Способ ультразвуковой теневой дефектоскопии многослойных изделий

СОЮЗ СОВЕТСНИХсоциАлистичеснихРЕСПУБЛИН 51) С О 1 Б 29/О 6 ЛИ ВИЛЙ- БИБЛИ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН тва акустического ие использования границ полученной флуктуаций каче контакта вследств при определении помощью регресси симости амплитуд делие ультразвук от координат в з тивоположных пов 11 о Д.Аого анализа зави ы прошедших через из" овых (УЗ) колебаний оне дефекта. На проерхностях изделия соют УЗ-преобразоватеосуществляют иэлу-колебаний. Осуществосно устанавлив ли. С их помощь е чеки е сканировани ляют линеиное пошаг туду приняты нии амплитуксируют налиизделия и измеряют ампУЗ-колебаний, По достиьдой порогового уровнячие дефекта. С помощьюго анализа результатов ОВОЙ ТЕНЕВОЙ ЙНЫХ ИЗДЕЛИЙ регрессионноизмерений вделяют зависиых УЗ-колеба 7) тся к акусушающего конявляется поления границ тен х точках опрлитуды приняней находятефекта. 2 ил ескольк ость ам ий и по дам нераззобретенисти опрелодаря исклю че ель ро естоположение точи благ выше ни дефект гран цы ия астиющего Изобретениеустических м относится к отодов неразрушт быть испольвой (УЗ) дефех изделий. и мож он скотраэвукго слойн при упии мн ью изобретен ляе повьг н ияния ияой с завиез изот коГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ П 1 НТ СССР(56) Авторское свидетУ 1045121, кл. С 01 БПриборы для неразруля материалов и изделкн, 2. Г 1.: Машиностроес. 249-250.(54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКДЕФЕКТОСКОПИИ МНОГОСЛО 17Рапопорт,ачанов,бов)ельство СССР29/04, 1982,шающего контий: Справочнние, 1986,шение точности определения гр дефекта благодаря исключению в Флуктуаций качества акустическ контакта вследствие использова при определении границ получен помощью регрессионного анализа симости амплитуды прошедших че делие ультразвуковых колебаний ординат в зоне дефекта., 801562846, А 1 На фиг.1 представлен график зависимости амплитуды 11 принятых колебаний от текущей координаты, расчет которой произведен по экспериментально полученным точкам (П- максимальное значение амплитуды на качественном участке изделия; П, - амплитуда колебаний, принятых в точке с координатой Х,; П 0 - пороговый уровень,1достигаемый в точке с координатой Х 0; Х - координата границы дефекта; ЛПвеличина Флуктуаций амплитуды приня-. тых колебаний на качественном участке иэделия при изменении качества акустического контакта); на Фиг,2 - результаты УЗ контроля и препарацииобразна с дефектом (Хоо ф ооооэоо ф оокоординаты точек, в которых при многократном сканировании амплитуда принятых колебаний достигала порогово"5Го уровняХо р Х о р Х э координаты точек, в которых зарегистрированаграница дефекта при многократном сканировании по способу УЗ теневой дефектоскопии многослойных изделий)1 ОСпособ УЗ теневой дефектоскопииМногослойных изделий заключается вследующем.По разные стороны изделия акустически соосно устанавливают излучающий 15и приемный преобразователи; Излучающим преобразователем излучают УЗ колебания в изделие, а приемным преобразователем принимают прошедшие черезизделие УЗ колебания. 2 ОСоосно сканируют изделие преобразователями и измеряют амплитуду принятых УЗ колебаний. При достижении амплитудой принятых колебаний порогового уровня Б определяют координату Хо 25положепия преобразователей и Фиксируют наличие дефекта.Также измеряют амплитуду Б, прирасположении преобразователей в точках с координатами Х которые расположены на прямой, проходящей черезточку с координатой Х , Границы дефекта определяют с помощью зависимостиЦ = А ехр(-ах),где Х - текущая координата;П - амплитуда принятых УЗ колебаний по текущей координате;А,1 - коэффициенты, определяемыепри регрессионном анализе 40полученной совокупностиСпособ УЗ теневой дефектоскопиимногослойных изделий реализуется следующим образом, 45На противоположных поверхностях изделий, выполненного, например, из слоистого пластика толщиной 45 мм, усганавливаются преобразователи на час.тоту 400 кГц с шириной контактнойплощади 22 мм, Преобразователи подключают к УЗ дефектоскопу, например,УДУМ и осуществляют пошаговое сканирование изделия вдоль оси координат Х (шаг равен 10 мм), За пороговый уровень Бо принят уровень среднего сигнала на беэдефектном участкеизделия (Б - ДП)/2 минус 25 дБ.максЛо достижении амплитудой П принятого= Х выделяют точки с координатамиХ - Х и определяют амплитуды 11 ,Бпринятых в этих точках сигналов.Методом наименьших квадратов находятминимум функцииМЙ,(А,1 с)= Е (1 п Б. + ах - 1 пА),1 где Б - число пар задействованныхизмерений Х., Б 1,А,К - коэфФициенты.В результате получают следующиеэначенуя: МИ Х (Х,1 пЦ.) - Х.Х :Г 1 пПив1 1 1 Х;) а+Е 1 пж,А = ехр По полученным значениям коэффициентов А и К рассчитывают значения Функ- ции П = А ехр(-АХ ) . С помощью рассчитанных, например,на ЭВМ ДВКзначений функции Б опух)ределяют границу дефекта. По результатам вскрытия границей дефекта дляконтролируемого иэделия является точка с координатой Х (фиг.1) в которойначицается уменьшение амплитуды принятого сигнала,Формула и з обретения Способ ультразвуковой теневой дефектоскопии многослойных иэделий, заключающийся в установке по разные стороны изделия акустически соосных излучающего и приемного преобразователей, излучеиии и приеме соответствующими преобразователями ультразвуковых колебаний, соосном сканировании изделия преобразователями, измерении амплитуды принятых колебаний, опреде. - лении положения Хпреобразователей при достижении измеряемой амплитудой порогового уровня П, и определении с помощью измеренной амплитуды и положения наличия и границ дефекта, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения границ дефекта, по достижении измеряемой амплитудой порогового уровня дополнительно определяют несколько положений Х, преобразов;телей, распоАф5 0 = А ехр(-АХ) женных на проходящей через положение Х линии иизмеряют амплитуды 0 принятых колебаний в положениях Хуй а границы дефекта определяют с учетом формулы- текущая координата;- амплитуда принятых колебаний по текущей координате; - коэффициенты, определяемыепри регрессионном анализе полученной совокупности Х у Хц 0 0Тираж 5 Оо комитет Москва,изобрете Раушск Подписное ям и открьггиям при Баб., д 4/5