Способ контроля ориентации объекта при пробивке отверстий в нем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК А 1 51 4 С 01 В 9/О АРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ГОС О ДЕ ИИОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ЬСТ АВТОРСКОМУ СВИД(56) Войнов В,А. и др. Алмазная об- работка подложек микросхем. - Средства связи,1983, В 2, с. 66-69. (54)СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОРИЕНТАЦИИ ОБЪЕК 1 ТА ПРИ ПРОБИВКЕ ОТВЕРСТИЙ В НЕМ (57) Изобретение может использоваться в радиоэлектронике при ультразвуковой пробивке некруглых отверстий в подложках микросхем. Целью изобретения является повышение точности ориентации объекта при пробивке некруглых.801270552 отверстий в нем за счет контроля положения торца рабочего инструмента,осуществляющего пробивку. Предварительно наносят слой пластичного материала на контрольный объект, фиксируют на нем след торца рабочего инструмента, наблюдая след торца инструмента в микроскоп, ориентируют перекрытие его окуляра вдоль осей симметрии следа торца. Фиксируют окуляр вданном положении, заменяют контрольный объект рабочим и совмещают осиего реперной метки с перекрестиемокуляра микроскопа, разворачивая рабочий объект, после чего его перемещают на базовое расстояние под рабочий инструмент.Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение в радиоэлектронике приультразвуковой пробивке некруглыхотверстий в подложках микросхем. 5Целью изобретения является повышение точности ориентации при пробивкенекруглых отверстий за счет контроляположения торца рабочего инструмента,осуществляющего пробивку. 10На чертеже показана последовательность действия при контроле ориентации объекта.На чертеже показаны подвижнаякаретка 1, контрольный объект 2, на 15наружную поверхность которого предварительно наносят слой пластичного материала 3, след торца рабочего инструмента 4, перекрестие окуляра микроскопа 5, рабочий объект 6, например подложка микросхемы и репернаяметка 7.Контроль согласно способу осуществляют следующим образом,Устанавливают на подвижную каретку 1 контрольный объект 2, перемещают его в зону обработки под рабочийинструмент, опускают рабочий инструмент на контрольный объект, фиксируяна нем след торца инструмента 4. За- ЗОтем перемещают каретку на базовоерасстояние (Ь), подводя контрольныйобъект под микроскоп. Наблюдают следторца инструмента в микроскоп, ориентируя перекрытие его окуляра 5 вдоль 3его осей симметрии. Фиксируют окулярв данном положении. Заменяют контрольный объект рабочим и совмещают осиего реперной метки 7 с перекрестиемокуляра микроскопа 5, разворачиваярабочий объект.После этого перемещают каретку набазовое расстояние ,под рабочийинструмент.Формула и з о б р е т е н и яСпособ контроля ориентации объектапри пробивке отверстий в нем, заключающийся в том, что совмещают реперную метку объекта с оптической осьюмикроскопа и перемещают объект набазовое расстояние под рабочий инструмент, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что, с целью повышения точности ориентации при пробивке некруглых отверстий, перед совмещением реперной метки объекта с оптической осью микроскопа фиксируют след торца инструмента, осуществляющего пробивку отверстия на контрольном объекте, перемещают контрольный объект на базовоерасстояние под микроскоп, ориентируют перекрестие окуляра микроскопавдоль осей симметрии следа торца инструмента и заменяют контрольныйобъект рабочим, а после совмещенияренерной метки объекта с оптическойосью микроскопа разворачивают объектвокруг оптической оси микроскопа,совмещая линии его реперной метки ссоответствующими линиями перекрестияокуляра микроскопа,.Пилипе 9/40 Тираж 670 ПодВНИИПИ Государственного комитетапо делам изобретений н открыт 13035, Москва, Ж, Раушская наб.,сноеСР аз 62 4 5 Составитель Я едактор Н.Горват Техредд,сердю
СмотретьЗаявка
3953594, 19.09.1985
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4149
ВИШНЕВ АНАТОЛИЙ НИЛОВИЧ, СЕДЫХ АНАТОЛИЙ СЕРГЕЕВИЧ, МАКСЯЧКИН ВЛАДИСЛАВ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 9/04
Метки: нем, объекта, ориентации, отверстий, пробивке
Опубликовано: 15.11.1986
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1270552-sposob-kontrolya-orientacii-obekta-pri-probivke-otverstijj-v-nem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля ориентации объекта при пробивке отверстий в нем</a>
Инструмент для выдавливания центровых отверстий
Номер патента: 990377
Опубликовано: 23.01.1983
Авторы: Гринин, Иванов, Курбатов
МПК: B21D 37/00
Метки: выдавливания, инструмент, отверстий, центровых
...с диаметрами990377 Инструмент Параметры Предлагаемый Известный без задавливания вылу- с задавливанием выпученного металла ченного металла Максимальный диаметр конусной части инструмента 8,мм 8,5 8,5 13,2 8,5 13,2 Максимальныйдиаметр выпученного металла О мм 12,3 - 12,58 19 2 - 19,59 12,24 - 12,57 19,14 - 19,54 1,45 - 1,48 1 455- 1,484 1,44 - 1,475 1,45 - 1,48 Высота выпученного металла Ь, мм 0,44 - 0,46 0,95 - 0,98 0,42 - 0,45 0,92 - 0,96 0,01-0,03 0,0 1-0,03 Формула изобретения 95 с 1= 8,5 мм и с 1= 13,2 мм (ГОСТ 14034 - 74 Отверстия центровые).Для экспериментов взяты заготовки ф 45 мм (выполненные из стали 45).Для нахождения максимального диаметра выпученного металла задавливание выИз приведенных экспериментов следует, что при...
Электрод-инструмент для электрической обработки отверстий малого диаметра и способ его изготовления
Номер патента: 1710240
Опубликовано: 07.02.1992
Автор: Чистяков
Метки: диаметра, малого, отверстий, электрической, электрод-инструмент
...и значения высоты шероховатости В поверхностей получаемых отверстий в зависимости от соотношения ЯзЯр, где Яз - площадь поперечного сечения зазора для входа электролита в полость токоизолирующей оболочки; Яр - сум-. марная площадь поперечного сечения ребер.Материал образцов - Ст, 45,Из данных, приведенных в таблице, видно, что при значениях меньших 3, скорость обработки Ч мммин уменьшается, а высота Ва, мкм увеличивается, Это объясняется тем, что при увеличении суммарной площади поперечного сечения ребер уменьшается площадь поперечного сечения каналов для подачи электролита в зону обработки, а в результате повышается температура электролита в зоне обработки и процесс замедляется.При увеличении значений ЯзЯ более 4 скорость обработки Ч...
Инструмент для чистовой обработки отверстий
Номер патента: 2002595
Опубликовано: 15.11.1993
МПК: B23B 51/00
Метки: инструмент, отверстий, чистовой
...кромка первой режущей пластинки 16 проходит перпендикулярно продольной оси 15 инструмента длячистовой обработки отверстий, тогда как режущая кромка второй режущей пластинки17 проходит параллельно продольной оси.2002595 451. ИНСТРУМЕНТ ДЛЯ ЧИСТОВОЙ ОБРАБОТКИ ОТВЕРСТИЙ, содержащий корпус с полостью для отвода стружки, ограниченный двумя поверхностями, по меньшей мере одну режущую пластинку в прихвате с зажимной губкой и винт крепления прихвата к корпусу, отличающийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей за счет улучшения отвода стружки, режущая пластинка повернута относительно плоскости, проходящей через продольную ось инструмента и режущую кромку режущей пластинки, и установлена в выполненном в корпусе...
Устройство для пробивки базовых отверстий в пленочном материале
Номер патента: 457614
Опубликовано: 25.01.1975
Авторы: Каганов, Кудрявцева, Кутарев, Лагуткин, Чудаков
МПК: B29C 17/10
Метки: базовых, материале, отверстий, пленочном, пробивки
...вокруг своей оси отчервяка 14, взаимодействующего с зубчатымсектором 15.Пробивка осуществляется при помощи пуан 15 сонов 16, приводимых в движение кулачками17 при помощи валов 18 и 19 от электродвигателя 20 через редуктор 21, однооборотнуюмуфту 22 с электромагнитом 23, коническиешестерни 24 и 25.20 При отключенной вакуумной системе заготовка вручную устанавливается на центральной подвижной части стола 8 таким образом,чтобы контрольные (базовые) отметки илиэлементы рисунка на пленке оказались под25 окулярами микроскопов, визирные устройствакоторых выставлены относительно контрольных отметок на опорной плите 6,Затем включается вакуум, и заготовкаплотно прижимается к поверхности подвиж 30 ной части вакуумного стола 8. После...
Способ пробивки конечного ряда отверстий
Номер патента: 602273
Опубликовано: 15.04.1978
МПК: B21D 28/24
Метки: конечного, отверстий, пробивки, ряда
...многопозиционном прессе, и разрезы по А - А и Б - Б; на фиг. 2 - то же, для пробивки отверстий в цилиндрических сепараторах подшипников качения, осуществляемый на многопозиционном прессе; на фиг. 3 - то же, для пробивки ряда отверстий, изгибающегося под прямым углом в листовой заготовке, и разрезы по Б - В и Г - Г.По варианту, представленному на фиг, заготовка сепаратора 1 перемещается в позицию 2 грейфером 3 многопозиционного пресса, где в местах расположения отверстий в готовой детали производится одновременная пробивка всех отверстий 4 (каждое из которых составляет часть отверстия в готовой детали) с помощью пробивных инструментов-пуансонов 5 и матрицы 6, выполненной из твердогоспдава, причем размер промежутка 7 междупробиваемыми...
Предыдущий патент: Устройство для определения положения штрихов
Следующий патент: Фотоэлектрическое устройство для наведения на границу света и тени его варианты
Случайный патент: Способ очистки цинка от железа