Многолучевой интерферометр

.75( 2 1 М, Кл,".б 01 1 3/26, 6 01 В 9/02 аявки,% исоелинением Государствеииый иамитет Свввтв Мииистреа СССР пе делам изовретеиий и стврытий(72) Авт ф. В. Кар и Г, В. Сиыипьгн тени рдена Трудового Красного Знамени институт физики АН Белорусской ССР аявител(54) МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР нэсится к области Изобретение мажет быть хе спектральных ющей силы аров. и звесте интефер ометр ве отражающие , характеризую рометра Фабриобласти дисперер явля я шени ине интерференГ 1- й) ин О --онного мак- см ") 3 - козффицыент отр - расстояние межд жени покрытий, 15 этражаюшыми интерферомет(Р50 свяи, вызванными де и остями. Б реальн ение . отношения рах получзало с шими трудыост астин с высо"6 остей, имер для астрою,с лазеров ыасоединений,окне этно ничес более использовано при разработприбэров высохэй разрешаакже ерестраиваемых лазеФабри-Перо, содержащий д верхности 13 . Параметром щим селективнэсть интерфе е обходим остью изготовлхим качеством поверхнВ ряде случаев, напрпехтра генерчруемэгоаствэрах сложных эрнатребуются су 1.сественнэ щения 13 д,) . Это достигается путем использования последовательно расположенных нескольхих иытерферометрэв Ф:.йрк-Парэ2.Таким эбразэм, общим недостатком изве.стньк интерферэметрэв является сравнительно низкое значение отношения области дисперсии к пс луши рине иытерфереыциаыпагомаксимума.11 ель изэбретешл - повьш ение селективыэсти иытерферометра за счет увеличения отношения области дисперсии к пэлуширине полосы пуэпускания.Поставленная цель достигается тем, чтэ иитерферэметр содержит пластшгу, вращающую плоскость поляризации, установленную между отражающими поверхностями, и два поляризатора, причем пластина расположена мекду поляризаторами.Кроме того, с целью обеспечения невзаим ности характеристихи пропускаыия и уменьшения разьюстировки интерферометра при его перестройке один из поляризаторов может быть распэ;,ожен снаружи отражающих пэверх ыэстей, а второй - между пластиной и отражающей поверхностью.В другом варианте испонения с цельюуменьпения числа оптических элементов отражающими поверхнэстями в первом случае м огут сдужить поверхности поляризаторов с нанесенными на нож отражающими покры- Ь тиями. а во втором случае - поверхности пластин и поляризатора с отражаюшими покрытиями.На фиг. 1-4 показаны различные модификации многодучевогэ интерферометра. )ОИнтерферометр содержит пластины 1 с отражаюшими покрытиями 2, пластину 3, вращаюшую плоскость поляризации, и поляриза-торы 4 и 5,Принпп работы интерферометра закдю- ) 5чается В следуошем,БЛИГЭДаРЯ ДистсстдД ВРНЧЯ Щ.- " Сти поляризации приспускание интерферэметра.1 казьвается;лаксимальньм тэдько в техинтерференпионных порядках, для которых 3)врашение плоскости пэляризапии в пластине3 с Оэтветствует углу между главньми Ося-ми поляризаторов 4 и ". Другие интерференциэнные порядки зЯективнэ Ослабл"-; тсяблагодаря наличию поляризаторов. Настрой- Мка максимума прэпускания интерферэметрана требуемую ддину Воднь осушествдяетсяизменением угла между главными Осями подяризатэров 4 и 5 Область дисперсии интерферометра определяется, зокак ) = /,(, - Я ,1 из усгпвия: ЙА, ) =К 1 с,где ю - угол врашения плоскэсти поляризации ддя издучения с длиной вэлны ЯК - целое положительное чисдо, Определяемое тэлшинэй пластины 3, Полуширина Жмаксимума прэпускания определяется выражением;(М-ч 12 27г, 40гдеОптическая толшина зазора между отрезающими покрытиями, В зависимостиот тодшичы пластины 3 и дисперсии вращения плоскости поляризации в ней Отношение/Р)о может изменяться от нескольких 4 эдесяткэв дэ нескольких тысяч.На фиг. 2 изображена схема интерферометра, в котором с целью получения различ-,ных характеристик пр опускания (невзаимности) при прямом и обратном прохождении иэ-фдучения один из поляризаторов 5 расподожейвнутри, а второй 4 - вне зазора интерферометра. (Обозначения,на фиг, 2 те же, чтои на фиг. 1). При этом его характеристика, ,прэпускания имеет вид: МИ-Я ) СО 5 У.СО 5 Юф)ТЗГ 42 СО 52 Ч, аО-Ясоь 29) 1+ -51 д ГГ).И-ЯСО 52 Ч+где Т соответствует падению излучения на 66 интерферометр в прям ом направлении (слева)и В числителе берется знак (-), а Т соответствует обратному направлению распространения светового пучка и в числителе бертся знак (+)"Л - оптическая толщина зазора междузеркалами,Ч - коэчфициент Отражения зеркал интерферометра,9 - угол разворота поляризатора 4 по от-.1ношению к поляризатору 5,- угол невзаимного вращения плоскостипэляриэации пдастиной 3,Как следует из цриведенногэ выражения,разность пропускания интеррерометра в прямом и обратном направлениях (амплитуднаяневзаимнэсть) Определяется как:5 " 5 о (-о(1-,соь 21) 1 ф 51 о 2 ЕМ)1О-Кса 52 У)Схема интерферэметра, изображенного нафиг, ." Обладает тем поеимушеством пэ сравненпо с предыдущей, чтэ позволяет произвьдить настрОЙку максимума прОпускания натребуемую длину воднь путем воашения поляризатора, расолэжеэгэ вне зазора интерферэметра, что не приводит к разьюстировКЕ ПОСЛЕДНЕГ ОНа фиг. 3, 4 изображены схемы интерферометрОВ, В которьх)с целью уменьшениячисла элементов, Отражаюшие пэкоытия нанесень непосредственно на поверхности пэлярвзаторов, и пластины, врашаюшей плоскостьполяризации, (Обозначения на фиг. 3, 4 теже, чтэ и на фйг. 1).Очевидно, чтэ схема на фиг, 3 сэответ.ствует схеме фкг, 1, а схема на фиг. 4 -схеме на фиг, 2,Таким Образом, предлагаемый интерферометр пэ сравнению с известными обладаетсушественно более Высоким этнэшением области дисперсии к подуширине интерференциэнногэ максимума пропускания.Ф ормуда из обретения1. Многодучевой,интерферометр с двумяэтражаюпими поверхностями, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения его седективнэсти за счет уведичения отношения обдасти дисперсии к подуширине подосы прэпускания, интерферометр содержит пластину, врашаюшую плоскость поляризации, установленную между Отражающими пъверхнэстями, и два поляризатора, причем пластина расположена между поляризаторами.2. Интерферометр пэ п, 1, о т д и ч аю щ и й с я тем, чтэ, с целью получения; иевзаимностихарактеристики пропускания и умею л 1 егпщ разъюстировки при его певе".тройке, один из поляризаторов расположен. снаружи от отражающих поверхностей, а вто рой - между пластиной и отражающей поверхЬ постыл.3, Интерферометр по и. 1, о т ли ч аю 1 и и й с я тем, что в качестве отражающих поверхнэстей служат поверхности поляризаторов с нанесенными на них отражающими 1 О и экрытиям и. 4, Интерферометр пэ и. 2, о т л и ч аю ш и й с я тем, что в качестве отражаюпгпх поверхностей служат поверхности пластины и поляризатора с нанесенными на нихотражающими покрытиями,Источники ивэрмапии, принятые вэ внимачие при экспертизе:1. Скоков И. В. Многолучевые иитерферометры, М., 1969, 22.2, Оптика и спектроскопии"., 1971,31, 766 (прототип).545877 Составитель Н. Решетников ова Техред М, Левицкая Корректор В. 3 оРедактор Н ПодписноеСовета Минис абхаз 252/3иНИИПИ Г Тираж 819 дарственногэ комите по делам изобретен Москва, Ж, Рауш