Интерферометр майкельсона (его варианты)

(594 С 01 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙОПИСАНИЕ ИЗОБК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ(71) Ордена Трудовогомени институт физики А(56) Мустель Е.Р.,Парьды модуляции и сканироМ.: Наука, 1970, с.13 второе пле лом 90 ф дру к полупрозв первом ановлено на рачным зеркалом чи, расположенн к другу и под у рачному зеркалу Красного ЗнаН БССР ,Войтович лече глухое зе ьезокерамике с ещения вдоль о тью пер оси это гин В.Н. Метования света. -(54) ИНТЕР ВАРИАНТЫ) (57) 1.Инт содержащий прозрачное кала, обра ОМЕТР МАЙКЕЛЬСОНА (Е рферометр Майкельсона,плоскопараллельное полузеркало и два глухих зеующих вместе с полупроз 80190683 й 1 01НИЯ первое ие под углом 45причемркало усвозможнптической плеча, а в каждое из плеч цомещенопо одному злектрооптическому элемету с электродами, подключенными хисточнику питания, о т л и ч а -ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения спектрального дИапазонаанализируемого излучения, электрооптические элементы изготовлены изразных электрооптических материалова на входе интерферометра установлелинейный поляризатор.1190683 5О 5 30 2.Интерферометр по п.1, о т л и - ч а ю щ и й с.я тем, что в качестве электрооптических элементов использованы ячейки Керра, а электроды установлены так, что направление вектора поляризации электрического поля параллельно направлению пропускания поляризатора или составляет с ним и оптической осью соответствующего плеча интерферомет-ора угол 90. З.Интерферометр по п.1, о т л и - ч а ю щ и й с я тем, что в качестве электрооптических элементов использованы одноосные электрооптические кристаллы, оптические оси которых ориентированы параллельно направлению пропускания поляризатора, а электроды расположены перпендикулярно оси кристаллов. Изобретение относится к оптике иможет быть использовано для определения спектральной структуры излучения и проведения спектральногоанализа, например изотопического идрЦель изобретения - расширениеспектрального диапазона излучения,анализируемого интерферометром.На фиг.1 приведена блок-схемаустройства на фиг,2 - вариант блоксхемы; на фиг.З - зависимость разницы длин оптических путей в обоихплечах интерферометра от длины волны,Устройство состоит из полупрозрачного зеркала 1, зеркал 2 и 3 свысоким коэффициентом отражения,пьеэокерамики 4, на которой установлено одно из зеркал интерферометра,электрооптических элементов 5 и 6(ячейки Керра или одноосные электрооптические кристаллы), помещенных вплечи 1 и П интерферометра, линейно-.го поляризатора 7.Интерферометр работает следующимобразом. На электрооптические элементы 5 и 6 подают переменное (например, синусоидальное с частотойм электрическое напряжение. Фазы 4.Интерферометр Майкельсона, содержащий плоскопараллельное полупрозрачное зеркало и два глухих зеркала, образующие вместе с полупрозрачным зеркалом первое и второе плечи, расположенные под углом 90 друг к другу и под углом 45 к полупрозрачному зеркалу, причем в первом плече глухое зеркало установлено на пьезокерамике с возможностью перемещения вдоль оптической оси этого плеча, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью увеличения спектрального диапазона анализируемого излучения, во втором плече глухое зеркало также установлено на пьезокерамике с воэможностью перемещения вдоль оптической оси этого плеча, в первом плече установлен электрооптический элемент, а на входе интерферометра - линейный поляризатор. переменных электрических сигналов, подаваемых на элементы 5 и 6, таковы, что изменения длин оптического пути в обоих элементах одинаковы по знаку, а величины напряженностей электрического поля подобраны так,что разность оптических путей в обоих элементах равна нулю для определенной длины волны Ь, в каждый момент времени и не равна нулю для всех остальных длин волн.Интерференционные картины для длин волн Ь, отличных от Ь будут полностью"эамываться", если разность длин оптических путей между. зеркалами 1 и 2 и 1 и 3 для них изменяется элементами 5 и 6 не менее чем на величину 4. Если скорость изменения этой разности длин оптических путей элементами 5 и 6 много больше, чем скорость изменения расстояния между зеркалами 1 и 2 пьезокерамикой 4, то интерференционную картину на этихдлинах волн не записывают. Записывают при этом только интерференционную картину для излучения с длинами волн вблизи 1, Для этого пьезокерамикой 4 определенной частотойиЗ ч 3 ч перемещают зеркало 2 и с помощью фотоприемника, расположенного за диафраг1190683 ставитель В.ЯковлевУхред Н.Вонкало Корректор Т.Ко едактор О узнецо 631/5 ТиражВНИИПИ Государствпо делам изобре 3035, Москва, Ж,778 аказ Подписнокомитета СССРоткрытийая наб., д,4/5 нногоений с илиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проек из фиг.З, при отстройке Л от Я, =470 нм не более чем на 15 нм, Таким образом, в рассмотренном примере можно последовательно исследовать спектральные структуры линий излучения в диапазоне области дисперсии интерферометра, причем эти линии должны отстоять друг от друга не менее чем на 15 нм. Повышение напряженности Е на электрооптическом кристалле, использование кристалла с более сильной зависимостью И (Л) или большим электрооптическим коэффициентом г позволяют уменьшить величину отстройки длин волнлиний, анализируемых интерферометром. 5Для перестройки анализируемых длинволн от 420 ло 800 нм, т,е. в области, большей свободной области диспер-, сии примерно в 1 О -10 раз, необходиЪ Ч1 о мо изменить величину Е в 1,22 раза.Например, при 2 сЦ ,=8980 нм интерференционная картина может быть за- писана для длин волн вблизи 1=490 нм (см,кривую 2 на фиг.З).