Способ спектрального исследования излучения

Номер патента: 724942

Автор: Рагульский

ZIP архив

Текст

н)724942 ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(23) Приоритет43) Опубликовано 30.03.80. Бюллетеш,1245) Дата опубликования описания 30.03.80 К 535.8(08 по делам изобретени и открытий(72) Автор изобретения В. В. Рагульскийтитут проблем механики АН СССР 71) Заявитель 54) СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО ИССЛЕДОВАНИ ИЗЛУЧЕНИЯ2 2110 ковых волнсреде;вета. скорость гипер скорость света средняя частот гд Изобретение относится к спектральному исследованию оптического излучения, в спектрах которого содержатся линии с резко различающейся интенсивностью.Известны 11 способы спектрального исследования излучения с помощью интерферометров.Наиболее близким к изобретению техническим решением является способ 2 спектрального исследования излучения, включающий его пропусканпе через интерферометр, формирование излучения с обращенным волновым фронтом п пропускание в обратном направлении, при этом поворот светового пучка производят при помощи призмы полного внутреннего отражения или зеркала,К недостаткам способа можно отнести слабую контрастность интерференционной картины и необходимость обеспечения высокой точности изготовления оптических элементов, поворачивающих пучок, и их прецезионность настройки.Целью изобретения является увеличение контрастности интерференционной картины и упрощение юстировки оптических элементов, поворачивающих пучок.Эта цель достигается благодаря тому, что из пучка света, прошедшего интерферометр, формируют излучение с обращенным волновым фронтом при помощи возбуждения вторичого излучения, например, типа Мандельштама - Бриллюэна, которое пропускают в обратном направлении через тот же пнтерферометр, а затем отделяют его от ис ходного излучения.Чертеж поясняет предлагаемый способ.Пучок линейно поляризованного света сдлиной волны : 0,694 мкм последовательно пропускают сквозь поляризатор 1 (напри мер, диэлектрическое зеркало, расположенное под углом к пучку), интерферометр типа фабри - Перо 2 с базой 1=26 мм, четвертьволновую пластину 3 и искажающую волновой фронт фазовую пластину 4, Затем с помощью линзы 5 пучок направляют в световод 6, заполненный жидким сероуглеродом, где развивается вынужденное рассеяние на гиперзвуковых волнах (тппа Мандельштама - Бриллюэна), в ходе которого 0 происходит обращение волнового фронта. Вэтом процессе спектральный состав излучения не меняется, а частота всех спектральных линий сдвигается на постоянную величину25724942 Формула изобретения1 оставитель А. Смирнов орректор Л, Тарас едакт олнда хрен А. Камышникова каз 145/16 Изд. ЛЬ 210 Тирахс 729ПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретешш 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 одписное открытии Типография, пр. Сапунова, 2 Сдвиг Ьз= 0,194 см впри рассеянии в сероуглероде излучения с указанной длиной волны. Этот сдвиг равен области дисперсии1используемого интерферометра и по2этому не влияет на анализ света при прохождении рассеянного света через интерферометр.Рассеянный назад свет после прохождения фазовой и четвертьволновой пластины имеет обращенный волновой фронт и поляризацию, перпендикулярную исходной, и поэтому после прохождения интерферометра в обратном направлении этот свет отводится поляризатором в сторону от исходного пучка, где его анализируют.Способ позволяет увеличивать контрастность интерференционной картины, получаемой от интерферометра без использования аппаратуры, требующей высокой точности изготовления и настройки. Тем самым он позволяет снизить потребность в дорогостоящих оптических элементах и уменьшить затраты на проведение спектральных исследований. Способ может применяться как в видимой, так и в инфракрасной и упьтрафиолетовой областях спектра. Способ спектрального исследования излучения, заключающийся в пропусканин егочерез пнтерферомстр, формировании излучегп 1 я с обращенным волновым фронтом ипропускании в обратном направлении, о тл и и а 1 о щи йс я тем, что, с целью увеличения контрастности интерференционной кар 10 типы, формируют излучение с обращеннымволновым фронтом при помощи возбуждения вторичного излучения, например, типаМандельштам - Бриллюэна, которое пропускают в обратном направлении через тот же15 пнтерферометр, а затем отделяют его от исходного излучения,Источники информации,принятые во внимание прп экспертизе1. Зайдель Х. Н, и др. Техника и практика спектроскопии, М., 1972, с. 180.2. Зайдель Л. Н. и др. Техника и практика спектроскопии, М., 1972, с. 181 в 1.

Смотреть

Заявка

2669128, 28.09.1978

ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ МЕХАНИКИ АН СССР

РАГУЛЬСКИЙ ВАЛЕРИЙ ВАЛЕРИАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01J 3/26

Метки: излучения, исследования, спектрального

Опубликовано: 30.03.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-724942-sposob-spektralnogo-issledovaniya-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ спектрального исследования излучения</a>

Похожие патенты