Патенты с меткой «способдефектоскопии»
Ультразвуковой теневой способдефектоскопии
Номер патента: 794495
Опубликовано: 07.01.1981
Авторы: Гершберг, Илюшин, Ланчин, Сорокин
МПК: G01N 29/04
Метки: способдефектоскопии, теневой, ультразвуковой
...сигнал восстанавливается, а шаг 5 возврата искателя устанавливают из соотношения5= О при Еф)Ь,р; Г; - ;:,Редактор Т, Зубкова Корректор 3. Тарасова Заказ 205/11 Изд, Ме 146 Тираж 915 Подписное НПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж.35, Рауснская наб., д. 4/5)Ьр), то искатель сдвигают на величину, равную диаметру. При этом для полного восстановления сигнала в приемнике толщина среднего слоя Йср должна быть не меньше где Хср в дли волны в среднем слое; 1 Обрср - угол раскрытия диаграммы направленности искателя в материале среднего слоя.Если зона Френеля меньше толщины крайнего слоя Ьф(Ьр, то шаг возврата ис кателя 5 выбирают из соотношения5: 2 Ь 1 1 К 9 р+ О4 Лкр /где Х,р - длина...