Патенты с меткой «неоднородности»

Страница 3

Способ уменьшения неоднородности кислородсодержащих полиэтиленовых восков

Загрузка...

Номер патента: 1054356

Опубликовано: 15.11.1983

Авторы: Вернер, Герхард, Ирене, Йоахим, Эрхард

МПК: C08F 6/28

Метки: восков, кислородсодержащих, неоднородности, полиэтиленовых, уменьшения

...Ч определяют,как на 1 уменьшенное частноеиз весового среднего М и числовогосреднего Ммалярного веса:1;,1 (,1МПредлагаемый способ отличается тем,что получаются оксидаты полизтиленоного воска, которые из-за их незначительной неоднородности по сравнению с васками, окисленных до той жестепени окисления, обладают улучшенными значениями пенетрации и миграции.Эти преимущества способствуют улучшению прочности пленки пр самоблестящих средствах для натирания пола(повышенная стойкость к истиранию приходьбе) и лучшей пригодности при применении в пищевой промышленности (покрытие свежих и цитрусовых Фруктов),Кроме того, предлагаемый способ отличается экономичностью, так как формагранулята сохраняется во время обрабОчки и этим не требуется...

Устройство для измерения азимутальной неоднородности синусоидальных магнитных полей

Загрузка...

Номер патента: 1078367

Опубликовано: 07.03.1984

Автор: Григорьев

МПК: G01R 33/02

Метки: азимутальной, магнитных, неоднородности, полей, синусоидальных

...элемента 11 сравнения, при этом второй вход сумматора 13 является входом блока 3 задержки.Принцип действия устройства основывается на следующих соотношениях. Пусть имеем сигналы с датчиков 7 и 1 О,.О, е (,ы-Ч)ОгОг"где О - сигнал с датчика 7;ОЯ - сигнал с датчика 1;О - максимальный сигнал с датчика 7 у, Ог - максимальный сигнал с дат.чика 1;сдвиг фаз сигналов с датчиков 7 и 1.ТогдаОр-"Ог-О.(Ог-О,собоййи 10 5 ЧсОЬсдЫ0 р (у 6 ч )(2)0 внр=а СВ(3) где 1Ор,При малых фазахве соаЩ = 1Тогда нз выражеданного случаяО: ЬО,в и 1/фаэовая неоднороднС ростом сдвигавсе более сильное(5) и (6 и справедлотношения из выраже Ор= 6010)с (11)ост л Р ать. оисходит условий удут соушениевыми бя (,2): ОрЙ=Ог,-Особср: дО1Урф О 3 ср ф 0 13) Эти выражения...

Способ определения параметра магнитной неоднородности ферромагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 1103129

Опубликовано: 15.07.1984

Авторы: Барсов, Геталов, Гордеев, Горелкин, Грузин, Круглов, Кузьмин, Мельничук, Микиртычьянц, Милосердин, Смилга, Щербаков

МПК: G01N 24/00

Метки: магнитной, неоднородности, параметра, ферромагнитного

...Эту сумму можно представить в видегде В- макроскопическое магнитноеполе в той области, где находится мюон;- намагниченность домена;. - внутреннее дипольное поле,которое зависит от положения мюона в решетке метал" М Ь ла;Вон - контактное поле, создаваемое в точке нахождения мюона электронами проводимосгдесВ ) - среднее по местоположениюКонмюона,значение контактногополя.Переходя к ансамблю мюонов, можно 25 сказать, что измерение числа распадов в определенном направлении позволяет определить среднее значение спина ( 5 Ю ) по ансамблю мюонов или их поляризацию Р=25(1) . Усредне ние по ансамблю мюонов эквивалентно усреднению по местоположениям мюонов в образце, т.е. по .областям с различными значениями ЬИз формулы (2) видно, что...

Способ измерения неоднородности удельного сопротивления

Загрузка...

Номер патента: 1064805

Опубликовано: 15.01.1985

Авторы: Бойко, Рыбин

МПК: H01L 21/66

Метки: неоднородности, сопротивления, удельного

...достигается тем, что в способе измерения неоднородности удельного сопротивления полупроводников,основанном на приложении к образцус помощью контактов электрическогоняпряженияр освещении поверхности,об разца световым зондом в виде полосы,параллельной линиям тока, попереккоторой в произвольном месте распо 05 2лагают затененный участок - теневойзонд, измерении сопротивления присканировании поверхности образца теневым зондом, поверхность образцаосвещают импульсами света, следующи. ми с интервалами, превышающими время релаксации концентрации неравновесных возбужденных светом носите- лей заряда, измерение сопротивленияпроизводят спустя время Д 1 посленачала светового импульса, которое больше времени достижения максимальной...

Способ измерения неоднородности магнитной индукции в экранируемом объеме

Загрузка...

Номер патента: 1157488

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Захаров, Лопатин

МПК: G01R 33/02

Метки: индукции, магнитной, неоднородности, объеме, экранируемом

...объемов. Проекции, направленные по оси Ог, при суммировании 1 Одают величину вектора В = Ц;В;а противоположные проекции при суммировании - величину вектора ВХ д"В;. (фиг,1). Среднее значение индукции равно нулю, поэтому 5В ) = ) В) . Модули векторов характеризуют величину неоднородностиполя, Под воздействием резонансного циркулярно-поляризованногоизлучения атомы парамагиитного ве.Сразу после ориентации вектор йсовершает.прецессню вокруг направления вектора магнитной индукции. 25Направление прецессии вектора ю зависит от направления вектора магнитной инцукции. Если в 1-м объемепроекция Л 3; положительна, то атомы в нем,прецессируют по часовойстрелке, если проекция сгВ; направлена против оси Ог, то направление прецессии...

Способ измерения неоднородности потенциального рельефа электрофотографического носителя, сформированного нанесением на его поверхность электрического заряда

Загрузка...

Номер патента: 1196797

Опубликовано: 07.12.1985

Авторы: Ганчо, Моцкус, Рапопорт

МПК: G03G 13/00

Метки: заряда, нанесением, неоднородности, носителя, поверхность, потенциального, рельефа, сформированного, электрического, электрофотографического

...с одной или двумя коронирующими проволоками из вольфрама диаметром0,08 мм. Заряжают носитель до отрицательного,потенциала 200-400 В.Кадрирующая рамка коротрона размером 157522,75 .мм ограничивает поле зарядки .слоя. Рамку располагаютна 0,05 мм от носителя, Затем наэлектрофотографический носитель контактным способом экспонируют изображение контрольной миры, состоящейиз темных линий шириной 0,1 мм и".промежутка между линиями 0,9 мм.Средний остаточный потенциал носителя на светлых участках составляет25-100 Вчто соответствует экспози 1196797 3ции в 3-10 раз .больше экспозиции по" луспада потенциала носителя, Проявление потенциального рельефа электро- фотографического носителя осуществляют проявителем на основе диэлектрической...

Термоиндикаторное покрытие для контроля пространственной неоднородности теплового излучения

Загрузка...

Номер патента: 1213360

Опубликовано: 23.02.1986

Автор: Палий

МПК: G01K 11/18

Метки: излучения, неоднородности, покрытие, пространственной, теплового, термоиндикаторное

...на участкахповерхности слоя, в направлении ко -торых тепловой поток от испарителянаиболее велик, происходит окисление металла. Он теряет зеркальныйблеск и приобретает относительнуюоптическую прозрачность. Окисленные участки термочувствительногослоя ( участки перегрена) на фонеслоя легко регистрируются визуальнокам в процессе облучения, так и после его прекращения. Покрытие располагают в вакуумной камере таким образом, чтобы термочувствительный слой находился на уровне поверхности изделия, которое должно быть подвергнуто напылению. Вакуумную камеру откачивают до требуемого давления и выводят на режим испаритель 4. Затем открывают эас 5 10 15 20 25 ЭО Э 5 40 лонку 5 и облучают термочувствительный слой тепловым потоком от...

Способ измерения неоднородности индукции постоянного магнитного поля

Загрузка...

Номер патента: 1224755

Опубликовано: 15.04.1986

Автор: Калиниченко

МПК: G01R 33/02

Метки: индукции, магнитного, неоднородности, поля, постоянного

...возбужденных вследствие си 155 2лового действия неоднородного магнитного поля на указанную пару проводников с токами, измеряют фазу и амплитуду возбуждающего тока, фазу и амплитуду механических колебаний системы проводников.Используя полученные при измерении з.начения указанных параметров, определяют абсолютное значение неоднород:ности магнитной индукции ЬВ на интервале Я между проводникамии К ЬВ =СА, (1,где ЬВ= В-Ь, Ви б - среднее значение магнитной индукции на площадке шириной 2 А вдоль-го и К -го проводников соответственно.гггде т, - масса системы проводников;3, - циклическая частота свободных механических колебаний;- коэффициент затухания;- циклическая частота возбуждающего тока;А, - амплитуда вынужденных стационарных...

Способ определения скорости изменения нестационарной газовой неоднородности

Загрузка...

Номер патента: 1233089

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Калачев, Сухоруких, Фокеев, Харитонов

МПК: G01N 21/61, G02B 27/54

Метки: газовой, изменения, неоднородности, нестационарной, скорости

...конденсорных систем и развернуты по отношению к одноименнымграням соседних призм на угол 90,;входную диафрагму 29 с двумя параллельными одна другой щелями; поворотное зеркало 30; объектив коллиматора 31; камеру 32 с исследуемойгазовой неоднородностью; объективприемной части 33; поворотное зеркало 34; визуализирующую диафрагмув виде четырех ножей Фуко 35; выходной отражательный призменный блок 36(выполненный аналогично призменномублоку 28), зеркальные гипотенузныеграни которого обращены в сторонуфотографических объективов 37-40,служащие для. формирования изображения теневой картины в приемниках,Изображение 41 входной щели фоторегистратора 42 в обратном ходе лучейстроится объективами 37 и 33 в исследуемом поле 43 оптического прибора. С...

Способ измерения оптической неоднородности прозрачных сред и формы отражающих поверхностей и интерферометр сдвига для его осуществления (его варианты)

Загрузка...

Номер патента: 1237960

Опубликовано: 15.06.1986

Автор: Шехтман

МПК: G01N 21/45

Метки: варианты, его, интерферометр, неоднородности, оптической, отражающих, поверхностей, прозрачных, сдвига, сред, формы

...настроенных по схемам,20 изображенным ца Фиг. 1 и 2 25 30 35 40 45 50 55 Расходящийся световой пучок ис,тачцика 1 (Фиг. 1) направлен светоделительной пластикой 2 к исследуемому объекту и зеркалу 3, Отраженный от последнего сходящийся световой пучок разделен светаделительнойпластикой 4 ца два пучка, направленных к зеркалам 5 и 6, В результатеотражения одного лучка ат зеркала 5,а другого от зеркала 6 и светоделительной пластины 7 в плоскости цабгаодения Я имеет место интерферецциакная картина. Зеркало 6 совместно сосветоделительнымк пластиками 2, 7и зеркалам 3 формирует изображение 8источника 1, а зеркала 5 - изображение 9 источника 1. В отличие отзеркала 6 зеркало 5 своей гибкойчастью формирует изображецие 1 О источника 1. Участок...

Устройство для контроля коэффициента неоднородности частиц ферромагнитных порошков

Загрузка...

Номер патента: 1241169

Опубликовано: 30.06.1986

Авторы: Крохин, Лапшин, Сущев, Хмарук

МПК: G01R 33/12

Метки: коэффициента, неоднородности, порошков, ферромагнитных, частиц

...величину. сигнала Бц (фиг.2 Ж) . Полученный положительный переменный сигнал 114 Ь подается на вход фильтра 14 нижних частот, который вьщеля" ет огибающую Ц 1 сигнала Ц 1 р пропорциональную мгновенному значению дифференциальной восприимчивости контролируемого образца. Напряжение Ьй через дифференциатор 15 поступает на компаратор 16, При достижении, максимального значения дифференциальной восприимчивости сигнал на выходе дифференциатора 15 становится равным нулю (фиг.21) и компаратор 16 формирует сигнал, размыкающий ключ 2. При этом строб-импульсы не проходят через ключ 2, напряжение на выходе генератора 3 и напряженность магнитного поля остаются постоянными, счетный триггер 8 и блоки 9 и 10 выборки хранения не меняют режимов работы....

Устройство для термоэлектрического контроля локальной неоднородности металлов и сплавов

Загрузка...

Номер патента: 1249421

Опубликовано: 07.08.1986

Авторы: Бабенко, Бердышев, Бурьян, Ларичкин, Миневич

МПК: G01N 25/32

Метки: локальной, металлов, неоднородности, сплавов, термоэлектрического

...следующимобразом,Для контроля партии иэделий устройство необходимо подготовить.Многоэлектродный датчик 1, в которомрасположение горячих электродов 5 10 15 20 25 ЭО 35 40 чего на конце толкателя ус тановлены захват 16 иэделия и поворотный механизм 17 1 з.п.ф-лы, 1 ил. соответствует точкам поверхности,подлежащей контролю, закрепляетсяв холодном электроде 5, выполненномв виде стакана с отверстием дляпрохождения горячих электродов 1, Вхолодном электроде 5 устанавливаютсянаправляющие 6, выполненные в соответствии с наружным контуром контролируемого изделия 18. Затем включается электрическая схема нагревагорячих электродов и вода для охлаждения холодных концов электродовдатчика 1. При достижении горячимиэлектродами заданной температурыв...

Способ определения структуры, величины и неоднородности внутреннего магнитного поля магнитоупорядоченных кристаллов и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 1272205

Опубликовано: 23.11.1986

Авторы: Зарембо, Карпачев

МПК: G01N 27/82

Метки: величины, внутреннего, кристаллов, магнитного, магнитоупорядоченных, неоднородности, поля, структуры

...точностью до ЛН. Изменение амплитуды прошедшего импульса А - А(НЦ. аН ь 2, где А, амплитуда вдали от резонанса, А(Н) амплитуда при данном значении поля. Если Р(2) - функция распределения внутреннего поля в направлении распространенна звука, то у(Н) 1 1 А, -А1 с 1 = 2(Н). Обратная функция 2 (Н) дает одномерное распределение внутреннего поля в направлении распространения звука. Таким образом, способ заключается в определении с помощью акустической волны и линейно меняющегося магнитного поля спектра магнитоакустического резонатора (зависимости амплитуды прошедшего импульса от внешнего поля А(Н), интегрировании этого спектра и определении обратной функции, представляющей собой распределение внутреннего поля на половине длины кристалла....

Устройство для оценки неоднородности дисперсии случайных процессов

Загрузка...

Номер патента: 1278904

Опубликовано: 23.12.1986

Автор: Соколов

МПК: G06G 7/52

Метки: дисперсии, неоднородности, оценки, процессов, случайных

...в соответствующих элементах 7.1- 7.М памяти. На выходах элементов 7.1-7,М памяти образуется сигнал единичной амплитуды при превышении нап ряжением заданного порогового уровня. Число этих сигналов определяет число дополнительных случайных сигналов, появляющихся в М областях шумового поля. Причем число областей шумового поля, в которых образовались дополнительные случайные сигналы, не может превышать число М. Сигналы с выходов элементов памяти суммируются в первом сумматоре 10 на М входов. Следовательно, напряжение на выходе сумматора 10 отображает в заданном масштабе число неоднородностей дисперсии. Одновременно с выходов соседних элементов 7.1-7,М памяти сигналы единич. - ной амплитуды, что соответствует логической "1", или нулевой...

Способ измерения неоднородности напряженности магнитного поля магнитоградиентным гальваномагниторекомбинационным датчиком

Загрузка...

Номер патента: 1318946

Опубликовано: 23.06.1987

Авторы: Конин, Сащук

МПК: G01R 33/06

Метки: гальваномагниторекомбинационным, датчиком, магнитного, магнитоградиентным, напряженности, неоднородности, поля

...(и = р).Поэтому для случая собственного полупроводника из (2) находим(3) Н п(Т неоднородности производятся следующим образом,Еа так как и = и;ехр(- - -),то окон.т 12 К Тчательно из (3) получаемЬН Е (Т, - Т,)Но 2 КТ, Т + Т, )Е+(Т - Т )- ехр (4)2 КТ (Т + Т1где Е- ширина запрещенной зоны,Устройство,для реализации предлагаемого способа (фиг.2) содержит магниточувствительный датчик 1, подключенный своими токовыми контактами 2и 3 через ограничительный резистор 4к источнику 5 тока, индикатор 6 напряжения, подключенный через фильтр 7к магниточувствительному датчику 1К поверхностям 8 и 9 магниточувствительного датчика подсоединены термопары О и 11, которые подключены кизмерительным приборам 12 и 13. Поверхности 8 и 9...

Способ определения неоднородности отражающей поверхности

Загрузка...

Номер патента: 1320666

Опубликовано: 30.06.1987

Автор: Гусейнов

МПК: G01B 21/30

Метки: неоднородности, отражающей, поверхности

...трех параллельных считываний зарегистрированного сигнала соответствует определенному углу поля зрения спектрометра и, следовательно, определенным фазам считывания сигнала для каждого угла.11 апример, если измерения производятся примц)ьимальцом угле поля зрения, то считывание с фазами (К), где К=1, 2,п, сос 1 авляет объем выборки, получаемой при ми Формула изобретения Способ определения неоднородности отражающей поверхности, заключающийся в том, что освещают отражащую поверхность световым потоком, принимают с заданным углом поля зрения световой поток, отражен 55 нимальном угле, а при максимальном углеобъем выбопки ограничен считыванием с фазами (К 1 У+Й), где К=, 2п, и т, д. В каждом отдельном случае объем выборки состоит из п считанных...

Гамма-камера с коррекцией неоднородности изображения

Загрузка...

Номер патента: 1340750

Опубликовано: 30.09.1987

Авторы: Вахатов, Калашников, Марковский, Мищенко

МПК: A61B 6/00

Метки: гамма-камера, изображения, коррекцией, неоднородности

...до данного фотокатола. Импульс ы сигналов ФЭУ 3 усиливаются предусилителями 4 и поступают на входы формирователя 15 позиционных сигналов и формирователя 16 энергетического сигнала. В результате на выходах БД 1 формируотся четыре позиционных сигнала: +Х, - Х, +У, - У, которые пропорциональны соответствую гцим декартовым координатам точки сцинтилляции в сцинтилляционном кристдлле 12, и энергетический Х-сигнал, пропорциональный энергии сцинтилляции. Эти сигналы поступакт на входы БФ 2, гле осуществляется предварительная амплитудная селекция 2.сигнала. Если амплитуда 2-сигнала попалает в окно амплитулного селектора БФ 2, то в БФ 2 осуьцествляется формирование координатных сигналов Х и У 5 10 15 20 25 30 35 40 путем аналогового леления...

Способ контроля степени неоднородности жидкости

Загрузка...

Номер патента: 1346999

Опубликовано: 23.10.1987

Авторы: Сопин, Фиш

МПК: G01N 27/26

Метки: жидкости, неоднородности, степени

...усилитель 8 является повторителем напряжения, в котором за счет 1002-ной отрицательной обратной связи реализуется единичный коэффициент передачи по напряжению и высокий входной импеданс, определяющийся сопротивлением утечки и интегральной микросхемы и частотой входного сигнала, Операционный усилитель 9 является преобразователем ток - напряжение (ПТН), коэффициент передачи по току которого равен Б, а входной импеданс определяется отношением В/К , где К, - коэффициент усиления усилителя 9 по напряжению при Б = оо,При колебании жидкости в капиллярах пористой перегородки преобразователя 3, например, по синусоидальному закону, задаваемому эадатчиком 2 на1 выходе операционного усилителя 8 формируется переменный потенциал протекания Е, а...

Способ определения неоднородности диэлектрической пленки на диэлектрической подложке

Загрузка...

Номер патента: 1363029

Опубликовано: 30.12.1987

Авторы: Кулешов, Попандопуло, Софронова, Юрин

МПК: G01N 21/45

Метки: диэлектрической, неоднородности, пленки, подложке

...преломления. Изменяют угол освещенияпленки с подложкой и определяют уголБрюстера для каждого пятна неоднородности по изменению окраски цветовогопятна неоднородности на интерференционной картине до белого цвета иопределяют величину неоднородностипо показателю преломления по формуле К Б ф Бф где- угол Брюстера для пленки; д - угол Брюстера для пятна неЕ однородности на пленке,В способе специально устраняют явление:, интерференции выбором света, 5 1 О 1 г 20 25 30 35 40 поляризованного параллельно плоскости падения, и направлением луча подуглом Брюстера. Нахождение угла Брюс.тера облегчается при использованиибелого света, так как интенсивностьотраженного света, поляризованногопараллельно плоскости падения, вблизи угла Брюстера...

Устройство для определения структуры, величины и неоднородности внутреннего магнитного поля магнитоупорядоченных кристаллов

Загрузка...

Номер патента: 1370537

Опубликовано: 30.01.1988

Авторы: Зарембо, Карпачев

МПК: G01N 27/82

Метки: величины, внутреннего, кристаллов, магнитного, магнитоупорядоченных, неоднородности, поля, структуры

...для электронов,35 50 спины начинают прецессировать резонансным образом. Это резонансное условие соответствует условию отклонения вектора внутреннего магнитного поля относительно вектора внешнего поля на угол ., величина которогоудовлетворяет условию я 1 п- НрЭта величина, особенно в условиях низкочастотного магнитоакустического резонанса, мала, и векторы Й, и О, с хорошей степенью точности можно считать коллинеарными, а с точностью. до малого резонансного поля "/ - равными по величине. Резонансная прецессия спинов вызывает увеличение поглощения звука в этой области и, следовательно, уменьшение амплитуды звука, прошедшего через образец. Размер резонансной области В 2 определяется постоянством полного поля в этой области с точностью до...

Устройство для измерения неоднородности среднего значения составляющей индукции постоянного магнитного поля

Загрузка...

Номер патента: 1396100

Опубликовано: 15.05.1988

Автор: Калиниченко

МПК: G01R 33/02

Метки: значения, индукции, магнитного, неоднородности, поля, постоянного, составляющей, среднего

...измеряемой составляющей В, вектора магнитной индукции, ориентированной в направлении оси 2, второй измеритель 6, связанный с выходом датчика 4 магнитной индукции через преобразователь 7 механических колебаний в электрические, вход которого подключен с возможностью инвертирования посредством инвертора 8 и переключателя 9 к входу блока 10 возбуждения, выход которого соединен с управляющим входом генератора 1 импульсов тока, причем элемент 3 подачи импульсов тока в датчик 4 магнитной индукции выполнен в виде переключателя с многоканальным гибким токоподводом 11 на выходе, а датчик 4 установлен посредством шарнирной подвески при помощи стержней 12 в двух точках 13, расположенных на стойках 14,Устройство работает следующим...

Устройство для определения термоэлектрической неоднородности проволоки

Загрузка...

Номер патента: 1397745

Опубликовано: 23.05.1988

Автор: Павлов

МПК: G01K 7/02

Метки: неоднородности, проволоки, термоэлектрической

...цк проволокк 17 с боковой поьерхностью котт Гт.Х)ЕТГХ ПИтаНИЕ На Хтагрс ватель 16, усилитель 12 и автоматический потецпиометр 13 (ст)иг.Зра), Б тот МОМЕНТ ВБЕМЕЦИ Ца ИСПЫТУЕМУЮ проволоку 17 накладывается температ,рцое поле (Фиг,3 б), и на диаграм:е ав Хомах)Хесх(ого потенциометра 13 регистрируется разность значений ТЭДС неоднородности участков (17,1 - 17,1 ) и ,7, -171) проволоки 17, При 1) клю ленки движе 511 я последней (вра- ЩЕ:ХИЕМ КатУШКИПо ЧаСОВОЙ СТРЕЛКЕ)начинает 1)ращаться цклцндрцческое колесо 1 тр причем участок проводоки (17,1 -17,1) прк вращении находится цс 0 Бсе Бреьхя Б одном и тот )1(е темпеС)ПТУГПХОМ ГОЛЕ; ЕРВОГО КОЦЦа ЦагРЕВате;1 я6 а следуюХле за ним отрезки процолоки 7 проходят такое же температриое поле прк...

Устройство для определения концентрации и коэффициента неоднородности смеси

Загрузка...

Номер патента: 1402867

Опубликовано: 15.06.1988

Авторы: Базильская, Воробьева, Горшков, Максимова, Маликов, Федотов

МПК: G01N 15/06, G01N 21/85

Метки: концентрации, коэффициента, неоднородности, смеси

...7 в зависимостиот условий соединяют гибким шлангомили с емкостью для сбора готовой смеси, или со специальной емкостью длясбора отображенной смеси. Не допускается свободный выход смеси .в открытое пространство, так как при этом .определяют по формуле 100ЧСо гд значепонен е концентрации комвес.7 в сме значе го же но ра е концентрации эт идеальомпонента и омерном рс.7; нии, - числ значзамеров одиий С возможно улетучивание растворителя, что приводит к неточности измерения.Для уменьшения погрешности измерения кювету 5 помещают в специальную светонепроницаемую камеру 11, в которой на одной оптической оси, перпендикулярно плоскости кюветы, диаметрально противоположно друг другу через торцовые уплотнения 12 установлены стабилизированный...

Способ оценки структурной неоднородности эластомеров

Загрузка...

Номер патента: 1406480

Опубликовано: 30.06.1988

Авторы: Кондратов, Патрикеев, Фам-Нгок

МПК: G01N 33/44

Метки: неоднородности, оценки, структурной, эластомеров

...45 при изготовлении образцов нарушают оптимальный режим смещения ингредиентов путем сокращения времени смешения от оптимального - 20 мин до минимального -мин. Характеристики неодно родности структуры пленок, полученных с нарушением режима смешения,приведены в табл.3.П р и м е р ы 7-14. Оценивают.неоднородность образцов по примеру 1,но используют в качестве органически.веществ, химически инертных по отношению к вулканизатам, различные расплавы термопластов, полиметилсилоксан, вазелиновое масло, нагретые до130-330 С. Для сравнения неоднородность образцов оценивают известнымспособом (путем последовательной обработки вулканиэатов растворителем иосадителем),Показатели неоднородности структуры образцов и время оценкидвумя способами приведены в...

Способ контроля неоднородности толщины диэлектрических пленок

Загрузка...

Номер патента: 1411575

Опубликовано: 23.07.1988

Авторы: Набитович, Романюк

МПК: G01B 11/06

Метки: диэлектрических, неоднородности, пленок, толщины

...на границе пленка - окружающая среда. Составитель В.Бахтин Редактор И.Ыулла Техред Л,Олейник Корректор О,КравцоваЗаказ 3643/36 Тираж 630 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля однородности толщины прозрачных пленок наноУ 5 имых на прозрачную подложку с коэф-ициентом преломления, близким к коффициенту преломления пленкч.Целью изобретения является повышее точности контроля за счет увели ения контраста интерференционной артины.Способ осуществляется следующим бразом.Перед нанесением...

Устройство для термоэлектрического контроля локальной неоднородности металлов и сплавов

Загрузка...

Номер патента: 1427270

Опубликовано: 30.09.1988

Авторы: Бабенко, Кашпировская, Кубарь, Миневич

МПК: G01N 25/32

Метки: локальной, металлов, неоднородности, сплавов, термоэлектрического

...имеющей отверстия для выхода горячих электродов 2, тока 15; пружины16, упора 17, толкателя 18 прижима,пружины 19 толкателя, фиксатора 20 икорпуса 21. Поворот изделия 5 реали 50зуется посредством захвата 22 и поворотного механизма 23,Измерительная система состоит изкоммут атора 24, преобр аз ователя 25сигнала термоЭДС, блока 26 сравненияизмеренного сигнала.с пороговым, блока 27 обработки информации, блока 28фильтрации, фазовращателя 29, усилителя 30, преобразователя 31 сигнала проходного электроиндуктивного датчика и блока 32 раэбраковки иэделий.Устройство работает следующим образом.Включают нагреватель 3 и холодильник 4 датчика 1 и при достижении рабочей температуры на горячих электродах включают измерительную систему. Контролируемое...

Способ оценки химической неоднородности ацетатов целлюлозы

Загрузка...

Номер патента: 1432060

Опубликовано: 23.10.1988

Автор: Камилов

МПК: C08B 3/06

Метки: ацетатов, неоднородности, оценки, химической, целлюлозы

...оптическимметодом число гель-частиц Иь. 15В расчете на 1 г ТАБ И,133,И 2 93 фПоказатель химической неоднородности ТАЦ равен ДИ -" 805 и характеризует качество процесса этерификациифПример 2, 3 5 г диацетатацеллюлозы (ДАЦ) растворяют в 50 млкадоксена и в полученном раствореопределяют оптическим методом число 25гель-частиц И 1. 7,4 г ДАЦ растворяютв 50 мл метиленхлорида и в полученном растворе определяют оптическимметодом число гель-частиц И.4,4 гДАЦ растворяют в 50 мл ацетона и вполучечном растворе определяют,оптическим методом число гель-частиц И .В расчете на 1 г ДАЦ И74,Я,1174. Показатель химической неоднородности ДАЦ равен дИ"550.азность ь И ф И - И 271 353характеризует качество процесса омыленняфРазность ДИ = Я - И, 819...

Способ определения молекулярно-массовой неоднородности микробных полисахаридов

Загрузка...

Номер патента: 1451166

Опубликовано: 15.01.1989

Авторы: Воцелко, Гринберг, Малашенко, Пирог

МПК: C12P 19/00, G01N 11/10

Метки: микробных, молекулярно-массовой, неоднородности, полисахаридов

...фракциях контрольного ЭПС определяют по реакции с фенолом и серной кислотой. На фиг.1 представлено молекулярно-массовое распределение ЭПС Ь в комбинированном градиенте МаС 1 и СвС 1(1 -меченый ЭПС, 2 - контрольный ЭПС).Таким образом, применение реакции с фенолом и серной кислотой для анализа содержания углеводов во фракциях не ведет к снижению качества анализа по сравнению с использованием флуоресцентной метки.П р и м е р 3. Показывают молекулярно-массовое распределение ЭПС и декстранов в комбинированном градиенте МаС 1 и СвС 1, взятых в различных соотношениях при п- 30000 об/мин в течение 19 ч (плотность растворов ИаС 1, 1 = 1,03 - 1,20 г/см , СвС 1, р = 1,20-1,60 г/см ) На фиг.2-4 показано молекулярно-массовое распределение ЭПС о,Е,...

Способ выявления неоднородности из одиночной горной выработки

Загрузка...

Номер патента: 1453350

Опубликовано: 23.01.1989

Авторы: Баженов, Данильчук

МПК: G01V 3/02

Метки: выработки, выявления, горной, неоднородности, одиночной

...выбиралась равной20 м, т.е. приняты наихудшие условия по контрастности сопротивлений (в 2 раза) и малой толщине самого слоя, что обычно соответствует малоамплитудным нарушениям.Расчеты показали, что в данных условиях изменение разности потенциалов для трехэлектродного зондирования последовательной устанонкой (когда измерительные электроды остаются у забоя, а передвигается питающий электрод) влияние данного слоя уже на расстоянии Ь )МИ = сопзй практически не проявляется (2-Зй). В обра 40 щенной установке (А - у груди забоя, ММ - передвигается по выработке) изменение йБ наблюдается только на первом пикете и не превышает 5 Е.При расчете были использованы сле 45 дующие значения: ММ = 10 м, шаг установки 10 м, АМ = 10-400 м.В предлагаемом...

Устройство для измерения неоднородности расхода группы питателей

Загрузка...

Номер патента: 1513372

Опубликовано: 07.10.1989

Автор: Шенфельд

МПК: G01F 1/00, G01G 13/00, G01G 7/04 ...

Метки: группы, неоднородности, питателей, расхода

...клапаном 41, Исполнительный механизм 44 имеет устройство 45 ручного управления. 35 В качестве подготовительных операций базовый и пдополнительных измерителей веса вместе с пустыми грузо- приемными сосудами 5 и 12 устанавли ваются в исходные положения, при которых их угловые разбалансы Ьр равны нулю (Ьц = О), а показания АЦП 26 и АЦП; 36 равны также нулю, т.е.10 и 1 =. О, при этом от блоков 22 и 23 электрической коррекции вводятся в добавочные обмотки 10 и 18 обратных преобразователей 8 и 16 токи 1 и 1 , величина которых фико 1 о фсируется, т.е. Е= сопяС и 1 о; = сопзс на время цикла измерения.Далее надискриминаторе 27 устанавливаются с помощью блока входных установок 28 ("Мейьше") нижняя граница 8 , Равная некоторому маломУ превышении...