Многолучевой интерферометр

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК Я 011545 4(50 б 01 В 9/02; б 01 1 3/26 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕА ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ К(54) (57) МНОГОЛУЧ МЕТР, содержащий углом одно к другой тельную пластинку, о с целью повышения по другую сторону с тинки и под смежны ложена поворотная д ка, причем ось повор в вершине угла, об и светоделительной п-2 юл.17ипов8.8)кое свид700/25,льство ССб 01 В Рубинова 1983, 10,ет к по 02 Л.2,о Ю. Т., ктроника 1 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ(56) 1. Авторсзаявке3591983.2. МазуренкКвантовая элс. 283 - 389,ЕВОЙ ИНТЕРФЕРО- расположенные под зеркало и светоделитличающийся тем, что, селективности, в нем ветоделительной пласм углом к ней распоифракционная решетота решетки находится разованного решеткой л атстин кой.1154527 д (з 1 п 1+з 1 п 1) = КХ,Соста витель А. Медведев Редактор П. Коссей Техред И. Верес Корректор А. Обручар Заказ 2679/34 Тираж 651 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 41Изобретение относится к оптико-интерференционным средствам измерений и может быть использовано при создании спектральных приборов.Известны интерферометры, содержащие колопрозрачную пластину и дифракционную решетку 11.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является многолучевой интерферометр, содер жа щий расположен ные под углом друг к другу зеркало и светоделительную пластину. В устройстве используется многолучевая интерференция, получаемая в пространстве между двух зеркал, имеющих почти 100 Я-е отражение, работающих совместно с пластинкой светоделителя, име ющей среднее значение коэффициента отражения и пропускания, причем последняя параллельна одному из зеркал 2.Недостатком известного устройства является низкая селективность, обусловленная тем, что лучи всех длин волн при имеющейся интерференционной разности хода на выходе прибора налагаются друг на друга.Целью изобретения является увеличение селективности многолучевого интерферометра. 25Поставленная цель достигается тем, что в многолучевом интерферометр, содержащем расположенные под углом друг к другу зеркало и светоделительную платстинку, по другую сторону светоделительной пластинки и под смежным углом к ней распо- ЗО ложена поворотная дифракционная решетка, причем ось поворота решетки расположена в вершине угла, образованного решеткой и светоделительной пластинкой.На фиг. представлена схема устройства м ноголучевого и нтерферометра.Интерферометр содержит зеркало 1, светоделительную пластину 2, дифракционную решетку 3.Устройство работает следующим образом, Луч света, падающий на светоделитель О ную пластинку 2, расщепляется на двалуча, один из которых проходит ее, далее вавтоколлимации отражается от зеркала 1 и снова проходит светоделительную пластинку 2 на выход. Луч света длины волны Х, отразившийся от пластинки 2, падает на диф ракционную решетку 3 под углом 1 и дифрагирует под углом 1 так, что выполняется условие где д - постоянная дифракционной решетки 3;К - порядок дифракций.Далее луч этой длины волны падает насветоделительную платстинку 2, частично проходит ее и отражается снова в направлении к дифракционной решетке 3 и т. д. Прошедший луч в автоколлимации отражаетсяобратно зеркалом 1 в направлении к выходу,где он интерферирует с лучом длины волныХ, ранее, отразившимся от зеркала 1 в автоколимации. Лучи других длин волн дифракционной решеткой разводятся в пространстве и не интерферируются с ранее отразившимися от зеркала 1 лучами остальныхдлин волн. С другой стороны интерферирующий поток лучей длины волны Х усиливаетсяза счет повторя ющегося п роцесс а ди фракциина решетке 3 и отражения света в автоколлимации от зеркала 1. В результате происходитмногократное явление интерференции, вследствие чего увеличивается разрешающая способность устройства и повышается почтина порядок точность сканирования спектра, так как используется поворот толькоодного элемента - дифракционной решетки3 для всех лучей сразу.Применение предлагаемого устройствапозволяет с более высокой точностью (напорядок) записывать спектры. Поскольку инструментальная функция такого интерферометра является в пределе сверткой дифракционной функции с функцией Эры, а последняя не имеет побочных максимумов, и поэтому в нем инструментальная функция будет иметь побочные максимумы меньшечем на порядок по сравнению с дифракционной. Поэтому спектры можно записыватьс минимальными искажениями,Та ким образом, предла гае мое устройствообладает преимуществами дифракционногоспектрометра и многолучевого интерферометра типа Фабри-Перо, но без порядков интерференции, которые имеются у интерферометра Фабри-Перо. Предлагаемое устройство относится к приборам принципиально нового типа.