Ультразвуковой теневой способ контроля дефектов изделий

Номер патента: 1436061

Авторы: Афонин, Гончаров, Ермаков, Кузнецов, Мысенко, Сумец

ZIP архив

Текст

(19) 8 О01 И 29/О ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ между расст зоват ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(56) Авторское свидетельство СССВ 947748, кл, С 01 Я 2904, 1980Авторское свидетельство СССРР 1262362, кл. С 01 И 29/04, 198(54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ТЕНЕВОЙ СПОСОБКОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ ИЗДЕЛИЙ(5) Изобретение относится к областиакустических методов неразрушающегоконтроля. Целью изобретения являетсяповышение информативности за счетопределения местоположения дефектовразмером меньше размера приемногопреобразователя вследствие измерения интенсивности прошедших через изделие ультразвуковых (УЗ) колебаний в двух точках, лежащих на акустической оси излучающего преобразователя. Излучающий и приемный преобразователи соосно устанавливают в промежуточной фазе друг напротив друга. Располагают между преобразователями контролируемое изделие. Излучают и принимают прошедшие через изделие УЗ колебания, измеряют их интенсивность. При обнаружении дефекта перемещают приемный преобразователь вдоль оси излучающего преобразователя, фиксируют расстояние между преобразователями и вновь измеряют интенсивност принятых колебаний. По измеренной интенсивности с учетом расстоянийпреобразователями определяютояние между излучающим преобраелем и дефектом 1 илИзобретение относится к акустическим методам неразрушающего контроля и может бьггь использован при ультразвуковой (УЗ) дефектоскопии различных изделий,Целью изобретения является повышение информативности эа счет определения местоположения дефектов размером меньше размера приемного преобраэователя за счет измерения расстояния между излучающим и приемным преобразователем в ходе контроля при обнаружении дефекта.На чертеже представлена схема реализации УЗ теневого способа контроля дефектов изделий.УЗ теневой способ контроля дефек" тов иэделий заключается в следующем.В промежуточной среде на фиксиро ванном расстоянии друг от друга соосно устанавливают излучакщий и приемный преобразователи и располагают между ними контролируемое изделие. Излучают УЗ колебания, принимают 25 прошедшие через изделие колебания и измеряют интенсивность принятых колебаний, При обнаружении дефекта смещают приемный преобразователь в направлении, совпадающем с акустичес-З 0 кой осью преобразователей, и вновь измеряют интенсивность принятых колебаний. Расстояние Х от излучающего преобразователя до дефекта определяют из выражения35 ККг.(1- 1) К 2(1- 1 о) - К(1 д - 1 о) 40 где К, и К - расстояния между преобразователями до ипосле перемещения приемного преобразователя 451, и 1 - интенсивность принятыхколебаний, прошедшихчерез иэделие с дефектом, до н послеперемещения;Е - интенсивность принятых50колебаний, прошедгяхчерез изделие беэ дефекта.УЗ теневой способ контроля дефектов изделий реализуется следующим образом.Излучающий 1 и приемный 2 преобразователи устанавливают соосно в промежуточной среде, например нмме- сионной жидкости, на расстоянии Ки К друг от друга. Между преобразователями 1 и 2 располагают контролируемое многослойное иэделие 3 и сканируют его. В ходе сканирования излучают преобразователем 1 и принимают преобразователем 2 УЗ колебания, прошедшие через изделие 3, и измеряют их интенсивность с помощью блока 4 регистрации. При обнаружении дефекта 5 по уменьшению интенсивности фиксируют значение 1, последней и перемещают преобразователь 2 вдоль направления распространения УЗ колебании так, что расстояние между преобразователями 1 и 2 становится равным К. Измеряют интенсивность 1 УЗ Колебаний, прошедших через изделие 3, на таком расстоянии и определяют расстояние Х между преобразователем 1 и дефектом 5 из выражениягде К К - расстояние между преобразователями 1 и 2 до ипосле перемещения преобразователя 2,1, 1 - интенсивность принятыхколебаний, прошедших через изделие 3 с дефектом5; до и после перемещения преобразователя 2,1 - интенсивность принятыхколебаний, прошедших через изделие 3 без дефекта до и после перемеще ния преобразователя 2.Зная расстояние от преобразователя 1 до поверхности контролируемогоизделия 3, определяют глубину залегания дефекта 5,Формула изобретенияУльтразвуковой теневой способ контроля дефектов изделий, заключающийся в том, что устанавливают соос" но излучающий и приемный преобразователи в промежуточной среде на фиксированном расстоянии друг от друга, располагают изделие между преобразователями, излучают и принимают прошедшие изделие колебания, перемещают приемный преобразователь относительно излучающего, измеряют пара1436061 КК (1 - 1 11 1 о1 1 1 о Составитель В.ГондаревскийТехред М,Дидык Корре Корол Редактор А.1 ца Заказ 5642/ Тираж 847 ВНИИПИ Государственного к по делам изобретений и 035, Москва, Ж, РаушскПодписномитета СССРоткрытийя наб д, 4/5 твенно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Нроектн метры принятых колебаний до и после перемещения н с их помощью определяют наличие и местоположение дефекта, о т л и ч а ю щ и й с я темВ что, с целью повышения информативности эа счет определения местоположения дефектов размером меньше размера приемного преобразователя, перемещение приемного преобразователя осу-ществляют вдоль акустической оси на фиксированное расстояние, измеряют интенсивности 1 и 1 принятых колебаний до и после перемещения, а расстояние Х от излучающего преобра зователя до дефекта определяют иэ выражения где К, К " расстояния между излучающим и приемным преобразователями до ипосле перемещения;1 1 - интенсивность принятыхколебаний, прошедшихчерез изделие с дефектом, до н после перемещения;1 - интенсивность принятыхколебаний, прошедшихчерез изделие без дефекта.

Смотреть

Заявка

4180058, 20.01.1987

ВОЕННАЯ АКАДЕМИЯ ИМ. Ф. Э. ДЗЕРЖИНСКОГО

ЕРМАКОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ, СУМЕЦ ИГОРЬ НИКОЛАЕВИЧ, КУЗНЕЦОВ ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ, ГОНЧАРОВ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ, АФОНИН ВАЛЕНТИН АЛЕКСЕЕВИЧ, МЫСЕНКО НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 29/04

Метки: дефектов, теневой, ультразвуковой

Опубликовано: 07.11.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1436061-ultrazvukovojj-tenevojj-sposob-kontrolya-defektov-izdelijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Ультразвуковой теневой способ контроля дефектов изделий</a>

Похожие патенты