Патенты с меткой «отражении»

Номер патента: 114815

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Бродский

МПК: G01F 23/284

Метки: волн, диапазона, жидкости, основанный, отражении, сантиметрового, уровня

...Ю Г Оба ньте ча- )ерритэО э Оттт Ы 1 Про а)(ет:зэбрете(и 51 составляет способ автсматнческэго контроля т) С 3. Я )К;К Э С Г:т, С Г НОВ 21 т Н Ы 1 и аг ".ОТРЯгКС.1:1. ОТ ) ГЦЛКОСТ 1. ВОЛ:-1 СЯН- т:т) ") СВОГО:1;1(ЦЯЗОНЯ,тагнтет но ислам иаои 1 тетеип и оти 11 ытий ири Совете Министров СС адаптор Л. С. Кутафина дательский отдел. Поди. и ггеи. ЗО/1-1958 г, Заказ 5 55, 1 ирана8 "5. ена 25 ко Итнрормационе 00 ъсга 0,17 и Алатырь, типография М 2 Министерства культуры Чувашской АССР,Предмет изобретения Способ автоматического контроля чровч 51 л 1 идкости, оснозанный на отражении от жидкости волн сантиметрового диапазона, о т л и ч а ю 1 ц и йс я тем, что, с целью устранецпя неоднозначности измерений, на поверкность ккидкости чаправляют...

Номер патента: 659592

Опубликовано: 30.04.1979

Авторы: Наумчик, Саржевский

МПК: G09B 23/22

Метки: демонстрации, отражении, поляризации, прибор, света, учебный

...объектив 7, попадает ца экран (на чертежах не показан). Прц этом поляризатор сориентирован относительно зеркала так, чтобы свет был поляризовац в плоскости его падения ца анализатор 4, а анализатор расположен под углом Брюстера к направлению потока света для стекла (этот угол составляет около 57),Двулучепреломляющцй объект расположен в плоскости, сопряженной с плоскостью экрана относительно объектива 7, Поскольку свет на анализаторе 4 отражается как от диэлектрической его поверхности, так ц от электропроводящей, то изображение объекта ца экране будет неоднородным (см. фцг. 3), Часть 9 изображения, которая обусловлена отражеьп 1 ем от диэлектрика 5, ярко расцвечена цзохромцымц полосами, Прп цзмснсццц орцсцтаццц поляризатора 2 окраска...

Номер патента: 1163161

Опубликовано: 23.06.1985

Автор: Альперович

МПК: G01J 3/26

Метки: внутреннем, волны, многократно, нарушенном, отражении, полном, световой, сдвига, фазы

...а затем тот же элемент МНПВОс нанесенным объектом измерений. Вычисление искомого сдвига фаз ведутпо формуле И,нИзобретение относится к устройствам для измерения величин, характеризующих оптические свойства вещества.Известно устройство для измерения разности сдвигов фаз перпендикулярной и параллельной компоненты поля" ризованного света 1).Недостатком устроОства является невозможность получения абсолютных значений сдвига фазы при отражении О каждой из компонент перпендикулярно и параллельно поляризованного света,Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату кпредлагаемому является устройство для 5измерения сдвигов фазы световой волны при многократно нарушенном полномвнутреннем отражении (МНПВО), состоя-щее из...

Номер патента: 1406455

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Зубков, Сайдов, Юдович

МПК: G01J 9/00

Метки: волны, отражении, световой, сдвигов, фаз

...свою очередвится зависимым от показателяния образца, так что влияниепоказателя преломления а 6,измерения угла падения взаимноруются.Прияер. Способ используют л,ления абсолютных сдвигов фаз прнии от границы гексан - воздух,наливают в прозрачную кювету, по 5 1 О 15 20 25 2торой имеет конфигурацию трапецеидальной призмы. Измерение интенсивностей проводится на длине волны, соответствующей Р-линии натрия, что дает возможность сравнить полученные результаты с теоретическими. В качестве эталонной среды выбран диодметан. Измеряют при интенсивности света при фиксированном положении поляризатора и трех положениях анализатора (параллельно, перпендикулярно и под углом 40 к плоскости падения). Затем вычисляют значения параметров ф и Л...