Патенты с меткой «интерференционное»

Номер патента: 1165879

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Сергеева, Черноусова

МПК: G01B 11/06, G01B 9/02

Метки: двухлучевое, интерференционное, пленок, прозрачных, толщины

...призмы и призмы Дове, а держатель измеряемой пленки установлен с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной основанию оборачивающей призмы.На чертеже изображена принципиальная схема двухлучевого интерференционного устройства для измерения толщины прозрачных пленок.Устройство содержит осветительную систему 1, интерференционный блок, выполненный в виде последовательно расположенных по ходу излучения плоскопараллельной пластины 2, установленной под углом 45 к оси излучения, обеспечиваюшей призмы 3 и призмы 4 Дове, узкополосный интерференционный фильтр 5, поляризатор 6, уголковую призму 7, зрительную трубу 8, держатель 9 измеряемой пленки, установленный с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной основанию...

Номер патента: 1224568

Опубликовано: 15.04.1986

Автор: Болонин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционное, мер, штриховых

...опорный поток. От отражателя б световой поток через отражательные элементы 11 и 12 падает .на отражатель 7, а от него, пройдя через пластину 4 - на регистриРующий узел 5.Таким образом, световой поток проходит измеряемое расстояние четыре раза. Измерительный поток, прошедший через пластину 4, смеши-.вается с опорным потоком, отражен" ным этой пластиной 4, и образует на регистрирующем узле 5 интерференционную картину в виде полос. Пере- мещение оптических центров кажцого из отражателей б и 7 вдоль объекта 8 приводит к смещению интерференционных полос, соответствующему величине и направлению перемещения, Перемещение двух отражателей 6 и 7ЗО Интерференционное устройство дляизмерения штриховых мер, содержащеестанину, интерферометр,...

Номер патента: 1260681

Опубликовано: 30.09.1986

Автор: Гуров

МПК: G01B 21/00

Метки: измерительное, интерференционное

...4,которая воспринимается фотоэлектрическим преобразователем 2. Интенсивность света преобразуется в электрический сигнал независимо в каждойфоточувствительной ячейке матрицыфотоэлектрического преобразователя 2.Размеры всего поля зрения фотоэлектрического преобразователя 2 близкик диаметру 0 выходного пучка оптичес 45кого сканирующего интерферометра 1,а каждая фоточувствительная ячейкаимеет размер д, определяемый соотношением й 0,5 В, где В - минимальная ожидаемая величина шириныинтерференционной полосы. Сигналот каждой ячейки поступает в блок 3измерения разности фаз, в которомопределяется фазовый сдвиг этого сигнала по отношению к сигналу опорного генератора 4. Для этого блок 3 измерения разности фаз выполнен многоканальным, например в...

Номер патента: 1345054

Опубликовано: 15.10.1987

Авторы: Елисеев, Контиевский

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерференционное, линзы

...90, Призменный блок 8, 9 установлен одной из свободных граней кубпризмы 8 параллельно маске 7, причем ребра прямь.х углов призм 9 пересекают соответственно оптическую ось объектива б и ее зеркальное изображение, образуемое светоделительной граньюкуб-призмы под углами 90". Окуляр 10расположен на пути пучка, выходящегоиз куб-призмы 8 со стороны его второй свободной грани, таким образом,1что передняя фокальная плоскость окуляра посредством призменного блокаоптически сопрягается с плоскостьюмаски 7.Устройство работает следующим образом.При включении лазера 1 световойпучок через светоделительное зеркало2 направляется на поверхности центрируемой линзы 4. Отраженные от поверхностей линзы 4 два когерентныхволновых фронта разной кривизны...

Номер патента: 1364866

Опубликовано: 07.01.1988

Автор: Виноградов

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционное, перемещений, угловых

...для измерения угловых перемещений объектаи может быть использовано в машино 5строении для проверки угломерныхустройств.Цель изобретения - повышение точности измерения за счет выполненияотражательного блока и использованиядиафрагмы как вторичного источника,На чертеже представлена оптическая схема устройства.Интерференционное устройство содержит последовательно расположенные осветитель 1, включающий лазер 2 иколлиматор 3, светоделитель 4 для деления падающего излучения на два потока, в одном из которых установленотражательный блок в виде оптическогоклина 5, скрепляемый с объектом 6,На оптический клин 5 нанесено зеркальное покрытие 7 со стороны, обращаемойк объекту 6, Во втором потоке от светоделителя 4 последовательно...

Номер патента: 1415072

Опубликовано: 07.08.1988

Авторы: Гусаков, Кондратьев

МПК: G01H 9/00

Метки: интерференционное, интерференционный, малых, сигналов, ультразвуковых

...пластина 7, на пути лучей,отраженных снетоделительной пластиной 7 и прошедших через нее, - фотоприемники 8 и 9 соответственно.Сигналы с фотоприемников 6 и 9 подаются на входы дифференциального усилителя 1 О, который управляет работойисцолнительного элемента 11.Способ осуществляют следующимобразом.Часть излучения лазера 1 посред- д 5ством светоделительной пластины 5отводится на фотоприемник 6, который вырабатывает электрический сигнал, пропорциональнья интенсивностиизлучения лазера 1, подаваемый далеена один из входов дифференциальногоусилителя 10.При этом сигнал с дополнительногофотоприемника 6 не зависит от оптической фазы интерферометра. На нторой 55вход дифференциального усилителя 10подается сигнал с фотоприемника 9,величина...

Номер патента: 1435933

Опубликовано: 07.11.1988

Автор: Конопелько

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционное, расстояния

...и фотопреобразователь 14 второго интерферометра регистрируют интерференционные картины.Из-за разности длин щизмерительных плеч интерферометров напостоянную величину 1 сигналы, снимаемые с выходов фотопреобразователей 8и 14, будут различны, С выходов Фотопреобразователей 8 и 14 сигналы поступают на узкополосные фильтры 9 и15 соответственно, Выделенные измерительные сигналы поступают на частбтомеры 10 и 16, где измеряются их часГ1 -212ееют ш ЙЙЮМЮее еюае агсв 3 п ЯР,/431 агсвьп ТР/4 й агсвхпР/4 ю 1 асгв хп и Рю /43-агсв ьп Т Р /4 И(1) где Ью ию, - длина опорных плечпервого и второго интерферометров;Р, и Р - частоты измерительныхсигналов, измеренные частотомерами 10 и 16;80 - девиация частоты излучения лазера.Принцип измерения расстояния...

Номер патента: 1437680

Опубликовано: 15.11.1988

Авторы: Добровольский, Носов, Стеблин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционное, объекта, положения, регистрации, углового

...9 возникает полеинтерференции, прецставляющее собой последовательность темных н светлых полос, параллепьньг, осн вращения концевого зеркала 5.При развороте концевого зеркала 5 на угол равный Ы.после прохождения атра;ю,еннога От нега ь 1 нфармацион ного пучка через телесистему б его угол отклонения относительно направления падающего пучка р увеличивается на величину, равную увеличению телесистемы 6, и определяется из зависимостигде Г - угловое увеличение телесистемычто, в свою очередь, приводит к изменению периода нтерференционной картины. С приближением концевого зеркала 5 к его нулевому положению период интерференционной картины приближается к действительной ширине диафрагмы фотоприемника 9. При этом возрастает амплитуда модуляции...

Номер патента: 1441190

Опубликовано: 30.11.1988

Авторы: Гладырь, Степанов

МПК: G01B 11/00

Метки: интерференционное, малых, перемещений

...полупроводникового лазера.Общим признаком вариантов устройстваявляется наличие в проекционной системе формирователя опорной волныЗОлинзы 18, оптически сопрягающейцентр входного гомоцентрическогопучка с опорного отражателя 11. Нафиг.2 изображена схема устройства,в котором линза 18 формирователяопорной волны расположена между светоделителем 3 и зеркалом опорногоотражателя 11. На фиг.Э изображенасхема устройства, в котором проекционные оптические системы формирова рния опорной и измерительной волнсодержат две общие линзы 18 и 12, одна из которых (18) установлена междуцентром входного гомоцентрическогопучка и светоделителем 3, а вторая - 45между светоделителями 3 и 6. Нафиг.4 изображена схема устройства, вкотором две линзы 18 и 12...

Номер патента: 1497450

Опубликовано: 30.07.1989

Авторы: Елисеев, Ларионов

МПК: G01B 9/02

Метки: децентрировки, интерференционное, линзы

...контролируемой линзы 14 и, отразившись от светоделителя 2, попадают в объектив 4 . После объектива 4 пучки лучей делятся светоделительным кубиком 5 на два пучка лучей, один из которых проходит через светоделительный кубик 5, маску 6, светоделительный кубик 7 и собираются окуляром 8 наэкране 13. Второй пучок лучей отражается от светоделительной граниИнтерференционное устройства дляконтроля децентрировки линзы, са держащее лазер и последовательно установленные по ходу пучка лазера светоделитель и узел крепления контролируемой линзы, наблюдательную оптическую систему, оптическая ось кото О рой сопряжена через светоделительс осью пучка лучей лазера, включающую последовательно установленныепервый объектив, первую маску, установленную...

Номер патента: 1543476

Опубликовано: 15.02.1990

Авторы: Грицкевич, Зорина, Иванцев, Улькин

МПК: G02B 5/28, H01K 1/32

Метки: интерференционное, ламп, многослойное, накаливания, покрытие

...параметр Среднее значениепараметра для ламп беэ покры"тия с покрытием 128,3 128,0 99,7 2700 27,1 3150 96285029,3280 0,8-молярного раствора хлорида иттербия (0,02 М, 11, 18 г) производится осаждение в виде карбонатов (в качестве осадителя используется карбонат аммония). Термообработка высушенного осадка производится при 1200 ОС втечение 1 ч. Материал для электронно-лучего распыления приготавливается прессованием таблеток под давлением 150 кгс/см и спеканием в вакуумепри 1800 С в течение 1 ч.Режим электронно"лучего напыленияна установке УРМ 3.279.047длЯ длЯ 15ВазУЬ Оз БхОгТок эмиссии,А 0,3Ток электронного луча, 20мА 60Напряжение наускоряющемэлектроде,кВ 12 8Давление в камере напыления,мм рт.ст. 10- 510Температура подложек, С 250...

Номер патента: 1587330

Опубликовано: 23.08.1990

Авторы: Арефьев, Варфоломеев, Здоркин, Канашкин, Шерешев

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционное, наклона, объекта, углов

...стей пластины 3 и зеркала 5, получаемой ти устройства, 30 путем предварительной юстировки пластиИсточник и фотоприемник установле- ны 3, соблюдается условие: 1=2; 01 =%: ны подострым углом к плоскопараллельной ОО = О Д = О пластинке 3 и зеркалу 5, которые в началь- При этом поле зрения объектива 7 равном положении параллельны друг другу. номерно освещено и на поверхности фотоВсе элементы устройства жестко закрепле приемника 8 формируется ны в корпусе 9 за исключением плоского интерференционнаяполосабесконечнойшизеркала 5. Корпус предназначен для уста- рины, так что на все светочувствительные новки его на контролируемом объекте, площадки фотоприемника 8 падают световыеНа чертеже также обозначены углы 1, 2 потоки равной интенсивности....

Номер патента: 1663416

Опубликовано: 15.07.1991

Авторы: Гужов, Кузнецова, Солодкин

МПК: G01B 11/16

Метки: интерференционное, объектов, перемещений

...простыми модулями: 25Х = Ь(п 1 об)х = Ь(проб Ь).Решить систему можно, применяя теорему.Пусть числа М и Мз определены из 30условийИ.2.;= МЬ, М М -- 1(вобЬ)и пустьХО=М 1 М Ь 1+ М 2 М 2 Ь 2++ММс ЬьТогда совокупность значений Х опреде ляется сравнениемХ: - Хс(побИ г,"Ь).Определить разность фаз в пределах одного периода ее изменения - это значит определить остаток от деления полной раз кости фаз на длину волны.Пусть Х= п 1 Л 1+ г..Если существует возможность определить г с достаточно большой точностью, можно поставить в соответствие.вещест венным значениям длины волны и фазы, определенной с точностью до 2 к, целые числа с определенным количеством значащих цифр и перейти к рассмотрению системы сравнений.50Устройство работает следующим...

Номер патента: 1670409

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Барановский, Бондарчук, Гомов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерференционное, линейных, объекта, перемещений

...5, здкрепленный нэ перемещающемся объекте (не показан). В точку рекомбинации опорный луч приходит с фазой, зависящей от положения референтного отражателя 4 и являющейся при определенном положении референтного отражателя 4 постоянной при неизменной длине волны излучения лазера 1. Фаза измерительного луча в точке рекомбинации при неизменной длине волны лазерного излучения являетсч функцией, зависящей от положения отражателя 5. В результате рекомбинации опорного и измерительного лучей образуется поток, падающий на фотоприемник 7, интенсивность котороо зависит оз положения отражателя 5, Количество зафиксированных фотоприемником 7 интерференционных5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 полос является информацией о перел 1 ещении отражателя...

Номер патента: 1677512

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Старков

МПК: G01B 11/26

Метки: интерференционное, перемещений, угловых

...15.Устройство работает следующим образом.Пучок света от лазера 1 расширяется коллиматором 2 и падает на светоделитель 3 и делится им на проходящий (опорный) и отраженный (измерительный) пучки, Проходящий пучок идет на неподвижное двугранное зеркало 4 и возвращается им обратно на светоделитель 3, а отраженный направляет 1677512ся светоделителем 3 под заданным углом а к направляющей 15 и падает на двугранные зеркала, например, 5 и 6, отразившись от них, возвращается снова на светоделитель 3, опорный и измерительный пучки вторично делятся, интерферируют и проходят на диафрагму 8, образуя интерференционную картину. Угол а находят по Формуле зпа =А/2 д, где А-длина волны излучения; д- линейное перемещение двугранного зеркале. После...

Номер патента: 1686392

Опубликовано: 23.10.1991

Авторы: Журавлев, Зайцева, Моршаков, Райнина, Филин, Ямпольский

МПК: G02B 1/10

Метки: интерференционное, покрытие

...слоев + 20, и подколпачным оборудованием, обеспечивающим однородность покрытия по диаметру подложки не менее 2 ф. Загружают е первый тигель электроннолучевого испарителя материал с высоким показателем преломления, например диоксид гафния, не менее 30 г и оксид алюминия1686392 А 120 э не менее 10 г, во второй тигель - материал с низким показателем преломле. ния, например ВаР 2 и диоксид кремния в таких же количествах, Откачивают вакуумнуюкамердодавлениянехуже 2 10 торр-5 (2,66 10 Па), Проводят нанесение слоя диоксида гафния, например, со скоростью 55 нм/мин оптической толщиной 62 нм (для А нм). Затем производят нанесение фторида бария аналогичной толщины,Составитель А,ГуровТехред Ч.Моргентал Корректор А,Осауленко Редактор И,Горная...

Номер патента: 1704123

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Волкова, Дергай, Пашкевич, Тушина

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционное, покрытие, просветляющее

...оборудованной системой безмасляной откачки типа ТцгЬочас 1500, прецизионным фотометрическим контролем ОМ, системой напуска реактивного газа с блоком регулировки давления.Контроль оптических толщин производится по контрольному образцу с помощью ОМрегистрацией изменения величины отраженного сигнала. Контрольный образец представляет собой плоскопараллельную пластину, полированную с одной стороны, диаметром 42 мм, толщиной 2 мм из стекла К 8 с показателем преломления 1,52, Все четыре диэлектрических слоя наносят на подогретую до 350 С подложку эа один цикл испарения, причем толщина первого слоя составляет 0,03 Яо 0,01 Ло, второго 0,154 . 0,01 ЛО, третьего 0,5 ЛО + 0,01 Яо. четвертого 0.25 Ло - 0,01 4, где Л - 780 нм - длина волны...

Номер патента: 1714346

Опубликовано: 23.02.1992

Авторы: Конысбеков, Марков

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерференционное, линейных, перемещений

...17,последовательно установленные и образующие второй измерительный канал, последовательно установленные и оптически связанные четвертый отражатель 18 и четвертый светоделитель 19, а также пятый отражатель 20 и пятый светоделитель 21 и уголковый отражатель 10.. Интерференционное устройство работает следующим образом. торых оба пучка направляются в опорный и измерительные каналы, интерферуют друг с. другом и попадают на фоточувствительныеплощадки фотоприемников 6, 11 и 17,5 10 15 20 В . результате интерференции разностных световых волн на фоточувствительных площадках фотоприемников возникают интерференционные полосы бесконечной ширины, которые пульсируют с частотой, равной. частоте модуляции, и вследствие этого на выходах...

Номер патента: 1748114

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Волкова, Дергай, Дроздова, Тушина

МПК: G02B 1/10, G02B 5/28

Метки: интерференционное, покрытие, просветляющее

...луча близка к нулю для заданной длиныволны Ь, в Уф области спектра,Расчет конструкции просветляющегопокрытия производился на ЭВМ с помощьюспециально разработанной программы сприменением математического аппарата, с- "-учетойдисперсии показателей преломления применяемых материалов.П р и м е р . Реализацйя покрытияосуществлялась вакуумным напылением наустановке А 7000 фирмы "1.е 1 ЬоЫ Негаеиз",оборудованной системой безмасляной откачки типа ТигЬочас 1500 прецизионнымфотометрическим контролем ОМв комплекте с расширителем диапазона работы(дейтериевая лампа, Фотоумножйтель и комплект интерференционных фйльтров дляУФ-области спектра).Контроль оптической толщины слоев впроцессе напыления производился по контрольному...

Номер патента: 1758423

Опубликовано: 30.08.1992

Авторы: Войтенко, Гиргель, Горелый, Казаков, Крылов

МПК: G01B 11/24

Метки: интерференционное, линз

...при оценке качества изготовления линзы.Цель изобретения - повышение точности, достоверности, информативности, .а также повышение производительности при контроле качества изготовления линз.Достижение цели обеспечивается тем, что интерференционное устройство для контроля линз, содержащее источник моно- хроматического света, светоделитель, делящий световой поток на рабочий и эталонный, последовательно установленные в рабочем потоке обьектив, держатель контролируемой линзы и зеркало, эталонный элемент, расположенный в эталонном потоке и систему регистрации интерференционной картины снабжено механизмом переремещения объектива рабочего потока в плоскости, перпендикулярной оптической оси, двухкоординатным механизмом с...

Номер патента: 1770741

Опубликовано: 23.10.1992

Авторы: Болдышев, Медушев, Ремизов, Шичков

МПК: G01B 21/22

Метки: интерференционное, перемещений, угловых

...на кольцевой оптической пластине 9 неразъемным способом, например, методом оптического контакта или склеиванием. Аналогичным способом призма 13 крепится к призме 8, Вершины трипельпризм 11 установлены в углах квадрата, диагонали которого вместе с высотами трипельпризм лежат в двух взаимно перпендикулярных измерительных плоскостях интерферометров, БОС имеет вход, электрически связанный с входом датчика начала отсчета, и группу входов положения клина, подключенную к выходам датчика положения клина, БОС содержит коммутатор выходных сигналов интерферометров, реверсивные счетчики, формирующие измерительные сигналы, и вычислительное устройство (микро Э В М).Устройство работает следующим образом.Пучок света от источника 1 (фиг, 2) преобразуется...

Номер патента: 1809302

Опубликовано: 15.04.1993

Авторы: Бондарчук, Умников, Финогенов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерференционное, линейных, объекта, перемещений

...измеритель линейных перемещений объекта) перемещений и делится светоделителем 3 на два луча; опорный и измерительный, Опорный луч падает на уголковый отражатель 4, измерительный - на уголковый отражатель 5. закрепленный на перемещающемся объекте (не показан), Фаза измерительного луча в точке рекомбинации при неизменной длине волны лазерного излучения является функцией, зависящей от положения уголкового отражателя 5. В результате рекомбинации опорного и измерительного лучей образуется поток, подающий на фотоприемник 6. причем интенсивность потока зависит от положения отражателя 5, Количество зафиксированных фотоприемником 6 интерференцированных полос является информацией о перемещении отражателя 5,При изменении длины...

Номер патента: 1809409

Опубликовано: 15.04.1993

Авторы: Голтвянская, Голтвянский, Зильберман

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционное, отражающее, покрытие

...зателей преломления пв/пн щины слоев и их количеств по формулам, причем обесп симально возможный коэфф ния в спектральном интерва ра.Интерференционный фильтр состоит из ч чередующихся слоев А и В (слои с высоким показателем преломления заштрихованы). Работа фильтра состоит в отражении заданного интервала длин волн ЛЛ,Исходя из рабочей области фильтра выбирают вначале материалы для слоев, В зависимости от выбранных веществ задаются значениями.пв и пн, По значениям пв и пн и требуемому коэффициенту отражения определяют количество чередующихся слоев ч, Задав значение длины волны, соответствующей центру полосы отражения Ж опре- . деляют толщины слоев А и В (значения величин гп и и подбираются в зависимости от требуемой ширины полосы...

Номер патента: 1619852

Опубликовано: 23.05.1993

Авторы: Голиков, Гурари

МПК: G01J 3/26, G01J 9/02

Метки: интерференционное, многолучевое

...при прохождении излучения через объект в противоположных направлениях, суммируются, а не вычитаются, как в обычном интерферометре ФабриПеро, и по смещению пика сигнала на выходе интерферометра можно измерить естественную оптическую активность обьекта. 1 ил,1619852 Составитель Г,ВоробьеваТехред М.Моргентал Корректор С.Патрушева Редактор Т.Зубкова Заказ 1979 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-ЗБ, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул. Гагарина, 101 возможность достижения цели изобретения,Предлагаемое устройство может найти применение для исследования оптических свойств различных материалов и сред.Формула...

Номер патента: 1463007

Опубликовано: 30.06.1993

Авторы: Витушкин, Грязневич

МПК: G01V 7/04

Метки: градиента, интерференционное, падения, свободного, ускорения

...в нижней точке траектории их ,свободного падения и возвращения в исходное положение и фотопрнемник 1 О. фф 4Предлагаемое устройство для измерения 8 работает следующим образом.Оптическое излучение иэ лазера проходя через отверстия в держателе 6 ев и теле 2, полупрозрачное зеркало 4, а затей через отверстия в держателе 7 ь и в ловителе 8, падает на зеркало 5. В процессе распространения между. зеркалами 4 и 5 светиспытывает многократные отражения, что приводит к многолучевой интерференции, которая3 1 46300проявляется в виде интерференцнонныхполос (колец), регистрируемых фотоприемником 1 О, В начальный моментвремени оба тела 2 и 3 с закрепленбными на них зеркалами 4 и 5, удерживаются держателями б и 7 в неподвижном состоянии. Затем...

Номер патента: 1231987

Опубликовано: 30.05.1994

Автор: Мищенко

МПК: G01N 21/45

Метки: вещества, дисперсии, интерференционное

1. ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИСПЕРСИИ ВЕЩЕСТВА, содержащее интерферометр с оптическим уголковым элементом, оптическая ось интерферометра является оптической осью устройства, M лазеров, оптические оси которых параллельны оптической оси устройства, а выход интерферометра электрически связан с последовательно соединенными блоком измерения дробной части интерференционной полосы, блоком регистрации целых интерференционных полос, коммутатором, один из управляющих входов которого соединен с выходом блока измерения дробной части интерференционной полосы, M регистрами памяти, выходы которых соединены с блоком вычисления, а также генератор пилообразного напряжения, выход которого соединен с преобразователем поворота, кинематически...