Патенты с меткой «теневой»

Страница 2

Ультразвуковой теневой способдефектоскопии

Загрузка...

Номер патента: 794495

Опубликовано: 07.01.1981

Авторы: Гершберг, Илюшин, Ланчин, Сорокин

МПК: G01N 29/04

Метки: способдефектоскопии, теневой, ультразвуковой

...сигнал восстанавливается, а шаг 5 возврата искателя устанавливают из соотношения5= О при Еф)Ь,р; Г; - ;:,Редактор Т, Зубкова Корректор 3. Тарасова Заказ 205/11 Изд, Ме 146 Тираж 915 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35, Рауснская наб., д. 4/5)Ьр), то искатель сдвигают на величину, равную диаметру. При этом для полного восстановления сигнала в приемнике толщина среднего слоя Йср должна быть не меньше где Хср в дли волны в среднем слое; 1 Обрср - угол раскрытия диаграммы направленности искателя в материале среднего слоя.Если зона Френеля меньше толщины крайнего слоя Ьф(Ьр, то шаг возврата ис кателя 5 выбирают из соотношения5: 2 Ь 1 1 К 9 р+ О4 Лкр /где Х,р - длина...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 811120

Опубликовано: 07.03.1981

Авторы: Белозеров, Кутикова, Мустафина

МПК: G01N 21/45

Метки: прибор, теневой

...максимальную чувствительность измерений при работе теневого прибора в этой же области: идентичность условий регистрации и восстановления позволит обеспечить высокое аберрационное качество теневого прибора. Фокусное расстояние объектива при записи может быть выбрано любым. Значение угла отклонения лучей фазовым объектом и фокусное расстояние голограммного объектива с уменьшением длины волны источника света возрастает. Смещение частоты излучения в длинноволновую область спектра приводит к уменьшению фокусных расстояний коллиматорного и приемного объективов, чем обеспечивается возможность исследования фазовых объектов, вызывающих значительные отклонения лучей (грубых неоднородностей),На чертеже приведена оптическая схема теневого...

Термокатод с теневой сеткой

Загрузка...

Номер патента: 813531

Опубликовано: 15.03.1981

Авторы: Артюх, Быстрицкий, Шатрова

МПК: H01J 1/20

Метки: сеткой, теневой, термокатод

...потока электронов.На фиг. 1 - 3 показаны различные варианты выполнения термокатодов с теневойсеткой.На фиг. 1 изображена конструкция термо- ЭОкатода с теневой сеткой, расположеннойна некотором заданном расстоянии от поверхности катода. В катоде 1 закрепленыимеющие ступени штыри 2, а сетка 3 спосадочными отверстиями под диаметр верху н35неи части штыреи посажена до упора вступень. Количество штырей может бытьлюбым и определяется конструктивно.На фиг, 2 изображена конструкция термокатода с теневой сеткой, расположеннойзаподлицо или утопленной относительно 4 оэмиттирующей поверхности катода. В катоде 1 выполнены пазы, в которых закрепленыштыри 2 с сеткой 3,Достоинствами предлагаемой конструкции являются меньшая, чем у катода...

Теневой телевизионный прибор

Загрузка...

Номер патента: 868497

Опубликовано: 30.09.1981

Авторы: Калугин, Королев, Красовский, Наумов

МПК: G01N 21/45

Метки: прибор, телевизионный, теневой

...низких частот с устройством вычисления отношения полуразности сигналов к их полусумме, а выход устройства вычисления подключен ко входу вольтметра, На чертеже изображен предлагаемый прибор.Прибор содержит объективы 1 и 2, сопрягающие плоскость экрана видео- контрольного устройства 3 телевизионной системы (с изображением стандартного образца и фоном) с плоскостью Фо. точувствительных площадок фотоприемников 4 и 5; расположенных на подвижной платформе 6, передвигающейся вдоль экрана, а также фильтры 7 и 8 низких частот, вычислительное устройство 9 и цифровой вольтметр 10.Прибор работает следующим образом.Сигналы с Фотоприемников 4 и 5, пропорциональные освещенности сопря, женных с ними участков экрана, через Фильтры 7 и 8 низких...

Устройство для ультразвуковой теневой дефектоскопии трехслойных конструкций

Загрузка...

Номер патента: 926595

Опубликовано: 07.05.1982

Автор: Илюшин

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, конструкций, теневой, трехслойных, ультразвуковой

...пройдут только междупреобразователями 1, 6 т 4, 5 (в лучевом приближении), а между преобразователями 3, 6 и 3,5 прохождениесигнала нарушается.Генераторы 21 и 22 строб-импуль 45сов вырабать 1 вают стробы для нахождения дефекта в зонах склейки.Схема 9 совпадения, например,не срабатывает, так как сигнал междупреобразователями 3 и 5 (прямой)не проходит из-за дефекта, Схема 10совпадения срабатывает, так как на .основной приемный преобразовательприходит сигнал от дополнительногоизлучающего преобразователя ч, астробируется она вторым стробом(от генератора 22 строб-импульсов),Схема 11 совпадения сратабь 1 вает так,как на дополнительном приемном пре 5 4,обраэователе 6 есть сигнал прямогопрохождения (между преобразователями1 и 6), а...

Ультразвуковой теневой иммерсионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 932395

Опубликовано: 30.05.1982

Авторы: Артемов, Голубев, Добротин, Паврос

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, иммерсионный, теневой, ультразвуковой

...дискриминатор 12, первый вход которого соединен с выходом усилителя 4, второй вход - с выходом генератора 1 зондирующнх им пульсов, и третий триггер 13, включенный между третьим амплитудно-временным дискриминатором 12 и схемой ИЛИ 10.Дефектоскоп работает следующим 2 О образом.С выхода генератора 1 зондирующие импульсы поступают на излучающий преобразователь 2. В случае, если контролируемое иэделие присутствует, 25 а дефекта нет, приемный преобразователь 3 принимает и и щ прошедшие импульсы, а затем они поступают на усилитель 4. Амплитудно-временные дискриминаторы 5 и б настраивают на заданный уровень чувствительности, которые выделяют необходимые для дальнейшей обработки и-ый и щ-ый импульсы, и в случае отсутствия деФекта выдают...

Дистанционный теневой визуализатор плотностных неоднородностей морской воды

Загрузка...

Номер патента: 934319

Опубликовано: 07.06.1982

Авторы: Авраменко, Дурович

МПК: G01N 21/17

Метки: визуализатор, воды, дистанционный, морской, неоднородностей, плотностных, теневой

...конденсором 2 проектируется вплоскость диафрагмы 3, Параллельныйсветовой пучок, сформированный головным объективом 4, через иллюмина-.;тор 5 поступает в;анализируемый объем исследуемой среды и, отразившисьот автоколлимационного зеркала, возвращается в плоскость диафрагмы 3,При наличии в анализируемом объеме плотностных неоднородностей, световой пучок деформируется, и часть светового потока попадает на диафрагмузеркальную кромку ножа) 3 и, отразившись от нее, через проекционныйобъектив 7 поступает на светоделительную пластину 8, от.куда, частично отразившись, попадает на Фотокатод передающей телевизионнойРкамеры 9 бстальная часть световогопотока поступает на фотоприемник 14,С целью оценки чувствительности теневого визуализатора на...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 1027669

Опубликовано: 07.07.1983

Авторы: Бугаенко, Витриченко, Дудинов, Цветкова

МПК: G02B 27/52

Метки: прибор, теневой

...и регистрирующее устройство, оптически сопряженное с исследуемым объектом, на полуволновуюФаэовую пластину нанесено поглощающее металлическое покрытие с градиентом плотности, перпендикулярнымфаэосдвигающей ступени пластины,имеющее нулевое пропускание на линии фазового скачка, причем пластина выполнена из двух различных сортов оптического стекла, у которыхдля средней длины волны рабочегоспектрального интервала производныепо длине волны отношений показателяпреломления к длине. волны равны между собой.На фиг, 1 показана оптическая схема теневого прибора; на фиг. 2устройство волуволновой амплитудноФазовой пластины и вид зависимостиее амплитудного пропускания от координаты вдоль оси, перпендикулярнойфазосдвигающей ступени...

Ультразвуковой теневой иммерсионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1037164

Опубликовано: 23.08.1983

Авторы: Аббакумов, Артемов, Голубев, Добротин, Паврос

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, иммерсионный, теневой, ультразвуковой

...выходами первого, 5 и второго 6 амплитудно-временных дискриминаторов, дифференцирующую цепь 9, схему 10 ИЛИ, второй триггер 11, третий амплитудно-временной дискриминатор 12, вход которого соединен с выходом усилителя 4, второй вход - с выходом ге" нератора 1 зондирующих импульсов, и третий триггер 13, включенный между третьим амплитудно-временным дискриминатором 12 и схемой ИЛИКроме того, дефектоскоп содержит двухканальйый блок 14 распознавания дефектов, каждый канал которого выполнен иэ последовательно соеди" ненных амплитудно-временного дискриминатора 15 и 16, блока 17 и 18 памяти и аналогового ключа 19 и 20, первые входы амплитудно-временных дискриминаторов 15 и 16 соединены с выходом усилителя 4, а вторые входы - с выходом...

Многоканальный теневой ультразвуковой дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1062598

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Голубев, Добротин, Мамистов, Паврос

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, многоканальный, теневой, ультразвуковой

...дефекта, первыми входамиподключенных к усилителю, а вторы 10 ми - к выходу синхрониэатора-распределителя, схемы И, нключенноймежду выходами дискриминаторон наличия дефекта и наличия объекта,и щ ключей, первые входы которых15 соединены с выходом дискриминатора наличия дефекта, а выходы подключены К блоку регистрации, блокпитания, подключенный к блоку регистрации, снабжен последовательносоединенными блоком задержки, входкоторого подключен к синхронизатору-распределителю, и импульснымгенератором, подключенным к вторымвходам схем И в каждом приемномканале.; щ коммутаторами, первыевходы которых соединены с выходамисинхронизатора-распределителя, вторые входы - с .блоком питания, выходы - с вторыми входами Ключейв каждом приемном канале,...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 1173373

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Витриченко, Пушной

МПК: G02B 27/54

Метки: прибор, теневой

...участ.ком одной пластины 8, третий квадрант экранируется участками обеих наложенных друг на друга пластин и, наконец, последний квадрант экранируется свободным участком второй пластины 9. Поляризатор 2 имеет фиксированные положения, при которых направления его собственного вектора (на. фиг,1,4 и 5 показаны стрелкой) пооче.редно совпадают с направлением собственных векторов каждой из пластинок.8 и 9 составляющих фильтр пространственных частот 5. 1 О Поставленная цель достигается тем,,что в теневой прибор, содержащий по следовательно расположенные на оптической оси источник света, объективпрямого преобразования Фурье,держатель контролируемого объекта, фильтр.пространственных частот в виде двумерного теневого ножа, объектив обратного...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 1173374

Опубликовано: 15.08.1985

Авторы: Витриченко, Евсеев, Пушной

МПК: G02B 27/54

Метки: прибор, теневой

...объектив 4, фотометрический компенсатор (на фиг.1 выделен пунктирной линией), состоящий из элементов 5, 6 и 7, объектив фурье 8 и сканирующий фотоприемник 9, подключенный к блоку электронной обработки сигнала 10, выходы которого соединены с входами визуализирующих устройств- монитора 11 и осциллографа 12. При этом излучение регулируемого по полю 55 источника света б совмещено с главной оптической осью прибора через свето- делитель 7, установленный за светопо 77 4глощаюшпм компонентом 5 фотометрического компенсатора.В качестве элемента 5, уменьшающего Освещенность, может быть использована фотографическая пластина с негативным изображением идеальной теневой картины. В свою очередь идеальная теневая картина может быть получена либо...

Теневой фотоэлектрический прибор

Загрузка...

Номер патента: 1179256

Опубликовано: 15.09.1985

Автор: Алехин

МПК: G02B 27/54

Метки: прибор, теневой, фотоэлектрический

...к входу осциллографа 7 (положение П).Устройство работает следующим образом.При настройке прибора в отсутствие оптической неодйородности 20 линейным перемещением основного анализирующего элемента - призмы 11 перпендикулярно направлению распространения зондирующего пучка света 21 добиваются идентичности отраженных боковыми гранями 12 и 13 призмы пучков света 22,и 23 (см. фиг. 2), сравнивая сигналы на осциллографах 6 и 7 от фотоприемников 4 и 5. При этом дополнительные анализирующие элементы - нейтрально серые клинья 15 и 16, представляющие собой оптические элементы с коэффициентом пропускания, меняющимся по линейному закону вдоль выбранного направления, являющегося в дальнейшем рабочим, устанавливают так, чтобы отраженные световые...

Дистанционный теневой визуализатор плотностных неоднородностей жидких сред

Загрузка...

Номер патента: 1182344

Опубликовано: 30.09.1985

Авторы: Авраменко, Дурович

МПК: G01N 21/17

Метки: визуализатор, дистанционный, жидких, неоднородностей, плотностных, сред, теневой

...работает следующим образом.Изображение источника 1 излучения конденсором 2 проектируется в плоскость зеркального ножа 3. Световой пучок, сформированный головным объективом 4, через иллюмиЭ 5 натор 5 поступает в анализируемый объем исследуемой среды и, отразившись от зеркала 6, возвращается в плоскость зеркального ножа 3. При40 наличии в анализируемом объеме плотностных неоднородностей световой пучок деформируется, часть его попадает на зеркальную кромку ножа 3 и, отразившись от нее через проек-. ционный объектив 7 поступает на светоделительную пластину 8, откуда, частично отразившись, попадает на фотокатод телевизионной камеры 9, остальная часть светового потока поступает на фотоприемник 14. С целью оценки чувствительности...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 1185196

Опубликовано: 15.10.1985

Автор: Саламандра

МПК: G01N 21/45

Метки: прибор, теневой

...4 и прямоугольныефильтры 13,17,21,25,29 и 33 выполнены бесцветными. Фильтр 5 и прямоугольные фильтры 37,41,45,49,53 и57 выполненынепрозрачными. Фильтры10, 14, 18,24,28,32, 36,40,44,46, 50,54выполнены красными. Фильтры 11,-15,19,23,27,31,34,38,42,48,52,56 выполнены синими. Фильтры 12, 16, 20, 22, 26,30,35,39,43,47,51,55 выполнены зелеными.Визуализирующая диафрагма работаетследующим образом.Ее устанавливают в Локальной плоскости основного объектива приемнойчасти теневого прибора, До тех пор,пока исследуемая среда однородна,плоскость изображения окрашена в цветцентрального фильтра виэуализирующейдиаЛрагмы, с которым совмещено изображение щелевой осветительной диафрагмы ( в рассматриваемом нами примере - зеленый цвет).При смещении...

Катодно-лучевая трубка с теневой маской

Загрузка...

Номер патента: 1199207

Опубликовано: 15.12.1985

Автор: Альберт

МПК: H01J 29/07

Метки: катодно-лучевая, маской, теневой, трубка

...Техред З.Палий Корректор В.Бутяга Тираж б 78 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-Э 5, Раушская наб., д, 4/5Заказ 7741/62 Филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная,Изобретение относится к электронной технике, в частности к технике цветных катодно-лучевых трубок, снабженных теневыми масками.Целью изобретения является повышение прочности и жесткости маски за счет искривления ее поверхности.На чертеже представлена конструктивная схема экранно-масочного узла катодно-лучевой трубки.Представленный узел содержит фронтальную плоскую панель 1 экрана и теневую маску 2, связанную с панелью 1 с помощью элементов Э крепления и поддерживающих планок 4.Маска 2 выполнена со множеством...

Теневой фотоэлектрический способ и теневой прибор для исследования нестационарных процессов

Загрузка...

Номер патента: 807776

Опубликовано: 30.03.1986

Авторы: Алехин, Васильев, Ершов

МПК: G01N 21/41, G02B 27/60

Метки: исследования, нестационарных, прибор, процессов, теневой, фотоэлектрический

...способаограничивается дифракцией на исследуемой неоднородности и визуализирующей диафрагме прибора и фоновойзасветкой. Дифракционные ограничениясвязаны с разрешающей силой и чувствительностью прибора и могут бытьуменьшены только при ухудшении этиххарактеристик.Из-за высокой чувствительностифотоэлектрической системы практическая чувствительность способа оченьсущественно зависит также от величины фоновых засветок, обусловливаемыхрассеянием света на неоднородности,оптических и конструктивных элементах. Величина фонового сигнала определяется общей величиной световогопотока, проходящего через все полеприбора. С увеличением световогопотока возрастает роль шумов, уменьшается минимальная величина освещенности, которая еще может быть...

Ультразвуковой теневой дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1233031

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Бойко, Михуткин, Мозговой

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, теневой, ультразвуковой

...импульсов с амплитудой выше 0 . Второй счетчик 17 подсчитывает общее число зондируннцих импульсов; На блоке 18 установки кода вручную набирается число н, , код которого сравнивается схемой 10 сравнения с содержимцм первого счетчика 6. Разность этих чисел, умноженная на постоянное число К, поступает на вход сумматора-накопителя 13. Выполнение суммирования запускается через некоторое число зондирующих импульсов, определяемое переполнением второго счетчика 17. Емкость второгосчетчика 17 определяет временной интервал получения величины пороговогоуровня 0" второго дискриминатора 15.Результат. суммирования поступает навход цифроаналогового преобразователя14. Аналоговое напряжение поступает1233 коэффициента К на который производится...

Ультразвуковой теневой иммерсионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1234768

Опубликовано: 30.05.1986

Авторы: Аббакумов, Артемов, Добротин, Мамистов, Паврос

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, иммерсионный, теневой, ультразвуковой

...ключа 14. Ключ 4 выключается и подготавливается к следующе 20 25 му циклу работы. Одновременно импульс сброса (Фиг,26) запускает схему 1задержки. Выходной сигнал схемы 11задержки запускает формирователь 12импульсов опроса. Выходной импульсэтого формирователя ,Фиг,2 р) задержан относительно импульса сброса навремя, несколько больше максимального времени распространения анализируемых ультразвуковых сигналов(1-го 30 35 прошедшего импульса и импульса воды).,Импульс формирователя 12 импульсов опроса и выходной сигнал триггера 9 подаются на вход схемы 13 И. Выходной сигнал схемы 13 И отпирает ключ 4. В ситуации "Вода" с выхода триггера 18 на вход схемы 13 И поступаиет сигнал О , сигнал на выходе схемы 13 И отсутствует и запись не...

Цветной кинескоп с теневой цветоделительной маской

Загрузка...

Номер патента: 1247977

Опубликовано: 30.07.1986

Авторы: Бративнык, Дорош, Рыхлинская

МПК: H01J 29/07

Метки: кинескоп, маской, теневой, цветной, цветоделительной

...направленииразличные люминофорные элементы несобственной триады, что неизбежноприводит к нарушению однородностицвета свечения одноцветных полей,45воспроизводимых экраном кинескопа.Предлагаемая маска представляетсобой тонкий металлический лист, содержащий вертикальные ряды отверстийи перемычек на поверхности маски,которой придана асферическая форма.Если 1 - расстояние от центраотклонения электронных пучков до маски по оси кинескопа, то расстояниеот центра отклонения до маски в любой точке ее поверхности равно Ь,==Ь, /1 сов/2, При этом величина смещения электронного пучка относительно люминофорного элемента на экране кинескопа под действием вертикальнойсоставляющей вектора индукции магнитного поля Земли определяется выражее ВЬ,...

Электронно-оптическая система цветного кинескопа с теневой маской

Загрузка...

Номер патента: 1264249

Опубликовано: 15.10.1986

Автор: Попов

МПК: H01J 3/32

Метки: кинескопа, маской, теневой, цветного, электронно-оптическая

...электромагнитную аксиально-симметричную катушку 3 и отклоняющуюсистему 4.Устройство работает следующим образом. 25В дополнительную электромагнитную,катушку подают постоянный ток. Приэтом во время прохождения электронного луча под некоторым углом к осикинескопа в области действий катушкипоявляется радиальная составляющаямагнитного поля Н.При дельтавидном расположениипрожекторов (фиг, 2), когда все трипрожектора находятся на одинаковом35расстоянии от оси кинескопа и расположены под одним и тем же углом схождения, радиальная составляющая магнитного поля смещает электронные лучи по касательной на равные углы в40одном направлении. Аналогичное воздействие на электронный луч оказывает дополнительная катушка в масочном 49 64 одписное город, ул....

Способ коррекции фотошаблона теневой маски для цветной электронно-лучевой трубки

Загрузка...

Номер патента: 1275359

Опубликовано: 07.12.1986

Авторы: Глезер, Кулик, Трикило

МПК: G03F 3/06

Метки: коррекции, маски, теневой, трубки, фотошаблона, цветной, электронно-лучевой

...2, кривые 1) В областях маски,(фотошаблона),отстоящих от центра на г = 70-120 им,имеются отклонения от теоретическирассчитанного закона убывания5 (фиг. 2, кривая 2).На прозрачное стекло (светофильтр),имеющее размеры Фотошаблона, с помощью аэрографа наносят полупрозрачный слой черной краски, таким обра 1 О зом затемняя выявленные в результатеописанных исследований области, вкоторых величина прозрачности выходитза поле допуска (фиг. 2, кривая 1).Методика и способ определения интенсивности затемнения областей светофильтра следующая.В результате исследований былаполучена характеристическая криваязависимости прозрачности (как интег 20 ральной характеристики изменения раэ"меров элементов структуры эмульсионного фотошаблона) от величины...

Ультразвуковой теневой иммерсионный дефектоскоп

Загрузка...

Номер патента: 1298655

Опубликовано: 23.03.1987

Авторы: Воронин, Добротин, Паврос, Топунов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскоп, иммерсионный, теневой, ультразвуковой

...отсутствии контролируемого изделия 26, Импульс генератора 9 прямоугольных им 40 пульсов подается на сигнальный вход первой схемы ЗАПРЕТ 10, На ее выходе импульс будет лишь в случае, когда между преобразователями 2 и 3 имеется контролируемое изделие, т,е. на ныхо 45 де амплитудного дискриминатора 7 низкий уровень (фиг.2 д). Импульсы с выхода первой схемы ЗАПРЕТ 10 подаются на счетный вход, первого счетчика 11 импульсов который отсчитывает заданЪ50 ное количество Н посылок в контроопируемое изделие 26. В то же время импульсы с выхода усилителя 4 подаются на входы второго и третьего управляемых амплитудных дискриминаторов 16 и 17.На выходе второго управляемого амплитудного дискриминатора 16 импульс появится лишь в том случае, если амплитуда...

Теневой способ контроля оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: 1330519

Опубликовано: 15.08.1987

Авторы: Демидов, Живописцев

МПК: G01N 21/45

Метки: оптических, теневой, элементов

...участок дБ фотопластины 13, оптически сопряженный с элементарной площадкой ЙБ. Освещенность площадки ЙБ, такимобразом пропорциональна составляющей ЗОтангенциального отклоненияв участке волнового Фронта, сформированном элементарной площадкой ОБ контролируемой поверхности. При этом соответствующая элементарная площадИка йБ фотопластины 11, установленной симметрично фотопластине 13 относительно оси 00, имеет нулевую освещенность, так как на нее свет от участка ЙБ не попадает. Таким образом, щ в плоскостях расположения Фотопластин 11-14 формируются четыре теневые картины, которые попарно содержат взаимодополняющую информацию о составляющих тангенциальных отклонений сформированного поверхностью 6 волнового фронта в двух взаимно...

Теневой прибор

Загрузка...

Номер патента: 1421995

Опубликовано: 07.09.1988

Авторы: Агапов, Половцев

МПК: G01B 11/255, G01B 11/30, G02B 27/54 ...

Метки: прибор, теневой

...тень от экрана 4 при контроле детали 2 идеальной формы будет иметь вид прямых линий. Измерительный экран 5 установлен за плоскостью изображения источника 1 света в плоскости анализа теневой картины, т. е. в плоскости компенсации кривизны экрана 4, с возможностью перемещения его вдоль оптической оси измерения величины этого перемещения. Взаимная ориентация и размерные зависимости прямых на измерительном экране 5 и кривых на криволинейном экране 4 определяется, параметрами контролируемой детали 2 и схемой контроля. На фиг. 2 представлен вариант разметки экрана 5, где 6 - линии разметки, 7 линия световой апертуры, 8 - центр теневой картины,Теневой прибор работает следующим образом.Перед началом измерений точечный источник 1 света...

Ультразвуковой теневой способ контроля дефектов изделий

Загрузка...

Номер патента: 1436061

Опубликовано: 07.11.1988

Авторы: Афонин, Гончаров, Ермаков, Кузнецов, Мысенко, Сумец

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, теневой, ультразвуковой

...1 о) - К(1 д - 1 о) 40 где К, и К - расстояния между преобразователями до ипосле перемещения приемного преобразователя 451, и 1 - интенсивность принятыхколебаний, прошедшихчерез иэделие с дефектом, до н послеперемещения;Е - интенсивность принятых50колебаний, прошедгяхчерез изделие беэ дефекта.УЗ теневой способ контроля дефектов изделий реализуется следующим образом.Излучающий 1 и приемный 2 преобразователи устанавливают соосно в промежуточной среде, например нмме- сионной жидкости, на расстоянии Ки К друг от друга. Между преобразователями 1 и 2 располагают контролируемое многослойное иэделие 3 и сканируют его. В ходе сканирования излучают преобразователем 1 и принимают преобразователем 2 УЗ колебания, прошедшие через изделие 3, и...

Оптический теневой проектор-тренажер

Загрузка...

Номер патента: 1472863

Опубликовано: 15.04.1989

Автор: Старостенко

МПК: G02B 27/18, G03B 21/00

Метки: оптический, проектор-тренажер, теневой

...снабжен зеркалами 12 и 13, полупрозрачным экраном14, объективом 15, обеспечивающимипроецирование теневого изображения16 объекта 5 на экран 11 при виде прямо (фронтальная проекция) зеркалами17 и 18, полупрозрачным экраном 19,объективом 20, зеркалами 21 и 22,обеспечивающими проецирование тене.вого изображения 23 объекта 5 наэкран 11 при виде слева (профильнаяпроекция). Малые полупрозрачные экраны 6, 14 и 19 выполнены из рассеивающего материала, например из писчей бумаги, при этом теневое изображение объекта 5 наблюдается с обеих сторон каждого из этих экранов. Полупрозрачные экраны расположены во фронтальной, горизонтальной и про 4 ыльной ортогональных плоскостях 10 проекций вблизи точки пересечения пучков света.Оптический теневой...

Теневой телевизионный прибор

Загрузка...

Номер патента: 1509686

Опубликовано: 23.09.1989

Авторы: Наумов, Павлюченко, Фокин

МПК: G01N 21/45

Метки: прибор, телевизионный, теневой

...и 16, а второйвход - с выходом генератора 24 импульсов запуска АЦП, Для контроляположения фотоприемников 9 и 10 относительно экрана ВКУ 5 подвижнаяплатформа 6 снабжена указателем 25положения,4При запуске импульсного излучателясветовой импульс поступает в оптическую систему 1Этот импульс формируется оптической системой в коллимированный световой пучок, которыйзондирует исследуемую прозрачнуюсреду и преобразует распределениеградиента показателя преломления,проинтегрированное по ходу луча всреде, в распределение освещенностина входе телевизионной системы 3 (насветочувствительной площадке преобра-.зователя свет - сигнал).Прибор работает следующим образом,При поступлении импульса с выходаделителя частоты генератора 4 синхроимпульсов...

Способ ультразвуковой теневой дефектоскопии многослойных изделий

Загрузка...

Номер патента: 1562846

Опубликовано: 07.05.1990

Авторы: Карташова, Качанов, Кутюрин, Рапопорт, Рябов, Соколов

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектоскопии, многослойных, теневой, ультразвуковой

...дефектоскопииМногослойных изделий заключается вследующем.По разные стороны изделия акустически соосно устанавливают излучающий 15и приемный преобразователи; Излучающим преобразователем излучают УЗ колебания в изделие, а приемным преобразователем принимают прошедшие черезизделие УЗ колебания. 2 ОСоосно сканируют изделие преобразователями и измеряют амплитуду принятых УЗ колебаний. При достижении амплитудой принятых колебаний порогового уровня Б определяют координату Хо 25положепия преобразователей и Фиксируют наличие дефекта.Также измеряют амплитуду Б, прирасположении преобразователей в точках с координатами Х которые расположены на прямой, проходящей черезточку с координатой Х , Границы дефекта определяют с помощью зависимостиЦ =...

Теневой оптоэлектронный датчик контроля уточной нити в конфузоре пневматического ткацкого станка

Загрузка...

Номер патента: 1567126

Опубликовано: 23.05.1990

Автор: Паоло

МПК: D03D 51/34

Метки: датчик, конфузоре, нити, оптоэлектронный, пневматического, станка, теневой, ткацкого, уточной

...1 з.и. А-лы, 2 ил. Источник 1, приемник 2 излучения и световоды 3 и 4 расположены в корпусе 7, который связан с торцовой стенкой конАузора 8 ткацкого станка. Позициями 9 - 11 обозначены соответственно батан, основные нити, образующие зев и ткань.Датчик работает следующим образом, В процессе работы ткацкого станка уточная нить Г периодически пробрасывается через зев, образованный основными нитями 10. В период движения уточной нити в зеве ее целостность (или наличие) контролируется следующим образом. Если нить Й присутствует в зеве, то световой поток 1., пройдя через световод 3, частично ослабляется из-эа присутствия нити Г в зоне контроля. Этот ослабленный поток поступает на вход световода 1. и регистрируется приемником 2, Если...