсии.Указанная цель достигается тем,что в спектрометре, состоящем издвухзеркального открытого резонатора, внутри которого последовательно установлены поляризатор. и ани.зотропная пластинка, между аниэотропной пластинкой и зеркалом резонатора последовательно установленыдополнительное зеркало и вторая анизотропная пластинка,С целью уменьшения критичностик разъюстировкам вторая анизотроп-.ная пластинка выполнена таким образом, что вней разность Фаз для обыкновенного и необыкновенного лучейна длине волны центра рабочей областиснектрометра составляет 0,б1-й1,2) агсэ 1 п + где Р.- коэффициент отраженйя дополнительного зеркала.С целью исключения побочных.максимумов аппаратной Функции перваяаниэотропная пластинка выполненачетвертьволновой; на длине волныцентра рабочей области спектрометра.На Фиг. 1 представлена схемаспектрометра; на Фиг. 2 - то же,вариант, на Фиг. 3 и 4 - аппаратнаяфункция коэффициент отражения рдля волны, вектор поляризации которой параллелен оси пропускания поляризатора в зависимости от частоты) селективного отражателя, вкщочающего в себя последовательно установленные анизотропную пластинку,введенные зеркало, вторую анизотроп"ную пластинку и зеркало резонатора. Спектрометр состоит иэ открытого двухзеркального резонатора, образованного зеркалами 1 и 2В резона" торе перпендикулярно его оси последовательно установлены поляризатор3, аниэотропная пластинка 4, зеркало 5 и вторая анизотропная пластин .ка б. Аниэотропная пластинка 4 четвертьволновая и установлена так, что ее оптическая ось составляет угол 45 с осью пропускания поляризатора 3.Для упрощения конструкции и уменьшения потерь,зеркало 5 может бытьнанесено на анизотропную пластинку 4;5 а зеркало 2 - на анизотропную пластинку б (Фиг. 2 ), Другие стороныанизотропных пластинок 4 и б просветлены. В зависимости от способаввода и вывода излучения поляриэа тор 3 может быть выполнен.в видеполяризационной призмы или плоскопараллельных пластинок, установленных под углом, близким к углу Брюстера. В варианте устройства (Фиг.2) 15 для осуществления оптической развязки между исследуемым излучением иФотоприемником первая пластинка установлена так, что исследуемое излучение, падая на нее, направляетсяв резонатор, а вторая пластинка отражает часть излучения на Фотоприемник, Зеркала 1 и 2 имеют коэффициенты отражения близкие к единице,а зеркало 5 выполнено частично про пускающим.Спектрометр работает следующимобразом.Исследуемое излучение, попадая вспектрометр и проходя поляризатор3, становится линейно поляризованным,а проходя затем аниэотропную пластинку 4 становится (в .общем случае 1 по-ляризованным эллиптически. Часть излучения отражается зеркалом 5, дру".гая часть после прохождения через 35 анизотропную пластинку б отражаетсяот зеркала 2 и возвращается обратно;к зеркалу 5. В результате многократных отражений между зеркалами 2 и 5выходящая волна,после анизотропной 4 О пластинки 4 имеет либо поляризациюпадающей волны когда частота исследуемого излучения совпадает с собственной частотойселективного,отражателя, образованного анизотропной 45 пластинкой 4, зеркалом 5, анизотропной пластинкой б и зеркалом 2 ), либоэллиптическую поляризацию.Волиа, поляризация которой совпадает с поляризацией падающей на селективный отражатель волны, проходйтчерез поляризатор 3 без ослабления,и испытывает многократные отражения между зеркалом 1 и селективнымотражателем. Волны, имеющие ортого,нальную компоненту, ослабляются поля ризатором 3. Потеридля таких волнтем больше, чем болЬше величина ортогональной компоненты.Таким образом, в спектрометре имеют малые потери только те колебания 60 частота которых совпадает с собственной частотой резонатора, образованного зеркалом 1 и селективным отражателем с поляризатором 3. При сканировании исследуемого спектра эерб 5 кала 1 и 5 синхронно перемещаются с/47ВНИИПИ Госпо делам035, Иоскв 5 За аж 87 арств зобре ЖПодписноеного комитета СССРний и открытий5 113 а, , Раушская .наб д. 4/филиал ППП фПатент", г. Ужгород, ул. Проектн помощью пьезокерамики, одновременно осуществляется развертка и в ре.гистрирующем блоке.Положение максимумов аппаратной функции селективмого отражателя на шкале частот зависит от разности 5 фазмежду обыкновенным и необыкновенным лучом, вносимой анизотропной пластинкой б. Наиболее пригодными для селекции типов колебаний являются случаи, когда максимумы 10 расположены. эквидистантно, что реализуется, когда анизотропная пластинка 6 - четвертьволновая или когдаразность аз, вносимая ею, близка к агсИе", где Ф; коэффициент от-. ражения зеркала 5. Последний случай наиболее предпочтителеа, так, как область дисперсии .здесь в.два рава больше,.чем с четвертьволновой влас- тинкой (фиг. 3 ). Вэтом случае у максимумов и более плоская вершина, что способствует увеличению устойчивости работы устройства бри разъюс,тировках.По отношению к прототипу в предлагаемом устройстве область дисперсии увеличивается в 20-100 раз.